Únavové poruchy letadel Únavové poruchy letadel fraktografickfraktografická analýzaá analýza

M. Zeman, T. Jindra, Z. Hájek, O. Marada, M. Nesměrák

Supervisor: Ing. Jan Siegl CSc.

Náplň práceNáplň práce

Fraktografické studium únavových poruch letadel Pozorování únavových poruch materiálů pomocí elektronového mikroskopu

Fraktografický výzkumFraktografický výzkum

Únavové zkoušky

Kvalitativní fraktografie

Kvantitativní fraktografie

Únavové poruchyÚnavové poruchy

Vznik

Dlouhodobé používání (namáhání) přístroje

korozní únava & korozní praskání

Výzkum – fraktografická analýza

Transmisní elektronový mikroskop (TEM)

Řádkovací elektronový mikroskop (SEM)

SEM na katedře materiálů v PrazeSEM na katedře materiálů v Praze

JSM – 840A JSM 5510 LV + IXRF

12 1

23

1 – tělo řádkovacího elektronového mikroskopu

2 – řídící terminál

3 – fotoaparát

Rekonstrukce růstu únavové trhlinyRekonstrukce růstu únavové trhliny

Identifikace jednotlivých postupových čar na povrchu lomu

Přiřazení postupových čar k jednotlivým složkám zatěžovacího spektra

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

46 48 50 52 54 56 58 60 62

Zatěžovací sekvence [1]

Délka trliny [mm]

Závislost délky trhliny na počtu Závislost délky trhliny na počtu zatěžovacích sekvencízatěžovacích sekvencí

NehodyNehody

NehodyNehody

Aloha Airlines

PoděkováníPoděkování

Chtěli bychom poděkovat především našemu supervisorovi Ing. Janu Sieglovi, CSc. za obětavou spolupráci a také ČVUT za poskytnutí příjemného prostředí pro práci a pomůcek k ní.