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1
TÉCNICAS DE MICROSCOPIA
TTÉÉCNICAS DE CNICAS DE
CARACTERIZACARACTERIZAÇÇÃO ÃO DE DE
MATMATERIAISERIAIS
por Prof. Dr. Henrique Kahnpor Prof. Dr. Henrique Kahn
! Microscopia óptica"Estereomicroscopia
"Microscopia de luz transmitida
"Microscopia de luz refletida
! Microscopia de feixe de elétrons"MEV - Microscopia eletrônica de varredura
"MET - Microscopia eletrônica de transmissão
! Estereologia (microscopia quantitativa)
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2
Evolução da microscopia
Comparação entre as técnicas de microscopia
Característica Microscopia óptica
Microscopia eletrônica de
varredura
Microscopia eletrônica de transmissão
Microscopia de campo iônico
Tensão de aceleração (kV)
− 3 a 50 50 a 1000 5 a 15
Faixa útil de aumentos
1 a 3.000 X 10 a 50.000 X 1.000 a 300000 1.000.000 X
Resolução (Å)
3.000 Å 30 Å 3Å 1 Å
Profundidade de foco com 1000 X
0,1 µm 100 µm 10 µm −
Densidade máxima de
discordâncias medida (cm/cm3)
105 (cavidades de corrosão)
106 (cavidades de corrosão)
1012 (lamina fina)
−
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3
MICROSCOPIA MICROSCOPIA ÓÓPTICA PTICA --APLICAAPLICAÇÇÕESÕES
!! IdentificaIdentificaçção de fases minerais;ão de fases minerais;
!! QuantificaQuantificaçção de fases minerais;ão de fases minerais;
!! ComposiComposiçção de fases minerais;ão de fases minerais;
!! Formas de intercrescimento e associaFormas de intercrescimento e associaçções.ões.
ESTEREOMICROSCOPIAESTEREOMICROSCOPIA
!! Visão estVisão estééreo (3D);reo (3D);
!! Aumentos 4 a 200 vezes (usual 10 a 100X);Aumentos 4 a 200 vezes (usual 10 a 100X);
!! DistinDistinçção de fases por meio de caracterão de fases por meio de caracteríísticas sticas morfolmorfolóógicas:gicas:"" cor, transparência, brilho;cor, transparência, brilho;
"" hháábito;bito;
"" clivagem, particlivagem, partiçção e fratura;ão e fratura;
"" luminescência UV.luminescência UV.
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4
ESTEREOMICROSCESTEREOMICROSCÓÓPIOPIO
zoom 3 a12 Xzoom 3 a12 X
IluminaIluminaçção:ão:incidente;incidente;transmitidatransmitida
ESTEREOMICROSCOPIA ESTEREOMICROSCOPIA --DISTINDISTINÇÇÃO DE FASESÃO DE FASES
zircão turmalina granada
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5
Rutilo
Zircão
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6
MICROSCOPIA DE POLARIZAMICROSCOPIA DE POLARIZAÇÇÃO ÃO POR LUZ TRANSMITIDAPOR LUZ TRANSMITIDA
!! Aumentos 20 a 1.000 vezes;Aumentos 20 a 1.000 vezes;
!! Recursos de polarizaRecursos de polarizaçção de luz;ão de luz;
!! DistinDistinçção de fases por meio de: ão de fases por meio de: "" caractercaracteríísticas morfolsticas morfolóógicas;gicas;
"" propriedades propriedades óópticas.pticas.
CALCITA CALCITA –– CaCOCaCO33
Como explicar a formaComo explicar a formaçção de uma dupla imagem?ão de uma dupla imagem?
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7
MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO ÃO POR LUZ TRANSMITIDAPOR LUZ TRANSMITIDA
MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO POR ÃO POR LUZ TRANSMITIDALUZ TRANSMITIDA
liga/desliga
intensidade de iluminação
oculares
objetivas
analisador/compensador
polarizador / diafragma e condensador
controle de foco
lente de Bertrand
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8
MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO POR ÃO POR LUZ TRANSMITIDALUZ TRANSMITIDA
controle de foco
diafragma
polarizadorcondensador
objetivas
analisador / compensador
platina giratória
REFRAREFRAÇÇÃO DA LUZÃO DA LUZ! Comportamento dos minerais transparentes e semi-
opacos em relação à luz •• isisóótropostropos (um índice de refração);
•• anisanisóótropostropos (dois ou três índices de refração, respectivamente, uniaxiais e biaxiais).
Indicatriz isótropa
x y
z
Indicatriz biaxialIndicatriz uniaxial
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9
PROPRIEDADES PROPRIEDADES ÓÓPTICAS PTICAS -- RELEVORELEVO
Relação entre o índice de refração do mineral e do meio no qual este está imerso:
A - baixo B - alto
ÍÍNDICE DE REFRANDICE DE REFRAÇÇÃO ÃO --LINHA DE BECKELINHA DE BECKE
! Tênue linha da luz na borda dos minerais que se movimenta ao se desfocar o microscópio.
ÍÍndice do mineral > meiondice do mineral > meio
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10
ÍÍNDICE DE REFRANDICE DE REFRAÇÇÃO ÃO --LINHA DE BECKELINHA DE BECKE
! Tênue linha da luz na borda dos minerais que se movimenta ao se desfocar o microscópio.
ÍÍndice do mineral < meiondice do mineral < meio
LUZ POLARIZADALUZ POLARIZADA
!! OscilaOscilaçção somente em uma direão somente em uma direçção.ão.
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MINERAIS ISMINERAIS ISÓÓTROPOSTROPOS
! Sistema cúbico;! Apresentam um único índice de refração;! São isótropos em relação à luz:
" sob nicóis cruzados (polarizador e analisador) estão sempre extintos (não visíveis) ao giro da platina
MINERAIS ANISMINERAIS ANISÓÓTROPOSTROPOS
! Outros sistema cristalinos que nâo o cúbico;! Apresentam dois ou três índices de refração;! São anisótropos em relação à luz:
" Pleocroismo (coloridos);" Extinção;" Elongação (hábito prismático);" Figuras de interferência.
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12
PLEOCROPLEOCROÍÍSMOSMO
! Minerais coloridos apresentando duas cores
distintas, cada qual concordante com um índice de
refração.
Observação em nicóis paralelos - ssóó polarizadorpolarizador
INTERFERÊNCIA DE LUZINTERFERÊNCIA DE LUZ
Atraso = (nAtraso = (n11 -- nn22) . d = birrefringência () . d = birrefringência (∆∆ ))
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Tabela de cores de interferência
EXTINEXTINÇÇÃOÃO
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
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EXTINEXTINÇÇÃOÃO
! Reta ou paralela
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
EXTINEXTINÇÇÃOÃO
! Simétrica
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
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EXTINEXTINÇÇÃOÃO
!! InclinadaInclinada
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
c
zz Λ c
MICROSCOPIA DE POLARIZAMICROSCOPIA DE POLARIZAÇÇÃO ÃO POR LUZ REFLETIDAPOR LUZ REFLETIDA
!! Aumentos 20 a 1.000 vezes;Aumentos 20 a 1.000 vezes;
!! Recursos de polarizaRecursos de polarizaçção de luz;ão de luz;
!! DistinDistinçção de fases por meio de: ão de fases por meio de: "" caractercaracteríísticas morfolsticas morfolóógicas;gicas;
"" propriedades fpropriedades fíísicas;sicas;
"" propriedades propriedades óópticaspticas;;
"" propriedades qupropriedades quíímicasmicas..
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16
MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO ÃO POR LUZ REFLETIDAPOR LUZ REFLETIDA
Amostra Amostra ortogonal ortogonal ààincidência da luzincidência da luz
PREPARAPREPARAÇÇÃO DA SEÃO DA SEÇÇÃOÃO! Corte da amostra;! Montagem da seção em resina;! Desbaste:
" manual em lixa d’água e/ou carborundum;" mecanizado em discos especiais;
! Polimento:" tecidos especiais com alumina ou diamante
como abrasivos;" disco de chumbo com alumina;
! Tipos de seções:" polida - luz refletida;" delgada/polida - luz transmitida e refletida.
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17
Corte da AmostraCorte da Amostra!! Discos Discos diamantadosdiamantados
Corte para seção delgada
DESBASTEDESBASTE
!! ManualManual !! Discos Discos especiaisespeciais
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18
Polimento Polimento -- LogitechLogitech
!! Tecidos Tecidos especiaisespeciais
!! Disco de Disco de chumbochumbo
Tipos de SeTipos de Seççõesões
!! PolidaPolida !! Delgada polidaDelgada polida
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19
DISTINDISTINÇÇÃO DE FASESÃO DE FASES!! CaracterCaracteríísticas morfolsticas morfolóógicas:gicas:
"" hháábito;bito;"" clivagem, particlivagem, partiçção e fratura;ão e fratura;
!! Propriedades Propriedades óópticas:pticas:"" cor de reflexão;cor de reflexão;"" isotropia / anisotropia;isotropia / anisotropia;"" birreflectânciabirreflectância;;"" refletividade (relativa ou absoluta);refletividade (relativa ou absoluta);"" reflexão interna; reflexão interna;
!! Outras propriedades fOutras propriedades fíísicas:sicas:"" dureza ao risco (relativa)dureza ao risco (relativa)"" dureza dureza VickersVickers (absoluta);(absoluta);
!! PPropriedadesropriedades ququíímicasmicas
!! minminéério de Cu,Pb (Zn)rio de Cu,Pb (Zn)
calcopirita
pirita
galena
esfalerita
pirrotita
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20
!! minminéério de cobre (rio de cobre (exsoluexsoluççãoão))
bornitacalcopirita
ISOTROPIA / ANISOTROPIAISOTROPIA / ANISOTROPIA
! Sob nicóis cruzados (polarizador e analisador
a cerca de 87-88º) observar se ocorre
mudança de cor ao giro da platina do
microscópio:
" não há mudança de cor ⇒⇒ iissóótropotropo;
" há mudança de cor ⇒⇒ anisanisóótropotropo. .
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21
!! hematita (hematita (nicnicóóisis cruzados)cruzados)
BIRREFLECTÂNCIABIRREFLECTÂNCIA
! Sob nicóis paralelos (só polarizador) observar
se ocorre mudança na cor de reflexão do
mineral ao giro da platina do microscópio:
" há mudança de cor ⇒⇒ birreflectânciabirreflectância. .
Obs.: BirreflectânciaBirreflectância corresponde a fenômeno equivalente a
dicrodicroíísmo / smo / pleocropleocroíísmosmo em microscopia de polarização
sob luz transmitida.
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22
molibdenita
" birreflectância
" geminação
REFLETIVIDADEREFLETIVIDADE
! Diferenças na intensidade de luz refletida
pelos minerais sob nicóis paralelos (só
polarizador);
! Pode ser avaliada:
" qualitativamente;
" quantitativamente (célula fotoelétrica).
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23
MEDIDA DE REFLETIVIDADEMEDIDA DE REFLETIVIDADE
! Comparação com padrões⇒ calibracalibraççãoão;;
! Luz policromática ou monocromática;
! Medida em ar ou imersão em óleo.
REFLEXÃO INTERNAREFLEXÃO INTERNA
! Aumento elevado" ( obj >20X);
! Nicóis cruzados" (polarizador e analisador);
Fenômeno de múltiplas reflexões internas
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24
DUREZA AO RISCO DUREZA AO RISCO -- Escala Escala TalmageTalmage
A A -- ArgentitaArgentita;;
B B -- Galena;Galena;
C C -- Calcopirita;Calcopirita;
D D -- TetraeditaTetraedita;;
E E -- NicolitaNicolita;;
F F -- Magnetita;Magnetita;
G G -- IlmenitaIlmenita
DUREZA VICKERSDUREZA VICKERS
!! Medida da deformaMedida da deformaçção causada em um ão causada em um
mineral por uma pirâmide invertida de mineral por uma pirâmide invertida de
diamante,sobre a qual diamante,sobre a qual éé aplicada uma certa aplicada uma certa
carga (0,1 a 500 g) carga (0,1 a 500 g)
D.V. = D.V. = (kg / mm(kg / mm22) , onde: ) , onde:
P = peso (g)d = diâmetro médio da identação (≈ 20 medidas)
1854,4 . P1854,4 . Pdd22
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25
DUREZA VICKERSDUREZA VICKERS
Escala e marcas de identaçãoDurimet
DUREZA VICKERS DUREZA VICKERS X X
REFLETIVIDADEREFLETIVIDADE
Microdureza Vickers (média)
RefletividadeMédia (%)
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26
MEVMEV –– MICROSCOPIA ELETRÔNICA MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURADE VARREDURA
MEV e EDS/WDSMEV e EDS/WDS
!! Aumentos 20 a 50.000 vezes;Aumentos 20 a 50.000 vezes;
!! Elevada profundidade de campo;Elevada profundidade de campo;
!! InteraInteraçção elão eléétrons trons -- amostra;amostra;
!! AnAnáálises qulises quíímicas pontuais (EDS / WDS).micas pontuais (EDS / WDS).
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27
MEVMEV# A coluna do MEV gera um
fino feixe de elétrons;# Um sistema de deflexão
controla o aumento da imagem;
# Interação entre os elétrons e a amostra;
# Detetores de elétrons coletam o sinal;
# A imagem é visualizada em um monitor simultaneamente a varredura do feixe de elétrons;
GeraGeraçção do feixe de elão do feixe de eléétronstrons
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28
Coluna e lentes Coluna e lentes
eletromagneletromagnééticasticas
Mecanismo de Mecanismo de
varreduravarredura
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29
INTERAINTERAÇÇÃO ELÃO ELÉÉTRONS AMOSTRATRONS AMOSTRA
## Fornecem informaFornecem informaçções sobre a composiões sobre a composiçção, topografia, ão, topografia, cristalografia, potencial elcristalografia, potencial eléétrico e campos magntrico e campos magnééticos locais.ticos locais.
PROFUNDIDADE DAS INTERAÇÕES GERADAS
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30
ELELÉÉTRONS RETROTRONS RETRO--ESPALHADOSESPALHADOS
# Compreende espalhamento elástico de elétrons cuja trajetória foi desviada em mais de 90° em relação à direção do feixe incidente. Mostram estreita relação de dependência com o número atômico e a energia dos elétrons (50 eV atévalores correspondentes a energia do feixe incidente).
# Permitem a individualização de fases através de contraste de tons de cinza em função do número atômico médio (Z) - diferenças Z > 0,2.
ELELÉÉTRONS RETROTRONS RETRO--ESPALHADOSESPALHADOS
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31
ELELÉÉTRONS RETROTRONS RETRO--ESPALHADOSESPALHADOS
BSE Ouro primário, Salamangone, AP
ELELÉÉTRONS SECUNDTRONS SECUNDÁÁRIOSRIOS
# Compreendem os elétrons da camada de
valência perdidos que emergem através da
superfície da amostra;
# Englobam todos os elétrons de energia
inferior a 50 eV;
# Possibilitam a visualização da topografia da
amostra, com elevada profundidade de foco.
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32
DETETOR DE ELDETETOR DE ELÉÉTRONS TRONS SECUNDSECUNDÁÁRIOSRIOS
ELELÉÉTRONS SECUNDTRONS SECUNDÁÁRIOSRIOS
SE
diatomácea
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33
CATODOLUMINESCÊNCIACATODOLUMINESCÊNCIA
# O bombardeamento da amostra por um feixe de elétrons pode dar origem a emissão de fótons de comprimento de onda elevados, situados nas regiões do espectro eletromagnético referentes às radiações ultravioleta, visível e infravermelho. Este fenômeno, bem evidente em alguns minerais (fluorita, apatita, etc), é denominado de catodoluminescênciacatodoluminescência.
CATODOLUMINESCÊNCIACATODOLUMINESCÊNCIA
zircão
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34
RAIOS RAIOS -- XX
## O espectro de raiosO espectro de raios--X resultante da interaX resultante da interaçção ão
eleléétrons / amostra trons / amostra éé constituconstituíído por dois do por dois
componentes distintos: componentes distintos:
$$ raiosraios--X X caractercaracteríísticostico, que permite identificar e , que permite identificar e
quantificar os elementos presentes, quantificar os elementos presentes,
$$ raiosraios--X X contcontíínuonuo, respons, responsáável pelo vel pelo ““backgroundbackground”” em em
todos os ntodos os nííveis de energia.veis de energia.
LINHAS DE LINHAS DE
EMISSÃO EMISSÃO
ATÔMICAATÔMICA
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35
RAIOS RAIOS -- X CONTX CONTÍÍNUONUO
K
L
M
ESPECTRÔMETROS DE RAIOS ESPECTRÔMETROS DE RAIOS -- XX
#o espectrômetro de dispersão de energia
(EDS);EDS);
#espectrômetro de dispersão de comprimento
de onda (WDS).WDS).
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36
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS ESPECTRÔMETRO DE RAIOS -- X POR X POR DISPERSÃO DE ENERGIA (EDS)DISPERSÃO DE ENERGIA (EDS)
#discriminação de todo o espectro de energia
através de um detetor de estado sólido de
Si(Li) ou Ge.
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS ESPECTRÔMETRO DE RAIOS -- XX
EDSEDS
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37
Bastnaesita ParisitaCe - 31,1 26,5La - 23,3 19,9Nd - 3,35 3,80outros ETR - 1,67 1,90Sr - 1.95 1,22Y - 0,21 0,71Th - 1,36 0,72Ca - 0,91 8,11C - 5,59 6,42O - 22,3 25,7F - 8,50 7,39
Ln2O3 - 69,9 61,8CaO - 1,27 11,4
Fase Clara - Bastnaesita Fase Escura - Parisita
ETR, Barra de Itapirapuã
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS ESPECTRÔMETRO DE RAIOS -- X POR X POR DISPERSÃO DE COMPRIMENTO DE ONDA DISPERSÃO DE COMPRIMENTO DE ONDA
(WDS)(WDS)
#cristais analisadores e difração (nλ = 2 d sen θ)
são empregados para a discriminação dos
raios-X segundo o comprimento de onda da
radiação (monocromador).
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38
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS ESPECTRÔMETRO DE RAIOS -- XX
WDSWDS
ESPECTRÔMETRO DE RAIOSESPECTRÔMETRO DE RAIOS--X : WDSX : WDS
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ESPECTRÔMETRO DE RAIOSESPECTRÔMETRO DE RAIOS--X : WDSX : WDS
!! Cristais analisadoresCristais analisadores
COMPARACOMPARAÇÇÃO ENTRE EDS e WDSÃO ENTRE EDS e WDS
Espectro por WDS(escala log)
Espectro por EDS
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40
COMPARACOMPARAÇÇÃO ENTRE EDS e WDSÃO ENTRE EDS e WDS
Características WDS - cristaisanalisadores
EDS - Si(Li) ou Ge
Número atômico z ≥ 4 z ≥ 4 (janela ultrafina)Intervalo espectral resolução do espectrômetro
(1 elemento por vez)todo o intervalo disponível0-20 keV (multi-elementar)
Resoluçãoespectral
dependente do cristal(≈ 5 a 10 eV)
132 a 145 eV detetor de Si111 a 115 eV detetor de Ge
limite de deteção ≈ 0,01 % ≈ 0,1%Contagem máxima 100.000 cps
para uma linhacaracterística
depende da resolução2.000 a 100.000 cps para todo o
espectro (Ge ≈ 4 X Si)diâmetro usualmínimo do feixe
≈ 200 nm (2000 Å) ≈ 5 nm (50 Å)
tempo por análise 5 a 30 minutos(depende do nº de
elementos)
1 a 3 minutos
Ca, P;Si;Fe
Fosfato de Tapira, MG
Ca, P;Fe
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METMET –– MICROSCOPIA ELETRÔNICA MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE TRANSMISSÃODE TRANSMISSÃO
! Estudo de defeitos cristalinos:" discordâncias
" defeitos de empilhamento.
! Estudo de defeitos de empilhamento;
! Estudos de precipitados muito finos -nanométricos.
METMET
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METMET –– PreparaPreparaççãoão de de amostrasamostras
Elemento Número atômico
Densidade (g/cm³)
Espessura máxima (Å)
Carbono 6 2,26 >5000 Alumínio 13 2,70 5000 Cobre 29 8,96 2000 Prata 47 10,50 1500 Ouro 79 19,30 1000
Diferença de potencial (kV) Fator de multiplicação 100 1 200 1,6 300 2,0 500 2,5
1000 3,0
Espessura máxima transmissível a 100 kVEspessura máxima transmissível a 100 kV
Espessura máxima transmissível a 100 kV
Efeito do aumento da tensão de aceleração - base 100 kV
METMET –– PreparaPreparaççãoão de de amostrasamostras
Espessura máxima transmissível a 100 kVEspessura máxima transmissível a 100 kV
Amostras de lâminas finas do prAmostras de lâminas finas do próóprio materialprio material
• Preparação de lâminas finas de metais e ligas: • corte de lâminas de 0,8 a 1,0 mm de espessura
• polimento mecânico até 0,10-0,20 mm de espessura
• polimento eletrolítico final.
• Preparação lâminas finas de polímeros e outros materiais
orgânicos:• microtomia, onde uma navalha corta películas finas e com
espessura controlada;
• ultramicrotomia - material resfriado em nitrogênio líquido.
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METMET –– PreparaPreparaççãoão de de amostrasamostras
Espessura máxima transmissível a 100 kVEspessura máxima transmissível a 100 kV
•• RRééplicas da superfplicas da superfíície da amostracie da amostra ("negativo" da superfície
observando-se o contraste relativo às variações de
espessura):
• de plástico: solução diluída de plástico em um solvente volátil
formando um filme;
• de carbono: este material é evaporado na superfície da amostra.
Esta técnica pode ser utilizada também para arrancar partículas de
precipitados da amostra, a chamada réplica de extração;
• de óxido: usada principalmente para ligas de alumínio, o filme de
óxido é obtido por anodização de uma superfície previamente
polida eletroliticamente.
METMET -- FORMAFORMAÇÇÃO DE IMAGEMÃO DE IMAGEM! Sólidos amorfos
contraste em scontraste em sóólidos amorfos com varialidos amorfos com variaçção de densidade ão de densidade --região B região B éé mais densa que a região Amais densa que a região A
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44
METMET -- FORMAFORMAÇÇÃO DE IMAGEMÃO DE IMAGEM! Sólidos cristalinos
METMET -- FIGURAS DE DIFRAFIGURAS DE DIFRAÇÇÃOÃO
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METMET -- DIFRADIFRAÇÇÃO DE ELÃO DE ELÉÉTRONSTRONS!! Ferro alfa, com as manchas ou pontos indexadosFerro alfa, com as manchas ou pontos indexados
ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIAOU OU
MICROSCOPIA QUANTITATIVAMICROSCOPIA QUANTITATIVA
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ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIA
!! Estudo das relaEstudo das relaçções entre estruturas ou ões entre estruturas ou feifeiçções tridimensionais de uma amostra e seus ões tridimensionais de uma amostra e seus parâmetros de medida em imagens parâmetros de medida em imagens bidimensionaisbidimensionais
ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIA 3D3D
2D2D
SeSeçções aleatões aleatóórias de rias de esferas de diâmetro desferas de diâmetro d
![Page 47: TÉCNICAS DE CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS · Estudo de defeitos cristalinos: " discordâncias " defeitos de empilhamento. ! Estudo de defeitos de empilhamento;! Estudos de precipitados](https://reader030.vdocuments.site/reader030/viewer/2022011806/5be446a409d3f281048cfedc/html5/thumbnails/47.jpg)
47
ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIA
! PARÂMETROS DE INTERESSE:"Dimensões de feições;
"Forma de feições;
"Proporções volumétricas;
"Associações minerais:% Grau de liberação;% Textura e orientação;
ProporProporçções volumões voluméétricas tricas --AnAnáálise modallise modal
! As proporções volumétricas são determinadas
através de medidas de áreas, linhas ou pontos a
partir de seções não orientadas, ou material
particulado previamente classificado em estreitas
faixas granulométricas.
VVvv = A= Aaa = = LLll = P= PppPrincPrincíípio da pio da EstereologiaEstereologia
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ANANÁÁLISE DE LISE DE IMAGENSIMAGENS
!! AvaliaAvaliaçção quantitativa de feião quantitativa de feiçções ões geomgeoméétricas expostas em imagens tricas expostas em imagens bidimensionaisbidimensionais
ANANÁÁLISE DE IMAGENSLISE DE IMAGENS
! Imagens digitais:
resolução (500 a 3000 pixels)
pixel
profundidade (bites por pixel)
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SEQSEQÜÜÊNCIA DE OPERAÊNCIA DE OPERAÇÇÕESÕES
! aquisição da imagem (MO ou MEV);
! armazenamento da imagem;
! processamento de imagem;
! detecção das feições de interesse;
! processamento de imagem binária;
! medidas;
! apresentação de resultados.