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Page 1: CIW Vol.3 No.2 (Apr.,1989) - JWES · (b)平面残留応力の非破壌測定 平面応力の場禽には,現在では,いずれの測定 法でも主応力方向と叢応力差を求めて,せん断応
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1.技術資料

1.1溶接継手の残留応力の測定

(1)残留応力とは

 溶接継手の残留応力を測定する場合,その測定法は,大ぎくわけると破壊測定と非破壊測定法が

あるが,その測定法を述べる震えに,その対象である残留応力の定義をはっきりさせておく必要が

ある、

 残留応力はつぎのように分類される、

劃膿㌶蝋羅籍

①は霞薫や組立応力のように外部からの荷重の作用によらず,内部に応力が閉じこめられ,二の

応力を簡単に零にできない場合で,元応力ともいう。たとえば鉄橋,鉄塔などの部材に生じている

応力である。

 ②は一般に残留応力とよばれているもので,これも溶接材の残留応力のように,いわゆる欝視的

分布をもつα)と,結鼎の粒子毎に変化し一粒子内においてさえも不同の分布をする,いわゆる微視

的分布を持つ(獄)の2種類がある、

 これらの残留応力は,これ蜜での研究の結果 (i)静荷重の場合,引張残留応力が存在している

と,き裂が発生しやすく,残留応力のない場合より,低い荷重で破断する。 (呈1)脆性破壊では引張

残留応力の存在する溶接構造物は低応力で破壌する. ㈱疲労破壊は塑性変形による残留応力の減

少あるいは,し緩は殆んど行われない場禽が多いと考えてよいので,残留応力は外力にその蛮震加

算されて部材に作用すると考えてよい. ㈲クリー一プでは残留応力は外力に加算されて作用する、

(v)偏心,初期たわみと共に座屈の原霞となる. 繍腐食におよぽす影響が大きく,応力腐食割れ,

腐食疲労割れの原因となる。  以上のようなことがわかっている。

(窯)残留応力の測定法

 前述のように残留応力の測定には破壊測定と非破壊測定の2つがあり,以前は多くの研究が応力

解放による破壊測定で,鉄橋,船舶,石油タンク等の溶接部の実物測定には不適であった.

 破壊測定は一般的に融c畑法が用いられるがここでは省略する図葺~7などでゲージ法と書かれ

ているのがその方法である。

 非破壊測定法では一番多く用いられているのがX線応力測定法で,磁気ひずみ法とともに実用

化されている。ここでは,誌面の都合でX線応力測定法の説賜は省略するが,詳細は文献ωを参

照いただきたい.

嶺吉永昭男 記

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畿w通儒(A鐸。欝細)

 薮1残留応力の非破壊測定の適・不適     最近,超音波を利用し,その音速と応力との関

                 係を利用して残留応力を測定する音弾性法が,急

                 速に発達し近い将来実用化が期待される、これも

                 (縷)に測定例をのせる。その他に,光弾性材料の小

                 薄片を測定部にはりつけ,その中央にキリで母材

                 憲で小孔をあけ,その応力稿模様から測定材の残

                 留応力を求めようとするもの,揖ゼットゲージを

                 測定部にはり,その中央にやはリキリで孔をあ

け,そのひずみ分布の変化より残留応力を求めるものなどがあるが,これらは豪だ研究室内での測

定法と考えてよい。

 表蓋に,これらの残留応力の測定法と前項で示した残留応力との関係を示す、◎印は最も測定に

適しているもの,○印は測定可,△はどうにか測定できるもの,x印は不可とする。

($)磁蕪ひずみを利用する測定法

 原理は図iに示すように,被測定材の蓑面に,雛の字形の高透磁率の材料に鷲イルを巻いたプ麟

一ヅを当てると,閉じた磁気回路ができる。惚イルに電流を流すと磁界を生じる.

   応力定法

初期応力 獲組的留応力

微粒的留応力

X線応力測定法 △ ○ ◎

磁気ひずみ濠捷法 ○ ○ ×

音 弾 性 法 ○ ○ ×

光弾性材料 △ ○ ×

購ゼヅトゲー一ジ △ ○ ×

一麟一一X軸出力電流値ム

v

z

燈 櫛皿~鞠i

∬「

㎜   ㎜  ㎜ w

園1 測定原理

 1プローブ∬鷺 コイノレ

 欝被測定材 w磁気回路 V葡璽

へ黛6 一炉γ軸出力電流値ゐ

、   葦\      爵5      甑      崎

 幾4  \      耀3      鞍      麟    謄          一_       2

  、、圧懸齢、訴、\

       ノ      /

 吐io  -5  0

、㌦     iO  玉5

図驚 引張・圧縮応力と撮力電流

 この磁界の中で強磁性体である被測定材に力を加えると,磁気ひずみ現象により,その透磁率が

変化し,磁気回路の磁気抵抗が変化する。したがって,ヅ羅一一ブに巻かれた慧イルのインピーダン

スが変る。これを,ヅリッジに組んでおくと,ブリッジの平衡がくずれて,不平衡電流を生じる。

図2に示すようにこの電流が応力に対応するので,これを測定して応力を見出す。

 ここでは原理のみ説明するが,詳細については文献(叢)を参照されたい。

(尋)溶接継手の残留応力の測定例黛)3)

 磁気ひずみを利爾した測定法で溶接継手を非破壊で測定し,破壊測定をした場合と比較した例を

以下に示す。X線応力測定法で溶接継手を測定した例も多くあるが,母材の部分は磁気ひずみを

                一驚一

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磁騨通儒(趣瓢欝鋤

利用した方法と同じか,それ以上に破壊測定した場合と一致するが,熱影響部で精度が悪く破壊測

定と大ぎく値が異なる場合が多い。

 図3は,中央で突含せ溶接をした,裏,倉oo×玉,ooOx25醗鵬の大形船用溶接試験片で,ビー一ドと直

角に測定軸を設けストレステスタで非破壊測定した。この場合,図曝に示すように同じ製法で作ら

れた溶接試験片の母材,ビード,熱影響部の三つの部分より校正曲線を切り出して,二れを用いて

応力に換算した。測定後,測定点に3軸群ゼットゲー一ジをはり,瓢×器×瓢難騰の立方体に切り

出して応力解放し,ストレステスタで非破壊測定した場合と比較し,土3~婆k霧f/朧灘2の差で測定

できた。その結果を図5に示す。

 図蔭はやはり中央で突合せ溶接した溶接材で,応力状態の複雑なビード部分と熱影響部は,応力

測定範囲の狭い小型テスタを用い,他は精度のよい標準テスタを使用した場合で,図でひずみゲー一

ジというのはゲージをはり応力解放をした場禽である。図7は溶接ビードが二列ある場合の測定例

で,ストレステスタというのは非破壊測定した場禽で応力解放の場禽と比較している.

 磁気的な測定では,残留応力を簡単な装置で非破壊測定できるという特徴があるが,測定対象は

主として巨挽的な残留応力であり,微視的残留応力の測定は今後の問題である、以上のことを褒と

めてみると

図$ 大形船爾溶接試験片

鰻欝謡めぎ

ζ

R麹

30

20

!0

0

一!o

盆Φ悩i

『土

50 、 わ藷

c

…慈1    7凱

_L50

感①1

溶接材 鱗     帥23.5m盤噌_ビード

&,穣ビード,獣母材,窃熱影響部

図毒 校正購試験片の切り取った位置

o轟

御/ニニ鷺刷

戯.∫ 標轡ス雌髪一ゲージ

20

欝 3G 39 40 5G 60    70

ビード中心測定位置

図暴 大型溶接試験片の残留応力の測定

      一3一

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磁騨通億(紳鶴欝鎗)

 50

畿 4G黛叢

嚇30ぎ

壼20竃門 沁鰍“ゐ

賦 o

 一一10

  、数二艶騨テ 王

  作ぱ謝撒スタ    :象設}ひずみゲージ

ノ、・

継、     。           △ ’          〆

i5ぞ923減§緬測定位置

媛o

一!

.〆③lo

図鄭 小型テスタを併縮した溶接材の残留応力測定値

ρ  30襲鰻\  20 藝

否 !0

  o鞍擾

髄一10鰹

 一20

一30

㎜鴫 幽溶接線方向(ストレステスタ)

一義一一  〃  (応力解放)

←溶接線遣角方向(ストレステスタ)歯嘱餅一    〃   (応力解放)

藻.、,鵜

  ぎ善 1

蚤 3 ぞ ガ ま あ ll

蕊 、卜

曜釧げ       1》

図7 溶接材の残留応力測定値(2列溶接ゼードの

  ある場合)

蜘蒙

200

iOG

0

一!0()

一200

STS42

     曾瀞

     協     /㌔

     灘     ぎ 識△轡    ム慧     3 郡     鯵

讐鱒 く》 /鵯△ 鯵 o 血磯/ 、ノ

 の     Rg掘o     (     〈      (      鵡

の碧欝s㈱t雛鷲t益磁

盤CO篇V(鏡sio魏a1

 灘ε謝od轟

麟St麟鍛塑蟻墓e 搬む癒磁

搬艶金念

     、8麟

      bo       \

       鞠0

図霧

 50       !GO   125

  X     (螢m)

残留応力の分布

(畿)単軸残留応力の非破壌測定

 単軸の場合には,引張,圧縮または引張か圧縮

か不萌のいずれの場合にも,応力解放した場合と

±2藍麟/灘燃黛以内の差で簡単に求めることができ

るQ

(b)平面残留応力の非破壌測定

 平面応力の場禽には,現在では,いずれの測定

法でも主応力方向と叢応力差を求めて,せん断応

力差積分法で解析するので,応力解放の場合との

差は約血3~舷霧艀鱗鵬2である。

 図轡)は幅難0騰搬,厚さ縁繍灘の原子力用炭素

鋼STS強の平板をやはり突合せ溶接を行ったも

のを,音弾性法を用いて非破壊で測定し,破壊測

定をしたゲー一ジ法と比較したもので,溶接線方向の応力のみを示している。この方法は今後の精度

の陶上が期待されている。

〈参舞文献〉

笠) ひずみ灘定,賛本破壊検査協会(扮$0)勲0~230

2) 吉永飽1機械学会論文集,紹一総5(欝7㌘)65。

3) 吉永1機械の研究,欝磁0(漁$6)鱗。

紛 荒居,小林1第雛回SSMシンポジウム,目本非破壊検査協会(難紛)36。

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劔w通儒(A整罫.欝鐙〉

璽.慧 放射線の照射方向が階調計の濃度差に及ぼす影響*

(1)はじめ鵜

 階調計は濃度差により評価するため,透過度計の識別線径と比較して個人差の少ない管理ができ

る。しかし,平板丁溶接継手では斜めから放射線を照射するため,透過写真の具備しなければな

らない条件は,平板突合せ溶接継手と異なった考えをしなければならない。本報告は,放射線を斜

め方向から照射する場合の階調計の濃度差について検討したものである、

(鋤 階調計の濃度差

 図蓋のP点および受点における露出量賜及び賜は,それぞれ次式で与えられる。

濃蹴糠/        ・・〉したがって,

賜為+謡(・+勢)

  一瓢  罵                              (2)  E叢ろ+1s主   1Si        蓋十一         ろ ここで,ム篇為ガ醐,義鵬為6壌(丁+瑚であり,玄た1,1s玉/ム篇趣,1s2μ2篇晦とすると(2〉式は

  馬    i十露2  一・雛ボμ民一                                 (3)  裁    蕊十晦

 露出量Eと透過写真の濃度βとの関係は,近似的に次式で示される。

   の罵認+δ(駆かぶり濃度(含むベース濃度))                  (婆)

(3)及び(垂)式より,

  恥一轟   翌十驚2  一一一嵩ビ眠一一一                               (5)  ヱ)重一占   愛十筋

           i十勘   恥欝(葛一毒)ず眠一+6                    (6)           玉十衡

したがって,

  ゆ協蘭(酬・(卜囲驚)       (7〉

 (7)式から明らかなように,階調計の濃度差は,階調計に近隣する母材部の濃度窮,階調計の厚

さと線質の比μ・鷺及び母材部と階調計中央におけるそれぞれの散乱比織,織とによって決玄る。

(紛 斜めから放射線を照射した場禽の階調計の濃度差

 図丑に示すように,斜めから放射線を照射すると試験体及び階調計に対する放射線の透過厚さは

それぞれ裏/co詔倍に増加する。例えば,照射方向3ぴでは蓋.絡倍,鱒⑪では裏.騒倍になる.このた

め,露出時間を増すか,管電圧を高めて撮影する必要がある。

 *新腿本非破壊検査㈱ 脇部康彦蘇N瓢資料No.紛今2ヂ

                  ー5一

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蠣w通儒(A鈴鶴欝鱒)

 鋼平板試験体を照射方向ぴで撮影する場合は,板厚と線質の積麹丁が2~6の範囲で撮影が行

なわれており,また,露出量(鵜A・錘論)が一定となるように板厚に応じて管電圧を選択すると板

厚が小さい場合を除き,μ・Tは轍ぽ一定となる1)。

 図2は厚さ嚢.フ懲艶の鋼平板試験体を種々の照射方向から撮影した場合と,試験体の厚さを変え

て照射方洵0。で撮影した場合について,放射線の透過厚さをベー一スにLた露出線図を求めた例で

ある、図2から照射方向が異なっても透過厚さが同じであれば,必要露出量は同じであることがわ

かる。したがって,放射線を斜めから照射して撮影するときの透過厚さと線質との関係は,照射方

陶0¢における板厚と線質との関係と同じである。

 放射線を真上から照射する場合のμ・κは,μ・T(驚C)を用いて次式で示される。

       κ   8  μ曹諜μ・T・一澱ひ一一                        (8)       γ   γ

 放射線を斜めから照射して撮影するとぎに,管電圧はその蓑蓑で露出時間を増加して撮影する場

合は,μ・丁瓢Cの豪窟であるから,

      H  義  μ・萬灘ひ一9一                          (9)      γC傭θ

となり,真上から照射する場合よりも大きな濃度差が期待でぎる。

 一方,露出時間が変化しないように管電圧を高くして撮影する場合は,μへ(劉co諮)灘Cとな

るから,

      互      cひ諮  8  μへ鵜蹴ひ一一一灘ひ一(灘μ禰)                    (鋤       T   T      葡となり,真上から照射する場合と同程度の濃度差しか期待できない。

 次に,母材部及び階調計中央部の散乱比について考える。

 図2から,厚さTの平板試験体を照射方向θで斜めから撮影する場合の敵乱比は,このときの

                     ioOO          }

                     500

 試験体

X線フィルム

θ     を

w 7

階調計

レム Q轡

κ/CGSθ

7/cosθ 駆卿・cosθ

図董 撮影配置

8

禽) 200

織100

50

20

#三〇〇+PbO照醗f&む

芝EX峨60G疑80KV診,5mA

FD600猟m験体 調板ハイレンドール20℃紛

度 2.5。c

Ol十方ト方

ぐil韓

欝1照鮒方痢0。

1照射方向ぴで散駄線を少なく

 した酎置

9     !0    i1    12    13    !4    蒐5

      透過厚さ(mm)

図窯 照謝方向が変化した場禽の露患線図

16

6

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綴w逓儒(A郷鴛鋤

透過厚さT/cひ”と等しい厚さの平板試験体を照射方向ぴ,すなわち真上から照射して撮影すると

きの散乱比とほぼ等しいことがわかる、つ褒り,平板試験体では斜めから放射線を照射すると敵乱

比は透過厚さに比例して増加する。

 また,斜めから放射線を照射すると,照射方向からみた階調計の寸法は図裏に示すように躍・

鵬拶と小さくなる、つ談り,…辺躍の正方形階調計が見掛け上躍×観鰹醗の長方形になってい

ることになる。

 したがって,照射方陶の傾きが大きくなるほど試験体及び階調計の透過厚さが増加し,階調計の

見掛けの寸法が小さくなる。そのため,母材部の散乱比物の増加に比べて階調計申央部の敵乱比

物の増加のほうがはるかに大ぎくなり,管電圧はそのままで露出時間を増加させて撮影しても,

(9)式により期待したほど大きな濃度差が得られない。豪た,露出時間が変化しないよう紅管電圧

を高くして撮影する場合は,照射方向ぴで撮影する場合より,階調計の濃度差は小さくなると考

えられる.

 また,以上のことから,斜めから放射線を照射する場合の階調計の濃度差を考えるときの勘デル

として,図3に示すように,厚さγ/cゆ詔の試験体上に厚さ酬螂夢で寸法が躍×多御c囎θなる階

調計を置いたモデルを想定することができると考えられる.

   Q

図講 図3と敵乱此の等しいモデル

⇒孫倉

(4〉鋼平板試験体における確認輿験結果

 (i)照射方向と階調計の濃度差

 X線を斜めから照射した場合の階調計の濃度差は,透過厚さの増加に対応するため,管電圧は

その裏まに露出時間を長くして撮影すると,低管電圧(置乃鼠V欝)の場合に照射方向45。で濃度差が

かなり低下したのを除けぽ,照射方向の傾きによらず濃度差はほぽ一定となった。

 また,管電圧を高めて露出時間が変わらないように撮影すると,照射方向の傾きの増大にともな

って濃度差は小さくなった、実験結果の例を表五及び表2に示す、

 (ll) モデルの確認

 X線を斜めから照射して撮影するときの階調計の濃度差を推定する方法として図3に示すモデ

ルは適当であることがわかった.実験結果の一例を表3に示す。

7

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覗w通信(帥鶴欝鱒)

 蓑1 照射方陶と階調計の温度差

(鷲鰍v獅幡A灘撫,階調計辱零驚瓢繍)

 襲窯 照射方鶴と階調計の温度差

(i7撫V欝識伽漸綴簸,階調計厚さ2騰瓢)

照辮陶

管電圧嚢v夕

露出聞

母材部沿

階調計の

濃か 濯〉の照射

向管電圧

藪V登)

露撮闇

母材部 の 階調計 灘

認沿 認剃η

ぴ 22む ゴ○ぴ 2。瓢 蓋.83 の.認 倉。蓋7 ぴ ”§ 盛鳩ぴ 黛。懸 亙.フ9 o.垂9 o。鍛

欝ゆ鷲む

25

ゴむガ

矯ぴ

黛、黛倉

.22

i。83

.畠6

窃.37

.36

o.茎7

,絡

三5ひ”誉

 『

420” 2.i6 i.70 o.妬 む。驚重

3ぴ灘0

35

プ3ぴのガ

2.綿

.隻G

i.75

。7$

o.3善

。32

O.i6

。蓋5

30。三乃

5

難矯o”

むo”

窯.23

,20

董。掌6

、77

o。蔓7

.婆3

o。2i

.20

鱒。2驚o

窯’3ガ

70ガ

2.2些

。総

盆。認

.総

9.36

.30

o.三6

.婦

鱒。i篠

G5

蓋ゴ嚢ぴ

むぴ

2.欝

、32

萱。70

.繊

む.鱒

.些G

o。蓋9

.”

蓑3 モデルの確認実験結果の例

露撮条件

姓+2(皇5¢),些5。* 20+黛.鎌5x蓋o),o。

母材部D 階調計欝 捕β 滋》φ 母材部沿 階調計D 濃の 舖η/沿

㈱kV欝イ倉ぴ

20kVザ2’3ぴ

o滅vザ鱒ぴ

2.総

.2墨

.3驚

蓋.総

,総

、92

む、3G

。36

.鱒

o,聾

.i6

.i7

2.鰺

.2驚

.33

i.$7

,$5

.窃

む。3蓋

.37

,強

o.盤

.董7

.童8

寒試験体の厚さ+階調計の厚港(階調謙の寸法),照尉方陶

(難)窟とめ

 放射線を斜めから照射すると,階調計を透過する厚さが増加する.しかしながら,放射線透過試

験における試験体の透過厚さと放射線の線質との関係,さらに母材部及び階調計中央部の散乱比に

ついて考察した結果,階調計の濃度差は透過厚さの増加に比例して増大しないことがわかった。窟

た,実験により鋼平板試験体の場合には,照射方麟ぴの場合と比べて階調計の濃度差は,同程度

かやや小さい値となることが確認された。

 したがって,照射方向ぴにおける透過写真が具備しなければならない条件の階調計の濃度差に

関する規定を,その褒濠放射線を斜めから照射する場禽にも使用したほうがよいと考えられる。

 また,放射線を斜めから照射して撮影するとぎの階調計の濃度差を推定する方法として図3に示

す董デルは適当である。

〈参考文献〉

蓋) 仙鐙,平山,山中:r低エネルギーX線透過試験における散乱比の箋験式」,昭和53年,ND置関西支部研

 究発表会概要,麹.

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磁w「 儒(A騨.鰺細

黛. CXW試験問題の解説

                                       問 図に示すような半構円形をした表面欠陥を有する構造物がある。図において6》幽とす

る。欠陥の深さが進展して貫通する護での繰返数現を求めなさい。ただし,

   4κ罵撫》万瀟(惣/黛冨,翻認〉識2×裏ポ1×(滋κ)婆

で与えられるものとする。ここで,認κ:応力拡大係数範囲,滋ポ繰返応力,露:欠陥の深さ,

そしてN l繰返数である、また,撫瞬O k副灘搬2,幽誘猟騰,そしてβ牒20灘鵬とする.

〈参考>

                        2鳶   ∫    ぬ   ㎝罵㎜κ”心cot渥   楡職驚κ

」£解説〕

菰噸σ一ぬ一灘2×裏o㎜鴛×(滋κ)喚躍7v

(五)

(2)

と与えられているから,式(薫)を式(2)に代入して欠陥深さの初期値鞠から貫通するまでの深さ還

まで積分を行う。すると,繰返数㌶は次のようにして計算でぎる。

準∬C(鑑)・一/lC(滋鐸)・(2券職ぜ驚/2β

一C(滋1)耀・箏・(一搬一舞)1一,.C(あび牌趣舞鰐一毒(砺}

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すなわち現謙7.器x餅回となる。

く涯> 最近は各種構造物の寿命予知が行われ始めている。この場禽,至)欠陥の検患,2)欠陥の定量化,欝)欠陥

 の標準化,喚)欠陥の伝播状況の解析(寿命予知)のような手順でふつう行われいる。その結果をふ藪えて欠

 陥の判定を行い,必要がある場禽には鰐象個所の補修窟たは交換を行っている。蓑た,破損解析及び破撮事

 故事例集の参考書として下記のものがあるので,参考にして下さい。(隻)

(2)

(3)

(農)

(5〉

(馨〉

吉懸:金屡破断面の見方,(昭鱒),β刊工業新聞社

下膿1鉄鋼製贔破損事故の調鷹・解析法と原國の究賜,(笠9乃一9),応罵技術患版

畏岡:機械部材の破損解析,(昭騒一3),工学図書

機械学会1機械・構造物の破損事例と解析技術,(昭59畷0)

Vo黙猟磁ri磁鼠麟N即漁徽(橋本,横堀,辻共訳)1機械部韻・鉄鋼材料の事例集,(昭5§彗2),丸善

酉磁:機械機雛破損の原霞と対策,(磁畷2),欝刊工業新聞社

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縣w遇信(A群,欝欝〉

難.αW認定事業者嵩会社紹介灘

i 会  社  名 菱明技硫株式会社                                i

i 本社所在地 攣鰺3 広轟市溺匡観音新町婆丁段6番地鍛号 欝総2磯鱗づ鱒o          i

l 代表春氏名 取締役社長 山崎大蔵                                i

i 認定番号 第鱒c一懸号                                  l

i 認定種別C種                       ll 認定部門 放射線透過検査部門,趨音波探傷検査部門                       1

髪沿革慧

 菱明技研株式会社は,三菱重工業株式会社の紛0パーセント出資の関連会社として,同社技術本

部広島研究所の研究・試験業務に協力するため,昭和鱒年に設立され蓑した。以来,同研究所の技

術移転を計るとともに,人材の育成,技術力の向上に努め,実務経験を積み重ねながら,材料試

験,化学分析等の基礎試験からメカト獄ニクス関係のソフトウエア,ハードウエアを含めて,パイ

饗ヅトプラントの計画・設計・製作・据付・試運転に至るまで幅広い分野にわたってエンジニアリ

ング会社として進展してまいり褒した。

 その間,昭和欝年勲月には検査部門を新設し,三菱重工業㈱広島製作所の非破壊検査技術・陣容

・設備を受け継いで検査業界に参入いたしました。この部門についても,非破壊検査はもとより,

…般検査,特殊検査も含めた技術員の質的向上に努力と経験を重ね,昭和60年にはCIW-C種の

事業者認定を取得し,今欝に至っており蓑す。

鑑特色慧

 当社は,次のように各種の計測・検査はもとより計算・解析さらには破壊原因の究明・診断,余

寿命の推定等についても対応でぎる陣容と設備を有しており,瓢ンジ諜アリング部門および検査部

門の爾者の力を結集して顧客のあらゆる二一ズにご奉仕すべく努力しており蓑す。

 轡要素技術全般の試験・解析・調査・評価

  ○材料,物性,腐食,強度,騒音・振動,伝熱,溶接など

 轡環境調査・解析・評価

 禽各種非破壊検査,一般検査代行

 藩雛ンクリート構造物劣化調査

 磯プラント・機器・装置の技術解析・調査・診断

  ○排ガス,排水,廃棄物等の総合計測 ○熱,動力等の瓢ネルギー量の計測・計算解析

  ○騒音・振動系の計測,現象解析,強度解析,構造解析 ○各種材料・部晶の試験・検査

  ○破損・破壊原因の究明 ○余寿命の推定

 癖制御システム・ソフトウエアの開発

一蓋o一

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磁w通儒(A欝識騨鋤

 蜜た,当社は三菱重工業㈱の関係部門の指導のもとで各種の技術を活用して新製品の開発を穣極

的に進めており,三菱重工開発晶の当社での製作・販売も行っており窟す。最近の開発の例として

は,(玉)溶接機に取りつけることにより,溶接金属の高品質化,溶接の高能率化が図れるド溶接用磁

気撹搾装置」,(2〉光センサ,光ファイバーを使用したr三菱高精度光トルクメータ」,(3)配管の外側

に簡単に取りつけられるr超音波ドヅプラー流量計」,(4)r三菱霞像記録式露動超音波探傷装置」,

(5)ポケットサイズの超音波探傷器rハンディ式クラックデテクタ」などがあります。

監検変部門驚

 非破壊検査を主体とする検査部門は,小所帯ではあり窟すが,C夏W-C種の認定を受ており,個

人資格についても縫本非破壊検査協会の技量認定資格を玉人平均3.う種保有しております。

 当部門は三菱重工業㈱広島製作所の非破壌検査部門が独立して発足した部門であるため,同製作

所の化学機械,原動機,風力機械,製鉄機械,運搬機,橋梁・煙突などの広範囲な製品に対応した

非破壊検査実務経験者でもって構成されており窟す。技術者の中には溶接技術老も含まれており,

これらの技術力を活用,さらには諾ンジ謡アリング部門ともタイアヅプすることにより,次のよう

な各種の実績を有しており窟す。

 鞭本闘連絡橋現地溶接部の自動超音波検査

  ○櫃石島橋および北備讃瀬芦大橋

 磯大型煙突の現地溶接部の自鋤超音波検査

  ○東電扇島発電所,中部電川越発電所など

 命本四連絡橋現地溶接工事への溶接施工管理技術者派遣

 ゆ製造工程での検査(特定事例)

  ○特殊用途真空容羅および醐管のリークテスト ○渦巻ポンプ等の代行検査(寸法検査,性能

  試験など)

 轡大型煙突現地補修工事とりまとめSV派遣

 磯プラント・構造物の保守・点検時

  ○化学プラント用排ガスボイラ定検時外観検査 Qボイラチ轟一ブの経年劣化試験・調査

  ○熱交チ講一ブ類の腐食肉厚測定

  oリアクタ類の溶接部経年変化,水素侵食調査 ○リアクタ・ノズルの微小穴検出(り一クテ

   スト) Q大型熱交のり一一クテスト ○セメント機械,クレー一ン等の主要部晶の割れ調査

  o発電所主蒸気弁の点検・調査

監むすび薫

 以上,当社の現状の一端をご紹介いたしましたが,ますます多様化する顧客の轟一ズにお応えす

るために,なお一層の努力をするとともに,当社のもう一つの得意分野である,プラントや装置の

運転データの処理システム,制御システムの開発等のソフト分野を奮めた技術の統合化にも注力し

て行く所存です、

一雛一

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綴脚通繕く趣瓢欝翻

1会  鮭  名 株式会社 幾本工業試験藩                             i

i本社所在地 撃瓢3大阪市福島区鷺洲黛丁目鶯番欝号麟06一鱒3礎鍛蓋            i

i代蓑巻氏鴉 代裏取締役社長 竹下 保                             l

i認定番号 第2麓88号1認定種別C種                                li認定部門 超音波深傷検査部門,ひずみ測定部門                        1

 株式会社 海本工業試験所は,昭和鱒年6月に設立し,民間並びに公共公益事業の電力,鉄骨橋

梁,造船重機,海洋及び宇宙開発などの設備・構造物の計測試験・非破壊試験・材料試験・保守検

査と設備診断並びに糠ンピ畿一タと計測機器を組み合喰たデー一タ処理・解析などを行ってい蜜す。

 なお,当社は,先進技術を導入し民聞中立第三者試験検査機関として各界の信頼をいただいてお

り豊す。

 高度技術社会においては,その時代に即応した適合技術を禽することが不可欠であり,かつ使命

と考え,従来技術の懸かに以下に紹介する技術について地道な活動を続けており憲す。

 当社技術の特徴

⑲ 畿ンピ畿一一タを利購した計測と解析技術                    轡 ’

一一一技術の…知識…ず 綾、藁。,し,各種変換器を利爾して,荷重・カ・圧力・変        1 ’・灘

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ll難1☆1嶽☆ll蜜聾臨,滅(黛)テレメートリング技術       ・,,ノ                     凝ンピ晶一タを利爾した計測と解析技術 電気量に変換された諸量を移動体あるいは,回

転体から得る場合には無線による方法が最適です.このための方法がテレメートリングで,応力・

ひずみ・振動・温度・圧力・荷重その他電気量に変換可能なものは,像とんどすべて無人化あるい

は遠隔及至無接触測定が可能で,各論一ズに対応してい奮す.

(灘) リモートセンシンゲ技術

 あらゆる物質は,光などの電磁波を受けるとその波畏に対してそれぞれの種類と性質に応じて反

射したり吸収したりする特質を持っています。この電磁波の波長とその強さから調査する対象物の

物性が何であるかを遠隔無接触で観測し,そのデータを処理解析する技術の導入とその活用につい

て調査研究をしており襲す。

(曝〉水理輿験技術

 海岸や河川に,新しい発電所や構造物を建設若しくは改造する場合,環境変化・波浪洪水等諸問

題について解決をはかるため,模型実験など電力会社より受注し,その安全性等実証し,設計資料

                 一捻一

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磁脚通儒(A欝、欝囎〉

の取得に寄与するとともに,完成後においても確正試験等に参醐するなど,その実績は,高い評緬

を頂いております畠

(愚1超音波趨動探傷システム技術

 非破壊検査における超音波探傷作業の能率陶上・探傷結果の信頼性確保のため臼動化は必須の条

件であります。

 溶接継手などのブ瞬一一ホー一ル・一般部の欠陥・底面傷・たれ込み及び材料の偏析等々内在する欠

陥を探傷する自動化システムの開発と活用技術について,我が圏ではじめて,きびしい実証試験を

経て,本洲四圏連絡橋公団殿の認定を受けた5社JVの一員としてその取り組みに努力しており繁

す、

(鋤 余寿命予測技術

 電力あるいは化学プラントなどの熱交換器チ識

一ブ等,極値解析法により経年変化を把握し余寿

命を予測することができ戴す。このシステムは,

半導体レーザを用い三角測量の原理で被測定体の

肉厚を計測するもので高分解能・高精度の測定が

可能で,しかも連続自動による測定とデータ処理

がでぎる画期的なシステムであり窟す.このシス

テムの活用により余寿命予測を行ない,設備の確

実な安全対策を講ずるのに有効なデー一タを収集し

提供しており窟す難

(罰)破損事故材料の調査技術

 化学プラント発電プヲンい回転機器などの

破損事故材料の調査,高温高圧襲置材料の経年変

化調査をはじめとし,保守点検時の非破壊検査で

検出された欠陥部については,組織性状や割れ形

態の調査を行うことにより,適格な対応策を講じ

ることができ蜜す、破損事故材料の調査にあたっ

ては,現地調査はもとより,計懸立案から事故原

園解析・報告書の作成まで一貫した調査体制で,

あらゆる角度からご相談に応じ,各方面から信頼

をいただいております。

 顧客晶一一ズに十分応え,産業社会に貫献するよ

う努力して参る所存であります.

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超音波農動探傷システム技術

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余寿命予測技術(LAT畷3)

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鵬w遇儒(A鮮.緯鱒)

轟.C互W認定事業者の認定部門・登録者数平成蓋年垂月重資現在

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                       雛w通儒(A騨・欝鎗〉

暴.検査会社・ファブリケータ等別NDX特級・1級ベスト鐙

(検査会社)

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(ファブジケータ等)

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27 鷹本インスペックス㈱ 葱 7 婆 2 2 む G 玉 霞本弁管工業㈱ 2 3 蛋 o o o 倉

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㈹講本非破壊検査協会資料による

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蝋w遇儒く帥灘欝鱒)

難.お知らせ

 平成i年度前期CXWスケジ嵩一ルが決定しましたので下記のようにお知ら慧し窟す。

(1)試験

 W雛暮7劔に基づく平成藍年盆0月欄認定のための試験です。資格更新をされる方は,半年前受

験(膚効期限平成2年3月の方)から受験できますので,受験して下さい、

 ①期 覇

  笠次試験 平成蓋年う月%欝(欝)東京・大阪・広鶴・北九州

  黛次試験 平成三年7月五獄(土)遭貨(欝)

 ②受験資格

  (i)主任検査技術者l N鑓特級,主任試験技術者2部門,主任試験技術者置部門+W鵬i級,

          のいずれか蓋項目を満たす者

  (ll)主任試験技術者:各該当検査部門のN鶏3種取得者

 ③参考書の持込みについて

  三次試験においては参考書の持込みができる試験とでぎないものがあり藪す.今年度の前期に

 ついては,従来通りとし蓑すが近い将来,参考書の持込みをしない方向で検討中です。

(勃 溶接部の葬破壌検査鵜関す蕎研修会

 この研修会は,非破壊検査を中心とした晶質管理と晶質保証及び溶接施工者側から見た検査の重

要性等を講義するとともに,実際の検査の問題点を解説いたし襲す。C夏W試験を受験される方に

は参考となり護す。

 ○欝時平成三年蚤月欝揖(土)弓娼(欝)9:00~雄00

 0場所 東京・大阪の2地区で同時開催

 (》費用 %,乃0円(テキスト昼食代を含みます.また消費税3%も含みます。)

 ○閥合せ先 千代贈区神田佐久間町iヨ三㈱欝本溶接協会 小熊憲で

 ☆詳しいパンフレヅトがありますので,ご講求下さい。

(捲)c夏w通信教育

 今年度よりN競認定規程が改正され,呼称及び試験内容が変更され蓑す。CXWでは従来からも

蕊鎌藍級取得のために通僑教育を実施してまいり蓬したが,N劔認定規程の改正とともに今回の

通儒教育より内容をN凱3種技術者陶けに変更して実施いたします.

 ○実施部門l RT,UT,MT,欝丁,猛丁,SM

 o実施方法過月%欝~9月9蹟まで2週間ごとに出題・添削を行う。

 ○費用:各部門欝一スとも嶺,800円(消費税を含みます。)

 ☆受講希望者が鱒名に満たない場合は開講でき豪せんのでご了承下さい。

 詳しいパンフレットをご希望の方はご請求下さい。窟た現在,C蓋W主任検査技術者向けの通信

教育の実施を計爾中です.

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   一次号内容一

CIW通信 VOL3No.3(lul.1989)

 〈主任検査技術者>特集

O CIW試験問題の解説

○ 技術資料

O CIW認定事業者二会社紹介二

〇 NDI特級・3種ベスト30

    二次号以降の特集予定二

VOL3No.3(Jul.1989) 主任検査技術者特集

VOL3No.4(Oct.1989) 放射線検査特集

VOL4No.1qan.1990) 超音波検査特集

VOL4No.2(Apr.1990) 表面欠陥検査特集

VOL4No.3(lul.1990) ひずみ測定特集

曳k、

CIW通信 VOL.3No.2(Apr.1989)

       発行日 平成1年4月20日

    編集・発行所 社団法人日本溶接協会

          溶接検査認定委員会

     〒101東京都千代田区神田佐久間町1-11               産報佐久間ビル

     TEL O3(257)1521 FAX O3(255)5196