開催概要2018年7月20日（金）　開場: 12:30 セミナー: 13:00～17:20　東京コンファレンスセンター・品川

※ 定員になり次第、締め切らせていただきます。資料のみの受付は行っておりません。あらかじめご了承ください。

お申し込み www.thermofisher.com/jp-xpw-eds-18

プログラム13:00 ～ 13:10 ごあいさつ

13:10 ～ 13:40 招待講演

Theta Probe XPS分析を基軸とした材料表面分析元群馬県立群馬産業技術センター　宮下喜好様Theta Probeは、マイクロフォーカス型単色X線源と二次元検出器を有するとともに、同時角度分解測定と非破壊深さ方向プロファイル解析といった特徴ある仕様で構成されている。Theta Probeによる工業材料の表面分析例を紹介するとともに、赤外・ラマン表面分析や固体表面熱脱離精密質量分析におけるXPS分析の活用例も紹介する。

13:40 ～ 14:10 招待講演

XPSにおける深さ方向分析のノウハウと最新アプリケーションジャパン・リサーチ・ラボ　奥村治樹様XPSは代表的表面分析手法である一方で、正しく理解しないまま、測定・解析が行われているケースがある。そこで、本講演ではXPS測定について、材料解析で重要となる深さ方向分析を中心とした注意点やノウハウを解説するとともに、HACPESやラマン分光法との併用等の最新アプリケーションについて述べる。

14:10 ～ 14:30 最新のXPS装置 "Nexsa"のご紹介

14:30 ～ 14:45 カスタマーサポート本部からのお知らせ

14:45 ～ 15:00 休憩

15:00 ～ 16:00 ポスターセッション、技術相談コーナー

16:00 ～ 16:30 招待講演

電子顕微鏡用EDSを用いた先端機能性材料の相解析三井金属鉱業株式会社　和田 充弘様各種電子顕微鏡（FE-SEMならびにCs補正STEM）に搭載したSDD-EDSシステム（サーモフィッシャー製　Noran System 7：NSS）を用いて、燃料電池材料や排気ガス浄化用触媒などの先端機能性材料について、スペクトルイメージングデータの多変量解析（COMPASS）を応用した相解析事例を中心に紹介する。

16:30 ～ 17:00 招待講演

EDSによる機能性セラミックス材料の微構造解析神奈川県立産業技術総合研究所　矢矧 束穂様セラミックスの微構造は物性や機能性を左右しており、その構造や形態を観察することは重要である。特に空隙や助剤、添加物質の存在形態を把握することは材料の機能性発現メカニズムの解明にも繋がる。そのため、材料を直接観察し元素情報を得ることが可能な電子顕微鏡にEDSが付属したシステムはセラミックスの研究において非常に有用なツールである。本講演では光触媒材料や蛍光セラミックス材料を元素分析とCOMPASSを使用して解析した事例について紹介を行う。

17:00 ～ 17:20 EDS 未知試料の分析に非常に役立つCOMPASS（多変量解析）

17:30 ～ 技術交流会

毎年ご好評をいただいております「XPS･EDSユーザーズフォーラム2018」をご案内申し上げます。本フォーラムでは、表面分析装置や電子顕微鏡アナライザーをご愛顧いただいている多くのお客様に、実践的な測定事例や材料解析に役立つ情報などをご紹介いたします。皆さまのお仕事・ご研究の一助となれば幸いです。皆さまのご参加を心よりお待ち申し上げております。

XPS・EDSユーザーズフォーラム2018

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ポスター番号 所属・発表者 タイトル

P1元群馬県立群馬産業技術センター○宮下 喜好様 Theta Probe XPS分析を基軸とした材料表面分析

P2東邦チタニウム株式会社○齋藤 雅由様 XPSによるα -オレフィン重合触媒中のチタン元素と触媒性能との関係

P3熊本大学大学院先端科学研究部○鯉沼 陸央様 Theta Probeによる炭素系化合物の化学状態分析

P4熊本大学大学院先端科学研究部○鯉沼 陸央様 トランスファーべッセルを利用した雰囲気制御 XPS測定

P5ジャパン・リサーチ・ラボ○奥村 治樹様 XPSにおける深さ方向分析のノウハウと最新アプリケーション

P6富山大学研究推進総合支援センター○小野 恭史様 富山大学における設備サポートセンター整備事業

P7株式会社東レリサーチセンター○小川 慎吾様 REELSや XPS, HAXPESを用いた Al2O3膜およびAl2O3/Si界面の評価

P8東京理科大学総合研究院 1)　日本大学松戸歯学部 2)株式会社 ASTON 3)○遠藤 一央様 1)、布施 恵様 2)、　加藤 信彦様 3)

コラーゲンモデルとポリ乳酸モデルとの相互作用

P9東京理科大学総合研究院○遠藤 一央様 PETの熱及び UV光による劣化の解析研究

P10三井金属鉱業株式会社○和田 充弘様 電子顕微鏡用 EDSを用いた先端機能性材料の相解析

P11日本電子株式会社○鈴木 克之様

観たい領域をピンポイントで観察　 － 光学顕微鏡‐SEMリンケージシステムの紹介 －

P12大阪大学大学院理学研究科○山北 絵理様、中嶋 悟様 コケ植物付き岩石の非蒸着 SEM/EDS分析

P13大阪大学大学院理学研究科○岡田 克也様、中嶋 悟様 SEM/EDS及び顕微可視面分析による岩石の元素と色・吸収帯分布の対比

P14株式会社リコー〇高橋 昭治様 SEM-EDS元素マッピングを用いた電位コントラストイメージの取得

P15地方独立行政法人 神奈川県立産業技術総合研究所○矢矧 束穂様 EDSによる機能性セラミックス材料の微構造解析

P16国立研究開発法人 物質・材料研究機構○上杉 文彦様 高分解能 STEM + Dual SSD EDSの事例紹介

P17JFEテクノリサーチ株式会社 ○猪瀬 明様 Cs補正 STEM-EDSを用いた先端材料解析

P18株式会社富士通研究所○山崎 貴司様、J. D. Baniecki様 原子分解能 STEM-EDX法による原子レベルでの不純物分析

P19日本エフイー・アイ株式会社○村田 薫 3つの環状型カラム /レンズ内検出器を用いた試料最表面 SEM観察技法

P20サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社○鈴木 実 ステージコントロールを用いた広域主成分マッピング

P21サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社○齋藤 健 X線光電子分光法（XPS）および Raman分光法の同時分析への応用

サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社

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