thermoelectric environmental temperature chambers
TRANSCRIPT
Company Introduction
Thermoelectric Environmental Temperature Chambers
LPR Global Inc. Toronto, CanadaE: [email protected] | T: 1-905-370-0410URL https://www.uskoreahotlink.com/products/testing-inspection/environmental-chamber-temperature-stability/
About us
We thrive to become a leader in thermoelectric semiconductor
solutions.
We are a developer of thermal energy solutions, specializing in
solutions for renewable energy and new semiconductor based
temperature control systems and power generating systems.
Our core competencies are thermoelectric modules, assemblies, and
environmental temperature and stability chambers, as well as other
thermal management solutions.
We supply thermal solutions to SK HYNIX and Samsung Electronics,
including D-RAM inspection equipment, and hydrogen fuel cell test
chambers for Hyundai Motors and KIER. Our clients also include
Coway and Cuckoo.
ThermoelectricSemi Conductor
ThermoelectricModule
Power Generating
Living Appliances
D-RAMEquipment
Material Development
Business Fields
Main Products Market Use
Environmental TestChambers
• Temperature & humidity chamber• Thermal Shock chamber• Bench-top type temperature & humidity chamber• HAST chamber• Walk-in type temperature & humidity chamber• Combined temperature & humidity chamber• HALT & HASS test chamber• FPD equipment
• Electronic component and equipment market
• Automobile market• Semiconductor market• Medicine, Cosmetics, Food market• LCD and Organic Electro-
Luminescence market
• For R&D• For credibility and
evaluation• For Production and
Inspection
Semiconductor Equipment
• Burn-in system• Semiconductor evaluation system• Instrumentation system
• Semiconductor market• Automobile market
• For Production and Inspection
• For Development andevaluation
Energy Device Equipment
• LIB charge – discharge cycle evaluation equipment
• LIB safety evaluation system• Fuel cells evaluation system
• Next generation automobile market• Secondary batteries market• Fuel cells market
• For R&D• For credibility and
evaluation• For Production and
Inspection• Safety Evaluation
Thermoelectric Semiconductor
• Develop Thermoelectric module • Home Application• Automobile Market• Medicine, Cosmetics, Foods market
What we do
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
Semiconductor Inspecting Equipment/////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
Various types of thermoelectric unit design technology suitable for the capacity and environment of
Semiconductor or DRAM
Precision temperature control technology for semiconductor equipment using thermoelectric semiconductors
Local precision temp. control for test parts
Higher space utilization compared to the compressor method.
Minimize thermal damage to the peripherals
Semiconduct.Object
Laptop Desktop Server
MobileWafer
Semiconductor Inspecting Equipment/////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
Model 1Dut Chamber Mobil Chamber Mine Cold open
Chamber
Auto Door open
Chamber
Control PID Control
Temp. Range -40℃ ~ 120℃ -25℃ ~ 80℃ -10℃ ~ 70℃ -10℃ ~ 70℃
Temp. Accuracy ±1.0℃ ±0.2℃ ±3.0℃ ±3.0℃ Cons
truc
tion
Heater Peltier Module Peltier Module Fin heater Fin heater
Dehumidifier Filter Drain. Drain. Drain. Ref
riger
atio
n un
it
Cooler Peltier Module Peltier Module Ciller Ciller
Refrigerator Air-cooled Water-cooled Air-cooled Water-cooled
Refrigerator
capacity 1/3HP X 3hp 3hp
Capacity
Heating Capability
About200W
Cooling Capability
About 30W
9,000W 12,00W
Inside dimensions mm - 350(W)x320(D)x250(H) 1240(W)x745(D)x715(H) 2314(W)x650(D)x556(H)
outside dimensions mm 346(W)x416(D)x374(H) 570(W)x550(D)x650(H) 1700(W)x1100(D)x1760(H) 2750(W)x1155(D)x1755(H
Weight - Max 30㎏ - 1,000kg
Util
ity
Cooling Water Mix cooling water
and antifreeze.
20iter/min, under 20℃,
1.5kgf/㎠
20iter/min, under 20℃,
1.5kgf/㎠
Air - Compressed Dry Air over
6kgf/㎠, 500liter/min
Compressed Dry Air ove
6kgf/㎠, 500liter/min
Power AC 220V, 1 PHASE,
30A
Free Voltage
(AC 100~220V
50/60Hz)
(AC 220V Max 10A /
AC 110V Max 20A)
1Phase 220VAC 60Hz
50A X 3set
1phase 220VAC 50A 2개
1phase 220VAC 75A 1개
/////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
1DUT Chamber
Semiconductor Inspecting Equipment
/////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
Mobile Chamber
Semiconductor Inspecting Equipment
/////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
Mine Cold Open Chamber
Semiconductor Inspecting Equipment
/////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
Auto Door Open Chamber
Semiconductor Inspecting Equipment
11
Semiconductor Inspecting Equipment/////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
Memory IC Tester
Function High & Low temperature Env. Tester for DIMM (Hot&Cold)
General Info.
Place Indoor use
Operation Temp. Room Temp.(25℃)
Operation Humidity 40%~80%
Power(PARA) 40W
Total Power(196PARA) 7.8kW
Temp. Control PID Condtrol
Performance
Temp. Range -10℃~100℃
Max Temp.Hot Max : 140℃
Cold Max : -50℃
Etc.
HOT & COLD PLATE Size 12(W)*12(L)
Temp. ControllerFND DISPLAY
Communication (RS485)
12
Semiconductor Inspecting Equipment/////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
Function High & Low temperature Env. Tester for Memory (Hot&Cold)
General Info.
Place Indoor use
Operation Temp. Room Temp.(25℃)
Operation Humidity 30%~50%
Power(PARA) 1kW
Total Power(196PARA) 16kW
Temp. Control PID Control
Perfomance
Temp. Range -60℃~150℃
Max Temp.Hot Max : 180℃
Cold Max : -65℃
Etc.
HOT & COLD PLATE Size 500(W)*400(L)
Temp. Controller
FND DISPLAY / PGM / Network
Communication (RS485)
Cryogenic Memory Test Equipment
13
Semiconductor Inspecting Equipment/////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating
Socket Type Hot & Cold Chamber
Func. Memory device Tester (Hot&Cold)
Object LPDDR, Ci-MCP
NO Item Specification Remark
Model HTC-DI Chamber -
1 Temp. Range max -50℃ ~ 125℃
2 Temp. Precision ±1.0℃
3 Time
RT ~ -50 ℃ : Within 7 min. Cooling
-50 ℃ ~ RT : Within 5 min. Rising
125 ℃ ~ RT : Within 7 min. Cooling
RT ~ 125 ℃ : Within 5 min. Rising
4 Temp. Control PID Control
5 Chamber Dimension W48 x D62.5 x H44.5mm
6 Hot / Cold Method Thermoelectric module
7 Interface PLC, RS-232, RS-485
8Unit Applied Power DC 15V~
Utility(Air)Compressed Dry Air Over 500
liter/min, 5kg/㎠
9 PCW(coolant) Over 20ℓ/min
////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Applied Products////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// ////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
Semiconductor Inspecting Equipment
TE Module
Power Generating