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松末・坂東研究室 研究室のゼミ合宿 量子力学的な光物性 超薄膜超微細構造の作製 光エレクトロニクスへの応用 高性能光デバイスの実現 講師 松末俊夫 助教 坂東弘之 D1M24名,M13B44

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松末・坂東研究室

研究室のゼミ合宿

•量子力学的な光物性

•超薄膜・超微細構造の作製

•光エレクトロニクスへの応用

•高性能光デバイスの実現

講師 松末俊夫助教 坂東弘之

D:1名M2:4名,M1:3名B4:4名

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(半導体中)

電子

スピン運動

移動相互作用

電子や光は,エネルギーや情報を,担う

高密度,高速,高機能に利用したい

• 真空より固体(半導体)

• 電気より光

• 微細構造

「マイクロ」から「ナノ」に

量子力学的効果を利用する、操る

超高速通信・情報処理デバイスへ応用

半導体量子構造の光・電子・スピン物性の探索と応用- デバイスの高性能化と新しい動作原理

格子振動弾性波(フォノン)

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ナノ構造で高性能光デバイスを実現する

•高周波振動(表面弾性波)による動的電子状態制御

を用いた新しいデバイス原理の探索

•電子のスピンを利用した新しい光・スピン機能の探索

•2光子吸収過程を利用した超高速光スイッチの試作

半導体ナノ構造

作る

設計する

測る

応用する

結晶成長(MBE)

微細加工(リソグラフィ,

エッチング)

構造解析(X線回折,電子顕微鏡)

光導波解析シミュレーション

レーザー分光

光吸収,発光

極低温

全光スイッチ

光導波路

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量子ミクロ構造で 電子や光の性質を操る

•高速

•高感度

•新機能

通常の半導体

「自由」電子

A

V

x

m*e

量子ミクロ構造電子の波動性干渉効果

定在波

離散準位

B

V

x

m*e

A A

トンネル効果

A

V

xB B

m*e

屈折率の差 光子に対して量子効果

<10nm(数十原子層)~

作製

物性評価 デバイス応用

設計

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分子線結晶成長(MBE)装置

ナノ構造をつくる(1)

原子を制御した結晶成長→ ナノ層構造

クリーンな環境で,原子層ずつ積み上げる

(真空中)

A

B

原子不純物(添加物)

結晶

B

RHEED

電子銃

ヒーター

基板10keV

シャッタ

(液体窒素シュラウド)

Be

スクリーン

Al Ga AsSi

材料蒸発源ルツボ(セル)

超高真空ポンプ 10-10― 10-11Torr 4重極質量分析器

(超高真空)

分子ビーム

RHEED

電子銃

ヒーター

基板10keV

シャッタ

(液体窒素シュラウド)

Be

スクリーン

Al Ga AsSi

材料蒸発源ルツボ(セル)

超高真空ポンプ 10-10― 10-11Torr 4重極質量分析器

(超高真空)

分子ビーム

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ナノ構造をつくる(2)

高精度エッチング法で加工 → 多次元ナノ構造

現像

レジスト塗布(感光剤,スピンコート)

レジスト

露光(電子線描画)

プラズマ

ドライエッチング

電子線

半導体

完成(次の工程へ)

半導体

0.3-2μm

約1μm

0.1-100μm

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(光が30μm進む時間)光パルス時間幅~100 fs

試料

ポンプ光

プローブ光

光路差を変えて,Δt を変える

光検出器時間差Δt

試料の状態を操作する

試料の状態の時間変化を測る

超高速光学特性の測定

超短パルスレーザによる光学測定: パルス幅~100 fs

超高速応答を計測できる

CR時定数の制限なし

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RF励振表面弾性波(SAW)の利用

高周波(RF)電圧

櫛形電極 表面弾性波の伝搬

図b.結晶格子の歪みの様子 (断面図 )

表面弾性波の進行方向

図a.櫛形電極による弾性波の励振と検出

表面

半導体量子構造試料

原子が楕円運動をしながら、歪みが伝搬

( = 弾性波の半波長:sub mm ~ 数mm @1GHz)

半導体中

励振検出 V

電極間隔

高周波測定器

表面変位 ≲ 1nm

表面近傍を伝わる

・エネルギーが集中・外部からアクセスし易い・時空間的に物性を操作

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櫛形電極のリソグラフィーと配線

レーザー光による周期的表面変位 (< 1 nm)

の測定

励振・伝搬状態の観測

半導体デバイス構造への表面弾性波の導入

ハーフミラー

光検出器

レーザー

ロックインアンプ

高速オシロスコープ

SigRef

RF信号発生器 回折光

100μm

SAW

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SAWによる周期的誘電率変調→ 光の周波数・方向・位相制御機能へ

λSAW = 30 um-3.0

-2.0

-1.0

0.0

1.0

2.0

3.0

x10

-6

1.501.251.000.750.500.250.00

5.0

4.5

4.0

3.5

3.0

2.5

2.0

1.5

1.0

0.5

0.0

x10

-3

(光照射位置 x) / λSAW

R0

[mV

]

DR

[m

V]

SAW励振時の誘電率の空間変化

極微小空間にレーザー光を照射し、反射光強度の高周波変化を測定

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SAWによる電子・スピン状態の制御

ピエゾ電場による周期的バンド端変調

動的量子井戸構造へ

k 反転対称性の破れ

超薄膜構造における正孔のE-k 分散関係

回転運動

スピン制御へ

非相反機能へ

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InP基板

2光子吸収で光をON/OFF(スイッチ)

InGaAs

InAlAs

効率よく(低いパワーで)動き、信号を劣化させないために

ナノ構造の光導波路

2光子吸収を利用した超高速光スイッチの試作

~100μm

をつくる

伝導帯

価電子帯

半導体中の光吸収 超高速光スイッチの基本構造

出力光

スイッチング制御光

信号光

入力出力光なし

~1μm

0.05μm

< ~1μm

0.2μm

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試料作製・測定・加工

• InP(001)基板上にInxGa1-xAs薄膜を

MBEにより成長

試料作製:

•波長可変フェムト秒レーザ

•縮退ポンプ・プローブ法(応答速度測定)

応答測定:

• COMSOL Multiphysics

(各種シミュレーション)

導波路構造設計:

•電子線リソグラフィ

•反応性イオンエッチング(RIE)加工

試料加工:

光導波路型全光スイッチの作製

入射光

導波路型デバイス

出力光

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5µm InP

500μm

Sampleholder

225μm

Cross section SEM imageof cleaved InP waveguide

Mounted InP waveguide sample

Waveguide導波路加工の例

10.8μm

16.1μm

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導波路での電場強度

A B C D

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Beam waist position x1 [mm]

Tra

nsm

itta

nce

試料長

Fitting curveシミュレーション結果

シミュレーションと実験値との比較

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化合物半導体の微細構造を用いた

高性能・新機能光デバイスの開拓卒研内容

•弾性波・フォノン効果による光・電子・スピン物性制御と新デバイス原理の探索

•レーザ光による超短時間・極微空間物性制御と測定

•超高速な光導波路型全光スイッチの作製(設計シミュレーション,半導体成長,微細加工,光学測定)

•半導体の光非線形特性を利用した新しい光デバイスの開発

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来たれ!

•物質(半導体)の電子・光を制御して究極的性質を追求し,それを応用することに興味を持つ人

•ナノテクノロジー,オプトエレクトロニクスに興味を持つ人

•半導体ナノ構造の結晶成長,微細加工,各種測定技術(超高速,極微小領域,高周波)に興味を持つ人

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研究室・実験場所

工学部1号棟2階(学生室:218室)

VBL

理学部2号館

工学部4号棟