nummer 36 · august 2013 issn 0936-6911 - dge-homepage.de · geschäftsführung 2012–2013...

Mitteilungen derDeutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.

S. Hirzel Verlag · Wissenschaftliche Verlagsgesellschaft StuttgartPostfach 101061 · 70009 Stuttgart

ISSN 0936-6911

http://www.dge-homepage.de

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Nummer 36Nummer 36 · August 2013

The NEW Leica EM ACE range of coaters

www.leica-microsystems.com/de/acecoaters

INHALT

Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e. V. 2

Geschäftsführung 2012–2013

Aktivitäten 3

Wissenschaftliche TagungenOffizielle PublikationsorganeArbeitskreise der DGE

Geschäftsführung 4

ZeissHarald Rose Distinguished LectureDGE-Online-ForumBilanzen

Ernst-Ruska-Preis 2013 10

Personalia 11

Nachruf

Wissenschaftliche Veranstaltungen 12

Microscopy Conference MC2013 in RegensburgUltramikrotomie-Symposium in Halle (Saale)

DGE-Arbeitskreise 13

AK EMED: 11. AK EMED Labormeeting im Schloss RauischholzhausenAK FIB: FIB Workshop 2013 in Unterpremstätten bei Graz

Laborkurse 16

DGE-Immunmarkierungskurs in TübingenAnkündigung: Laborkurs ‘Immunmarkierungen von Dünnschnitten für die Licht- undElektronenmikroskopie’

Neues aus den Elektronenmikroskopielabors 17

Analytisches S/TEM am IOM in Leipzig

Aus Forschung und Indutrie 18

TESCAN Ultra-High Resolution FE-REM SerieFEI Helios NanoLab 660 and Scios11 Megapixel Morada G2 CameraZEISS: Übernahme von XradiaJEOL JSM-7800F

Buchbesprechung 22

Nationaler und Internationaler Tagungskalender 23

Mitgliederwerbung 24


Nummer 36 · August 2013www.dge-homepage.de

Herausgeber:Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.

Redaktion:Prof. Dr. Michael LehmannTechnische Universität BerlinInstitut für Optik und Atomare Physik (Sekr. ER 1-1)Straße des 17. Juni 13510623 BerlinTelefon (030) 3 14-2 25 67Telefax (030) 3 14-2 78 50E-Mail: [email protected]

Prof. Dr. Josef ZweckUniversität RegensburgNWF II-Physik90340 RegensburgTelefon (0941) 9 43-25 90, 9 43-41 88Telefax (0941) 9 43-45 44E-Mail: [email protected]

Dr. Andreas GraffFraunhofer Institute for Mechanics of MaterialsWalter-Hülse-Straße 106120 HalleTelefon (0345) 55 89-113E-Mail: [email protected]

Prof. Dr. Armin FeldhoffInstitut für Physikalische Chemie und Elektrochemie derLeibniz Universität HannoverCallinstraße 3a30167 HannoverTelefon (0511) 762-29 40E-Mail: [email protected]

S.HIRZELWissenschaftliche Verlagsgesellschaft StuttgartBirkenwaldstr. 44, D-70191 StuttgartTelefon (0711) 2582-0, Telefax (0711) 2582-290

Nummer 36

BeilagenhinweisDiese Ausgabe enthält eine Beilage der FirmaBinder Labortechnik, 85241 Herbertshausen.Wir bitten unsere Leser um Beachtung.

2 Elektronenmikroskopie · Nr. 36 ·August 2013

Vorsitzender

Prof. Dr. Josef ZweckFakultät PhysikUniversität Regensburg90340 RegensburgTel.: 0941-943-2590, -4188Fax: 0941-943-4544E-Mail: [email protected]

Stellvertretender Vorsitzender

Dr. Michael LaueRobert-Koch-InstitutNordufer 2013353 BerlinTel.: 030 18754-2675Fax: 030 18754-2571E-Mail: [email protected]

Geschäftsführer

Dr. Thomas GemmingIFW DresdenHelmholtzstr. 2001069 DresdenTel.: 0351 4659-298Fax: 0351 4659-9298E-Mail: [email protected]

Schatzmeister

Dr. Wilfried SigleMax-Planck-Institut fürIntelligente SystemeHeisenbergstr. 370569 StuttgartTel.: 0711 / 689-3525Fax: 0711 / 689-3522E-Mail: [email protected]

Beisitzer

Prof. Dr. Michael LehmannInstitut für Optik und AtomarePhysik (Sekr. ER1-1)Technische Universität BerlinStraße des 17. Juni 13510623 BerlinTel.: 030 314-22567Fax: 030 314-27850E-Mail: [email protected]

Dr. Martina LuysbergInstitut für Festkörperforschungund Ernst Ruska-Centrum fürMikroskopie und Spektroskopiemit ElektronenForschungszentrum Jülich52425 Jülich

Tel.: 02461 61-2417Fax: 02461 61-6444E-Mail: [email protected]

Dr. Thomas Müller-ReichertMedizinisch-Theoretisches Zentrum(MTZ)Technische Universität DresdenFetscherstraße 7401307 DresdenTel.: 0351 458-6261Fax: 0351 458-6305E-Mail: [email protected]

EhrenbeisitzerDr.-Ing. Gerhard SchimmelAm Sonnenberg 17a64385 ReichelsheimTel.: 06164-820Fax: 06164-515364E-Mail: [email protected]

Von der Mitgliederversammlungwurden gewählt

RechnungsprüferDr. Kurt ScheerschmidtMax-Planck-Institut fürMikrostrukturphysikWeinberg 206120 HalleTel.: 0345-5582910Fax: 0345-5511223E-Mail: [email protected]

Dr. Andreas GraffFraunhofer Institute for Mechanics ofMaterialsWalter-Hülse-Straße 106120 HalleTel.: 0345 5589-113E-Mail: [email protected]

Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.

Geschäftsführung 2012–2013

Elektronenmikroskopie · Nr. 36 ·August 2013 3

Wissenschaftliche Tagungeneinschließlich der MitgliederversammlungenDGE-LaborkurseDGE-Arbeitskreise

Offizielle PublikationsorganeEuropean Journal of Cell BiologyUltramicroscopy

Arbeitskreise der DGEFocused Ion Beam (FIB)Dreiländerarbeitskreis FIB

Hauptsprecher:Dr. Lorenz HolzerEMPAUeberlandstr. 1298600 DuebendorfSchweizTelefon: +41 (44) 823 4490E-Mail: [email protected]

Stellvertretender Sprecher:Dipl.-Ing. Michael RogersAustriamicrosystemsSchloss PremstättenA-8141 UnterpremstättenÖsterreichE-Mail:[email protected]

Stellvertretender Sprecher:Dr. Siegfried MenzelIFWDresdenHelmholtzstr. 20D-01069 DresdenDeutschlandTel.: +49 (351) 4659-214Fax: +49 (351) 4659-452E-Mail: [email protected]

Gründung: Sept. 2005 in Davos als Drei-länderarbeitskreis D, CH,AAktivitäten: Arbeitskreistreffen, Workshops,Informationsaustausch, Firmenkontakte

Energiefilterung und Elektronen-Energie-verlustspektroskopie (EF& EELS)

Sprecherin:Dr. Elisabeth MüllerEMEZETH ZürichWolfgang-Pauli-Str. 16CH-8093 Zürich, SchweizE-Mail: [email protected]

Stellvertretender Sprecher:Prof. Dr. Gerald KothleitnerFELMIUniversität GrazSteyrergasse 17A-8010 Graz, ÖsterreichTel: +43 316 873-8336Fax: +43 316 811596E-Mail: [email protected]

Präparation undAbbildungNativer Systeme (PANOS)

1. Sprecher:PD Dr. Thomas Müller-ReichertTU DresdenMedizin-Theoretisches Zentrum01307 DresdenTelefon: (0351) 458-6261Telefax: (0351) 458-6305E-Mail: [email protected]

2. Sprecher:Dr. Wiebke MöbiusDepartment of Neurogenetics,Electron MicroscopyMax-Planck-Institute of ExperimentalMedicineHermann-Rein-Str. 337075 GöttingenTelefon: (0551) 3899 736Telefax: (0551) 3899753E-Mail: [email protected]

Aktivitäten: Laborkurse, Symposium

ElektronenmikroskopischeErregerdiagnostik (EMED)

1. Sprecher:Dr. Bärbel Hauröder

ZInstSanBw KoblenzElektronenmikroskopieAndernacherstr. 10056070 KoblenzTelefon: (0261) 896-7260Telefax: (0261) 896-7269E-Mail: [email protected]

2. Sprecher:Dr. Matthias KönigInstitut für Virologie FB10VeterinärmedizinJustus-Liebig-Universität GießenFrankfurter Str. 10735392 GießenTelefon: (0641) 9938-363Telefax: (0641) 9938-379E-Mail:[email protected]

Hochauflösende Transmissions-Elektro-nenmikroskopie (HRTEM)

Sprecher:Prof. Dr. Michael SeibtUniversität GöttingenIV. Physikalisches InstitutFriedrich-Hund-Platz 137077 GöttingenTelefon: (0551) 39-4553Telefax: (0551) 39-4560E-Mail: [email protected]

Stellvertretender Sprecher:Dr. Tore NiermannTechnische Universität BerlinInstitut für Optik undAtomare Physik(Sekr. ER 1-1)Straße des 17. Juni 13510623 BerlinTelefon: (030) 314-21562Telefax: (030) 314-27850E-Mail: [email protected]

Aktivitäten

Mitglied des WahlausschussesDr. Ilona DörfelBundesanstalt für Materialforschungund -prüfungFachgruppe V.1„Struktur und Gefüge vonWerkstoffen“

Unter den Eichen 8712200 BerlinTel.: 030 8104 3512Fax: 030 8104 1517E-Mail: [email protected]

Dr. Jürgen ThomasIFW DresdenPF 27 01 1601171 DresdenTel.: 0351 4659 250Fax: 0351 4659 452E-Mail: [email protected]

Redaktionsschluss für Nummer 37: 31.Dezember 2013

Redaktion: Prof. Dr. Michael Lehmann, TU BerlinProf. Dr. Josef Zweck, Universität RegensburgDr. Andreas Graff, Fraunhofer IWM, HallePD Dr. Armin Feldhoff, Universität HannoverDie Zeitschrift ist gegründet worden von Dr. Bernd Tesche und Cilly Weichan.

ZEISS stellt TEM-Pro-duktion ab 2013 ein!

Liebe DGE-Mitglieder,zu Beginn des Jahres 2013 hat die

Firma Zeiss die Einstellung der TEM-Produktion verkündet. Da von dieserEntscheidung praktisch alle DGE-Mitglieder direkt oder indirekt betrof-fen sind, wurde durch die DGE ineinem Schreiben an den Aufsichtsratund die Geschäftsführung auf die da-durch entstandene unbefriedigendeSituation hingewiesen. Zur Informati-on unserer Mitglieder finden Sie hiersowohl das ursprüngliche Anschrei-ben als auch dasAntwortschreiben derFa. Zeiss.Ihr J. Zweck

Brief an die Fa. Zeiss vom26.02.13

Sehr geehrterHerr Prof.Dr.Kaschke,wie wir vor kurzem inoffiziell er-

fahren haben beabsichtigt die Fa.Zeiss, die Produktion von Transmissi-onselektronenmikroskopen einzustel-len. Diese Nachricht ist in vielerleiHinsicht erschütternd, sowohl für dieVorstandschaft der DGE als auch dieMitglieder der Deutschen Gesell-schaft für Elektronenmikroskopie unddie Nutzer von TEMs allgemein.Ihre Firma bzw. die Sparte Trans-

missionselektronenmikroskopie hat inderVergangenheit viele richtungswei-sende Akzente gesetzt, ich erwähnehier beispielhaft, aber nicht erschöp-fend, den Monochromator, den korri-giertenOmega-Filter, denMandoline-Filter sowie das SESAM-Projekt. Ge-rade auch in neuester Zeit begannenSie mit dem SALVE-Projekt eineäußerst vielversprechende Neuaus-richtung der Elektronenmikroskopieauf Niederspannungsgerätemit einemenorm hohen Potential an wissen-

schaftlicher (und damit verbundenauch kommerzieller) Verwertbarkeit,die aktuelle Generation der Libra-Geräte wurde gut angenommen undvon ihren Käufern auch sehr ge-schätzt. Zudem begann sich geradeabzuzeichnen, dass Sie mit den Nie-derspannungsmikroskopen den Nut-zerkreis über die traditionell stark bio-logisch-lebenswissenschaftlich ge-prägte Kundschaft hin zu den Mate-rialwissenschaften und der Physikausweiten konnten; Bereiche in denenkohlenstoffbasierte (sub-)nanodimen-sionale Strukturen wie Kohlenstoff-Nanoröhrchen oder Graphen von der-zeit höchstem Interesse sind. Damitschien die lange angestrebte stärkereVernetzung zwischen den Lebenswis-senschaften und der Physik/Materialwissenschaft gerade in derTransmissionselektroenmikroskopiezum Greifen nah. Bei den Lebenswis-senschaften ist derzeit der Trend zumehrAnalytik feststellbar, welchemitden filterbestückten Geräten speziellfür biologische Anwendungen (abernicht nur) gut durchführbar wäre.Das Schließen der traditionsreichen

TEM-Produktion und TEM-Entwick-lung der renommierten Mikroskop-Firma Zeiss ist ohne jeden Zweifel ausder Sicht der Deutschen Gesellschaftfür Elektronenmikroskopie eine fataleund folgenschwere Fehlentscheidungfür den Forschungsstandort Deutsch-land. Die Tatsache, dass sich die vonIhnen verantwortlich vertretene Firmaaus einem bedeutenden (und histo-risch gewachsenen) High Tech -Be-reich zurückzieht hat massiveAuswir-kungen auf den IndustriestandortDeutschland. Es erweckt den Ein-druck, dass Ihre Firma sich im inter-nationalen Wettbewerb nicht als kon-kurrenzfähig betrachtet.Sehr geehrter Herr Dr. Kaschke, aus

den o.g. Gründen können Sie sichernachvollziehen, dass uns die Ent-scheidung der Fa. Zeiss unverständ-lich erscheinen muss. Ich lege Ihnen

und den Entscheidungsträgern in IhrerFirma dringend nahe, diese Entschei-dung, auch unter Berücksichtigungder folgenden Aspekte, noch einmalzu überdenken! Für den Fall, dass ander Entscheidung festgehaltenwerdensollte, möchte zugleich einige Erwar-tungen an die Fa. Zeiss bezüglich deskünftigen Weiterbetriebs der bereitsausgelieferten Geräte formulieren.• Die Deutsche Gesellschaft fürElektronenmikroskopie sowieauch die Community der TEM-Betreiber erwartet, dass die Fa.Zeiss für die laufenden Geräteweiterhin wie bisher den notwen-digen technischen Service undentsprechende Versorgung mitErsatzteilen sicherstellt. Hier istein eindeutiges Commitment derGeschäftsleitung – auch zuDauerund Umfang dieser Versorgung –unerlässlich!

• Zum Service rechne ich auch diekünftige Softwarebetreuung, ins-besondere Fehlerbehebungen undFunktionsmodernisierungen derSteuer-und Messprogramme spe-ziell auch bei Funktionserweite-rungen durch Zusatzgeräte (z.B.neue Kamera, EDX, Bereitstel-lung von Treibern etc.). DieserSupport für die Systeme ist unbe-dingt erforderlich -in welcherWeise wird die Fa. Zeiss dies un-terstützen?

• Ich möchte auch daran erinnern,dass etliche der modernen Ent-wicklungen bei Zeiss TEM nurmit massiver Unterstützung vonWissenschaftlern und staatlichenFördergeldern auf den Weg ge-bracht werden konnten. Die Wis-senschaftler finden sich nun ineiner Sackgasse vor. Sie haben er-hebliche Energien in Projekte ge-steckt, im guten Glauben dass derAufwand den Fortschritt derTransmissionselektronenmikro-


Geschäftsführung

Three Dimensional Materials CharacterizationNew insights that drive materials innovation

To fuel continued innovation, researchers are looking to gain a deeper understanding of structural or compositional properties of new or existing materials in order to improve strength, durability and other physical qualities. To meet the next generation of materials development challenges, FEI introduces two new DualBeam™ solutions.

With new detector technology, both Scios™ and Helios NanoLab™ make it possible to reveal even the most subtle details in surfaces and cross sections. Selecting for topographic contrast, materials contrast, or a mix of signals delivers immediate access to a greater range of visual data for rapid materials characterization. And when atomic-scale imaging and analysis is the next step in your research, these DualBeams are ready to provide automated preparation of the highest quality, thinnest samples for S/TEM investigations.

For researchers working with materials that are diffi cult to image without coating or preparation, FEI’s Scios offers technology innovations to mitigate these challenges. The new electron column is designed to handle characterization routines for virtually any material, including insulating or magnetic samples. Its high-current capability provides fast X-ray analysis and can also be used to improve FIB milling accuracy on non-conductive samples by neutralizing accumulated charge.

The Helios NanoLab 660, with its advanced combination of patterning engine, MultiChem™ gas delivery system, and Tomohawk™ ion optics, provides unprecedented capabilities for fabricating prototypes of complex nanodevices, enabling researchers to pioneer

Learn more at fei.com/dualbeam

Array of antennas, min. feature size < 50 nm, written over a 200 x 200 μm2

field. The nanostructures produced and imaged on Helios NanoLab with NanoBuilder. Courtesy of CIC NanoGune.

developments in devices like antennas and nanofl uidic systems. NanoBuilder™ 2.0 simplifi es and accelerates the fabrication workfl ow for nano- and micro-scale device prototypes, starting from a CAD design, then directing FIB milling and deposition to build intricate 3D structures.

See the new Helios NanoLab 660 at MC 2013 in Regensburg, Germany, August 25 – 30.

New detector technologies allow you to acquire topographic contrast, materials contrast or mix the signals to reveal additional details.Images acquired on Scios.

50 μm 5 μm

skopie weiter befördert. Natürlichgeht so ein Engagement auch mitpersönlichen Erwartungen desberuflichen Weiterkommens ein-her. Aus unserer Sicht kann esnicht sein, dass Projekte, die mitmassiver Unterstützung durch öf-fentliche Fördergelder entstandensind, nunmöglicherweise in einerSchublade verschwinden – eineMöglichkeit könnte sein, die Un-terlagen zur "open source" zu er-klären und den Hochschulen zurVerfügung zu stellen. Auch einVerkauf an andere Hersteller zurweiteren Verwendung ist denk-bar. Gibt es Pläne, die jüngsten er-folgreich beschrittenen Wege inirgendeiner Form weiter zuführen?

• Schließlich darf ich die aus mei-ner Sicht desaströse Außenwir-kung Ihrer Entscheidung anspre-chen: woher sollen potentielleKäufer anderer (ähnlicher) Pro-dukte wie (FE)SEMs oder FIBsdie Sicherheit nehmen, dassihnen nicht über kurz oder langdas gleiche Schicksal widerfährtwie den Käufern von TEMsheute? Ein großzügiger, kulanterUmgang mit den Nutzern vonTEMs bezüglich der Service-undErsatzteilsituation, wie er einergroßen traditionsreichen Firmagut ansteht, könnte hier helfen, of-fensichtliche Sorgen abzubauen.

Sehr geehrter Herr Dr. Kaschke, ichhoffe ich konnte Ihnen die Sorgen derTEM-Community deutlich machen.Mich erreichen viele Zuschriften so-wohl aus den physikalisch-material-wissenschaftlich als auch aus den bio-logisch-lebenswissenschaftlich ge-prägten Labors und Forschungsinsti-tuten, in denen auf die nun entstande-nen Probleme hingewiesen wird.Viele Kolleg(inn)en beklagen sichdarüber, dass sie zwar viele Gerüchtehören, aber von der Fa. Zeiss nochkeinerlei offizielle Information erhiel-ten. Ich möchte Sie daher bitten, eineklare, aussagekräftige Stellungnahmezum künftigen Umgang der Fa. Zeissmit den Anwendern von Transmissi-onselektronenmikroskopen zu geben.Gerne werde ich – Ihr Einverständnisvorausgesetzt – IhreAntwort gemein-sam mit diesem Brief an Sie in den

"Mitteilungen der Elektronenmikro-skopie" abdrucken um so unsere Mit-glieder über die zu erwartende Situati-on zu informieren.Mit freundlichen Grüßen,

(Prof. Dr. Josef Zweck / Vorsitzen-der der DGE)

In Abdruck an: Dr. Franck Stietz,Geschäftsführung

Interview mit Dr. Frank Stietz,Carl Zeiss Microscopy GmbH,25.03.2013

1.Warum stellt Carl Zeiss die Ferti-gung der Transmissionselektronenmi-kroskope der LIBRA-Serie zum jetzi-gen Zeitpunkt ein?A: Die Einstellung der LIBRA-

Serie ist eine strategische Entschei-dung. Um aktuelle Trends und Appli-kationen, wie z.B. dreidimensionaleBildgebung und Analyse oder auchAbbildung großer Volumina optimalzu adressieren, müssen wir unsereRessourcen fokussieren, und dieskann besonders effektiv im BereichSEM, FIB-SEM oder auch He-IonenTechnologie erfolgen. Wir haben hierein breites Portfolio an Kerntechnolo-gien und neue ehrgeizige Innovations-projekte angeschoben. Diese könnenwir nun durch die zusätzlichen Res-sourcen beschleunigen und so unserenKunden neue Innovationen schnellerzur Verfügung stellen.

2. Was passiert mit den installiertenLIBRA-Systemen bezüglich Nachrü-stung und Softwarepflege?A: Wie für alle unsere Systeme ga-

rantieren wir auch bei den TEMs ge-nerell 10 Jahre Support. Dies schließtWartungen, Reparaturen sowie Up-grades und Updates ein. Danachschließt sich die „Best Effort“-Phasean, die wiederum bis zu 20 Jahre dau-ern kann. Unser In-House Repair Cen-ter stellt die Ersatzteilversorgung fürdie installierte LIBRA-Basis sicher.Durch Transfer von Personal aus derProduktion in das Repair Centerhabenwir im hier die Kompetenzwei-

ter verstärkt. Komponenten, welchewir von Drittanbietern systeminte-griert haben (Kameras, Goniometeretc.), können wir wie bisher durch ak-tuell verfügbare Komponenten erset-zen. Sind Änderungen am Design,Firmware oder Software notwendig,wird dies zukünftig durch die TEMProduct Sustain Group adressiert, dieaus Mitarbeitern der TEM Entwick-lung weiter verstärkt wird.

3. Hat diese Entscheidung Einflussauf die Serviceleistungen für ältereTEM-Systeme?A: Klare Aussage: nein. Für viele

Kunden ist die langfristige Verfügbar-keit des Services von entscheidenderBedeutung. Wir betreuen heute nocherfolgreich Geräte aus den 1970ern(beispielsweise die EM10-Produktse-rie). Dieser Service auf der Basis von'best effort' wird auch weiterhin ge-währleistet und ist nicht von der Ein-stellung der LIBRA-Produktserie be-einflusst.

4. Wie beabsichtigt Carl Zeissden applikativen Support installierterTEM-Systeme sicherzustellen?A: Applikative Fragestellungen

werden durch das TASC-Team (Trai-ningApplication und Support Center)unterstützt. Die vorhandenen Spezia-listen werden auch weiterhin aktiv anTEM-Fragestellungen arbeiten undauf individueller Basis ihre Unterstüt-zung anbieten. Außerdem wird es dieüblichen Veranstaltungen wie UserMeetings und Trainings weiterhingeben.Als Second Level Support wirddie TEM Product Sustain Group fun-gieren. Am Standort Oberkochen,sowie im dortigen Democenter, wer-den Geräte bereitgestellt, um Anwen-dungstests durchführen zu können.

5.Was passiert mit den proprietärenTechnologien von Carl Zeiss, ist einVerkauf an andere Firmen oder dieBereitstellung als Open Source ange-dacht?A: Hier laufen derzeit noch die in-

ternen Diskussionen. Generell istunser Ziel, TEM-relevante Technolo-gien für die Forschung bereit und zu-gänglich zu halten. Vor allem bei ge-förderten Forschungsprojekten ist diesaus meiner Sicht auch selbstverständ-lich. Es macht aus unserer Sicht kei-nen Sinn - und war im Übrigen in der

Geschäftsführung


Vergangenheit niemals Politik vonCarl Zeiss -, Technologien vomMarktfernzuhalten oder zu blockieren. Wei-tere Details dazu werden wir sicher-lich in etwa 6 Monaten diskutierenkönnen.

6. Was passiert mit dem SALVE-Projekt (Sub Angstrom Low VoltageElectron Microscopy)A: DasweitereVorgehenwird aktu-

ell im SALVE Projektteam und demBeirat des Projekts diskutiert.Wir sindnatürlich daran interessiert, dasSALVE-Projekts erfolgreich abzusch-ließen und das 20 kV TEM inklusiveKorrektor derWissenschaft möglichstschnell zur Verfügung zu stellen. Deraktuelle Projektstand ist so, dass ichsehr optimistisch bin, dass dies bisEnde diesen Jahres geschehen ist.Ak-tuell werden die Details diskutiert, diedazu nötig sind. Bitte verstehen Sie,dass ich diese hier noch nicht erläuternkann, ohne die Entscheidungen imProjektteam und Beirat vorwegzu-nehmen. Dies sollte dann aber inner-halb der nächsten Monate möglichsein.

7. Wie wirkt sich die LIBRA-Ent-scheidung auf die Position von CarlZeiss imWettbewerbsumfeld aus?A:Mittelfristig gehen wir von einer

positiven Entwicklung aus. Wir wol-len unsere Position im Bereich SEMund FIB-SEM deutlich verbessernund hier unseren Kunden neue Tech-nologien zur Verfügung stellen.Aktu-ell sehenwir natürlich eine gewisse Ir-ritation durch die Entscheidung gera-de hier in Deutschland. Wir habenaber eine Reihe anAktionen definiert,um diese durchmöglichst hohe Trans-parenz und Kommunikation zu adres-sieren. Zum Beispiel planen wir einenWorkshop in Oberkochen, in dem wirüber unsere Strategie und insbesonde-re neue zukünftige Technologien be-richten werden.

8. Welche Auswirkungen hat dieEntscheidung auf den Industriestan-dort Deutschland und die Forschungs-landschaft?A: Diese Frage war sicher mit ein

Hintergrund, warum die Entscheidunggegen TEM zum jetzigen Zeitpunktgefällt wurde. Es gibt eine Reihe anApplikationen, die wichtige Fragender Gesellschaft adressieren und

daher aus meiner Sicht auch immerwichtiger werden.Als Beispiel möch-te ich nennen: Einsatz von SEM undFIB-SEM zur effizienten Nutzungvon Rohstoffen, Herstellung und Er-forschung neuer Materialien wie z.B.Graphen, wo die He-Ionen Technolo-gie ein wichtige Rolle spielen kann,bis hin zumEinsatz von SEMTechno-logien in der Biologie wie z.B. demBrainmapping. Sich hier mit den ent-sprechenden Produkten zu etablieren,wird sicher den ForschungsstandortDeutschland stärken. Carl Zeiss wirddabei auch weiterhin auf eine engeKooperation mit der Wissenschaftund denAnwendern in der industriel-len Forschung und Qualitätssiche-rung setzen.Was wir brauchen, ist einklarer technologischer Fokus undeine Bündelung der Ressourcen, umunsere Innovationskraft voll zu ent-falten.

9. Was ist mit Carl Zeiss und derElektronenmikroskopie generell? Wowird die Elektronenmikroskopie in 5Jahren stehen?A: Wir werden unsere Aktivitäten

im Bereich SEM, FIB-SEM stark aus-gebaut haben. Die scannenden Elek-tronen- und Ionen-Technologien sindein wichtiges Standbein für For-schungsapplikationen insbesonderefür dreidimensionale Bildgebung, 3D-Nanostrukturierung und Abbildunggroßer Volumina. Wir werden weiter-hin die Schnittstelle zur Lichtmikro-skopie optimiert haben. Erste Lösun-gen sind bereits erhältlich und werdenweiter vorangetrieben. Ich sehe Auf-lösungsverbesserung in allen Raumdi-mensionen, optimal auf die jeweiligeApplikation zugeschnittene Kontrast-verfahren, eine deutlich erhöhte Auf-nahmegeschwindigkeit und Automa-tisierung als die Haupttreiber der Ein-satzmöglichkeiten dieser Technolo-gie. Mit dem sogenannten mSEM(Vielkanal SEM mit hohem Durch-satz) ist eine erste Idee vorhanden, denDurchsatz in der Elektronenmikro-skopie dramatisch zu erhöhen. Diesewird derzeit auf ihre Applikations-möglichkeiten getestet wird. In fünfJahren sollten unsere Anwender ein-fach zu bedienendeMikroskopsystemezur Verfügung haben, bei denen dannneben der Optimierung der Technolo-gie die zu erledigende wissenschaftli-cheAufgabe imVordergrund steht.

10. Eine ganz persönliche Fragezum Schluss: Schmerzt es nicht, alsPhysiker eine ganze Technologie auf-geben zu müssen?A: Natürlich ist es nicht einfach,

eine Geräteklasse aufzugeben, vorallem wenn man viele der Anwenderpersönlich kennt und mit ihnen dasThema erst vor Kurzem diskutiert hat.Wir stellen damit ja auch absolut nichtin Frage, dass es eine Reihe an An-wendungen gibt, die ein TEM brau-chen, z.B. in der Strukturanalyse.Aber, ich sage auch: wenn wir un-

seren Kunden immer neue Innovatio-nen zur Verfügung stellen möchten,müssen wir uns fokussieren. Dieshaben wir durch die Entscheidunggetan. Noch eine Bemerkung zumSchluss: Wir haben eine Produktlinieeingestellt, die Elektronenstrahlmi-kroskopie in Summe steht für unsaußer Frage. Im Gegenteil, unsereEntscheidung zur Fokussierung derRessourcen hilft uns jetzt dabei,schneller die Innovationen imBereichSEM, FIB-SEM und He-Ionen Tech-nologie voranzutreiben. Und glaubenSie mir: diese Technologien eröffnenfür einen Physiker eine Reihe an hochinteressanten Fragestellungen.

Harald Rose Distinguis-hed Lecture wird an derUni Regensburg erstmaligvergeben

DieDeutscheGesellschaft für Elek-tronenmikroskopie (DGE) ehrt imRahmen desMikroskopie-Kongresses„MC2013“ (www.mc2013.de) Prof.Dr. Peter Schattschneider (TU Wien)mit der „Harald Rose DistinguishedLecture“. Der Kongress „MC2013“findet vom 25. bis zum 30. August2013 in Regensburg statt. Mehr als1.000 Forscherinnen und Forscher ausdem In- und Ausland werden dazu inder Donaustadt erwartet. Prof. Dr.Josef Zweck vom Institut für Experi-mentelle und Angewandte Physik derUniversität Regensburg wird dieAus-zeichnung als Präsident der DGE vor-nehmen.

Schattschneider erhält die Aus-zeichnung für seineArbeiten über den

Geschäftsführung


Geschäftsführung


magnetischen chiralen Dichroismus(EMCD) und seine Anwendungen inder Praxis. Damit lassen sich im Elek-tronenmikroskop Nanometer großemagnetische Probenbereiche charak-terisieren. Seine Arbeiten bildetenauch die Basis für die Präparation undAnwendung der erst vor wenigen Jah-ren nachgewiesenen von Elektronen-Vortex-Strahlen. Im Rahmen seinesFestvortrags wird Prof. Schattschnei-der hierüber berichten.

Die Harald Rose Distinguished Lec-ture ist benannt nach Prof. Dr. HaraldRose. Der Preis wird ab 2013 von derDeutschen Gesellschaft für Elektro-nenmikroskopie im zweijährigen Rhy-thmus für besonders herausragende,aktuelle und weiter aktiv verfolgte Ar-beiten auf dem Gebiet der Elektronen-mikroskopie verliehen. Die Arbeitensollen auf dem Gebiet der Teilchenop-tik, vorzugsweise demGebiet der Elek-tronenmikroskopie angesiedelt sein. Essoll damit eine Person geehrt werden,die eine thematischeNähe zumWirkenvon Harald Rose aufweist.

Prof. Dr. Josef Zweck /Pressemitteilung der U Regensburg

DGE-Online-Forum:Neues Medium zum Er-fahrungsaustausch überElektronenmikroskopie

Der Erfahrungsaustausch ist einewesentlicheGrundlage unserer erfolg-reichenArbeit an undmit einem Elek-tronenmikroskop und den dafür geeig-net präparierten Proben. Dabei treteninsbesondere für Anfänger, jedochebenso für Forgeschrittene viele klei-ne und große Fragen auf, die es zu be-antworten gilt. Die DGEmöchte ihrenMitgliedern und weiteren interessier-ten Personen eine Plattform bieten,um diesen Erfahrungsaustausch zuvereinfachen und zu beschleunigen.Nach Testen verschiedener Möglich-keiten hat sich der Vorstand für dieEinrichtung eines eigenen speziellenOnline-Forums für die Elektronenmi-kroskopie entschieden. Ein solchesForum bietet dieMöglichkeit themen-und gruppenorientiert Fragen zu stel-

len, offene Punkte zu diskutieren undTipps und Tricks oder Informationenüber unerwartete Software-Erfahrun-gen auszutauschen.Der Zugang erfolgt über

http://forum.dge-homepage.de. DasForum ist aufgeteilt in Bereiche fürArbeitskreise, Mikroskopietechnikenund Gerätefragen, um die Fragethe-men strukturiert diskutieren zu kön-nen. Ein solches Forum lebt natürlichinsbesondere von Ihrer aktiven Mit-wirkung, worum wir sie hiermit herz-lich bitten. Die Benutzung ist rechteinfach und entspricht den üblichenStandards, da die Softwarebasis dieweit verbreitete ForensoftwarephpBB ist. Um die Spamgefahr zumi-nimieren, müssen Sie sich vor der Er-stellung ihres ersten Beitrags (Frageoder Antwort) über die Schaltfäche„Register“ rechts oben registrieren.Diese Registrierung wird dann nichtautomatisch sondern erst nach Prü-

fung durch einen Moderator freige-schaltet. Dies kann naturgemäß auchmal etwas dauern, da auch die Mode-ratoren nicht immer online sind. Nachdieser einmaligen Erstregistrierungkönnen Sie sich jederzeit direkt ein-loggen und Beiträge erstellen. Für SieinteressanteThemenoderDiskussions-stränge könnenSie auch abonnieren, sodass Sie per E-Mail informiert werden,wenn eine neueAntwort eintrifft.Wir hoffen, dass diese Plattform

regen Anklang findet und sich fürmöglichst viele Elektronenmikrosko-piker als hilfreich erweist. Gleichzei-tig möchte ich Sie auch um Nachsichtbitten, sollte etwas in der der An-fangsphase nicht so funktionieren wieSie sich das vorstellen.Wir sind dank-bar für Hinweise undAnregungen undwerden versuchen, das Forum mög-lichst nützlich zu gestalten.

Thomas Gemming

Geschäftsführung



DieDeutscheGesellschaft für Elek-tronenmikroskopie (DGE) verleiht imRahmen desMikroskopie-Kongresses„MC2013“ (www.mc2013.de) den in-ternational höchst angesehenen Ernst-Ruska-Preis an Prof. Dr. Peter Nellist(Oxford, Großbritannien) und Prof.Dr. Holger Stark (Göttingen, Deutsch-land) für ihre herausragenden wissen-schaftlichen Leistungen. Der Kon-gress „MC2013“ findet vom 25. biszum 30. August 2013 in Regensburgstatt. Mehr als 1.000 Forscherinnenund Forscher aus dem In- undAuslandwerden dazu in der Donaustadt erwar-tet. Prof. Dr. Josef Zweck vom Institutfür Experimentelle und AngewandtePhysik der Universität Regensburgwird die Auszeichnungen als Präsi-dent der DGE vornehmen.

Stark erhält den Preis für seine Ar-beiten zur Strukturaufklärung vonbiologischen Makromolekülen. Mitden Arbeiten konnte unser Wissen

über die Funktion solcher Moleküleund über die Gründe für die Stabilitätgroßer Molekülkomplexe wesentlicherweitert werden. Nellist wird fürseine Beiträge zur dreidimensionalenAbbildung von nur Nanometer-großen Objekten mit Hilfe der maß-geblich von ihm entwickelten SCEM-Technik (scanning confocal electronmicroscopy, konfokale Rasterelektro-nenmikroskopie) ausgezeichnet.

Der Ernst-Ruska Preis ist benanntnach demNobelpreisträger und Erfin-der des Elektronenmikroskops, Prof.Dr. Ernst August Friedrich Ruska. Erwird von der Deutschen Gesellschaftfür Elektronenmikroskopie im zwei-jährigen Rhythmus für besonders her-ausragende Leistungen auf dem Ge-biet der Elektronenmikroskopie ver-liehen.

Prof. Dr. Josef Zweck /Pressemitteilung der U Regensburg

Ernst-Ruska-Preis 2013

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12 Elektronenmikroskopie · Nr. 36 · August 2013

Personalien

Physikalisch-Technische Bundesanstalt Braunschweig, 23. April 2013Der Präsident

Nachruf

Den Angehörigen der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt habe ich die traurige Mitteilung zu machen, dass

Herr Dir. und Prof. a. D. Prof. Dr. Karl-Joseph Hanßen

am 18. April 2013 im Alter von 92 Jahren verstorben ist.

Herr Hanßen begann zum Wintersemester 1943 ein Studium der Physik an der Universität Straßburg, das er, durch Militärdienst und Kriegsgefangenschaft unterbrochen, nach Kriegsende an den Universitäten Bonn und Münster fortsetzte. 1949 schloss er das Studium mit der Diplomprüfung in Physik ab. Im Juli 1952 wurde er von der Universität Münster mit einer Dissertation über Galvanische Ketten und chemische Reaktionen im Magnetfeld zum Dr. rer. nat. promoviert.

Kurze Zeit nach seiner Promotion trat Herr Hanßen am 17.11.1952 in das Labora-torium für Elektronenoptik der damaligen Abteilung 6 Atomphysik der PTB ein, dessen Leitung er am 01.09.1959 übernahm. In seiner wissenschaftlichen Tätigkeit beschäftigte sich Herr Hanßen mit theoretischen und experimentellen Unter-suchungen zur Abbildungstheorie des Elektronenmikroskops, die ihn in der in- und ausländischen Fachwelt bekannt gemacht haben. Hervorzuheben sind hier seine bahnbrechenden Arbeiten zur Kontrastübertragung im Elektronenmikroskop und seine Untersuchungen zur holographischen Bildrekonstruktion elektronen-mikroskopischer Aufnahmen mit lichtoptischen Mitteln. Am 01.10.1967 wurde Herrn Hanßen neben der Leitung seines Fachlaboratoriums, die er bis 1979 ausübte, auch die Leitung der Gruppe Elektronen-, Ionen- und Röntgenstrahlen übertragen. Deren Leitung hatte Herr Hanßen bis zu seinem Eintritt in den Ruhestand Ende Januar 1986 inne. Zusätzlich leitete Herr Hanßen in den Jahren 1970 bis 1979 die wissenschaftlich sehr ehrgeizigen Querschnittvorhaben Röntgen-Verschiebeinterferometer und Untersuchung von Anwendungsmöglichkeiten des Röntgeninterferometers in der Metrologie, durch die letztlich mit den genauesten Werten für die Gitterkonstante im Silizium-Einkristall die Grundlage für die Neube-stimmung der Avogadro-Konstanten geschaffen werden konnte.

Neben seinen dienstlichen Aufgaben als Labor- und Gruppenleiter hat Herr Hanßen im Jahr 1971 ein Verfahren zur Habilitation an der Universität Braunschweig erfolgreich abgeschlossen. Der niedersächsische Minister für Wissenschaft und Kunst hat ihn deshalb zum außerplanmäßigen Professor an der Technischen UniversitätBraunschweig ernannt.

Herr Prof. Hanßen war ein begabter Physiker, der sein Arbeitsgebiet theoretisch und experimentell sehr gut beherrschte. Seine wissenschaftlichen Arbeiten führten zu zahlreichen hervorragenden Veröffentlichungen und Vorträgen, die internationale Beachtung und Anerkennung gefunden haben. Herr Prof. Hanßen war ein aufrechter und ehrlicher Kollege und Vorgesetzter, der seine Überzeugungen mit Nachdruck vertreten hat und der eine große persönliche Achtung genoss. Wir nehmen in Trauer Abschied von Karl-Joseph Hanßen und werden ihm ein ehrendes Andenken bewahren.

Der Personalrat

Elektronenmikroskopie · Nr. 36 · August 2013 13

Ultramikrotomie in derMateri-alforschung:Symposium am FraunhoferIWM in Halle (Saale)

Das Fraunhofer-Institut für Werk-stoffmechanik IWM in Halle bietetvom 8. bis 10. Oktober 2013 ein Sym-posium mit Workshop zum Thema»Ultramikrotomie und ergänzendePräparationstechniken in der Mate-rialwissenschaft« an. Im Mittelpunktdes anwendungsorientierten Symposi-ums stehen spezielle Verfahren zurProbenherstellung für die Elektronen-mikroskopie. Die Veranstaltung wirdgemeinsam mit dem Fraunhofer-Cen-ter für angewandte Mikrostruktur-Diagnostik CAMund der Bethge-Stif-tung für angewandte Elektronenmi-kroskopie in Halle ausgerichtet.

Im zweitägigen Vortragsprogrammwerden neben der Ultramikrotomieund Cryo-Ultramikrotomie mit Dia-mantmesser, chemische Kontrastier-verfahren für Biomaterialien und Po-lymere, Einbettverfahren, ergänzendemechanische Präparationstechnikenund Ionenstrahlverfahren behandelt.Der Fokus liegt dabei auf der Präpara-tion von Polymer-undKompositwerk-stoffen, Biomaterialien sowie Werk-stoffen der Medizin- und Mikrosy-stemtechnik.

Im Anschluss findet ein eintägigerWorkshopmit begrenzter Teilnehmer-zahl statt bei demGerätevorführungenund die Bearbeitung spezieller An-wendungsprobleme im Vordergrundstehen.

AngesprochenwerdenAnwender ausIndustrie, Universitäten, Forschungs-einrichtungen und klinischen Laboren.Weitere Informationen zu Programmund Anmeldung unter Tel.: 0345-55 89 292 oder unter [email protected]

Wissenschaftliche Veranstaltungen

August 25–30, 2013University of RegensburgRegensburg/Germany

Topics

Further Information, Abstract Submission, Registration: www.mc2013.de

Organizers

Conference Chair


Vom 16. bis zum 17.05.2013 fanddas 11. Labormeeting des AK EMEDimBiomedizinischen Forschungszen-trum Seltersberg (BFS) der Univer-sität Gießen sowie der Tagungsstätteder Universität Schloss Rauischholz-hausen statt.Die Organisation vor Ort hatte dies-

mal Matthias König vom Institut fürVirologie, Fachbereich Veterinärme-dizin, übernommen. Auf die 35 Teil-nehmer aus ganz Deutschland warteteein spannendes und abwechslungsrei-ches Programm.Das Treffen begann am 16.05.

nachmittags im Institut für Virologiemit einer kurzen Begrüßungsrundeund Führungen durch die EM-Einhei-

ten des BFS. Die beiden im WechselvonMartin Hardt undMatthias Königdurch die Imaging Unit und das vete-rinärmedizinische EM-Labor geführ-tenGruppen konnten sich von der um-fangreichenAusstattung und den tech-nischen Möglichkeiten im BFS über-zeugen.Peter Büscher von der Firma Olym-

pus SIS (Münster) stellte dabei dieneue i-TEMPlattform vor. SaskiaMi-mietz-Oeckler und Wolfgang Bred-dermann (Leica-Microsysteme,Wetz-lar) demonstrierten die beiden neuenBedampfungsanlagen ACE 600 undACE 200.Nach den Laborbesichtigungen

ging es ins Mathematikum, einem inseinerArt in der Tat einmaligenMuse-um. Unter fachkundiger Anleitungkonnte unsere Gruppe spielerisch undempirisch erfahren, dass Mathematiksehr viel Spaß machen kann und wel-che Formeln hinter oft sehr verblüf-fenden Phänomenenwie zumBeispieldem Geburtstagsparadoxon stehen.Im Anschluss waren sich alle einig:die Zeit war zu kurz undmanmuss un-bedingt noch einmal hierher.

Zum Abendessen ging es zumSchloss Rauischholzhausen, einemtraumhaften Tagungsort in einemwunderschönen Park, wo beim gemüt-lichen Beisammensein amAbend alteBekanntschaften aufgefrischt undfachliche Erfahrungen ausgetauschtwurden.AmnächstenMorgen hießMatthias

König alle Teilnehmer herzlich will-kommen, stellte die Universität kurzvor und gab einen Überblick über dieEntstehungsgeschichte der Justus-Liebig-Universität. Dabei erwähnte erauch die „Rivalität“ zur Nachbaruni-versitätMarburg. Dass diese Rivalität,zumindest unter Elektronenmikrosko-pikern, mit einemAugenzwinkern ge-sehen wird, belegte die rege Teilnah-me von Marburger Kollegen.Zu unserer großen Freude war auch

der Gründer und Vater unseres Ar-beitskreises HansGelderblom gekom-men. Er hielt den ersten Fachvortragund gab am Lebenslauf von HelmuthRuska verankert einen sehr schönenÜberblick über die Entwicklungsge-schichte des Transmissionselektro-nenmikroskops und seiner grundle-genden Bedeutung für die Virologie.Larissa Kolesnikova (UniMarburg)

berichtete über ihre Untersuchungser-gebnisse zur Ausschleusung von In-fluenzaviren. Sie hatte Kulturen unter-schiedlich differenzierter Zellen dermenschlichen Atemwege untersuchtund überraschenderweise herausge-funden, dass Influenzaviren nicht übersekretorischeVesikel oder Zilien, son-dern über Mikrovilli und hier vorallem über die Spitzen der Mikrovilliausgeschleust werden. Der dahinter-stehendeMechanismus ist bisher nochspekulativ.Der Vortrag von Elisabeth Lieber-

Tenorio (Friedrich-Loeffler-InstitutJena) behandelte ultrastrukturelle Un-tersuchungen derWirts-Erreger Inter-aktion bei Chlamydia psittaci. Siezeigte, wie Chlamydia psittaci in„aberranten“ Stadien persistiert, wel-

DGE-Arbeitskreise

Bericht vom 11. Labor-meeting desAK EMED2013 im Schloss Rauisch-holzhausen der Tagungs-stätte der UniversitätGießen

Teilnehmer des 11. AK EMED Labormeetings 2013 vor dem Schloss RauischholzhausenFoto: Susanne Schmid & Christine Förster, Uni Gießen

DGE-Arbeitskreise


che sich gezielt durch „Inducer“ her-vorrufen lassen. Sie stellte drei unter-schiedliche Projekte zur Chlamydien-forschung vor und berichtete, dass dieobligat intrazellulären Organismennach bisherigen Untersuchungen anKälberlungen offenbar in neutrophi-len Granulozyten und in Makropha-gen abgebaut werden, sich in Alveo-larzellen hingegen vermehren können.Einen neuen und sehr innovativen

Ansatz zur Inaktivierung von Bakteri-en und Viren brachte uns Anita Glo-mer (Uni Regensburg) nahe. Im Zen-trum ihrer Untersuchungen stehenphotosensibilisierende Farbstoffe.Diese werden durch Lichteinwirkungaktiviert und induzieren die Bildunghochreaktiver Sauerstoffspezies.Letztere wiederum können dann orga-nische Substanzen oxidieren und z.B.bakterielleMembranen zerstören. DasVerfahren wird bereits in der Derma-tologie bei superinfizierten Brand-wunden erfolgreich eingesetzt. Dakeine Resistenzen wie beiAntibiotikaoder Desinfektionsmittel auftreten, istder Einsatz für die Oberflächendesin-fektion vielversprechend. Auch Virenund Sporen können inaktiviert wer-den. Erste Versuche in Suspensionenund mit Lebensmittelfarben verliefenebenfalls erfolgreich.Andreas Klingl (Uni Marburg) gab

einen hervorragenden Überblick überunterschiedliche Kryomethoden. Vonder Gefrierätzung bis zur Hochdruck-gefriertechnik erläuterte er die Vortei-le der Verfahren, besonders bei sonstnur schwer zu präparierenden Orga-nismen wieArchaeae und bei Immun-markierungen.Valerij Akimkin (CVUA Stuttgart)

stellte interessante Fälle und überra-schende Befunde aus der Routinedia-gostik des letzten Jahres vor, die ermitsehr schönen Aufnahmen belegte. Erberichtete über den Ausbau des La-bors und informierte über denAufbaueiner Datenbank für elektronenmikro-skopische Virusaufnahmen, die inKürze auch online gehen soll.Vom 25. EQA Ringversuch berich-

tete Gudrun Holland (RKI, Berlin).Sie erläuterte die Ergebnisse an aussa-gekräftigen Beispielaufnahmen, gingaber auch auf Schwierigkeiten undFehlinterpretationen bei einigen derProben ein und gab guteTipps und Lö-sungsvorschläge. Insgesamt ist festzu-

stellen, dass die Teilnahme an denRingversuchen vor allem den offenenBlick trainieren soll. Die Ringversu-che ausschließlich als Leistungskon-trolle zu sehen, geht an der eigentli-chen Intention vorbei.Nach der Mittagspause eröffnete

Jobst Gabler (GaLa Instrumente, BadSchwalbach) die Reihe der Firmen-vorträge mit der Präsentation desKryopräparationssystems PP3010 derFirma Quorum Technologies.Martin Dass (Zeiss, Oberkochen)

stellte das neue Konzept des Crossbe-am Gerätes AURIGA zur Gewinnungvon 3D Daten von Geweben und Ein-zelzellen vor. Hierbei wird der FIBwie ein Minimikrotom im REM ge-nutzt, um in einem automatisiertenVerfahren Schicht für Schicht von derOberfläche eines Präparates zu entfer-nen. Nach Analyse und Rekonstrukti-on der Schnitte erfolgt die 3DDarstel-lung der Probe.Über neue Entwicklungen zur kor-

relativen Mikroskopie informierteElke Spiess (FEI, Eindhoven). Sie er-klärte die Funktionsweise der Produk-te CorrSight, MAPS und iCorr. Dieseermöglichen die Untersuchung desgleichen Präparates bzw. der gleichenPräparatstelle in Lichtmikroskop undREM bzw. Fluoreszenzmikroskopieund TEM.Als letzten Vortrag gab Saskia Mi-

mietz-Oeckler (Leica-Microsysteme,Wetzlar) einen Überblick über die fürdie Elektronenmikroskopie interes-sante Produktpalette der Firma.ImAnschluss an das Labormeeting

fand noch eine Mitgliederversamm-lung statt, auf der angeregt wurde, dasnächste Labormeeting in Koblenzstattfinden zu lassen.

Bärbel Hauröder1. Sprecher AK EMED

Vom 24. bis 25. Juni 2013 fand bei derFirma ams AG in Unterpremstätten,Österreich, der achte Workshop „Fo-cused Ion Beams in Research, Science

and Technology“ wiederum untermaßgeblicher Beteiligung namhafterFirmen (FEI Company, TESCAN,Carl Zeiss NTS GmbH, Oxford In-struments GmbH, Kleindiek Nano-technik GmbH, Raith GmbH, TVIPS)statt.Ausrichter war der länderübergreifen-de Arbeitskreis FIB (http://institute.tugraz.at/felmi-zfe/FIB/welcome.html),in welchem die Aktivitäten zur FIB-Technologie der Deutschen Gesell-schaft für Elektronenmikroskopie e.V.(DGE), derAustrian Society for Elec-tron Microscopy (ASEM), der SwissSociety for Optics and Microscopy(SSOM) sowie der Deutschen Gesell-schaft für Materialkunde e.V. (DGM)zusammengefasst sind. Der Arbeits-kreis wurde durch die DGE im Jahre2005 in Davos gegründet. Er versteht

FIBWorkshop 2013 beiamsAG in Unterpremstät-ten bei Graz, Österreich

DGE-Arbeitskreise


sich als Forum für die Diskussion vonTheorien, Methoden, Anwendungenund Neuentwicklungen auf dem Ge-biet der fokussierten Ionenstrahltech-niken und dient insbesondere demAustausch praktischer Erfahrungensowie der Diskussion künftigerTrends.Die lokale Organisation des diesjähri-gen Workshops lag bei Dr. MichaelRogers (ASEM) von der Firma amsAGund seinemTeam.Mitmehr als 80Teilnehmern, zahlreichen Vorträgenund Posterbeiträgen war die Veran-staltung wiederum ein großer Erfolg.Auch wurde der Workshop wie injedem Jahr durchmehrere Geräte- undLaborbesichtigungen ergänzt, an demgerätetechnisches Know-How und dieArbeiten der Firma ams AG in beein-druckender Weise präsentiert werdenkonnten. Ein besonderes Highlightwar die Demonstration eines FERASystems der Firma TESCAN, die in-nerhalb der Führungen durchgeführtwurden. Das gezeigte Demogerät be-

inhaltete ein Zweistrahl-System, be-stehend aus einemXenon Plasma-FIBund einem FE-REM System. Eineweitere Besonderheit war dieAusstat-tung mit einem TOF-SIMS Modulwelches direkt an die Probenkammerangeflanscht war.Vorträge und Poster zu den klassi-schen FIB Themenbereichen wieTEM Probenpräparation, Nanostruk-turierung oder 3D FIB Tomographiewurden ergänzt von Beiträgen zu me-thodischen und gerätetechnischenNeuentwicklungen, die zu einemgroßen Teil auf Materialbearbeitunggroßer Probenvolumina ausgerichtetsind. Typische Vertreter dieser Gat-tung sind Plasma-FIB Systeme unddie Kombination Laser mit klassi-schem Gallium-FIB.Diese neuen Entwicklungen der Ba-sisgeräte werden nun zunehmendsmitdiversen neuartigenAnalyse- undMa-nipulatorsystemen kombiniert, wie-derum präsentiert von den Herstellerndieser Zusatzsysteme.

Alle Vorträge und Posterpräsentatio-nen sind künftig wieder auf der Home-page desArbeitskreises verfügbar.Außerdemwurdewährend desWorks-hop eine Veränderung der Organisati-onsstruktur des Dreiländer-Arbeits-kreises FIB bekannt gegeben. FrauDr.SousanAbolhassani (SSOM)wird ausder Funktion eines Beirats auf eigenenWunsch ausscheiden. Mit sofortigerWirkung wird diese Funktion durchHerrn Dr. Joakim Reuteler übernom-men.Wir danken nochmals allen Sponsorenund Mitwirkenden für die Unterstüt-zung, Organisation und Durch-führung. Der nächste Workshop wirdEnde Juni 2014 in der Schweiz statt-finden.Interessierte Leser sind herzlich ein-geladen, die Homepage zu besuchenund sich in die Interessentenliste ein-tragen zu lassen.

Siegfried Menzel undMichael Rogers


DGE-Immunmarkierungskursin Tübingen (Leiter Dr. HeinzSchwarz):Der Kurs fand vom 12. bis 14. Sep-

tember am Max-Planck-Institut fürEntwicklungsbiologie in Tübingenstatt. Trotz vergessener Ankündigungim DGE-Mitteilungsblatt besuchtenden zweieinhalbtägigen Kurs 10 Teil-nehmer (6 TAs und 4 Diplomandenund Doktoranden). Der Kurs behan-delte im praktischen Teil hauptsäch-lich Immunfluoreszenzmarkierungenund Immungoldmarkierungen an Ult-radünnschnitten von verschiedenen inPlastik eingebetteten biologischenProben. Im theoretischen Teil infor-mierte er umfassend über Einbet-tungsmethoden, chemische Fixierungund Kryofixierung, Gefriersubstituti-on,Antikörper,Antigene sowie geeig-nete Markermoleküle, mit besonde-rem Schwerpunkt auf praktischeAspekte. Es herrschte ein reger Mei-nungsaustausch zwischen den Teil-nehmern und auch wir Instruktorenkonnten dazu lernen.Der Termin für den nächsten Kurs

ist der 18.-20. September 2013.

Ankündigung: Laborkurs ‘Im-munmarkierungen von Dünn-schnitten für die Licht- undElektronenmikroskopie’

Vom 18. bis 20. September 2013findet wieder unser jährlicher Labor-

kurs ‘Immunmarkierungen vonDünn-schnitten für die Licht- und Elektro-nenmikroskopie’ am MPI für Ent-wicklungsbiologie in Tübingen statt.

Veranstalter:Matthias Flötenmeyer, Heinz Schwarz.Max-Planck-Institut für Entwick-lungsbiologie, Spemannstr 35, 72076Tübingen. Tel.: 07071 601310In Zusammenarbeit mit Bruno

Humbel, Lausanne undYork Stierhof,Tübingen.

Programm:Der Kurs geht über zweieinhalb Tage:In kleinen Gruppen werden Schnitteverschiedener Objekte für LM undEMmarkiert und mikroskopiert.

Darüber hinaus gibt es mehrereVorträge über Probenpräparation(Fixieren, Einbetten, Schneiden)

und alle Einzelheiten über die Immun-markierung. (Sonden, Marker, Silber-verstärkung, Spezifität, Präzision derMarkierung). Alle Teilnehmer woh-nen in unseremGästehaus (Übernach-tung in komfortablem. Ein Einzelzim-mer kostet etwa 40 € pro Nacht.

Interessenten wenden sich bitte [email protected]@tuebingen.mpg.de

DGE-Laborkurs


Analytisches S/TEM am IOMin Leipzig

Das Leibniz-Institut für Ober-flächenmodifizierung (IOM) betreibtanwendungsorientierte Grundlagen-forschung zur Wechselwirkung vonIonen-, Laser- und Elektronenstrah-lung sowie Plasmen mit Oberflächenund dünnen Schichten. Mit der Eröff-nung des neuen Leipziger nanoAnaly-tikums (LenA) auf dem Gelände desWissenschaftsparks Leipzig im Mai2012 wurden die analytischen Mög-lichkeiten der Materialcharakterisie-rung des Institutes signifikant erwei-tert. Das LenAwurde aus Mitteln desEuropäischen Fonds für regionaleEntwicklung und des FreistaatesSachsen finanziert.

Zentrales Instrument des LenA istein neues hochauflösendes analyti-sches Rastertransmissionselektronen-mikroskop (STEM) vom Typ Titan3G2 60-300 der Firma FEI (Inbetrieb-nahme am 1 Juli 2012). Das Titan istmit einem Cs-Sondenkorrektor derdritten Generation (DCOR) ausgestat-tet, der es ermöglicht Abrerationenhöherer Ordnung zu korrigieren.Durch die Kombination des neuenSuper-X-Detektors und der neustenGeneration des abbildenden Energie-filters (Gatan Quantum SE 963/P mitUltrafast EELS SI- und DualEELS-Optionen), erlaubt das Gerät sowohlultraschnelle energiedispersive Rönt-

genund Elektronenenergieverlust-spektroskopie (EELS), als auch unü-bertroffene Sensitivität im Element-nachweis bis in den Bereich der ato-maren Ortsauflösung. Dieses Mikro-skop besitzt eine neu entwickelte„high-brightness“ Feldemissionsquel-le (X-FEG) und ist mit verschiedenenSTEM-Detektoren ausgestattet. DasGerät ist für 80 kV und 300 kV Be-schleunigungsspannungen optimiertund justiert. Die von FEI garantiertenSpezifikationen, wie Punktauflösungvon 70 pm in STEM oder Energieauf-lösung in EELS von 0.8 eV, werdenbei 300 kV routinemäßig erreicht. Be-merkenswert ist auch die Punktauflö-sung von 130 pm im STEM-Modus,die bei 80 kVerreicht wird. DasTEM-Labor ist mit einem aktiven Magnet-feldkompensationssystem versehen,um elektro-magnetischen Störfelderim Raum zu reduzieren.

Die Präparation elektronentranspa-renter Proben ist ein kritischer Ar-beitsschritt der Elektronenmikrosko-pie. Da das IOM über verschiedeneAusstattung zur Probenvorbereitungverfügt, können die Proben für dieTEM-Untersuchungen sowohl kon-ventionell als auch mittels „FocusedIon Beam“ (FIB) präpariert werden.Um die TEM-Probenpräparation wei-ter zu optimieren, erfolgt eine gezielteNachdünnung mit einem niederener-getischen Argon-Ionen-Strahl in derAnlage „NanoMill“ der Firma Fi-schione. Diese Nachbearbeitung er-möglicht die Präparatdicke bis auf 10nm zu reduzieren.

Am IOM wurde eine neue Arbeits-gruppe „Elektronenmikroskopie“ fürden Betrieb des LenA gebildet. DieseArbeitsgruppe steht seit September2011 unter der Leitung vonDr.AndriyLotnyk. Der Programmbereich derAG umfasst die Forschung auf demGebiet der Strukturanalyse vonGrenzflächen und dünnen Schichtenmittels hochauflösendem STEM undElektronenspektroskopie.

Dr. Andriy Lotnyk, IOM Leipzig

Neues aus den Elektronenmikroskopielabors

Abb.1:Abb. 1. LenA-Gebäude

Abb.2:Titan3 G2 60-300 und Dr. A. Lotnyk miteinem DT-Halter

Abb.3:HAADF-STEM Abbildung der GrenzflächezwischenGaNundSiC. DasBild wurde bei80 kV aufgenommen.


TESCAN bringt neue Ultra-High Resolution FE-REM Serie

Seit über zwanzig Jahren ist dieFirma TESCAN als Hersteller undweltweiter Anbieter von Rasterelek-tronenmikroskopen (REM) und dendazugehörigen abbildenden Detekto-ren erfolgreich. Besondere Kennzei-chen der TESCAN REM sind unteranderem die Wide Field Optics™Mehrlinsenoptik oder die In-FlightBeam Tracing™ Strahloptimierung.Nach REM mit W-Kathode ent-

wickelte TESCANGerätesystememitLaB6- und FE-Kathode, aber auchverschiedene Spezial-REM und FIB-REM Systeme. Ende 2011 kam mitder FERA das weltweit erste Plasma-FIB-REM in Serienfertigung auf denMarkt. Durch die Plasma-Technologieist eine bis zu fünfzigmal höhere Ab-tragsrate möglich. Die FERA konnte

mittlerweile bereits mehrere deutscheAnwender überzeugen.

Nun präsentiert TESCAN seineneue, zusätzliche MAIA Ultra-HighResolution FE-REM Serie. Das lei-stungsstarke MAIA UHR FE-REMbasiert auf TESCANs bewährterMehrlinsenoptik. Die hervorragendeAuflösung der MAIA bei niedrigerSpannung wird durch die einzigartigeTESCAN Immersionslinse erreicht,die im Vergleich zu konventionellenLinsen optische Abbildungsfehler er-heblich reduziert. So ist dieMAIAbe-stens für die Untersuchung nichtlei-tender Materialien und sehr empfind-licher Proben ausgerüstet.Durch eine zusätzliche, intermediä-

re Linse ist ein schnellerWechsel zwi-schen mehreren Darstellungsmodimöglich. Mehrere Detektionssysteme

befinden sich innerhalb der Elektro-nensäule und bieten weitere Möglich-keiten der Signalgewinnung gegenü-ber normalen, in der Kammer platzier-ten SE, BSE oder STEM Detektoren.

Wie alle anderen TESCAN REMbietet auch die MAIA eine schnelleund effiziente Kontrolle des Mikro-skops mit vielen automatisierten Pro-zeduren für Strahljustierung, Fokus-sierung und Spot-Size Optimierung.Hinzu kommen eingebettete Soft-waremodule wie Bildbearbeitung,3D-Scanning und vieles mehr.Dies ermöglicht eine intuitive und

benutzerfreundliche Bedienung desREM. Zudem kann derAnwender ein-fach den für den Scan Modus bestge-eigneten Detektor auswählen. Dankausgereifter Software-Module sindselbst komplexe Vorgänge relativ ein-fach zu handhaben. Detektoren,Mani-pulatoren, viele Zubehörartikel undErweiterungsoptionen sind benutzer-freundlich in die Steuerung der REMModelle eingebunden.

KontaktEOElektronen-Optik-ServiceGmbHZum Lonnenhohl 4644319 DortmundTel.: +49 (0)231 927360-0Fax: +49 (0)231 [email protected]

FEI sets new standards in theworld of Dualbeams (FIB/SEM)with Helios NanoLab 660 andScios

Developing and improving newmaterials and devices starts with theability to understand and modify theirproperties at the micro- and nano-meter scale. Today, many of these areroutinely investigated by materialsscience researchers in a FIB/SEMworkstation. Information about themorphology, composition, crystallo-graphy, mechanical and electrical be-haviors can be gathered from the samespecific location in 2D or 3D, fromsamples as diverse as metals, thin

Aus Forschung und Industrie


films, ceramics, polymers, particles,nanotubes and many more.

To study next generation materialsand devices with shrinking dimen-sions, increased complexity and va-riety, FIB/SEMs with a new level ofperformance are needed. With a 20-year history of unparalleled success,two FEI DualBeamsTM are being in-troduced in 2013 to meet this challen-ge, setting new high resolution, con-trast and speed standards. TheSciosTM, with its SEM electrostaticlens and longworking distance, provi-des rapid imaging on samples with themost diverse nature, size and shape.The Helios NanoLabTM 660, using

its SEM immersion lens and patentedmonochromated electron gun, revealsunprecedented fine nanoscale detailsfrom the sample surface and sections.Fastest time to data and clearest con-trast are guaranteed on both instru-ments via a new triple in-column de-tection suite that delivers simulta-neous collection and precise selectionof the signal, and highest efficiency atlowest dose to accurately image beamsensitive materials. In addition, a newhigh-current mode enables faster ana-lysis.

Like other FEI DualBeams, theScios and Helios NanoLab 660 excelat reliably preparing highest quality,

ultra-thin samples for high resolutionS/TEM or Atom Probe analysis,thanks to their fully integrated techno-logies. They feature FEI’s latest FIBcolumns, which deliver the tightestbeam at high and low currents respec-tively, for fast, precise large-volumeremoval and thinning; and exceptionallow-energy polishing, to remove sur-face damage in the final steps of pre-paration. In no more than a couple ofhours, a chunk can be extracted from aspecific place on the sample, transfer-red in situ to a TEM grid thanks to theintegrated EasyLiftTM, and controlla-bly shaped into a few tens of nanome-ters thick lamella.

Many other applications, such as3D data collection, functional prototy-pe device fabrication, data correlationand linking to the macroscopic scaleare also moving forwards with HeliosNanoLab and Scios DualBeams.To learn more, please visithttp://www.fei.com/products/dualbeams.

One image. Every detail. Keeptrack of your sample.Advanced TEM imaging withthe 11 Megapixel Morada G2

The 11MegapixelMoradaG2TEMcamera is the reinvention of our mostsuccessful side-mounted TEM CCDcamera in modern electron microsco-py. The Morada G2 offers the best-value solution for any TEM image ac-quisition application requiring an ex-tremely large field of view combinedwith maximum resolution, high framerates and excellent contrast.

An extremely large field of viewand impressive image quality

TheMorada G2 delivers up to 4032x 2688 pixels, resulting in a very largefield of view of about 36mmx 24mm,a fundamental prerequisite for nume-rousTEM imaging applications. The 9μm x 9 μm pixel size facilitates high-resolution images in low and mid-range magnifications.A large field of view is not the only

important specification for TEM ca-meras – it is accompanied by charac-teristics such as high contrast, highsensitivity and superior resolution.The Morada G2 camera system with




its high-precision, rigid, patented me-chanics uses a custom-made lens, en-suring minimum distortion and extre-mely high transmission efficiency.The smart, newly-designed electro-nics of the Morada G2 provide expo-sure times from 1 ms to up to 60 sec.Its low power consumption rendersseparate water cooling redundant. TheMorada G2’s large well capacity re-sults in an efficient 14-bit dynamicrange, ensuring data precision for anyimaging task. The real-time functiona-lities of the associated imaging soft-ware, such as automatic online sha-ding correction, also support the high-quality image results of the entire ca-mera system.

High-speed performance

Advanced CCD technology and so-phisticated electronics combine to de-liver high-speed performance. Thisfast viewing mode allows the user tofind sample areas of interest quicklyand efficiently, and simultaneously tozoom in on interesting details instantly.The Morada G2 is a high-speed di-

gital imaging solution supporting se-veral binning modes as well as partialread-out. Using the binning mode in-creases frame rates and sensitivity. At2x binning, theMoradaG2 delivers upto 2016 x 1344 pixels at nearly 8 fps,whilst 12 fps can be achieved at 4xbinning (1008 x 672 pixels). The Mo-rada G2 is able to capture and streamdirectly digital videos of live imagesfor the observation of dynamic events.Using the Morada G2 in combinationwith OSIS TEM imaging software se-

cures acquisition performance, relia-bility and quality. There is support fornumerous built-in real-time functionsduring image recording, such as onli-ne shading correction, real-time FFT,automatic gain control, etc. Users canoptimize the live image interactivelyby adjusting contrast and brightnessvia the live histogram.

Contact:

OLYMPUS SOFT IMAGINGSOLUTIONS GmbHDr. Jens Krieger /Dr. Manfred Kässens

Johann-Krane-Weg 3948149 MünsterGermany

Phone: +49 (251) 798 00 0Fax: +49 (251) 798 00 6060info.osis@olympus-sis.comwww.soft-imaging.netwww.olympus-sis.com

ZEISS ergänzt durch Übernah-me von Xradia sein Mikrosko-pie-GeschäftErweiterung von Licht- und Elektro-nen-Mikroskopie durchRöntgenmikroskopie-Lösungen

Oberkochen, Deutschland undPleasanton, CA, USA – 13. Juni 2013ZEISS, international führendes Unter-nehmen auf dem Gebiet Optik undOptoelektronik, hat heute die geplan-te Übernahme der Xradia Inc. mit Sitzin Pleasanton, USA bekanntgegeben.

Xradia ist ein etablierter, mittelständi-scher Anbieter von innovativen 3D-Röntgenmikroskopen für Anwendun-gen in der industriellen und akademi-schen Forschung. Der Abschluss derÜbernahme steht unter demVorbehaltder Erfüllung üblicher Vollzugsschrit-te, einschließlich des notwendigenMeldevorgangs bei den US-Kartell-behörden. Nach dem Abschluss wirdXradia, Inc. unter dem neuen NamenCarl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc.firmieren.Röntgenmikroskope helfen Inno-

vationsprozesse in Wissenschaft undIndustrie zu verbessern und könnenfür viele Zwecke eingesetzt werden.Basierend auf exzellenter, bedarfsge-rechter Technologie konnte Xradiakontinuierlich starkes Wachstum beiUmsatz, Gewinn und Mitarbeiterzahlverzeichnen. Xradia bietet bereits Lö-sungen für die Werkstoff- und Roh-stoffforschung, Geologie, Halbleiter-fertigungsoptimierung sowie Biowis-senschaften. Beide Parteien habenüber die Höhe des Kaufpreises Still-schweigen vereinbart.„DasMikroskopie-Geschäft ist eine

wichtige Säule im Portfolio vonZEISS. Die Investition in Xradia un-terstreicht unsere Strategie, mit deninnovativsten und zukunftsträchtig-sten Technologien zu wachsen. DieEntscheidung wurde nach einer sorg-fältigen Betrachtung der Produktlini-en sowie von Vertrieb und Service ge-troffen“, erklärte Dr. Michael Kasch-ke, Vorstandsvorsitzender der CarlZeiss AG. „Durch die Kombinationwird ZEISS in der Lage sein, diewachsendeNachfrage bei multimoda-len mikroskopischen Abbildungsver-fahren besser zu bedienen. Damit kön-nen wir neue Lösungen entwickeln,die unseren Kunden in Wissenschaftund Industrie neue Wege der Wert-schöpfung eröffnen.“Dr. Ulrich Simon, Leiter des ZEISS

Unternehmensbereiches Microscopy,führte weiter aus: „Dies ist ein heraus-ragender Schritt für uns und ein deut-liches Signal dafür, dass wir der Mi-kroskopie neue Qualität verleihenwollen. Auf der Grundlage unsereseinzigartigen Leistungsangebots beiLicht-, Elektronen- und Ionenmikro-skopen, ermöglichen wir es nun mitder Röntgenmikroskopie, 3D-Abbil-dungen der Strukturen innerhalb vonObjekten in bisher unerreichterAuflö-

sung zu gewinnen. Röntgenmikro-skopie bereitet damit den Weg fürneueAnwendungen undmacht dieAr-beitsabläufe bei der multimodalenBildgebung für unsere Kunden welt-weit leichter und effektiver.“„Wir könnten uns nichts Besseres

vorstellen, als Teil eines solch heraus-ragenden und hoch geschätzten, glo-balen Unternehmens wie ZEISS zuwerden. Das bemerkenswerte Wachs-tum von Xradia während der letztenJahre beweist denWert der hochauflö-senden3D-Röntgenmikroskopie für die

Forschung weltweit. Die zusätzlichenRessourcen durch ZEISS werden einnoch schnelleresWachstum der Rönt-genmikroskopie-Lösungen bewirkenund generieren zusätzlichenMehrwertfür unseren bestehenden Kunden-stamm", ergänzte RodBrowning,Vor-standsvorsitzender und CEO vonXra-dia, Inc.

ZEISSAnsprechpartner für diePresseJörg Nitschke, Carl Zeiss, Konzern-kommunikation, PressesprecherTel. 07364 20-3242,E-Mail: [email protected]

Dr. Jochen Tham, Carl Zeiss,MicroscopyTel. 03641 64-3949,E-Mail: [email protected]

XradiaAnsprechpartner für diePresseBrenda Ropoulos, Corporate Commu-nications XradiaTel. +1.510.414.6772,E-Mail : [email protected]

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JEOLJSM-7800FFeldemissions-Rasterelektronen-mikroskop

Eching, 15. Juli 2013 – Das neueJSM-7800F dient als ultimatives For-schungs-Tool für Institutionen, dieeine große Vielfalt an Materialfor-schung betreiben.Die neu entwickelte Super Hybrid

Objektivlinse (SHL) bietet eine Auf-lösung von 0,8nm bei 15kV und1,2nm bei 1kV. Dieses Objektiv er-möglicht den Forschern bei starkerVergrößerung magnetische Proben zuuntersuchen. Neben der Beobachtung

von feinen Oberflächenstrukturenkönnen mit dem JSM-7800F auchsub-micron Strukturen mit EDS,WDS und EBSD analysieren werden.

ExtremeAuflösung

Die Super Hybrid Objektivlinse(SHL) bietet eine präzise Auflösungvon 0,8nm bei 15kV und 1,2nm bei1kV.Mit einer sehr niedrigen Elektro-nenenergie werden äußerst feineOberflächenstrukturen offenbart. DieVerteilung der Materialien kann auchbei 0,5kV beobachtet werden.

Schnelle und hochpräziseAnalyse

Mit dem großen Sondenstrom kön-nen die Proben schnell analysiert wer-den ohne dabei die Präzision undQua-lität der Ergebnisse zu vernachlässi-gen. Eine Vielzahl von zusätzlichenSystemen wie EDS, WDS und EBSDstehen dabei zur Verfügung. Die ver-zerrungsfreien EBSD Muster erlau-ben eine äußerst präzise Kristallstruk-turanalyse.

Hohe Stabilität und Konsistenz dererfassten Daten

Die in-lens thermische FEG produ-ziert einen äußerst stabilen Sonden-strom. Dabei steht immer die höchsteLeistung zur Verfügung. Die Ergeb-

nisse von mehreren Benutzern sindkonsistent und einfach zu vergleichen.Ebenso können verschiedene Analy-setage gegenübergestellt werden.

Kommen Sie näher an die Nano-Welt

Die Super Hybrid Objektivlinse(SHL)bringt Sie näher an die Nano-welt. Das Objektiv liefert eine hervor-ragende hohe Auflösung auch bei ex-trem niedrigen Elektronenenergien.Dies ist notwendig, um Strukturen inNanogröße zu beobachten und zu ana-lysieren.Mit der Super Hybrid Objek-tivlinse (SHL) können magnetischeMaterialien bei hohen Vergrößerun-gen beobachtet und analysiert werden.

Detektoren

Eine Vielzahl von Detektoren kön-nen Elektronen von der Probe zu fil-tern, indem Energie undAbstrahlwin-kel.

KontaktJEOL (Germany) GmbHEberhard BaierOskar-v.-Miller-Str. 1A85386 EchingE-Mail: [email protected] Informationen finden Sieauch im Internet unter www.jeol.de



Thomas Junker Die Evolution der PhantasieWie der Mensch zum Künstler wurde240 Seiten, 21 Abbildungen15,3 × 23 cm. Gebunden€ 24,90 [D]ISBN 978-3-7776-2180-7E-Book: PDF. € 24,90 [D]ISBN 978-3-7776-2341-2

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HIRZEL

S. Hirzel Verlag · Birkenwaldstraße 44 · 70191 Stuttgart · Telefon 0711 2582 341 · Fax 0711 2582 390 · Mail [email protected]

„Die Wissenschaft ist der Verstand der Welt, die Kunst ihre Seele.“

Lange haben Evolutionsbiologen die Grund-lage der Kunst im Schönheitssinn des Menschen gesucht. Doch Kunst ist viel mehr – sie hat ganz verschiedene Seiten, über die oft heftig gestritten wird. Es gibt Populär-, Trivial- und Hochkunst, es gibt Malerei, Tanz, Literatur, Film und vieles mehr – all das bezeichnen wir als „Kunst“. Sie kann uns Vergnügen bereiten, aber auch zum Nachdenken anregen. Wie diese vielen Formen und Aspekte der Kunst in unserer Evolution entstanden sind, untersucht dieses Buch. Es beschreibt, wie sich die Kunst entwickelt hat, warum sie uns begeistert und warum sie ein unverzichtbarer Bestandteil unserer Natur ist.

Maxim Gorki


JeanneAyache, Luc Beaunier, Jacque-line Boumendil, Gabrielle Ehrte,Danièle Laub,Springer, NewYork (2010);Volume 1,Methodology, 250 pages, ISBN 978-0-387-98181-9 (hardcover); Volume2, Techniques, 338 pages, ISBN 978-1-4419-5974-4 (hardcover)

Dieses zweibändige Werk erinnertdaran, dass erfolgreiche Transmissi-onselektronenmikroskopie – in allihren Erscheinungsformen – wesent-lich von der Qualität der untersuchtenPräparate abhängt. Das Besondere andiesem Handbuch ist, dass von fünfausgewiesenen Experten in verschie-denen Gebieten disziplinübergreifend(Physik, Biologie, Chemie, Medizin,Geologie) labortauglicheAnleitungenfür verschiedenste Fragestellungenherausdestilliert wurden. Es dient alsoder Elektronenmikroskopiegemeindein ihrer ganzen Breite, sei es mit Inter-esse an unbelebterMaterie oder leben-den Organismen. Ein Gewinn dieserGrenzüberschreitung ist, dass in je-weiligen Disziplinen etablierte Präpa-rationsmethoden jedoch in benachbar-tenDisziplinen unbekannteMethodendort bekannt gemacht werden; mitihren Vorzügen aber auch Grenzen.Als Beispiel wird die Ultramikroto-mie angeführt, die in der Biologie fürmehr als ein halbes Jahrhundert als

eine Standardmethode angewendetwurde bevor sie von den Materialwis-senschaftlern „entdeckt“ wurde. Dererste Band „Methodology“ führt über9 Kapitel hinweg zur Feststellung,dass Präparationsartefakte unver-meidlich sind, da sie den jeweiligenPräparationsmethoden inhärent sind.Artefakte können durchWahl der rich-tigen Methode und deren probleman-gepasstenAnwendung lediglich mini-miert nicht jedoch vermieden werden.Wahl und Anwendung der Präparati-onsmethode ergeben sich aus der ana-lytischen Fragestellung, die es mittelsder Elektronenmikroskopie zu beant-worten gilt. Hierzu gibt der Band„Methodology“ zunächst einenÜberblick über die Vielfalt der Mate-rialeigenschaften (z.B. duktil oderspröde) aber auch über unterschiedli-che Begrifflichkeiten (z.B. Mikro-struktur in den Materialwissenschaf-ten oder Ultrastruktur in der Biologie)sowie der heutzutage verfügbarenvielfältigen Mikroskopietechniken.Die Wahl der anzuwendenden Mikro-skopiemethode ist natürlich mitent-scheidet bei der Wahl der geeignetenPräparationsmethode(n). Die Präpara-tionsmethoden werden systematischklassifiziert, und es werden illustrativeBeispiele für durch sie verursachtePräparationsartefakte gegeben.Schließlich werden anhand von Fluss-diagrammen Strategien aufgezeigt,die helfen, für spezifische analytischeFragestellungen geeignete Präparati-onsmethoden ausfindig zu machen. Indiesem Kontext wird das Handbuch

mit einer korrespondierendenWeban-leitung, http://temsamprep.in2p3.fr,verknüpft, die stetig um neue Beispie-le erweitert wird. Sehr lehrreich ist inKapitel 8 der Vergleich der Anwen-dung unterschiedlicher Präparations-techniken für jeweils konkrete Fra-gestellungen aus allen vertretenenDisziplinen. Der zweite Band „Tech-niques“ ist in 7 Kapitel unterteilt undgibt spezifische Anleitungen zurHandhabung der im Band „Methodo-logy“ vorgestellten Präparationstech-niken, die durch anschauliche Skizzenund Photographien begreifbar wer-den. In der Summe stellt das Hand-buch wohl ein Referenzwerk dar, wiees noch nicht vorgelegen hat. Mit derVielzahl der beschriebenenMethodenin allen Disziplinen dürfte es das ersteKompendium sein, das es zu konsul-tieren gilt, wenn für ein Labor neuar-tige analytische Aufgabenstellungenmit der Transmissionselektronenmi-kroskopie zu lösen sind.

Besprochen von:Prof. Dr. Armin FeldhoffLeibniz Universität HannoverInstitut für Physikalische Chemie undElektrochemieCallinstraße 3-3A30167 HannoverTel.: +49(0)511.762-2940Fax: +49(0)511.762-19121E-Mail: [email protected]://www.caro.pci.uni-hannover.de/feldhoff.html

Buchbesprechung

Sample PreparationHandbook for Transmis-sion Electron Microscopy

HIRZELS. Hirzel Verlag · Birkenwaldstraße 44 · 70191 Stuttgart · Telefon 0711 2582 341 · Fax 0711 2582 390 · Mail [email protected]

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Karen Nieber Schwarz und starkWie Kaff ee die Gesundheit fördert2013. 144 Seiten, 46 Abbildungen, 8 Tabellen. Format 15,3 × 23 cm. Kartoniert.€ 19,80 [D]ISBN 978-3-7776-2161-6E-Book: PDF. € 19,80 [D]ISBN 978-3-7776-2339-9

Kaffee ist ein ganz besonderes Getränk – wegen seiner belebenden Wirkung wird es seit Jahrhunderten geschätzt. Doch das ist nicht alles: Studien haben gezeigt, dass Kaffee vielerlei Krankheiten und Beschwerden lindern kann. Das Spektrum reicht von Kopfschmerzen über Asthma und Diabetes bis zur parkinson-schen Krankheit. Welche Inhaltsstoffe für diese Heilwirkungen zuständig sind und wie sie unsere Gesundheit fördern können, erfahren Sie in diesem Buch. Es widerlegt alte Vorurteile und zeigt, dass Kaffee zu Recht ein wichtiger Teil unserer Kultur ist.

„Kaff ee dehydriert den Körper nicht.

Ich wäre sonst schon Staub.“ Franz Kafk a


Microscopy Conference MC2013,combining the Dreiländertagung2013(D-A-CH) and the MCM201325.-30.8.2013, Regensburg, Organi-sation: Deutsche Gesellschaft fürElektronenmikroskopie(DGE),http://ww.dge-homepage.de,http//mc2013.de

Cell Imaging Techniques Course1.-6.9.2013, Oxford, UK, Organizati-on: Royal Microscopy Society(RMS), http://www.rms.org.uk/events/Forthcoming_Events/CellImagingTech

Electron Microscopy andAnalysisGroup Conference (EMAG 2013)3.-6.9.2013 University of York, York,UK, Organization: IOP ElectronMicroscopy andAnalysis Group,http://www.emag-iop.org/home

Frontiers of Electron Microscopyin Materials Science (FEMMS2013)8.-13.9.2013, Lorne, Victoria, Aus-tralia, http://www.femms2013.org/

E-MRS Fall Meeting 2013, Sympo-sium I: Innovative Materials andMethodologies for the Identificati-on of Humans and Things16.-20.9.2013, Warsaw, Poland,Organization: European MaterialsResearch Society, http://www.emrs-strasbourg.com/

Microscopy at the Frontiers ofScience 2013 (mfs2013)

17.-20.9.2013, Tarragona, Spain,3rd Joint Congress of the Portugueseand Spanish Microscopy Societiesand Israel Society for Microscopy asinvited guest, http://www.icmab.csic.es/external-news/upcoming-activities/1652-microscopy-at-the-frontiers-of-science-2013.html

The birth of Applied Microscopy:150 years on from Henry CliftonSorby18.-19.9.2013, Halifax Hall, EndcliffeVillage, Sheffield, UK, Organization:Royal Microscopy Society (RMS),http://www.rms.org.uk/events/Forthcoming_Events/sorby2013

7th European FIB Users GroupMeeting (EFUG2013)30.9.2013, Arcachon (Bordeaux),France, http://www.imec.be/efug/

Workshop on 3D Solutions inCryo-Electron Microscopy 20131.-4.10.2013, Scientific & Technolo-gical Centers, University of Barcelona,Spain, http://www.ccit.ub.edu/3dcryoem/

4th Stanislaw Gorczyca School onTEM Basics andAdvanced SamplePreparation1.-4.10.2013, AGH University ofScience and Technology, Krakow,Poland, Organization: InternationalCentre of Electron Microscopy forMaterials Science,http://www.tem.agh.edu.pl/ESTEEM2School2013/main/

Ultramikrotomie in derMaterial-forschung, Symposium8.-10.10.2013, Halle (Saale), Orga-

nization: Fraunhofer IWM,http://www.iwm.fraunhofer.de/profil/organisation/institutsteil-halle/,http://www.iwm.fraunhofer.de/fileadmin/media/presse-publikationen/veranstaltungen/pdf/FlyerUM200613.pdf

PICO 201310.-12.10.2013, Kasteel Vaalsbroek,The Netherlands, Organization: ErnstRuska-Centre (Jülich) and Trieben-berg Laboratory (Dresden),http://www.er-c.org/pico2013/about.htm

EuropeanAtom Probe Tomogra-phyWorkshop21.-23.10.2013, ETH Zurich/EMEZ,Switzerland, Organization: EMEZ,http://www.emez.ethz.ch/

18th International MicroscopyCongress IMC 20147.-12.9.2014, Prague, Czech Repu-blic, Organization: CzechoslovakMicroscopy Society,http://www.imc2014.com/

Lehrgang TEM 20146.-10.10.2014, Karlsruhe,Organisation: Laboratorium fürElektronenmikroskopie (LEM) amKarlsruher Institut für Technologie(KIT), http://www.akademie-elektronenmikroskopie.de/

2014

2013

Nationaler und Internationaler Veranstaltungskalender

Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie

Elektronenmikroskopie · Nr. 36 · August 2013 27

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Impressum


Impressum

www.dge-homepage.de

Herausgeber:Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.

Redaktion:Prof. Dr. Michael LehmannTechnische Universität BerlinInstitut für Optik und Atomare Physik (Sekr. ER 1-1)Straße des 17. Juni 13510623 BerlinTelefon (030) 314-22567Telefax (030) 314-27850E-Mail: [email protected]

Prof. Dr. Josef ZweckUniversität RegensburgNWF II-Physik90340 RegensburgTelefon (0941) 943-2590, 943-4188Telefax (0941) 943-4544E-Mail: [email protected]

Verlag:S.HirzelWissenschaftliche Verlagsgesellschaft Stuttgart,Birkenwaldstr. 44, D-70191 StuttgartTelefon: (0711) 2582-0,Fax: -290

GeschäftsführungDr. Christian Rotta, Dr. Klaus G. Brauer

Anzeigen:Anzeigenleitung: Kornelia Wind (verantwortlich)Birkenwaldstraße 44, 70191 StuttgartAnzeigenverkauf und -disposition:Ilona Kern Telefon: (0711) 2582-229, Fax: -263

Bezugsbedingungen:Mitglieder der DGE erhalten die Zeitschrift im Rahmen IhrerMitgliedschaft. Abonnement für Nichtmitglieder€ 39,–. Einzelheft € 42,–, jeweils zuzüglich Versandkosten.Preisänderungen vorbehalten. Die Bezugsdauer verlängertsich um 1 Jahr, wenn bis zum 15. November keineAbbestellung zum Jahresende beim Verlag erfolgt.

Urheber- und VerlagsrechtDie Zeitschrift und alle in ihr enthaltenen einzelnen Beiträgeund Abbildungen sind urheberrechtlich geschützt. MitAnnahme des Manuskripts gehen für die Zeit bis zum Ablaufdes Urheberrechts das Recht zur Veröffentlichung sowie dieRechte zur Übersetzung, zur Vergabe von Nachdruckrechten,zur elektronischen Speicherung in Datenbanken, zurHerstellung von Sonderdrucken, Fotokopien und Mikrokopien

an den Verlag über. Eingeschlossen sind insbesondere auchdas Recht zur Herstellung elektronischer Versionen sowie dasRecht zu deren Vervielfältigung und Verbreitung online undoffline ohne zusätzliche Vergütung.Jede Verwertung außerhalb der durch das Urheberrechtfestgelegten Grenzen ist ohne Zustimmung des Verlagsunzulässig.Mit Namen gekennzeichnete Beiträge geben nicht unbedingtdie Meinung der Redaktion wieder. Der Verlag haftet nichtfür unverlangt eingereichte Manuskripte. Die der Redaktionangebotenen Originalbeiträge dürfen nicht gleichzeitig inanderen Publikationen veröffentlicht werden.

GebrauchsnamenDie Wiedergabe von Gebrauchsnamen, Handelsnamen,Warenbezeichnungen und dgl. in dieser Zeitschrift berechtigtnicht zu der Annahme, dass solche Namen ohne weiteresvon jedermann benutzt werden dürfen; oft handelt es sichum gesetzlich geschützte eingetragene Warenzeichen, auchwenn sie nicht als solche gekennzeichnet sind.

Wissenschaftliche Verlagsgesellschaft Stuttgart,Birkenwaldstraße 44, D-70191 Stuttgart ISSN 0936-6911Satz, Druck, Verarbeitung:Djurcic, D-73614 Schorndorf


Elektronen-mikroskopie

Birkenwaldstr. 44 · 70191 Stuttgart Mo. - Fr. von 8-18 Uhr sind wir persönlich für Sie erreichbar: Tel. 0711 2582 341 · Fax 0711 2582 [email protected] · www.wissenschaftliche-verlagsgesellschaft.de

Seit den Pionierarbeiten von Nobelpreisträger Ernst Ruska in den dreißiger Jahren des vergangenen Jahrhunderts hat die Elektronen-mikroskopie eine stete Weiterentwicklung erfahren und ist so zu einem unverzichtbaren Instrument zur Untersuchung von Festkör-pern aller Art geworden. Dieses leicht verständliche Buch führt den Leser in die wichtigsten Prinzipien dieser mehr denn je modernen Untersuchungsmethode ein und spannt den Bogen zwischen

• zugrunde liegenden physikalischen Gesetzmäßigkeiten• Geräteaufbau• praktischer Anwendung

Von Dr. Christian ColliexAus dem Französischen übersetzt und bearbeitet von Prof. Dr. Helmut Kohl

2008. X, 125 Seiten. 52 Abbildungen. Kartoniert. ¤ 19,90 [D]ISBN 978-3-8047-2399-3

• Probenvorbereitung• Bildinterpretation• analytischem Einsatz.

Eine kompakte Einführung für alle, die sich mit Elektronenmikroskopie beschäftigen.

©2013 S.Hirzel

The moment “I think” becomes “I know”.This is the moment we work for.

The new ZEISS Crossbeam family opens up the third dimension for imaging, nanofabrication and analytical

applications. Speed up your tomography runs and use highly focussed ion beam currents to bridge the gap

between micro and nanopatterning. Visit us at MC Regensburg 2013 at booth #13 to explore our latest

light, electron and X-ray microscope systems for high resolution 3D imaging and nanoanalytics.

www.zeiss.com/mcregensburg2013

// TECHNOLOGY MADE BY ZEISS

nummer 36 · august 2013 issn 0936-6911 - dge-homepage.de · geschäftsführung 2012–2013...

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