(new)제품현황판 20150119

MH25 제품 등록 ~3/27

XE55 제품 등록 ~3/27

XE100 제품 등록 ~3/27

XE170 개발 계획 수주시

XE300 제품 등록 ~3/27

XE1K0 제품 등록 ~3/27

PS170 개발 계획 수주시

XeF170 개발 계획 수주시

K3000 Solar Cell Efficiency Measurement System

- 개발 계획 2016년 12월

K1300 Wafer PL Imaging System

지식팀

제품현황판

Last Updated. 2015.01.19

(SYSTEM)

EQX 제품 등록 ~3/27

IQX 제품 등록 ~3/27

ATX 제품 등록 ~3/27

NIR 제품 등록 ~3/27

K3100 Solar Cell IPCE Measurement System

ELX 제품 등록(@) 1단계 진행중

PLX 제품 등록(@) 1단계 진행중

EPLI 제품 등록(@) 1단계 진행중

EPLB 제품 등록(@) 1단계 진행중

POX 제품 등록(@) 1단계 진행중

K3300 Solar Cell Efficiency Measurement System

- 제품 등록(@) 1단계 진행중

K3500 Solar Cell Inspection System

- 제품 등록 ~3/27

K3400 Photovoltaic Response Measurement System

MH200 제품 등록 ~3/27

MH300 제품 등록 ~3/27

MH500 제품 등록 ~3/27

K3600 Solar Cell Reliability Test System

PS2010 개발 보류

R2R 개발 ~3/31

FXE2010 개발 ~5/31

K5000 Solar Module Efficiency Measurement System

- 개발 ~9/30

K4000 Solar Cell String I-V Inspection System

- 개발 ~3/31

K4300 Solar Cell String Luminescence Imaging System


K5500 PV Module In-line Inspection System


POX 제품 등록(@) 1단계 진행중

K5300 Solar Module Luminescence Imaging System

PS2010 개발 계획 2016년 6월

K5600 Solar Module Reliability Test System

CIX 제품 등록(@) 1단계 진행중

VEX 제품 등록(@) 1단계 진행중

PS2010 개발 계획 2016년 6월

K5700 Solar Module Ligthsoaking System

ELX 개발 계획 2016년 6월

PLX 개발 계획 2016년 6월

K6300 Solar String Luminescence Imaging System

- 개발 계획 2016년 6월

K6000 Solar String I-V Inspection System

- 개발 계획 2017년 6월

K6500 Solar String Inspectection System

- 개발 계획 2017년 6월

K7000 Solar Monitoring System

K101 Photovoltaic Powermeter

K102 Signal Amplifier

K104 PV Response Analyzer

지식팀

제품현황판 (COMP.)

K105 String I-V Analyzer

K901 Solar Jig

K301 Imaging Kit

K801 Reference Cell

SimuLightTM

K222 Unformity Tester for Solar Simulator


K601 Outdoor Luminescence Imaging PowerSupply

K302 LD Driver

K103 EL Power Supply

- 개발 계획 2016년 10월

-

- 제품 등록 ~3/27

- 제품 등록 ~3/27

- 제품 등록 ~3/27

- 제품 등록 ~3/27

- 개발 ~8/31

ELX 제품 등록 ~3/27

MDX 제품 등록 ~3/27

STX 개발 계획 2016년 10월

POX 개발 계획 2016년 10월

EL 제품 등록 ~3/27

PL 제품 등록 ~3/27

AOI 제품 등록 ~3/27

1CH 제품 등록 ~3/27

4CH 제품 등록(@) 1단계 진행중

LAB 제품 등록 ~3/27

PRO 제품 등록 ~3/27

i20 개발 ~1/31

MDX 개발 ~4/30

Xe55 제품 등록(@) 1단계 진행중

Xe100 개발 계획 수주시

Xe170 개발 ~2/28



MH25 제품 등록(@) 1단계 진행중





PLS100 제품 등록(@) 1단계 진행중

PLS200 제품 등록(@) 1단계 진행중

PLS300 개발 ~4/30

PLS500 개발 계획 수주시

PLS170 개발 ~3/31

PLS2010 개발 보류

XeF170 개발 ~9/30

XeF2010 개발 ~3/31

Xe500W 개발 계획 수주시

Xe300WF 개발 계획 수주시

Xe20F 개발 계획 2016년 6월

LED170D 개발 계획 2016년 6월

LED2010A 개발 계획 2016년 6월

지식팀



- 개발 계획 2016년 12월

K713 Wafer PL Imaging S/W


K733 Solar Cell Luminescence Imaging System S/W


K735 Solar Cell Inspection System S/W

- 개발 ~9/30

K740 Solar Cell String I-V Inspection System S/W

- 개발 ~3/31

K743 Solar Cell String Luminescence Imaging System S/W

- 개발 ~3/31

K750 Solar Module Efficiency Measurement System S/W


K753 Solar Module Luminescence Imaging System S/W


K755 PV Module In-line Inspection System S/W

- 개발 계획 2016년 6월

K756 Solar Module Reliability Test System S/W


K757 Solar Module Ligthsoaking System S/W

- 개발 계획 2016년 6월

K760 Solar String I-V Inspection System S/W

- 개발 계획 2017년 6월

K765 Solar String Luminescence Imaging System S/W

- 개발 계획 2016년 6월

K763 Solar String Luminescence Imaging System S/W

- 개발 계획 2017년 6월

K770 Solar Monitoring System S/W


K730 Solar Cell Efficiency Measurement System S/W


K731 Solar Cell IPCE Measurement System S/W

- 제품 등록 ~3/27

K734 Photovoltaic Response Measurement System S/W


K736 Solar Cell Reliability Test System S/W

지식팀

제품현황판 (SYSTEM)

PMX 제품 등록 ~2/28

DCX 제품 등록 ~2/28

AMX 제품 등록 ~2/28


OLX 제품 등록 ~2/28

M6000 OLED Lifetime Test System


FLX 제품 등록 ~2/28

M6100 OLED I-V-L Test System

PMX 개발 ~3/31

DCX 개발 계획 2017년 6월

AMX 개발 계획 2017년 6월

MDX 개발 계획 2017년 6월

OLX 개발 계획 2017년 6월

M6000+ OLED Lifetime Test System

- 제품 등록 ~2/28

M2000 OLED Panel Aging System

-

M2100 OLED Panel Inspection System

- 제품 등록 ~2/28

M2500 OLED Module Aging System

-

M2600 OLED Module Inspection System


AMX 제품 등록 ~2/28


M7000 FPD Optical Test System

PMX 개발 계획 2017년 6월


MDX 개발 계획 2017년 6월

M7000+ FPD Optical Test System



M7100 FPD Measurement System


지식팀


4CH 제품 등록 ~2/28


DCX 제품 등록 ~2/28

M600 Lifetime Tester

- 개발 ~2/28

M602 Module Pattern Generator

- 제품 등록 ~2/28

M601 Panel Pattern Generator

- 개발 ~12/31

M500 OLED Switching Unit



M760 OLED Lifetime Test System S/W


M761 OLED I-V-L Test System S/W

-

M720 OLED Panel Aging System S/W

-

M721 OLED Panel Inspection System S/W

-

M725 OLED Module Aging System S/W

-

M726 OLED Module Inspection System S/W

-

M770 FPD Optical Test System S/W

-

M771 FPD Measurement System S/W

-

M901 OLED JIG

지식팀

제품현황판 (SYSTEM/COMP.)

- 개발 계획 2017년 6월

T1000 Flexible Device Lifetime Test System

- 개발 계획 2017년 6월

T1100 Flexible Device I-V-L Test System

N2X 제품 등록 ~4/30

NDY 제품 등록 ~4/30

T3000 Time of Flight Measurement System

- 개발 ~2/28

T4000 Organic Semiconductor Parameter Test System

- 제품 등록 ~4/30

T5000 Thin-Film Transistor Parameter Test System

- 개발 계획 2016년 12월

T6000 Encapsulation Test System


- 제품 등록 ~4/30

T102 Transient Signal Controller

- 개발 ~2/28

T104 Organic Semiconductor Parameter Analyzer

- 제품 등록 ~4/30

T103 Trigger Unit

-

T710 Flexible Device Lifetime Test System S/W

-

T711 Flexible Device I-V-L Test System S/W

-

T730 Time of Flight Measurement System S/W

- 개발 ~2/28

T740 Organic Semiconductor Parameter Test System S/W

-

T750 Thin-Film Transistor Parameter Test System S/W

-

T760 Encapsulation Test System S/W

지식팀


- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L1100 Optical Spectroscopy

- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L1200 Haze Measurement System

- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L1500 Optical Absorption Spectroscopy

- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L1600 Photo-Induced Absorption Spectroscopy

- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L1700 Electro Absorption Spectroscopy

- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L1800 Transient Photo Conductivity

- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L2000 Raman Spectroscopy

- 개발 계획 수주시

L3000 PL Measurement System

- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L3100 Transient PL Measurement System

- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L4000 Luminous Efficacy Measurement System

- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L5000 LED Module Characterization System


L5100 LED Characterization System

- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L5200 LED Goniometer System

- 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L5500 LED Chip Inspection System

TMP 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

CHM 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L5600 LED Aging Test System

TMP 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

CHM 개발 계획 ~3/31 (컨셉)

L6000 LED Lumen Maintenance Test System


QbismTM

ML10 개발 계획 2016년 6월

MC30 개발 ~3/31

MC40 제품 등록(@) 1단계 진행중

MS20 개발 ~4/30

MS30 개발 ~11/30

MS40 개발 계획 2016년 12월

MS80 개발 계획 2017년 6월

MC80 개발 계획 2017년 6월

KS20 개발 계획 2016년 12월

KR80 개발 ~10/31

CM30 개발 ~7/31

GSHS1024TEC

개발 계획 2016년 6월

GSHR3648


GSUS2048


TC40 개발 계획 2017년 6월

지식팀



-

L711 Optical Spectroscopy S/W

-

L712 Haze Measurement System S/W

-

L715 Optical Absorption Spectroscopy S/W

-

L716 Photo-Induced Absorption Spectroscopy S/W

-

L717 Electro Absorption Spectroscopy S/W

-

L718 Transient Photo Conductivity S/W

-

L720 Raman Spectroscopy S/W

-

L730 PL Measurement System S/W

-

L731 Transient PL Measurement System S/W

-

L740 Luminous Efficacy Measurement System S/W

-

L750 LED Module Characterization System S/W

-

L751 LED Characterization System S/W

-

L752 LED Goniometer System S/W

-

L755 LED Chip Inspection System S/W

-

L756 LED Aging Test System S/W

-

L760 LED Lumen Maintenance Test System S/W

지식팀

제품현황판 (SYSTEM)

- 개발 계획 2016년 12월

Q1000 Electrochemical Cyclic Voltagmetry

- 개발 계획 2016년 12월

Q1100 Electrochemical Parameter Test System

- 개발 ~6/30

Q1300 Electrochemical Imaging Test System

- 제품 등록 ~6/30

Q2000 Small Format LIB Cycler System

- 개발 계획 2016년 12월

Q2100 Small Format LIB Parameter Test System

- 개발 계획 2016년 12월

Q2300 Small Format LIB Imaging Test System

- 개발 계획 2016년 12월

Q2400 Small Format LIB Load Test System

- 개발 계획 2017년 6월

Q2500 Small Format LIB In-Line Automation System

- 개발 계획 2017년 6월

Q2600 Small Format LIB Formation System

- 개발 계획 2017년 6월

Q2700 Small Format LIB Capacity Measurement System

- 개발 계획 2017년 6월

Q2800 Small Format LIB OCV/IR Test System

- 개발 ~4/30

Q3000 Large Format LIB Cycler System

- 개발 ~4/30

Q3100 Large Format LIB Parameter Test System

- 제품 등록@ 1단계 진행중

Q3200 Large Format LIB Junction Test System

- 개발 계획 2016년 12월

Q3300 Large Format LIB Imaging Test System

- 개발 ~12/31

Q3400 Large Format LIB Load Test System

- 개발 계획 2017년 6월

Q3500 Large Format LIB In-Line Automation System

- 개발 계획 2017년 6월

Q3600 Large Format LIB Formation System

- 개발 계획 2017년 6월

Q3700 Large Format LIB Capacity Measurement System

- 개발 계획 2017년 6월

Q3800 Large Format LIB OCV/IR Test System

- 개발 계획 2017년 6월

Q3900 Large Format LIB Repair System

- 개발 계획 2016년 12월

Q4000 Large Format LIB Cycler System


지식팀


- 개발 계획 2016년 12월

Q4100 Large Format LIB Parameter Test System

- 개발 ~6/30

Q4200 Large Format LIB Junction Test System

- 개발 계획 2016년 12월

Q4300 Large Format LIB Imaging Test System

- 개발 계획 2016년 12월

Q4400 Large Format LIB Load Test System

- 개발 계획 2017년 6월

Q4500 Large Format LIB In-Line Automation System

- 개발 계획 2017년 6월

Q4600 Large Format LIB Formation System

- 개발 계획 2017년 6월

Q4700 Large Format LIB Capacity Measurement System

- 개발 계획 2017년 6월

Q4800 Large Format LIB OCV/IR Test System


지식팀



-

Q710 Electrochemical Cyclic Voltagmetry S/W

-

Q711 Electrochemical Parameter Test System S/W

-

Q713 Electrochemical Imaging Test System S/W

-

Q720 Small Format LIB Cycler System S/W

-

Q721 Small Format LIB Parameter Test System S/W

-

Q712 Small Format LIB Imaging Test System S/W

-

Q724 Small Format LIB Load Test System S/W

-

Q725 Small Format LIB In-Line Automation System S/W

-

Q726 Small Format LIB Formation System S/W

-

Q727 Small Format LIB Capacity Measurement System S/W

-

Q728 Small Format LIB OCV/IR Test System S/W

-

Q730 Large Format LIB Cycler System S/W

-

Q731 Large Format LIB Parameter Test System S/W

- 제품 등록@ 1단계 진행중

Q732 Large Format LIB Junction Test System S/W

-

Q733 Large Format LIB Imaging Test System S/W

-

Q734 Large Format LIB Load Test System S/W

-

Q735 Large Format LIB In-Line Automation System S/W

-

Q736 Large Format LIB Formation System S/W

-

Q737 Large Format LIB Capacity Measurement System S/W

-

Q738 Large Format LIB OCV/IR Test System S/W

-

Q739 Large Format LIB Repair System S/W

-

Q740 Large Format LIB Cycler System S/W

-

Q741 Large Format LIB Parameter Test System S/W

-

Q742 Large Format LIB Junction Test System S/W

지식팀



-

Q743 Large Format LIB Imaging Test System S/W

-

Q744 Large Format LIB Load Test System S/W

-

Q745 Large Format LIB In-Line Automation System S/W

-

Q746 Large Format LIB Formation System S/W

-

Q747 Large Format LIB Capacity Measurement System S/W

-

Q748 Large Format LIB OCV/IR Test System S/W

U Series

지식팀

제품현황판 (Sysytem)


지식팀


ResponsiVTM

- 개발 ~12/31


U Series

(new)제품현황판 20150119

Documents