murcia mll

16
ORIGEN DEL CONOCIMIENTO ORIGEN DEL CONOCIMIENTO TECNOLÓGICO DE LAS TECNOLÓGICO DE LAS PATENTES ESPAÑOLAS PATENTES ESPAÑOLAS María Luisa Lascurain-Sánchez* María Jesús Madera-Jaramillo** Elías Sanz-Casado* *Universidad Carlos III de Madrid, Departamento de Biblioteconomía y Documentación, Laboratorio de Estudios Métricos de Información (LEMI) **UNAM (México). Centro Universitario de Investigaciones Bibliotecológicas. Fundación Carolina, Madrid (España) VII FORO SOBRE LA EVALUACIÓN DE LA CALIDAD DE LA EDUCACIÓN SUPERIOR Y DE LA INVESTIGACIÓN 15-18 de Junio de 2010 MURCIA

Upload: iiribarrenmaestro

Post on 28-Jun-2015

463 views

Category:

Spiritual


2 download

TRANSCRIPT

Page 1: Murcia mll

ORIGEN DEL CONOCIMIENTO ORIGEN DEL CONOCIMIENTO TECNOLÓGICO DE LAS PATENTES TECNOLÓGICO DE LAS PATENTES ESPAÑOLAS ESPAÑOLAS

María Luisa Lascurain-Sánchez*María Jesús Madera-Jaramillo**Elías Sanz-Casado*

*Universidad Carlos III de Madrid, Departamento de Biblioteconomía y Documentación, Laboratorio de Estudios Métricos de Información (LEMI)**UNAM (México). Centro Universitario de Investigaciones Bibliotecológicas. Fundación Carolina, Madrid (España)

VII FORO SOBRE LA EVALUACIÓN DE LA CALIDAD DE LA EDUCACIÓN SUPERIOR Y DE LA INVESTIGACIÓN

15-18 de Junio de 2010 MURCIA

Page 2: Murcia mll

INTRODUCCIÓNINTRODUCCIÓN

El análisis de la innovación patentada como herramienta

para determinar la capacidad tecnológica de un país,

región o institución.

El estudio de las patentes referenciadas permite rastrear

la tecnología a partir de la que se originan nuevas

invenciones.

Page 3: Murcia mll

OBJETIVOOBJETIVO

Determinar el origen de la investigación que ha dado

lugar a las patentes españolas en cuanto a origen

geográfico y temática a partir del análisis de las

referencias a la literatura de patentes contenidas en las

mismas

Page 4: Murcia mll

Período considerado: 1997-2008

Fuentes de datos:

• INVENES (OEPM)

• Derwent Innovation Index (WoK)

• Worldwide (Espacenet)

METODOLOGÍA (1/3)METODOLOGÍA (1/3)

Page 5: Murcia mll

Tratamiento de los datos

• Base de datos relacional administrada por MySQL

• Scripts con Perl• Búsqueda de datos en Derwent y Espacenet• Ingreso de datos a la BD• Generación de tablas de resultados

METODOLOGÍA (2/3)METODOLOGÍA (2/3)

Page 6: Murcia mll

Indicadores utilizados:

METODOLOGÍA (3/3)METODOLOGÍA (3/3)

Unidimensionales

Número de patentes fuentes y de patentes referenciadas.

Evolución temporal de las patentes fuente y de las referenciadas. Números índice.

Procedencia geográfica de las patentes referenciadas. índice de aislamiento.

Temática de las patentes fuente y de las referenciadas. Nivel clase y nivel sección de CIP.

Multimensionales

Análisis de correspondencias temas (nivel sección) vs. países de patentes referenciadas.

Page 7: Murcia mll

RESULTADOS (1/6)

Figura 1: Evolución de las patentes fuente (1997-2008)

Page 8: Murcia mll

RESULTADOS (2/6)

Figura 2: Distribución anual de las patentes fuente y de las referenciadas. Números índice

Page 9: Murcia mll

RESULTADOS (3/6)

Tabla II. Origen geográfico de las referencias incluidas en las patentes.

País Frecuencia %ESTADOS UNIDOS (US) 6458 29,25

ESPAÑA (ES) 3781 17,12ALEMANIA (DE) 2966 13,43FRANCIA (FR) 2670 12,09

JAPÓN (JP) 1195 5,41REINO UNIDO (GB) 1159 5,25

ITALIA (IT) 519 2,35SUIZA (CH) 459 2,08

CANADÁ (CA) 388 1,76SUECIA (SE) 311 1,41

AUSTRALIA (AU) 243 1,10PAISES BAJOS (NL) 225 1,02

UNIÓN SOVIÉTICA (SU) 193 0,87FINLANDIA (FI) 165 0,75AUSTRIA (AT) 139 0,63TAIWAN (TW) 130 0,59

ISRAEL (IL) 120 0,54DINAMARCA (DK) 116 0,53

TOTAL 22081

Índice de aislamiento: 17, 12%

94 países (27 con una única referencia)

40,93% de las referencias sin nacionalidad identificada

Page 10: Murcia mll

RESULTADOS (4/6)

Figura 3 : Temas de las patentes fuentes y de las patentes referenciadas. Nivel sección de la CIP.

Page 11: Murcia mll

RESULTADOS (5/6)

Figura 4 : Temas de las patentes fuentes y de las patentes referenciadas. Nivel clase de la CIP.

Page 12: Murcia mll

RESULTADOS (6/6)

Figura 5: Temas vs. Países de las patentes referenciadas. AC

Page 13: Murcia mll

CONCLUSIONESCONCLUSIONES

Dificultades metodológicas en cuanto a extracción de referencias de las pateantes e identificación del país de origen.

Desigual crecimiento de las patentes concedidas por la OEPM a solicitantes españoles entre 1997 y 2008.

Incremento de las referencias a otras patentes con respecto al año base (1997)

Índice de aislamiento del 17,12%.

Page 14: Murcia mll

CONCLUSIONESCONCLUSIONES

Influencia tecnológica de EE UU sobre la innovación española, responsable del 29,25% de las patentes referenciadas.

A nivel sección CIP existen pocas diferencias porcentuales entre temas de las patentes fuente y de las referenciadas siendo en ambos el “Técnicas de industria / transportes” el más representado, seguido de “Necesidades de la Vida”

A nivel clase CIP las diferencias también son escasas.

Page 15: Murcia mll

CONCLUSIONESCONCLUSIONES

Escasa interdisciplinariedad.

Vinculación entre los temas de las patentes referenciadas (a nivel sección) y la procedencia geográfica de sus solicitantes.

Page 16: Murcia mll

GRACIAS POR SU ATENCIÓNGRACIAS POR SU ATENCIÓN

[email protected]@[email protected]