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www.tij.co.jp
ローパワー、16ビット、500kHz,シングル/デュアル・ユニポーラ入力のADコンバータシリアル・インターフェイス付き
特 長 アナログ電源:2.7V~5.5V
– 低消費電力:10.6mW(+VA = 2.7V,+VBD=1.8V)
サンプリング・レート:500kHz
優れたDC特性
– INL:±1.2LSB(標準) ±2LSB(最大)– DNL:±0.6LSB(標準) ±1LSB(最大)– NMC:16ビット(全動作温度範囲)
– オフセット誤差:±0.5mV(最大、2.7V時)– オフセット誤差:±1mV(最大、5V時)
優れたAC特性(fi = 10kHz時)
– SNR:91dB,SFDR:101dB,THD:–98dB 変換クロック(CCLK)内蔵
I/O電源:1.65V~5.5V
– SPI/DSP互換シリアル
– 最大50MHzのSCLK
多様なパワーダウン・モード
– ディープ・パワーダウン
– ナップ・パワーダウン
– オート・ナップ・パワーダウン
ユニポーラ入力範囲:0V~Vref ソフトウェア・リセット
一括のCONVST(CSとは独立)
プログラマブルなステータス/極性のEOC/ INT
16ピンTSSOPパッケージ/4×4QFNパッケージ マルチチップ・デイジーチェイン・モード
プログラマブルTAGビット出力
マニュアル/オート・チャネル選択モード(ADS8328)
アプリケーション コミュニケーション
トランスデューサ・インターフェイス
医用機器
磁力計
産業プロセス制御
データ収集システム
自動試験装置
JAJS181A
参 考 資 料
この資料は、Texas Instruments Incorporated(TI)が英文で記述した資料を、皆様のご理解の一助として頂くために日本テキサス・インスツルメンツ(日本TI)が英文から和文へ翻訳して作成したものです。資料によっては正規英語版資料の更新に対応していないものがあります。日本TIによる和文資料は、あくまでもTI正規英語版をご理解頂くための補助的参考資料としてご使用下さい。製品のご検討およびご採用にあたりましては必ず正規英語版の最新資料をご確認下さい。TIおよび日本TIは、正規英語版にて更新の情報を提供しているにもかかわらず、更新以前の情報に基づいて発生した問題や障害等につきましては如何なる責任も負いません。
REF–
+IN
REF+SDISCLK
SDO
CDAC
SAR
COMPARATOR
OUTPUTLATCH
and3-STATEDRIVER
CONVERSIONand
CONTROLLOGIC
–IN
+IN1
+IN0
COM
NC
OSC
_+
ADS8328 ADS8327
FS/CS
CONVSTEOC/INT/CDI
ADS8327ADS8328
すべての商標および登録商標は、それぞれの所有者に帰属します。
SLAS415B 翻訳版
最新の英語版資料http://focus.ti.com/lit/ds/symlink/ads8327.pdf
Type/Speed 500 kHz 1 MHz
Single ADS8327 ADS832916 Bit Pseudo-Diff
Dual ADS8328 ADS8330
低消費電力、高速SARコンバータ・ファミリー
パッケージ パッケージ 図番号
仕様温度範囲 発注番号 供給時の状態 製品名 最小積分 直線性 (LSB)
最小微分 直線性 (LSB)
最大オフセット 誤差 (mV)
ADS8327IPW Tube90TSSOP-16 PW
ADS8327IPWR Tapeandreel2000
ADS8327I ±3 –1/+2 ±1.25 –40°C to 85°C
–40°C to 85°C
–40°C to 85°C
–40°C to 85°C
SmalltapeandADS8327IRSAT reel2504X4QFN-16 RSA
ADS8327IRSAR Tapeandreel3000
ADS8327IBPW Tube90TSSOP-16 PW TapeandreelADS8327IBPWR 2000
ADS8327IB ±2 ±1 ±1SmalltapeandADS8327IBRSAT reel250
4X4QFN-16 RSATapeandreelADS8327IBRSAR 3000
ADS8328IPW Tube90TSSOP-16 PW TapeandreelADS8328IPWR 2000
ADS8328I ±3 –1/+2 ±1.25SmalltapeandADS8328IRSAT reel2504X4QFN-16 RSATapeandreelADS8328IRSAR 3000
ADS8328IBPW Tube90TSSOP-16 PW TapeandreelADS8328IBPWR 2000
ADS8328IB ±2 ±1 ±1SmalltapeandADS8328IBRSAT reel250
4X4QFN-16 RSATapeandreelADS8328IBRSAR 3000
(1)最新のパッケージおよび注文情報については、本文書の巻末にある『パッケージ・オプション資料』あるいはTIウエブサイトwww.ti.comを参照願います。
(1)製品情報
静電気放電対策これらのデバイスは、限定的なESD(静電破壊)保護機能を
内蔵しています。保存時または取り扱い時に、MOSゲートに対する静電破壊を防止するために、リード線どうしを短絡しておくか、デバイスを伝導性のフォームに入れる必要があります。
2
概 要ADS8327は低消費電力の16ビット、500kHzのA/Dコンバー
タであり、ユニポーラ入力を備えています。本デバイスには、サンプル・アンド・ホールドを伴う16ビットの容量ベースのSAR型A/Dコンバータがあります。ADS8328はADS8327と同一のコアをベースとし、さらに、プ
ログラマブル・オプションのTAGビット出力を備えた2対1の入力マルチプレクサがあります。ADS8327およびADS8328は、ともに高速かつ広範囲電圧のシリアル・インターフェイスを提供し、複数個を使用するとチェイン・モード動作が可能です。これらのコンバータは16ピンTSSOPパッケージか4×4m QFN
パッケージで提供され、産業用の–40から+85の温度範囲ですべての動作が規定されています。
3
動作温度範囲において(特に記述のない限り) (1)
単位
+IN to AGND –0.3 V to +VA + 0.3 VVoltage
–IN to AGND –0.3 V to +VA + 0.3 V
+VA to AGND –0.3 V to 7 V
Voltage range +VBD to BDGND –0.3 V to 7 V
AGND to BDGND –0.3 V to 0.3 V
Digital input voltage to BDGND –0.3 V to +VBD + 0.3 V
Digital output voltage to BDGND –0.3 V to +VBD + 0.3 V
TA Operating free-air temperature range –40°C to 85°C
Tstg Storage temperature range –65°C to 150°C
Junction temperature (TJ max) 150°C
Vapor phase (60 sec) 215°CLead temperature, soldering
Infrared (15 sec) 220°CTSSOP-16Package Power dissipation (TJMax - TA)/θJA
θJA thermal impedance 86°C/W
Vapor phase (60 sec) 215°CLead temperature, soldering
Infrared (15 sec) 220°C4x4 QFN-16Package Power dissipation (TJMax - TA)/θJA
θJA thermal impedance 47°C/W
(1)絶対最大定格に記述される以上のストレスを加えると、デバイスは永久破壊されることがあります。これらはストレスのみの定格であり、 これらの条件あるいは推奨動作条件を超える条件でのデバイスのファンクション動作は含まれません。また、絶対最大定格の条件下に 長時間デバイスをさらすと、デバイスの信頼性に影響することがあります。
絶対最大定格
4
仕様 TA = –40 °C to 85°C, +VA = 2.7 V, +VBD = +VA × 1.5 to +1.65 V, Vref = 2.5 V, fSAMPLE = 500 kHz(特に記述がない限り)
パラメータ テスト条件 MIN TYP MAX 単位
ANALOG INPUT
Full-scale input voltage (1) +IN – (–IN) or (+INx – COM) 0 +Vref V
+IN, +IN0, +IN1 AGND – 0.2 +VA + 0.2Absolute input voltage V
–IN or COM AGND – 0.2 AGND + 0.2
Input capacitance 40 45 pF
No ongoing conversion,Input leakage current –1 1 nADC Input
At dc 108Input channel isolation, ADS8328 only dB
VI = ±1.25 Vpp at 50 kHz 101
SYSTEM PERFORMANCE
Resolution 16 Bits
No missing codes 16 Bits
ADS8327IB, –2 ±1.2 2ADS8328IBINL Integral linearity LSB(2)
ADS8327I, ADS8328I –3 ±2 3
ADS8327IB, –1 ±0.6 1Differential ADS8328IBDNL LSB(2)linearity
ADS8327I, ADS8328I –1 ±1 2
ADS8327IB, –0.5 ±0.1 0.5ADS8328IBEO Offset error(3) mVADS8327I, ADS8328I –0.8 ±0.1 0.8
Offset error drift 0.2 PPM/ °C
EG Gain error –0.25 –0.07 0.25 %FSR
Gain error drift 0.3 PPM/ °C
At dc 70CMRR Common mode rejection ratio dB
VI = 0.4 Vpp at 1 MHz 50
Noise 33 µV RMS
PSRR Power supply rejection ratio At FFFFh output code(3) 78 dB
SAMPLING DYNAMICS
tCONV Conversion time 18 CCLK
tSAMPLE1 Manual trigger 3Acquisition time CCLK
tSAMPLE2 Auto trigger 3
Throughput rate 500 kHz
Aperture delay 5 ns
Aperture jitter 10 ps
Step response 100 ns
Overvoltage recovery 100 ns
(1)理想入力範囲であり、ゲイン誤差やオフセット誤差は含まれません。 (2)LSBとは最下位ビットのことです。 (3)理想フルスケール入力[+IN – (–IN) ] = 2.5Vについて測定(+VA = 2.7V時)
5
仕様 TA = –40°C to 85 °C,+VA = 2.7 V, +VBD = +VA × 1.5 to +1.65 V, Vref = 2.5 V, fSAMPLE = 500 kHz(特に記述がない限り)
MIN TYP MAX
DYNAMIC CHARACTERISTICS
VIN = 2.5 Vpp at 10 kHz –98THD Total harmonic distortion (4) dB
VIN = 2.5 Vpp at 100 kHz –83.5
VIN = 2.5 Vpp at 10 kHz 88.5SNR Signal-to-noise ratio dB
VIN = 2.5 Vpp at 100 kHz 85
VIN = 2.5 Vpp at 10 kHz 88.5SINAD Signal-to-noise + distortion dB
VIN = 2.5 Vpp at 100 kHz 81
VIN = 2.5 Vpp at 10 kHz 101SFDR Spurious free dynamic range dB
VIN = 2.5 Vpp at 100 kHz 84
–3dB Small signal bandwidth 30 MHz
CLOCK
Internal conversion clock frequency 10.5 11 12.2 MHz
Used as I/O clock only 33SCLK External serial clock MHz
As I/O clock and conversion clock 1 21
EXTERNAL VOLTAGE REFERENCE INPUT
Vref(REF+ – REF–) 3.6 V ≥ +VA ≥ 2.7 V 0.3 2.525Input referenceVref Vrange (REF–) – AGND –0.1 0.1
Resistance (5) Reference input 80 kΩ
DIGITAL INPUT/OUTPUT
Logic family – CMOS
VIH High-level input voltage (+VA × 1.5) V ≥ +VBD ≥ 1.65 V 0.65 × (+VBD) +VBD + 0.3 V
VIL Low-level input voltage (+VA × 1.5) V ≥ +VBD ≥ 1.65 V –0.3 0.35 × (+VBD) V
II Input current VI = +VBD or BDGND –50 50 nA
Ci Input capacitance 5 pF
(+VA × 1.5) V ≥ +VBD ≥ 1.65 V,VOH High-level output voltage +VBD – 0.6 +VBD VIO = 100 µA
(+VA × 1.5) V ≥ +VBD ≥ 1.65 V,VOL Low-level output voltage 0 0.4 VIO = 100 µA
CO Output capacitance 5 pF
CL Load capacitance 30 pF
Data format – straight binary
POWER SUPPLY REQUIREMENTS
+VBD 1.65 +VA 1.5 × (+VA) VPower supplyvoltage +VA 2.7 3.6 V
500-kHz Sample rate 3.8 5mA
Supply current Nap mode 0.2 0.4
PD Mode 2 50 nA
Buffer I/O supply current 500 KSPS 0.2 mA
Power dissipation +VA = 2.7 V, +VBD = 1.8 V 10.6 14 mW
TEMPERATURE RANGE
TA Operating free-air temperature –40 85 °C
(4)入力周波数の低次の9次高調波について計算。 (5)±30%の変動があります。
パラメータ テスト条件 単位
6
仕様 TA = –40°C to 85°C, +VA = 5 V, +VBD = +5.5 V to +1.65 V, Vref = 4.096 V, fSAMPLE = 500 kHz(特に記述がない限り)
MIN TYP MAX
ANALOG INPUT
Full-scale input voltage (1) +IN – (–IN) or (+INx – COM) 0 +Vref V
+IN, +IN0, +IN1 AGND – 0.2 +VA + 0.2Absolute input voltage V
–IN or COM AGND – 0.2 AGND + 0.2
Input capacitance 40 45 pF
No ongoing conversion,Input leakage current –1 1 nADC Input
At dc 109Input channel isolation, ADS8328 only dB
VI = ±1.25 Vpp at 50 kHz 101
SYSTEM PERFORMANCE
Resolution 16 Bits
No missing codes 16 Bits
ADS8327IB, –2 ±1.5 2ADS8328IBINL Integral linearity LSB(2)
ADS8327I, ADS8328I –3 ±2 3
ADS8327IB, – 1 ±0.7 1Differential ADS8328IBDNL LSB(2)linearity
ADS8327I, ADS8328I –1 ±1 2
ADS8327IB, – 1 ±0.4 1ADS8328IBEO Offset error(3) mVADS8327I, ADS8328I –1.25 ±0.4 1.25
Offset error drift 0.5 PPM/∞C
EG Gain error – 0.25 –0.07 0.25 %FSR
Gain error drift 0.3 PPM/∞C
At dc 70CMRR Common mode rejection ratio dB
VI = 1 Vpp at 1 MHz 50
Noise 33 µV RMS
PSRR Power supply rejection ratio At FFFFh output code(3) 78 dB
SAMPLING DYNAMICS
tCONV Conversion time 18 CCLK
tSAMPLE Manual trigger 31
Acquisition time CCLKtSAMPLE Auto trigger 32
Throughput rate 500 kHz
Aperture delay 5 ns
Aperture jitter 10 ps
Step response 100 ns
Overvoltage recovery 100 ns
(1)理想入力範囲であり、ゲイン誤差やオフセット誤差は含まれません。 (2)LSBとは最下位ビットのことです。 (3)理想フルスケール入力[+IN – (–IN)] = 2.5Vについて測定(+VA=2.7V時)。
パラメータ テスト条件 単位
7
仕様
A ref SAMPLE
MIN TYP MAX
DYNAMIC CHARACTERISTICS
VIN = 4.096 Vpp at 10 kHz –96
THD Total harmonic distortion (4) VIN = 4.096 Vpp at 100 kHz, ADS8327/28IB –95.7 dB
VIN = 4.096 Vpp at 100 kHz, ADS8327/28I –95.7
VIN = 4.096 Vpp at 10 kHz 91SNR Signal-to-noise ratio dB
VIN = 4.096 Vpp at 100 kHz 89
VIN = 4.096 Vpp at 10 kHz 91SINAD Signal-to-noise + distortion dB
VIN = 4.096 Vpp at 100 kHz 88
VIN = 4.096 Vpp at 10 kHz 100
SFDR Spurious free dynamic range VIN = 4.096 Vpp at 100 kHz, ADS8327/28IB 98.8 dB
VIN = 4.096 Vpp at 100 kHz, ADS8327/28I 98.8
–3dB Small signal bandwidth 30 MHz
CLOCK
Internal conversion clock frequency 10.9 12 12.6 MHz
Used as I/O clock only 50SCLK External serial clock MHz
As I/O clock and conversion clock 1 21
EXTERNAL VOLTAGE REFERENCE INPUT
Vref(REF+ – REF–) 5.5 V ≥ +VA ≥ 4.5 V 0.3 4.096 4.2Input referenceVref Vrange (REF–) – AGND –0.1 0.1
Resistance (5) Reference input 80 kΩ
DIGITAL INPUT/OUTPUT
Logic family – CMOS
VIH High-level input voltage 5.5 V ≥ +VBD ≥ 4.5 V 0.65 × (+VBD) +VBD + 0.3 V
VIL Low-level input voltage 5.5 V ≥ +VBD ≥ 4.5 V –0.3 0.35 × (+VBD) V
II Input current VI = +VBD or BDGND –50 50 nA
Ci Input capacitance 5 pF
5.5 V ≥ +VBD ≥ 4.5 V,VOH High-level output voltage +VBD – 0.6 +VBD VIO = 100 µA
5.5 V ≥ +VBD ≥ 4.5 V,VOL Low-level output voltage 0 0.4 VIO = 100 µA
CO Output capacitance 5 pF
CL Load capacitance 30 pF
Data format – straight binary
POWER SUPPLY REQUIREMENTS
+VBD 1.65 3.3 5.5 VPower supplyvoltage +VA 4.5 5 5.5 V
500-kHz Sample rate 5 6.2mA
Supply current Nap mode 0.3 0.5
PD Mode 6 50 nA
Buffer I/O supply current 500 KSPS 1 mA
+VA = 5 V, +VBD = 5 V 30 38.5Power dissipation mW
+VA = 5 V, +VBD = 1.8 V 25.4 32
TEMPERATURE RANGE
TA Operating free-air temperature –40 85 °C
(4)入力周波数の低次の9次高調波について計算。 (5) ±30%の変動があります。
T = –40°C to 85°C, +VA = 5 V, +VBD = +5.5 V to +1.65 V, V = 4.096 V, f = 500 kHz(特に記述がない限り)
パラメータ テスト条件 単位
8
タイミング特性 標準的な仕様: –40°C to 85°C, +VA = 2.7 v, +VBD = 1.8 V (1)(2)
MIN TYP MAX
External, 0.5 10.5fCCLK = 1/2 fSCLKfCCLK Frequency, conversion clock, CCLK MHzInternal 10.5 12 12.2
tsu(CSF-EOC) Setup time, falling edge of CS to EOC 1 CCLK
th(CSF-EOC) Hold time, falling edge of CS to EOC 0 ns
twL(CONVST) Pulse duration, CONVST low 40 ns
tsu(CSF-EOS) Setup time, falling edge of CS to EOS 20 ns
th(CSF-EOS) Hold time, falling edge of CS to EOS 20 ns
tsu(CSR-EOS) Setup time, rising edge of CS to EOS 20 ns
th(CSR-EOS) Hold time, rising edge of CS to EOS 20 ns
tc(SCLK)tsu(CSF-SCLK1R) Setup time, falling edge of CS to SCLK 5 ns–5
tc(SCLK)twL(SCLK) Pulse duration, SCLK low 8 ns–8
tc(SCLK)twH(SCLK) Pulse duration, SCLK high 8 ns–8
I/O Clock only 30
I/O and conversion clock 47.6 1000tc(SCLK) Cycle time, SCLK nsI/O Clock, chain mode 30
I/O and conversion clock, 47.6 1000chain mode
Delay time, falling edge of SCLK to SDOtd(SCLKF-SDOINVALID) 10-pF Load 8 nsinvalid
Delay time, falling edge of SCLK to SDOtd(SCLKF-SDOVALID) 10-pF Load 25 nsvalid
Delay time, falling edge of CS to SDO valid,td(CSF-SDOVALID) 10-pF Load 25 nsSDO MSB output
tsu(SDI-SCLKF) Setup time, SDI to falling edge of SCLK 8 ns
th(SDI-SCLKF) Hold time, SDI to falling edge of SCLK 4 ns
Delay time, rising edge of CS/FS to SDOtd(CSR-SDOZ) 5 ns3-state
Setup time, last falling edge of SCLK beforetsu(lastSCLKF-CSR) 10 nsrising edge of CS/FS
Delay time, CDI high to SDO high in daisytd(SDO-CDI) 10-pF Load, chain mode 25 nschain mode
(1)入力信号はすべてtr = tf = 1.5ns(VDDの10%から90%)で規定し、時間測定は(VIL+VIH)/2の電圧を使用しています。 (2)タイミング図を参照。
パラメータ 単位
9
標準的な仕様: –40°C to 85°C, +VA = +VBD = 5 V (1)(2)
MIN TYP MAX
External, 0.5 10.5fCCLK = 1/2 fSCLKfCCLK Frequency, conversion clock, CCLK MHzInternal 10.9 12 12.6
tsu(CSF-EOC) Setup time, falling edge of CS to EOC 1 CCLK
th(CSF-EOC) Hold time, falling edge of CS to EOC 0 ns
twL(CONVST) Pulse duration, CONVST low 40 ns
tsu(CSF-EOS) Setup time, falling edge of CS to EOS 20 ns
th(CSF-EOS) Hold time, falling edge of CS to EOS 20 ns
tsu(CSR-EOS) Setup time, rising edge of CS to EOS 20 ns
th(CSR-EOS) Hold time, rising edge of CS to EOS 20 ns
tc(SCLK) –tsu(CSF-SCLK1R) Setup time, falling edge of CS to SCLK 5 ns5
tc(SCLK) –twL(SCLK) Pulse duration, SCLK low 8 ns8
tc(SCLK) –twH(SCLK) Pulse duration, SCLK high 8 ns8
I/O Clock only 20
I/O and conversion clock 47.6 1000tc(SCLK) Cycle time, SCLK nsI/O Clock, chain mode 20
I/O and conversion clock, 47.6 1000chain mode
Delay time, falling edge of SCLK to SDOtd(SCLKF-SDOINVALID) 10-pF Load 5 nsinvalid
Delay time, falling edge of SCLK to SDOtd(SCLKF-SDOVALID) 10-pF Load 12 nsvalid
Delay time, falling edge of CS to SDOtd(CSF-SDOVALID) 10-pF Load 12 nsvalid, SDO MSB output
tsu(SDI-SCLKF) Setup time, SDI to falling edge of SCLK 8 ns
th(SDI-SCLKF) Hold time, SDI to falling edge of SCLK 4 ns
Delay time, rising edge of CS/FS to SDOtd(CSR-SDOZ) 5 ns3-state
Setup time, last falling edge of SCLKtsu(lastSCLKF-CSR) 10 nsbefore rising edge of CS/FS
Delay time, CDI high to SDO high in daisytd(SDO-CDI) 10-pF Load, chain mode 16 nschain mode
タイミング特性
(1)入力信号はすべてtr = tf = 1.5ns(VDDの10%から90%)で規定し、時間測定は(VIL+VIH)/2の電圧を使用しています。 (2)タイミング図を参照。
パラメータ 単位
10
123
45678
161514
131211109
+VARESERVED
+IN–IN
AGNDREF–
REF+ (REFIN)NC (REFOUT)
+VBDSCLKBDGNDSDOSDIFS/CSEOC/INTCONVST
ADS8327PW PACKAGE
(TOP VIEW)
123
45678
161514
131211109
+VA+IN1+IN0COM
AGNDREF–
REF+ (REFIN)NC (REFOUT)
+VBDSCLKBDGNDSDOSDIFS/CSEOC/INTCONVST
ADS8328PW PACKAGE
(TOP VIEW)
NC – No internal connection
1
2
3
4 9
10
11
12
5 6 7 8
13141516
REF+(REFIN)
NC
CONVST
EOC/INT/CDI
RESERVED
+VA
+VBD
SCLK
FS
/CS
SD
I
SD
O
BD
GN
D+
ININAG
ND
RE
F
ADS8327RSA PACKAGE
(TOP VIEW)
1
2
3
4 9
10
11
12
5 6 7 8
13141516
REF+(REFIN)
NC
CONVST
EOC/INT/CDI
+IN1
+VA
+VBD
SCLKF
S/C
S
SD
I
SD
O
BD
GN
D+
IN0
CO
M
AG
ND
RE
F
ADS8328RSA PACKAGE
(TOP VIEW)
NC – No internal connection
端子配置
11
NO.NAME I/O DESCRIPTION
TSSOP QFN
AGND 5 15 – アナログ用グランド。
BDGND 14 8 – インターフェイス用グランド。
CONVST 9 サンプル・アンド・ホールドを凍結し、次の内部クロックの立ち上がりエッジで変換を開始する。
EOC/ INT/ CDI 10 4
3
O
TMS320 DSPのシリアル・インターフェイスのフレーム同期信号、あるいはSPIインターフェイス のスレーブ・セレクト(SS–)のチップ・セレクト入力。
FS/CS 11 5
+IN 3 13 I 非反転入力。
–IN 4 14 I 反転入力。通常はグランドに接続。
NC 8 2 接続なし。
REF+ 7 1 I 外部基準電圧入力。
REF– 6 16 専用のビアでAGNDに接続。
RESERVED 2 12 – アナログ・グランドに接続予約。
SCLK 15 9 シリアル・インターフェイス用クロック。
SDI 12 6 I シリアル・データ・イン。
SDO 13 7 O シリアル・データ・アウト。
+VA 1 11 アナログ電源。+2.7Vから+5.5VDC.
+VBD 16 10 インターフェイス用電源。
NAME DESCRIPTION
AGND
BDGND
COM
CONVST
EOC/ INT/CDI
FS/CS
+IN1
+IN0
NC
REF+
REF–
SCLK
SDI
SDO
+VA
+VBD
ADS8327 端子機能
ADS8328端子機能 NO.
TSSOP QFN
5 15
14 8
4 14
9 3
10 4
11 5
2 12
3 13
8 2
7 1
6 16
15 9
12 6
13 7
I/O
–
–
I
O
I
I
–
I
I
O
1 11
16 10
ステータス出力。EOCとしてプログラムされると、本ピンは変換の進行中ロー(デフォルト)にな る。割込み(INT)としてプログラムされると、変換終了後のプログラムされた期間だけ本ピンは ローになり、有効なデータが出力される。EOCあるいはINTの極性はプログラマブルである。デバ イスがチェイン・モードで動作する場合、本ピンはチェイン・データ入力として使用できる。
アナログ用グランド。
インターフェイス用グランド。
コモン反転入力。通常はグランドに接続。
サンプル・アンド・ホールドを凍結し、次の内部クロックの立ち上がりエッジで変換を開始する。 ステータス出力。EOCとしてプログラムされると、本ピンは変換の進行中ロー(デフォルト)にな る。割込み(INT)としてプログラムされると、変換後のプログラムされた期間だけ本ピンはロー になり、有効なデータが出力される。EOCあるいはINTの極性はプログラマブルである。デバイ スがチェイン・モードで動作する場合、本ピンはチェイン・データ入力として使用できる。
TMS320 DSPのシリアル・インターフェイスのフレーム同期信号、あるいはSPIインターフェイス のスレーブ・セレクト(SS–)のチップ・セレクト入力。
第2非反転入力。
第1非反転入力。
接続なし。
外部基準電圧入力。
個別のビアでAGNDに接続。
シリアル・インターフェイス用クロック。
シリアル・データ・イン(変換開始およびリセットが可能)。
シリアル・データ・アウト。
アナログ電源。+2.7Vから+5.5VDC.
インターフェイス用電源。
12
tSAMPLE1 = 3 CCLKs min
td(CRS-EOS) = 20 ns min
tCONV = 18 CCLKs
th(CSF-EOC) th(CSF-EOC)
th(CSR-EOS)
th(CSF-EOS) tsu(CSF-EOC)tsu(CSF-EOS)
tSAMPLE1 = 3 CCLKs min
twL(CONVST)
EOC(active low)
MANUAL TRIGGER / READ While Sampling(use internal CCLK, EOC and polarity programmed as active low)INT
(active low)INT
/FSCS
SCLK
SDO
SDI
CONVST
Nth
Nth
EO
C
EO
S
EO
C
EO
S
1101b1101b
Nth–1th Nth
READ Result READ Result
1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
1
図 1. マニュアル・トリガ(サンプリング中のリード)時の変換とアクィジション・サイクルのタイミング
1101b
EO
S
EO
C
EO
S
EO
C
EO
S
1110b. . . . . . . . . . . . . . 1101b
Nth
CONFIGURE READ Result
N – 1th N – 1th Nth
READ Result
EOC(active low)
AUTO TRIGGER / READ While Sampling(use internal CCLK, EOC and polarity programmed as active low)INT
(active low)INT
/FSCS
SCLK
SDO
SDI
= 1CONVST
tSAMPLE2 = 3 CCLKs tSAMPLE2 = 3 CCLKstCONV = 18 CCLKs tCONV = 18 CCLKs
th(CSF-EOC)
th(CSF-EOC)
th(CSF-EOS)
tsu(CSF-EOS)tsu(CSF-EOS)
1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . .161 . . . . . . . . . . . . . . . . . . .16 1
図 2. オート・トリガ(サンプリング中のリード)時の変換とアクィジション・サイクルのタイミング
13
1101b 1101b
EO
C
EO
S
EO
S
N th
Nth N ! 1th
Nth N + 1th
N – 1th
READ Result READ Result
EOC(active low)
MANUAL TRIGGER / READ While Converting(use internal CCLK, EOC and polarity programmed as active low)INT
(active low)INT
/FSCS
SCLK
SDO
SDI
CONVST
twL(CONVST)
tSAMPLE1 = 3 CCLKs mintCONV = 18 CCLKs
th(CSF-EOC)
th(CSF-EOS)
tsu(CSF-EOS) tsu(CSR-EOS)
tsu(CSF-EOC)
1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .16 1
図 3. マニュアル・トリガ(変換中のリード)時の変換とアクィジション・サイクルのタイミング
1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . .16
EO
C
EO
S
EO
C
EO
S
EO
S
1110b . . . . . . . . . . . . . . .
??
1101b 1101b
N–1 th N thN–1 th
READ Result READ ResultCONFIGURE
Nth
N + 1thEOC(active low)
AUTO TRIGGER / READ While Converting(use internal CCLK, EOC and polarity programmed as active low)INT
(active low)INT
/FSCS
SCLK
SDO
SDI
= 1CONVST
tCONV = 18 CCLKs
th(CSR-EOS)
tsu(CSF-EOS) th(CSF-EOS)
tSAMPLE2 = 3 CCLKs mintCONV = 18 CCLKs
th(CSF-EOS) tsu(CSR-EOS)
tsu(CSR-EOS)
tSAMPLE2 = 3 CCLKs min
1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
図 4. オート・トリガ(変換中のリード)時の変換とアクィジション・サイクルのタイミング
14
1 2 3 54 6 7 15 1614
MSB–1 MSB–2 MSB–3 MSB–4 MSB–5 MSB–6 LSB+2 LSB+1 LSB
MSB MSB–1 MSB–2 MSB–3 MSB–4 MSB–5 MSB–6 LSB+2 LSB+1 LSB
MSB
tsu(CSF- SCLK1R)
CS/FS
td(CSF- SDOVALID)
tsu(SDI- SCLKF)
th(SDI- SCLKF)
td(SCLKF- SDOINVALID)
td(SCLKF- SDOVALID)
td(CSR- SDOZ)
tsu(LastSCLK- CSR)twL(SCLK)
twH(SCLK)
tc(SCLK)
SCLK
SDO
SDI
Hi-Z
図 5. 詳細なSPI伝送タイミング
図 6. 単純化したデュアル・チャネルのタイミング
1101b1101b
MANUAL TRIGGER / READ While Sampling(use internal CCLK , EOC and INT active low, TAG enabled, auto channel select)active high
Hi–Z
EO
S
EO
C
READ Result READ Result
N–1th CH1
CONVST
INT(active low)
EOC(active low)
CS/FS
SCLK
SDO
SDI
Nth CH0
1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16 17 1 16. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
Nth CH0
Nth CH1Nth CH0
Nth CH0Hi–Z
TAG = 0TAG = 1
twL(CONVST)twL(CONVST)
tSAMPLE1 = 3 CCLKs min
tCONV = 18 CCLKs
td(CSR-EOS) = 20 ns MIN
tCONV = 18 CCLKs
th(CSF-EOC)
tsu(CSF-EOS)
15
At –40°C to 85°C, Vref (REF+ – REF–) = 4.096 V when +VA = +VBD = 5 V or Vref (REF+ – REF–) = 2.5 V when+VA = +VBD = 2.7 V, fSCLK = 21 MHz, fi = DC for DC curves, fi = 100 kHz for AC curves(特に記述がない限り)
80
85
90
95
100
105
110
0 50 100 150 200F -Frequency - kHz
+VA = 5 V
+VA = 2.7
Cro
ssta
lk -
dB
クロストーク 対 周波数
図 7
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
–40 –25 –10 5 20 35 50 65 80
T - Free-Air Temperature - °CA
+VA = 5 V
+VA = 2.7DN
L-
LS
B
微分非直線性 対 無風温度
図 8
1.4
1.5
1.6
1.7
1.8
–40 –25 –10 5 20 35 50 65 80
T - Free-Air Temperature - °CA
INL
- L
SB
+VA = 2.7 V
+VA = 5 V
積分非直線性 対 無風温度
図 9
–2
–1.5
–1
–0.5
0
0.5
1
1.5
2
0 5 10 15 20External Clock Frequency - MHz
MAX
MIN
+VA = 5 V
DN
L-
LS
B
微分非直線性 対 外部クロック周波数
図 10
–2
–1.5
–1
–0.5
0
0.5
1
1.5
2
0 5 10 15 20External Clock Frequency - MHz
INL
- L
SB
Min
Max
+VA = 5 V
積分非直線性 対 外部クロック周波数
図 11
–2
–1.5
–1
–0.5
0
0.5
1
1.5
2
0 5 10 15 20External Clock Frequency - MHz
Max
MinDN
L-
LS
B
+VA = 2.7 V
微分非直線性 対 外部クロック周波数
図 12
標準的な特性
16
–2
–1.5
–1
–0.5
0
0.5
1
1.5
2
0 5 10 15 20 25External Clock Frequency - MHz
INL
- L
SB
Min
Max
+VA = 2.7 V
積分非直線性 対 外部クロック周波数
図 13
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
–40 –25 –10 5 20 35 50 65 80T - Free-Air Temperature - °CA
Off
set
Volt
age
- m
V
+VA = 2.7
+VA = 5 V
オフセット電圧 対 無風温度
図 14
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
2.7 3.2 3.7 4.2 4.7 5.2+VA - Supply Voltage - V
Off
set
Volt
age
- m
V
オフセット電圧 対 電源電圧
図 15
80–0.075
–0.073
–0.070
–0.068
–0.065
–40 –25 –10 5 20 35 50 65
T - Free-Air Temperature - °CA
Gai
n E
rro
r -
% F
SR
+VA = 5 V
+VA = 2.7
ゲイン誤差 対 無風温度
図 16
+VA - Supply Voltage - V
–0.075
–0.073
–0.070
–0.068
–0.065
2.7 3.2 3.7 4.2 4.7 5.2
Off
set
Volt
age
mV
Ch
ang
e -
ゲイン誤差 対 電源電圧
図 17
–80
–78
–76
–74
–72
–700 20 40 60 80 100
Supply Ripple Frequency - kHz
PS
RR
- P
ow
er S
up
ply
Rej
ecti
on
Rat
io -
dB
+VA = 5 V
+VA = 2.7 V
電源除去比 対 電源リップル周波数
図 18
10084
86
88
90
92
0 20 40 60 80f - Input Frequency - kHzi
SN
R -
Sig
nal
-To
-No
ise
Rat
io -
dB
+VA = 2.7 V
+VA = 5 V
信号対ノイズ比 対 入力周波数
図 19
80
82
84
86
88
90
92
0 20 40 60 80 100f - Input Frequency - kHzi
SIN
AD
- S
ign
al-T
o-N
ois
e an
d D
isto
rtio
n -
dB
+VA = 5 V
+VA = 2.7 V
信号対ノイズ + 歪み 対 入力周波数
図 20
–80
–85
–90
–95
–100
–150
0 20 40 60 80 100f - Input Frequency - kHzi
TH
D -
To
tal H
arm
on
ic D
isto
rtio
n -
dB
+VA = 5 V
+VA = 2.7 V
全高調波歪み 対 入力周波数
図 21
標準的な特性
17
80
85
90
95
100
105
110
0 20 40 60 80f - Input Frequency - kHzi
SF
DR
- S
pu
rio
us
Fre
e D
ynam
ic R
ang
e -
dB
100
+VA = 5 V
+VA = 2.7 V
スプリアス・フリー・ダイナミックレンジ 対 入力周波数
図 22
72
76
80
84
88
92
0 1 2 3 4 5Full Scale Range - V
SN
R -
Sig
nal
-To
-No
ise
Rat
io -
dB
2.7 V5 V
10 kHz Input
信号対ノイズ比 対
フルスケール・レンジ
図 23
72
76
80
84
88
92
0 1 2 3 4 5Full Scale Range - V
SIN
AD
- S
ign
al-T
o-N
ois
e an
d D
isto
rtio
n -
dB
5 V2.7 V
10 kHz Input
信号対ノイズ + 歪み 対
フルスケール・レンジ
図 24
–100
–96
–92
–88
0 1 2 3 4 5Full Scale Range - V
TH
D -
To
tal H
arm
on
ic D
isto
rtio
n -
dB
10 kHz Input
5 V
2.7 V
全高調波歪み 対
フルスケール・レンジ
図 25
10 KHz
90
92
94
96
98
100
102
0 1 2 3 4 5Full Scale Range - V
SF
DR
- S
pu
rio
us
Fre
e D
ynam
ic R
ang
e -
dB
2.7 V
5 V
図 26
スプリアス・フリー・ダイナミックレンジ 対
フルスケール・レンジ
–100
–98
–96
–94–40 –25 –10 5 20 35 50 65
T - Free-Air Temperature - °CA
TH
D -
To
tal H
arm
on
ic D
isto
rtio
n -
dB
+VA = 5 V, 100 kHz Input
+VA = 2.7 V, 10 kHz Input
80
全高調波歪み 対 無風温度
図 27
94
96
98
100
102
–40 –25 –10 5 20 35 50 65 80T - Free-Air Temperature - °CA
SF
DR
- S
pu
rio
us
Fre
e D
ynam
ic R
ang
e -
dB
+VA = 5 V, 100 kHz Input
+VA = 2.7 V, 10 kHz Input
図 28
スプリアス・フリー・ダイナミックレンジ 対 無風温度
87
88
89
90
91
92
–40 –25 –10 5 20 35 50 65 80T - Free-Air Temperature - °CA
SN
R -
Sig
nal
-To
-No
ise
Rat
io -
dB
+VA = 5 V, 100 kHz Input
+VA = 2.7 V, 10 kHz Input
図 29
信号対ノイズ比 対 無風温度
87
88
89
90
91
92
–40 –25 –10 5 20 35 50 65 80T - Free-Air Temperature - °CA
SIN
AD
- S
ign
al-T
o-N
ois
e an
d D
isto
rtio
n -
dB
+VA =5 V, 100 kHz Input
+VA = 2.7 V, 10 kHz Input
図 30
信号対ノイズ + 歪み 対 無風温度
標準的な特性
18
標準的な特性
200
220
240
260
280
300
320
2.7 3.2 3.7 4.2 4.7 5.2+VA - Supply Voltage - V
An
alo
g S
up
ply
Cu
rren
t -
Aµ
NAP Mode
アナログ電源電流 対 電源電圧
図 35
500 kSPS
3.6
4.1
4.6
5.1
5.6
2.7 3.2 3.7 4.2 4.7 5.2
+VA - Supply Voltage - V
An
alo
g S
up
ply
Cu
rren
t -
mA
アナログ電源電流 対 電源電圧
図 33
PD Mode
0
2
4
6
8
10
12
2.7 3.2 3.7 4.2 4.7 5.2+VA - Supply Voltage - V
An
alo
g S
up
ply
Cu
rren
t -
nA
アナログ電源電流 対 電源電圧
図 36
11.0
11.2
11.4
11.6
11.8
12
2.7 3.2 3.7 4.2 4.7 5.2 5.7+VA - Supply Voltage - V
Inte
rnal
Clo
ck F
req
uen
cy -
MH
z
内部クロック周波数 対 電源電圧
図 32
14.3
14.5
14.7
–40 –25 –10 5 20 35 50 65 80T - Free-Air Temperature - °CA
EN
OB
- E
ffec
tive
Nu
mb
er o
f B
its
- b
its
+VA = 5 V, 100 kHz Input
+VA = 2.7 V, 10 kHz Input
14.9
有効ビット数 対 無風温度
図 31
11
11.2
11.4
11.6
11.8
12
–40 –25 –10 5 20 35 50 65T - Free-Air TA
Inte
rnal
Clo
ck F
req
uen
cy -
MH
z
80
+VA = 2.7 V
+VA = 5 V
内部クロック周波数 対 無風温度
図 33
PD Mode
0
100
200
300
400
0 5 10 15 20 25Sample Rate - kSPS
An
alo
g S
up
ply
Cu
rren
t -
Aµ
+VA = 5 V
+VA = 2.7 V
アナログ電源電流 対
サンプリング・レート
図 38
An
alo
g S
up
ply
Cu
rren
t -
mA
Autonap Mode
0
1
2
3
4
5
6
0 100 200 300 400 500 600Sample Rate - kSPS
+VA = 2.7 V
+VA = 5 V
アナログ電源電流 対
サンプリング・レート
図 37
An
alo
g S
up
ply
Cu
rren
t -
mA
500 kSPS Sample Rate
3
3.5
4
4.5
5
5.5
–40 –25 –10 5 20 35 50 65 80T - Free-Air Temperature - °CA
+VA = 2.7 V
+VA = 5 V
図 39
アナログ電源電流 対 無風温度
19
–3
–2
0
0.5
2
3
0 10000 20000 30000 40000 50000 60000 70000
INL
- B
its
Code
2.5
1.5
1
–0.5
–1
–1.5
–2.5
f = 500 kSPS,
+VA = 5 V,V = 4.096 V
i
ref
–2
–1.5
–1
–0.5
0
0.5
1
1.5
2
0 10000 20000 30000 40000 50000 60000 70000
f = 500 kSPS,
+VA = 5 V,V = 4.096 V
i
refD
NL
- B
its
Code
INL DNL
標準的な特性
An
alo
g S
up
ply
Cu
rren
t -
mA
NAP Mode
0
0.1
0.2
0.3
0.4
–40 –25 –10 5 20 35 50 65 80
T - Free-Air Temperature - °CA
+VA = 5 V
+VA = 2.7
アナログ電源電流 対 無風温度
図 40
図 41 図 42
20
–2.5
–2
–0.5
0
1
2
3
0 10000 20000 30000 40000 50000 60000 70000
INL
- B
its
Code
1.5
2.5
0.5
–1
–1.5
3
f = 500 kSPS,
+VA = 2.7 V,V = 2.5 V
i
ref
INL
図 43
–160
–140
–120
–100
–80
–60
–40
–20
0
0 50 100 150 200 250
1 kHz Input,+VA = 2.7 V,V = 2.5 V, f = 500 kSPSref s
f - Frequency - kHz
Am
plit
ud
e -
dB
高速フーリエ変換
図 45
–2
–1.5
–1
–0.5
0
0.5
1
1.5
2
0 10000
DN
L-
Bit
s
20000 30000 40000 50000 60000 70000
Code
f = 500 kSPS,
+VA = 2.7 V,V = 2.5 V
i
ref
DNL
図 44
–160
–140
–120
–100
–80
–60
–40
–20
0
0 50 100 150 200 250
10 kHz Input,+VA = 2.7 V,V = 2.5 V, f = 500 kSPSref s
f - Frequency - kHz
Am
plit
ud
e -
dB
高速フーリエ変換
図 46
標準的な特性
21
ADS8327には1アナログ入力があります。アナログ入力は+INと–INの2入力端子に印加します。変換が開始されると、これら2端子の差動入力は内部のコンデンサ・アレイにサンプリングされます。変換の進行中は、+INと–IN入力はともに内部のいかなる機能とも分離されています。ADS8328には2アナログ入力があります。2入力はともに同一
のコモン端子COMを共有しています。負入力はADS8327の–IN端子と同じです。ADS8328は、マニュアル・チャネル選択モード、あるいはチャネル0と1を自動的にスイープするオート・チャネル選択モードをプログラミングすることができます。
標準的な特性
100 kHz Input,+VA = 2.7 V, V = 2.5 V,f = 500 kSPS
ref
s
–160
–140
–120
–100
–80
–60
–40
–20
0
0 50 100 150 200 250
f - Frequency - kHz
Am
plit
ud
e -
dB
FFT
図 47
1 kHz Input,+VA = 5 V,V = 4.096 V, f = 500 kSPSref s
–160
–140
–120
–100
–80
–60
–40
–20
0
0 50 100 150 200 250
f - Frequency - kHz
Am
plit
ud
e -
dB
FFT
図 48
–160
–140
–120
–100
–80
–60
–40
–20
0
0 50 100 150 200 250
10 kHz Input,+VA = 5 V,V = 4.096 V, f = 500 kSPSref s
f - Frequency - kHz
Am
plit
ud
e -
dB
FFT
図 49
–160
–140
–120
–100
–80
–60
–40
–20
0
0 50 100 150 200 250
100 kHz Input,+VA = 5 V,V = 4.096 V, f = 500 kSPSref s
f - Frequency - kHz
Am
plit
ud
e -
dB
FFT
図 50
動作原理ADS8327/28は、高速かつ低消費電力の逐次比較型(SAR)型
アナログ・ツー・デジタル・変換器(ADC)であり、外部の基準電圧源を使用します。そのアーキテクチャは、サンプル・アンド・ホールド機能を伴う電荷再分配方式をベースとしています。ADS8327/28には変換の実行に使用される内部クロックがあ
ります。しかし、外部シリアル・クロックSCLKによる変換を実行するようにプログラミングすることもできます。
22
入力は、範囲が0VからVref までのユニポーラの入力電圧です。駆動用オペアンプの最小–3dB帯域幅は次のように計算できます。
ここで、n=16であり、ADCの分解能です(ADS8327/28の場合)。tACQ=238ns(最小アクイジション・タイム)の場合、駆動用アンプの最小帯域幅は7.9MHzになります。アプリケーションによってアクイジション・タイムが増加する場合、この帯域幅は緩和できます。オペアンプにはテキサス・インスツルメンツのOPA365,OPA827,あるいはTHS4031を推奨します。ソースフォロワ構成でコンバータを駆動するTHS4031を、標準的な入力駆動回路である図52に示します。
バイポーラからユニポーラ・ドライバへ
入力がバイポーラのシステムにおいて、+入力に別のDCバイアスを印加した反転回路としてTHS4031を使用すると、ADS8327/28への入力を定格動作電圧範囲に維持することができます。この回路構成は、SNRおよびTHDの高特性が要求される信号処理アプリケーションにおいて、ADS8327/28が使用される場合にも推奨します。DCバイアスは、REF3225あるいはREF3240基準電圧ICから供給することができます。図53に示す入力回路構成では、10kHzの入力周波数で91dBのSNRおよび–96dBのTHD以上の特性が得られます。また、バンドパス・フィルタを入力のフィルタリングに使用する場合、バンドパス・フィルタ入力の信号振幅を小さくして、フィルタによる歪みが最小になるように注意を払う必要があります。そのような場合、図53に示す回路のゲインを増加してADS8327/28の入力を大きくし、システムのSNRを高く保つことができます。この回路構成におけるTHS4031の+入力から出力へのシステム・ゲインは、AC信号のゲインの関数であることに注意願います。また、REF3225やREF3240の出力の縮小に抵抗分圧回路を使用すると、THS4031のDC入力電圧を低減し、コンバータ入力における電圧をその定格動作範囲内に保つことができます。
Device in Hold Mode
AGND150 Ω
+IN
–IN AGND
+VA
150 Ω
4 pF
4 pF
40 pF
40 pF
図 51. 入力等価回路
アナログ入力
コンバータがホールド・モードに入ると、+INと–IN入力間の電位差が内部のコンデンサ・アレイに補足されます。–IN入力における電圧は、+INと–IN入力に共通の小信号成分を入力から除去できるように、AGND – 0.2VからAGND + 0.2Vに制限されます。+INの入力範囲は–0.2VからVref + 0.2Vです。両入力による入力スパン[+IN–(–IN)]は、0VからVrefに制限されます。アナログ入力における(ピーク)入力電流は、サンプリング・
レート、入力電圧、および信号源インピーダンスといったいくつかの要素に依存します。ADS8327/28へ流入する電流は、サンプル周期に内部のコンデンサ・アレイを充電します。この容量が十分に充電された後は、それ以上の入力電流はありません。アナログ入力電圧源は、デバイスの最小アクイジション・タイム(238ns)以内に、16ビットのセトリング・レベルまで入力容量(45pF)を充電できる必要があります。コンバータがホールド・モードに入ると、入力インピーダンスは1GΩ以上になります。アナログ入力電圧の絶対値について注意を払う必要がありま
す。コンバータの直線性を保つため、+INおよび–INの両入力電圧とスパン[+IN–(–IN)]を規定リミット内にします。これらの規定範囲を超えると、コンバータの直線性は仕様を満足しないことがあります。また、ノイズを最小にするため、ローパス・フィルタによる低帯域幅の入力信号を用いる必要があります。さらに、+INおよび–IN入力を駆動する信号源の出力インピーダンスの整合性を保証するように注意します。この整合がとれていないと、両入力のセトリング・タイムが異なることがあります。その結果、温度や入力電圧により変化するオフセット誤差、ゲイン誤差、および直線性誤差につながります。
前段駆動アンプの選択
コンバータへのアナログ入力は、THS4031やOPA356のような低ノイズのオペアンプで駆動される必要があります。また、RCによるローパス・フィルタを入力端子に付加し、信号源からのノイズを除去することを推奨します。それには、2個の20Ω抵抗と1個の470pFコンデンサを推奨します。コンバータへの
f3db = (ln(2)× (n+1)) / (2π × tACQ)
23
必要であれば、変換は外部シリアル・クロックSCLKにより実行するようにもプログラムできます。このプログラミングにより、システム設計者はシステム同期を実現することができます。シリアル・クロックSCLKは、変換クロック(CCLK)として使用される前に、まずその周波数が1/2に低減されます。例えば21MHzのSCLKの場合、この分周により変換には10.5MHzのクロックが供給されます。外部SCLKを変換クロック(CCLK)の信号源としてプログラムし(かつ、マニュアルの変換開始を選択し)、そのSCLKの特定の立ち上がりエッジで変換を開始することが要求される場合、CONVSTとSCLKの立ち上がりエッジとのセットアップ・タイム仕様を遵守する必要があります。これを遵守することにより、変換は18 CCLK(すなわち36 SCLK)で完了します。CONVSTとSCLKの同期を保証する最小セットアップ・タイムは20nsです。多くの場合、変換は1 SCLK周期(あるいはCCLK)後に開始でき、その結果、1変換で19 CCLK(あるいは37 SCLK)になります。同期が緩和されると、20nsのセットアップ・タイムは不要になります。
基準電圧
ADS8327/28は、範囲が0.3Vから4.2Vの外部基準電圧で動作できます。コンバータの高性能を得るには、クリーンかつ低ノイズの十分にデカップリングされた基準電圧がREF + 端子に必要です。REF3240のような低ノイズのバンドギャップ基準電圧源が、この端子の駆動に使用できます。1個の10µFデカップリング用コンデンサが、コンバータのREF+およびREF-端子間に必要です。基準電圧に関するコンデンサは、デバイスの端子に極力接近させて配置します。また、REF–端子は、専用のビアでアナログ・グランド・プレーンに可能なかぎり最短距離で接続します。
コンバータの動作
ADS8327/28には発振回路があり、変換レートを制御する内部クロックとして使用されます。このクロックの周波数は最小で10.5MHzです。この発振回路は、デバイスがディープ・パワーダウン状態になるか、あるいはデバイスがSCLKを変換クロック(CCLK)として使用するようにプログラムされるまで、常にオンしています。最小のアクィジション(サンプリング)タイムは3CCLK(これは12.6MHz時で238nsに等しい)であり、1変換を完了する変換時間は18変換クロック(CCLK,約1500ns)です。
ADS8327/28
+IN/(+IN1 or +IN0)
–IN/COM
THS403120 Ω
20 Ω
470 pF
50 Ω
InputSignal
(0 V to 4 V)
5 V
+VA
図 52. ユニポーラ入力の駆動回路構成
図 53. バイポーラ入力の駆動回路構成
ADS8327
+IN/(+IN1 or +IN0)
–IN/COM
THS403120 Ω
20 Ω600 Ω
1 V DC
600 Ω
InputSignal
(–2V to 2 V)
5 V
+VA
470 pF
24
OSC
Divider1/2
= 1
= 0
Conversion Clock(CCLK)
CFR_D10
SPI SerialClock (SCLK)
図 52. コンバータのクロック
変換の開始
アクイジションすなわちサンプリングの終了(EOS)は変換の開始と同義です。これはCONVST端子を最小で40nsローにすることで開始されます。この最小時間条件が満たされた後は、CONVST端子をハイにすることができます。CONVSTはFS/CSとは独立して機能するので、複数のコンバータでサンプル・アンド・ホールドを同時に要するアプリケーションにおいて、1個の共通のCONVSTとして使用することができます。ADS8327/28は、サンプルからホールドのモードへCONVST信号の立ち下がりエッジで切り換わります。またADS8327/28は、1変換の完了に18個の変換クロック(CCLK)のエッジを必要とします。変換時間は12MHzの内部クロックで1500nsになります。連続した2個のCONVST信号間の最小時間は21 CCLKです。変換はCONVSTを使用せずに、CFR_D9 = 0とプログラムし
て開始することもできます。コンバータがオート・トリガに設定されると、ひとつの変換終了の3変換クロック(CCLK)後に次の変換が自動的に開始されます。これらの3変換クロック(CCLK)は、アクィジション・タイムとして使用されます。したがって、この場合、アクィジションと変換の1サイクルを完了する時間は21 CCLKになります。
SCLKのデューティ・サイクルは、ハイおよびロー時間の最小8nsという条件を満たしているかぎり重要ではありません。ADS8327/28は高速アプリケーション向けに設計されているので、シリアル・インターフェイスの高スループットに対応できる、より高速なシリアル・クロック(SCLK)を供給する必要があります。したがって、SCLKのクロック周期は(変換クロックCCLKとして使用される場合)、大きくても1µsでなければなりません。また最小クロック周波数は、ADS8327/28内部の容量性デジタル・アナログ・コンバータ(CDAC)用コンデンサの寄生リーク電流にも支配されます。
マニュアル・チャネル選択モード
変換サイクルは、コマンド・レジスタ(CMR)にチャネル番号をライトして、アクイジション・チャネルを選択することにより開始されます。これに要するサイクルタイムは短く、4シリアル・クロック(SCLK)で可能です。
オート・チャネル選択モード
チャネル選択は、オート・チャネル選択モードをイネーブルにして自動で行うこともできます。このモードがデフォルトのチャネル選択モードになります。デュアル・チャネルのコンバータであるADS8328には、2対1マルチプレクサが組み込まれています。このデバイスがオート・チャネル選択モードにプログラムされると、チャネル0およびチャネル1からの信号は決まった順番で取り込まれます。すなわち、オート・チャネル選択モードにするためのCFR_D11を1に設定するコマンド・サイクルの次のサイクルで、最初にチャネル0がアクセスされます。この自動アクセスは、CFR_D11を0に設定するコマンド・サイクルの後のサイクルで停止します。
25
MODE SELECT CHANNEL START CONVERSION
Auto Channel Select(1) Auto TriggerAutomatic No need to write channel number to the CMR. Use internal sequencer for the Start a conversion based on the
ADS8328. conversion clock CCLK.
Manual Channel Select Manual TriggerManual
Write the channel number to the CMR. Start a conversion with CONVST.
表 1. 異なる種類の変換 (1)オート・チャネル選択は、オート・トリガおよびTAGビットのイネーブルで使用する必要があります。
0.1
1
10
100
20 10020 20020 30020 40020
Settling Time – ns
+VA
– S
up
ply
Cu
rren
t – µ
A
図 55. 標準的な、アナログ電源電流減少 対 パワーダウン後の時間
パワーダウン・モード
ADS8327/28には包括的な組込みパワーダウン機能が備わっており、ディープ・パワーダウン・モード、ナップ・パワーダウン・モード、およびオート・ナップ・パワーダウン・モードという3つのパワーダウン・モードがあります。これらの3パワーダウン・モードは、すべて関連CFRビットの設定によりイネーブルされます。最初の2つのパワーダウン・モードはイネーブルされると機能します。ウェイクアップ・コマンド1011bにより、デバイス動作がパワーダウン・モードから再始動されます。しかし、オート・ナップ・パワーダウン・モードは少しばかり異なる働きをします。コンバータのオート・ナップ・パワーダウン・モードがイネーブルされると、1変換終了(EOC)によりデバイスがオート・ナップ・パワーダウンに入ります。そして、サンプリングの開始により、コンバータ動作が再始動されます。設定レジスタの内容は、どのパワーダウン・モードの影響も受けません。ナップあるいはディープ・パワーダウン作動すると、あらゆる進行中の変換が中止されます。
EOC/INT
この状態端子がEOCとしてプログラムされ、その極性が負論理に設定されると、この端子は次のように機能します。マニュアル・トリガがプログラムされた場合、CONVSTがローになるとすぐに続いてEOC出力はローになります。EOCは変換プロセスの間ローのままであり、変換が終了するとハイに戻ります。また、オート・トリガがプログラムされた場合、EOC出力は前のEOCの立ち上がりエッジから3変換クロック(CCLK)の間ハイになります。この状態端子はプログラマブルであり、ローの時間が変換時
間に等しいEOC出力として使用できます(CFR_D[7:6] = 1,1)。また、この端子INTとしても使用でき(CFR_D[7:6] = 1,0)、INTは変換の終了でローに設定され、その次のリード・サイクルでハイになります(クリアされる)。この端子の極性は、いずれの機能(EOCあるいはINT)にも使用されるので、CFR_D7によるプログラマブルです。
26
オート・ナップ・モード
オート・ナップ・モードはナップ・モードとほぼ同じです。その相違は、デバイスが実際にパワーダウンされる時間と、デバイスをウェイクアップする方法だけです。設定レジスタのビットD4のみが、オート・ナップ・モードのイネーブル/ディスエーブルに使用されます。オート・ナップ・モードがイネーブルされると、変換が終了した後でデバイスのバイアスがターンオフされます。これは、変換終了によりオート・ナップ・パワーダウン・モードが作動することを意味します。電力消費は通常モードの12mAから約0.3mAへ200ns以内に減少します。ウェイクアップ・コマンドによりデバイスは復帰し、3 CCLK以内(12.6MHzの変換クロックで238ns)でバイアスが再度ターンオンされます。また、設定レジスタのビットD4を1に設定するオート・ナップ・モードのディスエーブルによっても、デバイスはウェイクアップすることができます。さらに、すべてのチャネル選択コマンド0XXXbあるいはデフォルト・モード設定コマンド1111bにより、デバイスはオート・ナップ・パワーダウンからウェイクアップすることができます。
注記:
1.このウェイクアップ・コマンドは、コマンド・ワードの中のワード1011bです。また、このコマンドは、設定レジスタのビットD2およびD3を1に設定し、D4には1を設定しません。しかし、ウェイクアップ・コマンドにより、ディープ/ナップ/オート・ナップのパワーダウン状態のいずれからもデバイスは復帰します。
2.ウェイクアップ時間は、ホスト・プロセッサがコンバータのウェイクアップを開始してから、コンバータの再始動が発生するまでの時間として定義されます。
TYPE OF POWER ACTIVATED BY ACTIVATION TIME RESUME POWER BY RESUME TIME ENABLEPOWERDOWN CONSUMPTION
Normal operation 5 mA/3.8 mA
Deep powerdown 6 nA/2 nA Setting CFR 100 µs Woken up by command 1011b 1 µs Set CFR
Woken up by command 1011b to achieve 6.6 mANap powerdown 0.3 mA/0.2 mA Setting CFR 200 µs 3 CCLKs Set CFR
since (1.3 + 12)/2 = 6.6
Woken up by CONVST, any channel selectEOC (end of
Auto nap powerdown 200 µs command, default command 1111b, or wake up 3 CCLKs Set CFRconversion)
command 1011b.
表 2. パワーダウン・モードの比較
ディープ・パワーダウン・モード
ディープ・パワーダウン・モードは、設定レジスタのビットCFR_D2へのライトにより作動します。デバイスがディープ・パワーダウン・モードの場合、インターフェイスを除くすべてのブロックがパワーダウンになります。外部SCLKはアナログ・ブロックに対して遮断されます。もはやアナログ・ブロックにはバイアス電流が無く、内部発振回路はターンオフされます。このモードでは、電力消費が5mAから1µAに2µs以内で減少します。パワーダウン後のウェイクアップ時間は1µsです。設定レジスタのビットD2が0に設定されると、デバイスはディープ・パワーダウンになります。また、このビットを1に設定するか、あるいはウェイクアップ・コマンドを送出すると、コンバータはディープ・パワーダウン状態から復帰することができます。
ナップ・モード
ナップ・モードの場合、ADS8327/28はコンパレータと中点電圧バッファのバイアスをターンオフします。このモードでは、電力消費が通常モードの5mAから約0.3mAへ、設定サイクル後の200ns以内に減少します。ナップ・パワーダウン・モードからのウェイクアップ(復帰)時間は、3 CCLK(12.6MHzの変換クロックで238ns)になります。制御レジスタのビットCFR_D3が0に設定されると、変換状態にかかわらず即座にデバイスはナップ・パワーダウン・モードに入ります。このビットを1に設定するか、あるいはウェイクアップ・コマンドを送出すると、コンバータはナップ・パワーダウン状態から復帰することができます。
27
N N+1
ConverterState
EO
C
EO
S
EO
S
EO
C
Read N–1 –th Result
Read N –th Result
N –th Conversion N+1 –th ConversionN+1 –th Sampling
20 ns MIN
Converter State
0 ns MIN
CS
CS
CONVST
Read While Converting
Read While Sampling
(For Read Result)
(For Read Result)
20 ns MIN
1 CCLK MIN
図 56. 変換中のリード 対 サンプリング中のリード(マニュアル・トリガ時)
図 57. 変換中のリード 対 サンプリング中のリード(ディープあるいはナップ・パワーダウン時)
N N+1Manual Trigger
ConverterState
EO
C
EO
S
EO
C
EO
S
Read N–1 –th
Result
20 ns MIN
Read N –thResult
20 ns MIN
Read N–1 –th
Result
20 ns MIN
Read N –thResult
20 ns MIN
Resume ActivationN -th Sampling
>=3CCLK
N -th Conversion
=18 CCLK
Resume ActivationN+1 -th Sampling
>=3CCLK
N+1 -th Conversion
=18 CCLK
CS
CS
CONVST
Read While Converting
Read While Sampling0 ns MIN
1 CCLK MIN
20 ns MIN
20 ns MIN20 ns MIN
20 ns MIN
28
N N+1
Manual Trigger Case 1
EO
S
EO
C
EO
S
EOC(programmed
Active Low)
ConverterState
Resume N –th Sampling
>=3CCLK
EO
C
EO
S
N –th Conversion
=18 CCLK
Resume N+1 –th Sampling
>=3CCLK
EO
C
EO
S
N+1 –th Conversion
=18 CCLK
Read N–1 –thResult
20 ns MIN
Read N -thResult
20 ns MIN
Read N–1 –thResult
1 CCLK MIN
Read N –thResult
1 CCLK MIN
ConverterState
Resume N –th Sampling
>=3CCLK
EO
C
N –th Conversion
=18 CCLK
Resume N+1 -th Sampling
>=3CCLK
N+1 -th Conversion
=18 CCLK
Read N–1 –thResult
20 ns MIN
Read N –thResult
20 ns MIN
Read N–1 –thResult
20 ns MIN
Read N -thResult
20 ns MIN
40 ns MIN
EOC(programmed
Active Low)
N N+1
40 ns MIN
POWERDOWN POWERDOWN
CONVST
CS
Read While Converting
0 ns MIN
CONVST
CS
Read While Sampling
POWERDOWN
POWERDOWN
CS
Read While Converting
Read While Sampling
CS
0 ns MIN
Manual Trigger Case 2 (wake up by CONVST)
6 CCLKs 6 CCLKs
20 ns MIN 20 ns MIN
20 ns MIN20 ns MIN
20 ns MIN 20 ns MIN
20 ns MIN20 ns MIN
図 58. 変換中のリード 対 サンプリング中のリード(オート・ナップ・パワーダウン時)
アクィジション + 変換の合計サイクル・タイム: オート: = 21 CCLK マニュアル: ≥ 21 CCLK マニュアル + ディープ・パワーダウン: ≥ 4SCLK + 100µs + 3CCLK + 18CCLK + 16SCLK + 1µs マニュアル + ナップ・パワーダウン: ≥ 4SCLK + 3CCLK + 3CCLK + 18CCLK + 16SCLK マニュアル + オート・ナップ パワーダウン: ≥ 4SCLK + 3CCLK + 3CCLK + 18CCLK + 16SCLK(復帰にウエイクアップ使用) マニュアル + オート・ナップ パワーダウン: ≥ 1CCLK + 3CCLK + 3CCLK + 18CCLK + 16SCLK(復帰にCONVST使用)
29
WAKE UP FROM MINIMUM SCLKsD[15:12] HEX COMMAND D[11:0] R/WAUTO NAP REQUIRED
0000b 0h Select analog input channel 0(2) Don't care Y 4 –
0001b 1h Select analog input channel 1(2)
(1)
Don't care Y 4 –
0010b 2h Reserved Reserved Y 4 –
0011b 3h Reserved Reserved Y 4 –
0100b 4h Reserved Reserved Y 4 –
0101b 5h Reserved Reserved Y 4 –
0110b 6h Reserved Reserved Y 4 –
0111b 7h Reserved Reserved Y 4 –
1000b 8h Reserved Reserved – – –
1001b 9h Reserved Reserved – – –
1010b Ah Reserved Reserved – – –
1011b Bh Wake up Don't care Y 4 W
1100b Ch Read CFR Don't care – 16 R
1101b Dh Read data Don't care – 16 R
1110 Eh Write CFR CFR Value – 16 W
1111b Fh Default mode (load CFR with default value) Don't care Y 4 W
表 3. コマンド・レジスタ(CMR)により定義されるコマンド・セット (1)SDOが3ステートでない場合(FS/CSがローでSCLKが供給される)、SDOからのビットは常に前の変換結果の一部(供給されたSCLKの個数に依存する)です。 (2)これらの2コマンドはADS8328のみに適用されます。
注記:
リード・モードの組み合せによって、1サイクルが4SCLKあるいは最大で24SCLKの場合があります。詳細は表3を参照願います。
内部レジスタ
内部レジスタは、4ビットのコマンド・レジスタ(CMR)および12ビットの設定データ・レジスタ(CFR)の2つの部分で構成されています。
コンバータへの書き込み
レジスタへの書き込みには異なる2種類があります。CMRへの4ビットの書き込みと、CMRおよびCFRへのフル16ビットの書き込みです。そのコマンド・セットを表3に列記します。単純なコマンドは4 SCLKのみを必要とし、その書き込みは4番目のSCLKの立ち下がりエッジで有効になります。16ビットの書き込みあるいはリードは、少なくとも16 SCLKを要します(16個以上のSCLKが必要な例外は表6参照)。
デジタル・インターフェイス
ADS8327/28のシリアル・インターフェイスは、モトローラ社のSPIと互換性があります。シリアル・クロックは、最大50MHzまでのSCLKを備えた最新の高速プロセッサに対応するように設計されています。各サイクルはFS/CSの立ち下がりエッジで開始されます。内部データ・レジスタの内容はEOCで出力レジスタに出力され、FS/CSの立ち下がりエッジでSDO出力端子に現れます。これはMSBになります。出力データはSCLKの立ち下がりエッジで切り換えられ、ホスト・プロセッサは次の立ち上がりエッジでそれをリードすることができます。また、シリアル・データ入力は、SCLKの立ち下がりエッジでラッチされます。シリアルI/Oサイクル全体は、FS/CSの立ち下がりエッジ後
最初のSCLKの立ち上がりエッジで開始し、そこから16個(注記参照)後のSCLKの立ち下がりエッジで終了します。このシリアル・インターフェイスは非常にフレキシブルであり、CPOL = 0またはCPOL = 1の両方で働きます。また、このインターフェイスは、最初のSCLK立ち上がりエッジの前に、その立ち下がりエッジが来るとデータを無視します。これは、SCLKがハイの間にFS/CSの立ち下がりエッジがあってもよいことを意味しています。同様の緩和がFS/CSの立ち上がりエッジについても適用されます。すなわち、FS/CSの立ち上がりエッジの前でSCLKの最後の立ち下がりエッジが生じるかぎり、FS/CSの立ち上がりエッジでSCLKはハイまたはローであり得ます。
30
SDI BITDEFINITION
CFR –D[11– 0]
Channel select modeD11 Default = 1 0: Manual channel select enabled. Use channel select commands to 1: Auto channel select enabled. All channels are sampled and
access a different channel. converted sequentially until the cycle after this bit is set to 0.
Conversion clock (CCLK) source selectD10 Default = 1
0: Conversion clock (CCLK) = SCLK/2 1: Conversion clock (CCLK) = Internal OSC
Trigger (conversion start) select: start conversion at the end of sampling (EOS). If D9 = 0, the D4 setting is ignored.D9 Default = 1
0: Auto trigger automatically starts (4 internal clocks after EOC inactive) 1: Manual trigger manually started by falling edge of CONVST
D8 Default = 1 Don't care Don't care
Pin 10 polarity select when used as an output (EOC/INT)D7 Default = 1
0: EOC Active high / INT active high 1: EOC Active low / INT active low
Pin 10 function select when used as an output (EOC/INT)D6 Default = 1
0: Pin used as INT 1: Pin used as EOC
Pin 10 I/O select for chain mode operationD5 Default = 1
0: Pin 10 is used as CDI input (chain mode enabled) 1: Pin 10 is used as EOC/INT output
Auto nap powerdown enable/disable (mid voltage and comparator shut down between cycles). This bit setting is ignored if D9 = 0.D4 Default = 1
0: Auto nap powerdown enabled (not activated) 1: Auto nap powerdown disabled
Nap powerdown (mid voltage and comparator shut down between cycles). This bit is set to 1 automatically by wake-up command.D3 Default = 1
0: Enable/activate device in nap powerdown 1: Remove device from nap powerdown (resume)
Deep powerdown. This bit is set to 1 automatically by wake-up command.D2 Default = 1
0: Enable/activate device in deep powerdown 1: Remove device from deep powerdown (resume)
D1 Default = TAG bit enable. This bit is ignored by the ADS8327 and is alway read 0.0: ADS8327
0: TAG bit disabled. 1: TAG bit output enabled. TAG bit appears at the 17th SCLK.1: ADS8328
ResetD0 Default = 1
0: System reset 1: Normal operation
表 4. 設定レジスタ(CFR)マップ
変換結果のリード
変換結果はEOC時に出力データ・レジスタ(ODR)の入力に準備され、その次のCSあるいはFSの立ち下がりエッジで出力レジスタの出力に送られます。その結果、ホスト・プロセッサは、静的領域を除くあらゆる時間にSDO端子経由でデータ出力をシフトできます。この静的領域とは、サンプリング終了(EOS)の前20nsおよび後20nsの期間のことです。サンプリング終了(EOS)は、マニュアル・トリガ使用時のCONVSTの立ち下がりエッジ、あるいはオート・トリガ使用時の3番目の変換クロック(CCLK)の終端として定義されます。FS/CSの立ち下がりエッジは、変換の終了時点(デフォルトで
EOCがハイになる場合)そのものに合わせてはなりません(最小で1変換クロック(CCLK)遅らせる)。さもないとデータが衝突してしまいます。FS/CSが変換終了の後にあると、現在の変換結果がリードされます。変換結果は表5に示すように、ストレート・バイナリ・フォー
マットの16ビットのデータです。変換結果の出力には一般に16SCLKが必要ですが、16 SCLK以上を要する例外もあります(表6参照)。シリアル出力(SDO)からのデータ出力は前詰めMSBファーストです。これに続くビットはTAGビットが最初で(TAGがイネーブルの場合)、残りはすべて0です。その後、FS/CSが再度ハイになるまでSDOはローのままです。
コンバータとデフォルト・モードの設定
コンバータは、コマンド1110b(CFRへのライト)あるいはコマンド1111b(デフォルト・モード)で設定することができます。CFRへのライトには4ビットのコマンドと、それに続く12ビットのデータが必要です。4ビット・コマンドは、4番目のSCLKの立ち下がりエッジで有効になります。1個のCFR全体のライトは、16番目のSCLKの立ち下がりエッジで有効になります。デフォルト・モードのコマンドは、単にSDIを+VBDに接続す
るだけで実現することができます。このときデバイスがセレクトされると、即座に最小4個の1がSCLKによりクロック・インされます。したがって、CFRのデフォルト値がSCLKの4番目の立ち下がりエッジでCFRにロードされます。CFRのデフォルト値はすべて1です(ただし、CFR_D1を除く。
このビットはADS8327により無視され、常に0としてリードされる)。また、パワーオン・リセット(POR)およびソフトウェア(SW)リセット後に、同じデフォルト値がCFRに適用されます。
設定レジスタのリード
ホスト・プロセッサは、コマンド1100bを出してCFRにプログラムされた値をリード・バックできます。このタイミングは、CONVSTが使用されていないことと、EOC/INT端子に動きがないことを除くと、変換結果のリードに類似しています。リード・バックされたCFR値には、変換データの最初の4MSBおよび有効な12ビットのCFRの内容があります。
31
DESCRIPTION ANALOG VALUE DIGITAL OUTPUT
Full scale range Vref STRAIGHT BINARY
Least significant bit (LSB) Vref /65536 BINARY CODE HEX CODE
Full scale +Vref– 1 LSB 1111 1111 1111 1111 FFFF
Midscale Vref/2 1000 0000 0000 0000 8000
Midscale ñ 1 LSB Vref/2– 1 LSB 0111 1111 1111 1111 7FFF
Zero 0 V 0000 0000 0000 0000 0000
表 5. 理想入力電圧および出力コード
個のアドレス・ビットが付加され、変換結果がどちらのチャネルから来たか表示します。このアドレス・ビットは、チャネル0は0、チャネル1は1になります。したがって、追加のTAGビットのために、コマンドの4ビットとCFRの12ビットの和である16データ・ビットに要する16個以上のSCLKをコンバータは必要とします。
チェイン・モード
ADS8327/28は1個のコンバータとして、あるいは複数個のコンバータを用いたシステムの中で動作することができます。システム設計者は、複数個のコンバータを使用する場合、それらを1つのチェインにカスケード接続することにより、簡便な高速SPI互換シリアル・インターフェイスを活用することができます。ここで、上流コンバータからの変換結果について、EOC/INT状態端子を2次シリアル・データ入力であるチェイン・データ入力(CDI)として再設定するのに、CFR中の1ビットが使用されます。これがチェイン・モード動作です。3個のコンバータの標準的なチェイン・モード接続を図59に示します。
SDOはFS/CSがローのときアクティブです。FS/CSの立ち上がりエッジにより、SDO出力は3ステートになります。
注記:
SDOが3ステートでない場合(FS/CSがローで、SCLKが供給されている)は、常に変換結果の一部がSDO端子に出力されています。そのビット数は、何個のSCLKが供給されているかに依存します。例えば、マニュアル選択チャネル・コマンドサイクルには4 SCLKが必要なので、変換結果の4MSBがSDOに出力されます。例外は、あらゆるリセット(PORあるいはソフトウェア・リセット)直後のサイクルで、SDOがすべて1を出力することです。
SCLKが変換クロック(CCLK)として使用され、かつ連続している場合、サンプリング時(6 SCLK)に16ビットすべてをSDOからクロック・アウトするのは、静的領域条件のために不可能です。このような場合、変換結果は変換時(36 SCLKあるいは48 SCLK,オート・ナップ・モード)にリードする方が得策です。
TAGモード
ADS8328にはTAG機能があり、変換結果がどちらのチャネルから供給されたものか表示するタグとして使用できます。TAGモードがイネーブルの場合、SDOからリードされるLSBの後に1
32
ADS8327#1
SDI
SDO
ADS8327#2
SDI
SDO
ADS8327#3
SDI
SDO
Micro Controller
SDISDOGPIO1 GPIO2 GPIO3
Program device #1 CFR_D[7:5] = XX0b
INT
CSCONVST
CSCONVST
CSCONVST
EOC/INT CDI CDI
Program device #2 and #3 CFR_D[7:5] = XX1b
SCLK
SCLKSCLK SCLK
図 59. チェイン・モードを使用する複数コンバータの接続
図 60. 共通なCONVSTおよび連続CSの単純化したカスケード・モード・タイミング
CONVST #1,CONVSTCONVST
#2,#3
EOC #1(active low)
INT #3(active low)
CS/FS #2,/FS #3CS
SCLK #1,SCLK #2,SCLK #3
SDO #1,CDI #2
SDO #2,CDI #3
SDO #3
SDI #1,SDI #2,SDI #3
CONFIGURE READ Result READ Result
EO
S
EO
C
EO
S
Nth
Nth from #1
Nth from #1 Nth from #1N – 1th from #2
Nth from #3 N – 1th from #2 Nth from #1
1110............ 1101b 1101b
1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
Cascaded Manual Trigger/Read While Sampling(Use internal CCLK, EOC active low, and active low) heldINT CSlow during the N times 16 bits transfer cycle.
Hi-Z Hi-Z
Hi-Z Hi-Z
1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16 1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
Hi-Z Hi-Z
CS/FS #1
tCONV = 18 CCLKs
td(SDO-CDI)
tSAMPLE1 = 3 CCLKs min
td(CSR-EOS) = 20 ns min
td(CSR-EOS) = 20 ns min
td(SDO-CDI)
タはコンバータを16 SCLK(TAG機能がディスエーブルの場合)あるいは24 SCLKの遅延で通過します。この詳細なタイミングは図60を参照願います。このタイミングでは、各コンバータの変換は同時に行われます。
複数個のコンバータをチェイン・モードで使用する場合、最初のコンバータは通常モードに設定し、残りの下流コンバータはチェイン・モードに設定します。コンバータがチェイン・モードに設定されると、CDI入力データは出力レジスタへ直行します。したがって、CSがアクティブであるかぎり、シリアル入力デー
33
These SCLKs are optional.
CONFIGURE READ Result READ Result
EO
S
EO
C
EO
S
Nth
Nth from #1 Nth from #1 Nth from #1
Nth from #1 Nth from #1N – 1th from #2
Nth from #3 N – 1th from #2 Nth from #1
1110............ 1101b 1101b
1 16 1 16 1 16
Cascaded Manual Trigger/Read While Sampling(Use internal CCLK, EOC, and polarity programmed as active low)
held low during the N times 16 bits transfer cycle.INT
CS
CONVST #1,CONVSTCONVST
#2,#3
EOC #1(active low)
INT #1(active low)
CS/FS #3
SCLK #1,SCLK #2,SCLK #3
SDO #1,CDI #2
SDO #2,CDI #3
SDO #3
SDI #1,SDI #2,SDI #3
CS/FS #1
CS/FS #2
SCLK #2,
tCONV = 18 CCLKstSAMPLE1 = 3 CCLKs min
t =20 ns min
d(EOS-CSF)
td(EOS-CSF) =20 ns min
td(CSR-EOS) = 20 ns min
t =20 ns min
d(CSR-EOS)
td(CSR-EOS) =20 ns min
td(EOS-CSF) = 20 ns min
図 61. 共通なCONVSTおよび分散CSの単純化したカスケード・モード・タイミング
例2:チップ・セレクトが、図61に示すようにチェイン・モード・データ転送サイクルの間にトグルする場合、そのコンバータから同じ16ビット・データが、3つの分散した16ビット・サイクルすべてにおいて何度もリード・アウトされます。これは好ましからざる結果です。
2番目のコンバータがCONVSTを共有していないという、僅かに異なるシナリオを図62に示します。コンバータ#1および#3は同じCONVST共有しています。このような場合、コンバータ#2は上流からの変換データを単に下流に通過させるだけです。
コンバータがチェイン・モードで動作する場合、複数のCSの取り扱いには注意が必要です。異なるチップ・セレクト信号も、全体のデータ転送時にはすべてローでなければなりません(この例では、3個のコンバータで48ビット間)。チップ・セレクトCSの立ち下がり後最初の16ビット・ワードは、必ずCS信号を受け取ったデバイスからのデータになります。
例1:チップ・セレクトがトグルしない(CSがローのまま)場合、次の16ビットは上流コンバータからのデータになります。これを図60に示します。図59の例のコンバータ#1のように、チェインに上流コンバータがない場合、そのコンバータから同じデータ(図60のSDO#1のすべて0)が繰り返し見られます。
34
Note : old data shown.
CONFIGURE READ Result READ Result
EO
S
EO
C
EO
S
Nth
Nth from #1
Nth from #1
Nth from #1
N – 1th from #2
Nth from #3 N – 1th from #2
1110............ 1101b 1101b
1 . . . . . . . . . . . . . . . . . .16 1 . . . . . . . . . . . . . . . . . .16 1 . . . . . . . . . . . . . . . . . .16
Hi-Z
Hi-Z
Hi-Z
Hi-Z
Hi-Z
Hi-Z
Cascaded Manual Trigger/Read While Sampling(Use internal CCLK, EOC active low and active low)
held low during the N times 16 bits transfer cycle.INT
CS
CONVST #1,CONVST #3
CONVST #2 = 1
EOC #1(active low)
INT #1(active low)
SCLK #1,SCLK #2,SCLK #3
SDO #1,CDI #2
SDO #2,CDI #3
SDO #3
SDI #1,SDI #2,SDI #3
CS/FS #1
CS/FS #2,CS/FS #3
tCONV = 18 CCLKs tSAMPLE1 = 3 CCLKs min
td(CSR-EOS) = 20 ns min
td(CSR-EOS) = 20 ns min
td(SDO-CDI)
td(SDO-CDI)
図 62. 単純化したカスケード・タイミング(分離されたCONVST)
表 6. 異なるリード・アウト・モードの組み合せに必要なSCLK数
CHAIN MODE AUTO CHANNEL NUMBER OF SCLK PER SPITAG ENABLED CFR.D1 TRAILING BITSENABLED CFR.D5 SELECT CFR.D11 READ
0 0 0 16 None
0 0 1 ≥17 MSB is TAG bit plus zero(s)
0 1 0 16 None
0 1 1 ≥17 TAG bit plus 7 zeros
1 0 0 16 None
1 0 1 24 TAG bit plus 7 zeros
1 1 0 16 None
1 1 1 24 TAG bit plus 7 zeros
シリアル・リード・サイクルに必要なSCLKの数は、異なるリード・モードの組み合せ、TAGビット、および、例えばオート・チャネル選択のようなチャネル選択方法に依存します。これを表6に示します。
35
LogicDelay
< = 8 .3ns
ADS 8327 #3
QD
CLK
LogicDelay
< = 8 .3 ns
ADS 8327 #2
QD
CLK
LogicDelay
< = 8 .3 ns
ADS 8327 # 1
QD
CLK
SCLK input
SDO
SDO
SDO
CDI
CDI
CDI
Serial datainput
Serial dataoutput
LogicDelay
Plus PAD2.7 ns
LogicDelay
Plus PAD2.7 ns
LogicDelay
Plus PAD8.3 ns
LogicDelay
Plus PAD8.3 ns
LogicDelay
Plus PAD2.7 ns
LogicDelay
Plus PAD8.3 ns
図 63. チェイン・モード設定のコンバータを通した代表的遅延
図 64. リセット状態でのデジタル出力
IntermediateLatch
SAR ShiftRegister
OutputRegister
Conversion Clock
SW RESET
PORSET
Latched by Falling Edge of CSLatched by End OfConversion
EOC
SDO
SCLK
CS
EOC
CDI
リセット
本コンバータには、パワーオン・リセット(POR)とCFR_D0を使用するソフトウェア・リセットの、2つのリセット・メカニズムがあります。これら2つのメカニズムはデバイス内部でNORされています。リセット(ソフトウェアあるいはPOR)が発生すると、すべてのレジスタ・データはデフォルト値(全部1)に設定され、SDO出力も(リセット直後のサイクルにて)すべて1に設定されます。また、状態マシーンはパワーオン状態にリセットされます。
コンバータ間のSCLKスキューと、チェイン・モードに設定されたコンバータを通したデータ・パス遅延により、SCLKの最大周波数は影響されます。また、遅延は電源電圧および負荷によって影響されます。したがって、デバイスがチェイン・モードに設定された場合、SCLKを低速化する必要があるかもしれません。
36
HostProcessor
FS/CSSDOSDISCLK
CONVST
EOC/INT
4.7 µF
+VA REF+ AGND IN+ IN–
4.7 µF
Analog +5 V
InterfaceSupply +1.8 V
BDGND
+VBD
Analog Input
ADS8327
REF–
10 µF
Ext Ref Input
AGND
AGND
図 65. 標準的な回路構成
アプリケーション情報 標準的な接続
37
Orderable Device Status (1) PackageType
PackageDrawing
Pins PackageQty
Eco Plan (2) Lead/Ball Finish MSL Peak Temp (3)
ADS8327IBPW ACTIVE TSSOP PW 16 90 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IBPWG4 ACTIVE TSSOP PW 16 90 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IBPWR ACTIVE TSSOP PW 16 2000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IBPWRG4 ACTIVE TSSOP PW 16 2000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IBRSAR ACTIVE QFN RSA 16 3000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IBRSARG4 ACTIVE QFN RSA 16 3000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IBRSAT ACTIVE QFN RSA 16 250 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IBRSATG4 ACTIVE QFN RSA 16 250 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IPW ACTIVE TSSOP PW 16 90 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IPWG4 ACTIVE TSSOP PW 16 90 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IPWR ACTIVE TSSOP PW 16 2000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IPWRG4 ACTIVE TSSOP PW 16 2000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IRSAR ACTIVE QFN RSA 16 3000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IRSARG4 ACTIVE QFN RSA 16 3000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IRSAT ACTIVE QFN RSA 16 250 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8327IRSATG4 ACTIVE QFN RSA 16 250 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IBPW ACTIVE TSSOP PW 16 90 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IBPWG4 ACTIVE TSSOP PW 16 90 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IBPWR ACTIVE TSSOP PW 16 2000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IBPWRG4 ACTIVE TSSOP PW 16 2000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IBRSAR ACTIVE QFN RSA 16 3000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IBRSARG4 ACTIVE QFN RSA 16 3000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IBRSAT ACTIVE QFN RSA 16 250 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IBRSATG4 ACTIVE QFN RSA 16 250 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IPW ACTIVE TSSOP PW 16 90 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
パッケージ情報
38
Orderable Device Status (1) PackageType
PackageDrawing
Pins PackageQty
Eco Plan (2) Lead/Ball Finish MSL Peak Temp (3)
ADS8328IPWG4 ACTIVE TSSOP PW 16 90 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IPWR ACTIVE TSSOP PW 16 2000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IPWRG4 ACTIVE TSSOP PW 16 2000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IRSAR ACTIVE QFN RSA 16 3000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IRSARG4 ACTIVE QFN RSA 16 3000 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IRSAT ACTIVE QFN RSA 16 250 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
ADS8328IRSATG4 ACTIVE QFN RSA 16 250 Green (RoHS &no Sb/Br)
CU NIPDAU Level-2-260C-1 YEAR
パッケージ情報
(1) マーケティング・ステータスは次のように定義されています。
ACTIVE:製品デバイスが新規設計用に推奨されています。
LIFEBUY:TIによりデバイスの生産中止予定が発表され、ライフタイム購入期間が有効です。
NRND:新規設計用に推奨されていません。デバイスは既存の顧客をサポートするために生産されていますが、TIでは新規設計にこの部品を使用することを推奨していません。
PREVIEW:デバイスは発表済みですが、まだ生産が開始されていません。サンプルが提供される場合と、提供されない場合があります。
OBSOLETE:TIによりデバイスの生産が中止されました。
(2) エコ・プラン - 環境に配慮した製品分類プランであり、Pb-Free(RoHS)、Pb-Free(RoHS Expert)およびGreen(RoHS & no Sb/Br)があります。最新情報および製品内容の詳細については、http://www.ti.com/productcontentでご確認ください。
TBD:Pb-Free/Green変換プランが策定されていません。
Pb-Free (RoHS):TIにおける“Lead-Free”または“Pb-Free”(鉛フリー)は、6つの物質すべてに対して現在のRoHS要件を満たしている半導体製品を意味します。これには、同種の材質内で鉛の重量が0.1%を超えないという要件も含まれます。高温で半田付けするように設計されている場合、TIの鉛フリー製品は指定された鉛フリー・プロセスでの使用に適しています。
Pb-Free (RoHS Exempt):この部品は、1)ダイとパッケージの間に鉛ベースの半田バンプ使用、または 2)ダイとリードフレーム間に鉛ベースの接着剤を使用、が除外されています。それ以外は上記の様にPb-Free(RoHS)と考えられます。
Green (RoHS & no Sb/Br):TIにおける“Green”は、“Pb-Free”(RoHS互換)に加えて、臭素(Br)およびアンチモン(Sb)をベースとした難燃材を含まない(均質な材質中のBrまたはSb重量が0.1%を超えない)ことを意味しています。
(3) MSL、ピーク温度 -- JEDEC業界標準分類に従った耐湿性レベル、およびピーク半田温度です。
重要な情報および免責事項:このページに記載された情報は、記載された日付時点でのTIの知識および見解を表しています。TIの知識および見解は、第三者によって提供された情報に基づいており、そのような情報の正確性について何らの表明および保証も行うものではありません。第三者からの情報をより良く統合するための努力は続けております。TIでは、事実を適切に表す正確な情報を提供すべく妥当な手順を踏み、引き続きそれを継続してゆきますが、受け入れる部材および化学物質に対して破壊試験や化学分析は実行していない場合があります。TIおよびTI製品の供給者は、特定の情報を機密情報として扱っているため、CAS番号やその他の制限された情報が公開されない場合があります。
39
LAND PATTERNRSA(S-PQFP-N16)
40
4040064/F 01/97
0,65 M0,10
0,10
0,25
0,500,75
0,15 NOM
Gage Plane
28
9,80
9,60
24
7,90
7,70
2016
6,60
6,40
0,30
6,606,20
8
0,19
4,304,50
7
0,15
14
A
1
1,20 MAX
14
5,10
4,90
8
3,10
2,90
A MAX
A MIN
DIMPINS **
0,05
4,90
5,10
Seating Plane
0°–8 °
A. 直線寸法はすべてミリメートルです。 B. 本図は予告なしに変更することがあります。 C. 本体の寸法には、0,15を超えるモールド・フラッシュや突起は含まれません。 D. JEDEC MO-153に準拠。
注:
メカニカル・データ
(SLAS415B)
PW(R-PDSO-G**) PLASTIC SMALL-OUTLINE PACKAGE14 PINS SHOWN
ご注意 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社(以下TIJといいます)及びTexas Instruments Incorporated(TIJの親会社、以下TIJないしTexas Instruments Incorporatedを総称してTIといいます)は、その製品及びサービスを任意に修正し、改善、改良、その他の変更をし、もしくは製品の製造中止またはサービスの提供を中止する権利を留保します。従いまして、お客様は、発注される前に、関連する最新の情報を取得して頂き、その情報が現在有効かつ完全なものであるかどうかご確認下さい。全ての製品は、お客様とTIJとの間に取引契約が締結されている場合は、当該契約条件に基づき、また当該取引契約が締結されていない場合は、ご注文の受諾の際に提示されるTIJの標準販売契約約款に従って販売されます。 TIは、そのハードウェア製品が、TIの標準保証条件に従い販売時の仕様に対応した性能を有していること、またはお客様とTIJとの間で合意された保証条件に従い合意された仕様に対応した性能を有していることを保証します。検査およびその他の品質管理技法は、TIが当該保証を支援するのに必要とみなす範囲で行なわれております。各デバイスの全てのパラメーターに関する固有の検査は、政府がそれ等の実行を義務づけている場合を除き、必ずしも行なわれておりません。 TIは、製品のアプリケーションに関する支援もしくはお客様の製品の設計について責任を負うことはありません。TI製部品を使用しているお客様の製品及びそのアプリケーションについての責任はお客様にあります。TI製部品を使用したお客様の製品及びアプリケーションについて想定されうる危険を最小のものとするため、適切な設計上および操作上の安全対策は、必ずお客様にてお取り下さい。 TIは、TIの製品もしくはサービスが使用されている組み合せ、機械装置、もしくは方法に関連しているTIの特許権、著作権、回路配置利用権、その他のTIの知的財産権に基づいて何らかのライセンスを許諾するということは明示的にも黙示的にも保証も表明もしておりません。TIが第三者の製品もしくはサービスについて情報を提供することは、TIが当該製品もしくはサービスを使用することについてライセンスを与えるとか、保証もしくは是認するということを意味しません。そのような情報を使用するには第三者の特許その他の知的財産権に基づき当該第三者からライセンスを得なければならない場合もあり、またTIの特許その他の知的財産権に基づきTI からライセンスを得て頂かなければならない場合もあります。 TIのデータ・ブックもしくはデータ・シートの中にある情報を複製することは、その情報に一切の変更を加えること無く、かつその情報と結び付られた全ての保証、条件、制限及び通知と共に複製がなされる限りにおいて許されるものとします。当該情報に変更を加えて複製することは不公正で誤認を生じさせる行為です。TIは、そのような変更された情報や複製については何の義務も責任も負いません。
TIの製品もしくはサービスについてTIにより示された数値、特性、条件その他のパラメーターと異なる、あるいは、それを超えてなされた説明で当該TI製品もしくはサービスを再販売することは、当該TI製品もしくはサービスに対する全ての明示的保証、及び何らかの黙示的保証を無効にし、かつ不公正で誤認を生じさせる行為です。TIは、そのような説明については何の義務も責任もありません。 TIは、TIの製品が、安全でないことが致命的となる用途ないしアプリケーション(例えば、生命維持装置のように、TI製品に不良があった場合に、その不良により相当な確率で死傷等の重篤な事故が発生するようなもの)に使用されることを認めておりません。但し、お客様とTIの双方の権限有る役員が書面でそのような使用について明確に合意した場合は除きます。たとえTIがアプリケーションに関連した情報やサポートを提供したとしても、お客様は、そのようなアプリケーションの安全面及び規制面から見た諸問題を解決するために必要とされる専門的知識及び技術を持ち、かつ、お客様の製品について、またTI製品をそのような安全でないことが致命的となる用途に使用することについて、お客様が全ての法的責任、規制を遵守する責任、及び安全に関する要求事項を満足させる責任を負っていることを認め、かつそのことに同意します。さらに、もし万一、TIの製品がそのような安全でないことが致命的となる用途に使用されたことによって損害が発生し、TIないしその代表者がその損害を賠償した場合は、お客様がTIないしその代表者にその全額の補償をするものとします。 TI製品は、軍事的用途もしくは宇宙航空アプリケーションないし軍事的環境、航空宇宙環境にて使用されるようには設計もされていませんし、使用されることを意図されておりません。但し、当該TI製品が、軍需対応グレード品、若しくは「強化プラスティック」製品としてTIが特別に指定した製品である場合は除きます。TIが軍需対応グレード品として指定した製品のみが軍需品の仕様書に合致いたします。お客様は、TIが軍需対応グレード品として指定していない製品を、軍事的用途もしくは軍事的環境下で使用することは、もっぱらお客様の危険負担においてなされるということ、及び、お客様がもっぱら責任をもって、そのような使用に関して必要とされる全ての法的要求事項及び規制上の要求事項を満足させなければならないことを認め、かつ同意します。 TI製品は、自動車用アプリケーションないし自動車の環境において使用されるようには設計されていませんし、また使用されることを意図されておりません。但し、TIがISO/TS 16949の要求事項を満たしていると特別に指定したTI製品は除きます。お客様は、お客様が当該TI指定品以外のTI製品を自動車用アプリケーションに使用しても、TIは当該要求事項を満たしていなかったことについて、いかなる責任も負わないことを認め、かつ同意します。
弊社半導体製品の取り扱い・保管について 半導体製品は、取り扱い、保管・輸送環境、基板実装条件によっては、お客様での実装前後に破壊/劣化、または故障を起こすことがあります。 弊社半導体製品のお取り扱い、ご使用にあたっては下記の点を遵守して下さい。 1. 静電気 素手で半導体製品単体を触らないこと。どうしても触る必要がある
場合は、リストストラップ等で人体からアースをとり、導電性手袋等をして取り扱うこと。
弊社出荷梱包単位(外装から取り出された内装及び個装)又は製品単品で取り扱いを行う場合は、接地された導電性のテーブル上で(導電性マットにアースをとったもの等)、アースをした作業者が行うこと。また、コンテナ等も、導電性のものを使うこと。
マウンタやはんだ付け設備等、半導体の実装に関わる全ての装置類は、静電気の帯電を防止する措置を施すこと。
前記のリストストラップ・導電性手袋・テーブル表面及び実装装置類の接地等の静電気帯電防止措置は、常に管理されその機能が確認されていること。
2. 温・湿度環境 温度:0~40、相対湿度:40~85%で保管・輸送及び取り扱
いを行うこと。(但し、結露しないこと。)
直射日光があたる状態で保管・輸送しないこと。 3. 防湿梱包 防湿梱包品は、開封後は個別推奨保管環境及び期間に従い基板実装
すること。 4. 機械的衝撃 梱包品(外装、内装、個装)及び製品単品を落下させたり、衝撃を
与えないこと。 5. 熱衝撃 はんだ付け時は、最低限260以上の高温状態に、10秒以上さら
さないこと。(個別推奨条件がある時はそれに従うこと。) 6. 汚染 はんだ付け性を損なう、又はアルミ配線腐食の原因となるような汚
染物質(硫黄、塩素等ハロゲン)のある環境で保管・輸送しないこと。 はんだ付け後は十分にフラックスの洗浄を行うこと。(不純物含有
率が一定以下に保証された無洗浄タイプのフラックスは除く。)
以上
Copyright 2009, Texas Instruments Incorporated 日本語版 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社
2001.11
IMPORTANT NOTICE IMPORTANT NOTICE
TAPE AND REEL INFORMATION
*All dimensions are nominal
Device PackageType
PackageDrawing
Pins SPQ ReelDiameter
(mm)
ReelWidth
W1 (mm)
A0(mm)
B0(mm)
K0(mm)
P1(mm)
W(mm)
Pin1Quadrant
ADS8327IBPWR TSSOP PW 16 2000 330.0 12.4 6.9 5.6 1.6 8.0 12.0 Q1
ADS8327IBRSAR QFN RSA 16 3000 330.0 12.4 4.3 4.3 1.5 8.0 12.0 Q2
ADS8327IBRSAT QFN RSA 16 250 180.0 12.4 4.3 4.3 1.5 8.0 12.0 Q2
ADS8327IPWR TSSOP PW 16 2000 330.0 12.4 6.9 5.6 1.6 8.0 12.0 Q1
ADS8328IBRSAT QFN RSA 16 250 180.0 12.4 4.3 4.3 1.5 8.0 12.0 Q2
ADS8328IPWR TSSOP PW 16 2000 330.0 12.4 6.9 5.6 1.6 8.0 12.0 Q1
PACKAGE MATERIALS INFORMATION
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Pack Materials-Page 1
*All dimensions are nominal
Device Package Type Package Drawing Pins SPQ Length (mm) Width (mm) Height (mm)
ADS8327IBPWR TSSOP PW 16 2000 350.0 350.0 43.0
ADS8327IBRSAR QFN RSA 16 3000 350.0 350.0 43.0
ADS8327IBRSAT QFN RSA 16 250 210.0 185.0 35.0
ADS8327IPWR TSSOP PW 16 2000 350.0 350.0 43.0
ADS8328IBRSAT QFN RSA 16 250 210.0 185.0 35.0
ADS8328IPWR TSSOP PW 16 2000 350.0 350.0 43.0
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