使用機型 2450 SourceMeter SMU 儀器量測的 LED I-V 曲線。

電阻量測：配置儀器以正確顯示結果

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• 傳統的儀器具有許多按鈕和深層的功能表，對配置基本的電導率或電阻量測而言會是相當大的挑戰。

• 現代化的介面可以繪製出電阻的趨勢圖，並在介面上以正確的單位來顯示電阻。.

1測試兩個終端裝置需要：

• 輸出電壓或電流

• 在多個點上量測產生的電流或電壓以建立 I-V 曲線

使用者可從儀器面板設定 I-V 特性，或使用電腦進行相關的程式設計。但是，為 PC 的應用進行程式設計需要開發測試軟體並瞭解儀器的程式設計指令，這可能是極為耗時的程序。不論是新手，或者甚至是頻繁使用的使用者也都可能會對從面板進行儀器設定的步驟感到困惑。

6 個常見的直流測試最大化您的生產力

更有效率地執行直流 I-V 特性分析的技巧

如吉時利機型 2450 觸控式螢幕 SourceMeter® SMU 儀器等現代化儀器可以顯示使用者介面上的電阻率。

針對電子產品，資料記錄功能會隨時間變化來監測裝置行為，以找出待測裝置 (DUT) 因環境條件變化 (如溫度、光照、自加熱等) 而出現的問題。典型的應用包括：

• 感應器研發• 溫度監控• 元件漂移測試

• 加速的壓力測試

設定儀器以隨著時間變化來記錄資料可能會是極為複雜的程序，特別是在不瞭解配置功能表和按鈕的情況下。

隨時間變化記錄資料

3 資料記錄功能會收集溫度和直流電壓。

分析三終端裝置的 I-V 參數特性

分析 FET 電流 - 電壓 (I-V) 參數對於確保在預期應用中正確運作和符合規格而言是非常重要的程序。這些 I-V 測試可能包括：

• 閘極洩漏• 擊穿電壓• 臨界電壓• 傳輸特性• 漏極電流• 導通電阻

FET 測試通常需要使用多種儀器，但整合、程式設計和同步多部儀器卻可能是乏味且耗時的工作。

考慮這些參數，以取得正確的結果：

• 儀器和裝置的時序行為• 設定適當的範圍•

更環保、更有效率的半導體裝置、積體電路及電源系統需要進行測試，才能評估如最大功率、電池放電速率、功率效率與電流，或裝置關斷狀態電流等參數。這需要時間來正確地配置多部儀器，以在多個測試點上同步執行輸出和量測，使用者可能難以直接從儀器面板 (適合用於清除資料或進行單調的上升和下降) 直接計算功率或效率。

某些儀器可直接顯示電源和太陽能電池的最大功率、短路電流和開路電壓。

適用於平板電腦的應用程式 (如吉時利 Ivy) 提供即時視覺化和 三終端「曲線系列」的控制等功能。

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開機異常的範例 (左側為暫時性的輸出電壓驟降，右側則為永久性的開機故障。)

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• 電壓和電流的大小調整、監控、排序和追蹤在分析電源供應器的暫態效能上是不可或缺的功能。

• 傳統的量測工具缺乏量動測態事件的能力。 • 暫態量測需要快速的數位化系統，可快速地擷取暫態。

擷取暫態量測

更快速地學習、更聰明地工作、更輕鬆地創新 (Learn faster; Work smarter; Invent easier®)

現代化的測試儀器提供各種直覺的操作方式和更快的回應時間，同時還能兼具量測的準確度。以圖形化使用者介面為基礎的觸控式螢幕儀器和多種軟體工具，可顯著地縮減學習曲線，進而帶動更快速的回應時間，並加速研發週期。當然，吉時利儀器和軟體擁有突破性的「觸控、測試、創新」(Touch、Test、Invent ) 核心理念，使其在此技術領域的尖端地位能屹立不搖。深入瞭解吉時利如何徹底顛覆測試儀器的面貌：

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www.keithley.com。

A Tektronix Company

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量測電阻在瞭解電流變化對材料的影響、漂移，或者如超導體、石墨烯、聚合物、新電阻設計或半導體等材料上的電阻率而言非常重要。

偏移修正

FET 測試需要編寫程式或配置測試軟體，以輸出特定範圍內的電壓/電流，然後再量測電流/電壓之間的關係。

計算裝置功率和效率