CorrelacinOpera en agujeros con lodos no conductivosDeterminar tanto Rt como SwPrincipales Aplicaciones de la InduccinDescripcin de la invasin

La resistividad es una de las entradas primarias requeridas para evaluar la produccin potencial de aceite o gas natural en un pozo. Es necesaria para poder determinar la saturacin de agua, la cual a su vez se utiliza para estimar la cantidad de aceite o gas natural presente en el pozo.Esta herramienta est diseada para medir la conductividad de la formacin, teniendo la ventaja de funcionar en cualquier tipo de fluido, incluyendo lodos base aceite.Principales Aplicaciones

La herramienta de Arreglo Inductivo AIT proporciona las siguientes mediciones: Modelo dependiente de las imgenes de saturacin de agua (Sw) y de la saturacin de hidrocarburos (So). Cinco curvas bsicas de resistividad Modelo de invasin dependiente de Rt, Rxo, y dimetros de invasin interior y exterior. Modelo de resistividad e imgenes de Rwa.Mediciones del AIT

Historia de la herramienta

La familia de herramientas de arreglo inductivo (AIT) representa un paso significativo en medidas de resistividad para una amplia variedad de condiciones ambientales. El AIT difiere de las herramientas anteriores de induccin por el hecho de funcionar simultneamente en tres diferentes frecuencias. Las herramientas anteriores de induccin, funcionan con el mismo principio bsico pero difieren en que funcionan con una sola frecuencia a la vez y tiene una combinacin de arreglos de diversas caractersticas.

Con ese tipo de arreglo, se obtienen 28 seales de medida con 3 resoluciones verticales y 5 profundidades de investigacin. La herramienta est formada por una serie de sensores denominados bobinas. Bsicamente se compone de un transmisor y 8 arreglos de receptores, independientes entre si.

- LA HERRAMIENTA AIT CUENTA CON 8 ARREGLOS DE RECEPTORES Y UN TRANSMISOR.- CADA ARREGLO RECEPTOR CONSTA DE UNA BOBINA RECEPTORA Y UNA DE ENFOQUE. AMBAS ESTN CONECTADAS ENTRE S EN SERIE Y EN OPOSICIN: ESTO CON EL OBJETO DE REDUCIR LA SEAL DE ACOPLAMIENTO DIRECTO ENTRE TRASMISOR-RECEPTOR, LA SEAL REMANENTE ( ERROR DE SONDA ) QUE SE DEBE CANCELAR, ESTA CANCELACIN SE HACE MEDIANTE LA CALIBRACIN MAESTRA Y SE SUSTRAE DE TODAS LAS MEDICIONES .

AIT-B/CAIT-H

Principio de Induccin Paso 1

Principio de Induccin Paso 2

Principio de Induccin Paso 3

Principio de Induccin Paso 1,2 y 3

Efecto Skin Inductancia Mutua Condiciones ambientales Acoplamiento directoCalidad de la calibracin de la herramientaFactores que afectan la respuesta de la herramienta

El Efecto Pelicular (Skin)Sin CorrienteCorriente AltaCualquier conductor presenta el efecto skin Este se debe a que la corriente tiende a circular cerca de la superficie del conductor. En altas frecuencias un buen conductor tendr un rendimiento menor. En el centro del alambre se presentan lneas de flujo magntico, esto produce un voltaje opuesto, que reduce el flujo de la corriente elctrica.

El Efecto Pelicular (Skin)

Los campos creados por cada espira individual interactan uno con otro, cambiando la magnitud y fase de la seal recibidaInductancia Mutua

Temperatura

Presin

Cualquier objeto metlico dentro del rea de respuesta (cerca del transmisor o receptor)Efectos Ambientales

Acoplamiento DirectoEs la seal directa inducida en la bobina receptora por el transmisor.

El diseo de las bobinas receptoras (mutuamente balancedas) elimina el acoplamiento directo mientras la bobina se encuentre en el aire. Cuando la herramienta se encuentra en la formacin, la seal de acoplamiento directo aparece como resultado de los efectos de la temperatura.

Fase de la Induccin - en teoraIRITILPrincipios de Induccin:La seal-R est directamente relacionada a la conductividad de la formacin.La seal-R est 180 grados fuera de fase con respecto a la corriente del transmisorCompensacin por efecto de inductancia Mutua, Efecto Skin y Acoplamiento Directo

Fase real de la InduccinITIXIformacionIRIL La seal-R no est exactamente a 180 grados fuera de fase La diferencia entre la seal R terica y la real se debe al efecto Skin, al acoplamiento directo y a la inductancia mutua. A esta diferencia se le llama seal X Midiendo la fase y la magnitud de las seales R y X, se puede corregir la seal de la formacin por los efectos antes mencionados

Borehole CorrectionCalibracinSalidas de Conductividad a las 5 Prof. De Inv. 10, 20, 30, 60 y 90 in.Software WeigtedCorregidas al Modelo de BornAl Diagrama de Bloques AnteriorModelo de InvestigacinRT RXO 28 SealesMultiplicacin de las Seales por su Ganancia y su OffsetSi colocamos el Rwa adecuado y el procesamiento ALL REST, obtendremos: el Perfil de Invasin, RT y RxoModelo de Born

En la medida en que las variables del agujero sean bien conocidas, mejor y ms funcional ser la correccin por este efecto Borehole CorrectionDatos CorregidosComparacin con Modelos de ResistividadAjuste de VariablesCmCfrxSeales desondaModelo de BornCorreccin por agujero mediante el Forward Modeling

Se puede calcular de una cantidad de lodo medida en superficie. (esto es un cmputo lineal y no reflejar ninguna de las caractersticas de la profundidad-relacionadas con el lodo. Se puede medir con una herramienta llamada AMS. Se puede computar utilizando el proceso de la inversin si se conocen r y x. Se puede asumir como una constante basada en el tamao de la barrena. Se puede determinar mediante el modelo de inversin, si se conoce Cm y X. Puede ser una entrada a partir de una medida del caliper. Radio del Agujero (r)Conductividad del lodo (Cm) Puede ser conocido basado en el tamao del Standoff. Se puede determinar mediante el modelo de inversin, si se conoce r y CmStandoff (x)

Las 28 medidas de conductividad son corregidas por agujero y combinadas mediante un programa de ponderacion en la direccion radial y profundidad para producir un juego de cinco curvas

Software weighted: es un software de ponderacion encargado de asignar un porcentaje de aportacion a las diferentes seales provenientes del pozo de tal manera que la suma de todas las aportaciones de las seales se obtiene el 100%.X1 + x2 + Xn = 1 = 100%Software Weighted

Principales ProcesamientosCORRECCIN POR EFECTO DEAGUJERO TIENE POR OBJETO CUANTIFICAR Y ELIMINAR EL EFECTO DEL AGUJERO DE LAS SEALES DE CONDUCTIVIDAD. SE EFECTA ANTES QUE CUALQUIER OTRO PROCESAMIENTO.CON ESTE PROCESAMIENTO SE PRODUCEN 3 JUEGOS DE REGISTROS. CADA JUEGO CONTIENE 5 REGISTROSRESISTIVOS CON PROFUNDIDADES DE INVESTIGACIN DE 10 , 20, 30, 60 Y 90 PULGADAS .PROPORCIONA LA INFORMACIN PARA LA ELABORACINDE IMGENES A COLOR .PROPORCIONA 4 SALIDAS DE GRAN VALOR INTERPRE-TATIVO : RXO, RT, R1 Y R2. ESTOS LTIMOS CORRESPONDEN A VALORES AL INICIO Y FIN DE LA ZONA DE TRANSICIN .REGISTROS DE RESISTIVIDADBSICOSPERFIL RADIALPARAMETRIZACIN RADIAL

Procesamiento del Perfil RadialPERFIL RADIAL .YA QUE ESTE PROCESAMIENTO SE ALIMENTA NICAMENTE DE UN JUEGO DE SALIDASDEL MCSP (MULTICHANNEL SIGNAL PROCESOR) DEBE TENERSE LA SEGURIDAD DEQUE EL VALOR DEL PARMETRO ABLM ES EL CORRECTO.CON ESTE PROCESAMIENTO SE GENERAN LAS IMGENES A COLOR, DE LAS CUALESLAS DE RESISTIVIDAD SON LAS NICAS QUE SE PUEDEN OBTENER DIRECTAMENTE DEL AIT. SI SE AGREGA UNA ENTRADA CON LA INFORMACIN DE LA POROSIDAD SE PUEDE OBTENER UNA IMAGEN DE RWA.

Procesamiento de Parametrizacion RadialPARAMETRIZACIN RADIAL .LA SELECCIN CORRECTA DEL PARMETRO ARPM PERMITIR ESTA GRAFICACIN. ESTE PROCESAMIENTO PUEDE ELIMINARSE DANDO AL PA-RMETRO ASAP EL VALOR 0.ESTE PROCESAMIENTO PROPORCIONA 4 SALIDAS DE GRAN VALOR INTERPRETATIVO:RXO, RT, D1 Y D2 ( VALORES INICIAL Y FINAL DE LA ZONA DE TRANSICIN ). RXO Y RT SE GRAFICAN JUNTO CON LAS CURVAS DE INDUCCIN EN LOS TRACKS II Y III, MIENTRAS QUE D1 Y D2 SE GRAFICAN COMO IMGEN EN EL TRACK I .

Parmetros de control de Procesamientos de productosAAPL : AIT ANSWER PRODUCT LEVEL (solamente en Depth, Log/View)Este parmetro, en Depth Log y Depth View, controla que procesamientos sevan a aplicar a los datos AIT:AEBC: AIT Enable Bhole CorrectionAEBL: AIT Enable Basic LogsAERF: AIT Enable Radial ProfilingAERP: AIT Enable Radial Parameteri zation (solo PB Recomp)ASAP: AIT Suspend Answer Product ProcessingEn Playback no se usa AAPLy para controlar parte de los procesamientos AIT se emplean estos parmetros

ABHM: AIT Bhole Correction ModeGCSE = Generalized Caliper Selection

Cuando GCSE = BIT_SIZE se requiere el valor de BS. Se usa el calibrador co-.mo entrada para la correccin por efec-to de agujero cuando el modo de esta es la opcin 0_Compute MudResistivity)ACEN: AIT Tool Centering FlagAMRF: AIT Mud Resistivity FactorASTA: AIT Tool StandoffBS: Bit SizeBS: Bit SizeParmetros para la correccin por efecto de agujero

BHT: Bottom Hole temperature

SHT: Surface Hole Temperature

TD: Total depthGTSE = Generalized Temperature Selection

LINEAL_ESTIMATEGRSE = Generalized Mud Resistivity Selection

CHART_GEN_9RMS: Resistivity Mud SampleMST: Mud Sample TemperatureParmetros para la correccin por efecto de agujero

Parmetros para los Registros BsicosEste parmetro controla la entrada de las 28 seales corregidas porefecto de agujero al algoritmo del Procesador Multicanal de Seales,para que este produzca juegos desalidas de induccin con resolucio-nes verticales de 1, 2 y 4 pis.

ABLM = AIT Basic Log Mode Opciones:0_One1_Two2_Four3_One_andTwo4_One_and_Four5_Two_andFour6_One_Two_and_FourDefault

Parmetros para el control del procesamiento del Perfil Radial.ARPM: AIT Radial Processing ModeBHT: Bottom Hole TemperatureBS: Bit SizeFEXP: Form Factor ExponentFNUM: Form factor NumeratorFPHI: Form Factor Porosity SourceGCSE: Generalized Caliper SelectionGTSE: Generalized Temperature SelectionMFST: Mud Filtrate Sample TemperatureMST: Mud Sample TemperatureRMFS:Resistivity of Mud Filtrate SampleRW: Resistivity of connate waterSHT: Surface Hole temperatureTD: Total Depth

Parmetros ms comunes y criterios de seleccin.

Parmetros ms comunes y criterios de seleccin.

Parmetros ms comunes y criterios de seleccin.

Velocidad de registro mxima recomendada 3600 ft/hr o 18 m/min

Posicin de la herramienta El AIT puede funcionar consistentemente en el agujero cuando se corre centralizada. En pozos desviados (agujeros con desviacin mayor de 10 a 15 grados) la herramienta se debe correr con standoffs del mayor tamao posible.

Hacer una cuidadosa seleccin de los parmetros involucrados en las correccines .

Se recomienda utilizar rodilla flexible cuando el AIT se combina con alguna herramienta que se requiera correrla excentralizada.Para la herramienta

Limites operacionales

Temperatura del agujero 350 F

Tamao del agujero Minimo 4.75 in para el AIT-B Aun no se ha establecido el dimetro mximo del agujero. En agujeros grandes se hacen correcciones grandes y se obtienen medidas bajas.

Pobre correccin por agujeroContaminacin del lodo arreglo 8Deslizamiento de standoffCorrecciones por agujero demasiado grandes, requieren datos correctos de Rm, Posicin de la herramienta y tamao del agujeroExamine la seal para ver si hay ruido que pueda causar una repetibilidad pobre y los puntos donde apareceRevise si la tensin causa el movimiento errtico de la herramienta, que causa una repetibilidad pobre

*Determinacin de Rt. Rt es un valor fundamental en la interpretacin de registros. Este es un elemento importante en la ecuacin de Archie para calcular la saturacin. Descripcin de invasin. La invasin ayuda a determinar la presencia de hidrocarburos desplazados

Anlisis de capas delgadas.- Al disminuir las reservas mundiales de hidrocarburos, se vuelve ms importante poder encontrar los yacimientos ms pequeos, los cuales pudieron no ser detectados por las generaciones previas de herramientas.

Correlacin. La correlacin de pozo a pozo ayuda a conocer las condiciones del yacimiento. Esta zona est ms somera o profunda que en los pozos anteriores? Se ha movido el contacto agua-aceite?*Teora Bsica de la InduccinEmpecemos con un anlisis simple del problema de la induccin. Usando un arreglo simple de 2 bobinas, consistente de una sola bobina transmisora y una sola bobina receptora.

La bobina transmisora est sujeta a la accin de una corriente alterna (IT). Esta corriente induce un campo electromagntico (campo magntico primario) en la formacin (HT). El campo electromagntico alterno induce un voltaje y causa que fluya una corriente en la formacin, en lo que se conoce como espira de tierra. La espira de tierra o corrientes de Eddy (IL), fluyen en trayectorias circulares coaxiales con el agujero del pozo. La corriente de tierra (IL) tendr un retrazo de 90 grados con respecto a a la corriente del transmisor (IT). En al formacin hay un nmero infinito de trayectorias para el flujo de las corrientes de Eddy.

**El flujo de las corrientes de Eddy por las espiras de tierra, genera un campo electromagntico secundario, el cual induce un voltaje en la bobina receptora y ocasiona que fluya por ella una corriente que tendr un retrazo (diferencia de fase) de 90 grados con respecto a la corriente de la espira de formacin y de 180 grados con respecto a la corriente del transmisor; a esta corriente que es proporcional a la conductividad de la formacin se la conoce como seal R.**El gran numero de seales disponibles por la herramienta AIT sugieren que una comparacin inteligente podra identificar una mala seal del arreglo.Tal comparacin de cada arreglo con sus vecinos se puede hacer mediante una inspeccin visual o matemtica directamente en el registro, si existe un intervalo grande de registro sin seal del agujero y una formacin conocida de conductividad cero y cualquier arreglo fuera compensado respecto a los otros debido a una falla del transmisor o del receptor, esto seria fcilmente evidenciado. Sin embargo, es necesario determinar la calidad en los niveles de la conductividad de la formacin con excepcin de cero, y en la presencia del lquido conductor de la perforacin. Esto complica la inspeccin, puesto que el efecto de la perforacin sobre un arreglo de corto-espaciamiento ser ms grande que para uno con el espaciamiento largo, y la magnitud de la seal de la perforacin es una funcin de la resistencia del lodo, del tamao de la perforacin, y de la posicin de la herramienta en el agujero.

Las herramientas y los sistemas de registro modernos de adquisicin han mejorado perceptiblemente nuestra capacidad de verificar la validez del registro con las pruebas electrnicas internas. Incluso as pues, cada dispositivo de registro tiene cierto modo de fallo que pueda producir un registro que "parezca superficialmente bueno," pero que no lo sea.

El monitoreo de los arreglos se muestra en la parte izquierda del carril 1 como mapa de color contra profundidad. Este monitor muestra la comparacin calificada de cada correccin por agujero realizada por cada arreglo, cuando existe una diferencia de un arreglo respecto a los arreglos cercanos es indicado con un cambio de color. Cada cambio incremental del color verde bsico representa una unin mal hecha. El verde profundo representa un patrn coherente deseable, mientras que la degradacin causa un cambio hacia el amarillo.

El cociente de la seal del agujero/formacin (BFSR) se muestra en el resto del carril 1. El desarrollo de la curva BFSR se muestra con un patrn punteado para indicar que las correcciones por agujero empiezan a ser grandes para la produccin de un registro exacto de 10 pulgadas de investigacin. La codificacin cambia a negro para indicar la regin donde la definicin exacta del tamao del agujero, de la resistividad del lodo y de la posicin de la herramienta son establecidos correctamente.

El centro del formato contiene las muestras de las conductividades de los arreglos sin procesar as que pueden ser examinadas en busca de ruido. La presencia de pocos puntos de ruido en un solo arreglo no ser necesariamente visible en los registros de salida, puesto que cada una de los cinco curvas de registro del AIT utiliza las 28 seales de conductividad crudas medidas por los arreglos.