Download - NSTDA Testing Service Catalogue
รวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน
for IndustriesTesting Services
Testing Services for Industries
สมภาษณพเศษ 6รวมบรการวเคราะหทดสอบ1.ElectricalandElectronicProductsTestingCenter(PTEC)ศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส 10 บรการทดสอบมาตรฐานดานความเขากนไดทางแมเหลกไฟฟา 11 บรการสอบเทยบ 182.NationalMetalandMaterialsTechnologyCenter(MTEC)ศนยเทคโนโลยโลหะและวสดแหงชาต 21 หองปฏบตการเทคนคทางชวภาพสาหรบวสด 22 หองปฏบตการทดสอบสมบตทางไฟฟาของวสด 23 หองปฏบตการทดสอบสมบตทางกล 24 หองปฏบตการจลทรรศนแบบแสง 26 หองปฏบตการวเคราะหลกษณะเฉพาะของผง 28 หองปฏบตการจลทรรศนอเลกตรอนแบบสแกนนงและจลวเคราะห 29 หองปฏบตการสเปกโตรสโคปแบบสน 31 หองปฏบตการวเคราะหสมบตทางความรอนของวสด 33 หองปฏบตการจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชน 35 หองปฏบตการเอกซเรยดฟแฟรกชนและเอกซเรยฟลออเรสเซนส 36 หองปฏบตการโครมาโทกราฟ 37 หองปฏบตการนวเคลยรแมกเนตกเรโซแนนซสเปกโตรสโคป 383.NationalNanotechnologyCenter(NANOTEC)ศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต 39 AtomicForceMicroscope 40 AntimicrobialTest 42 DynamicLightScattering(DLS) 43 DifferentialScanningCalorimetry(DSC) 45 FluorescenceSpectroscopy 46 ThermogravimetricAnalysis(TGA) 47 UV/VISSpectroscopy 48
สารบญ
4.NationalCenterforGeneticEngineeringandBiotechnology(BIOTEC)ศนยพนธวศวกรรมและเทคโนโลยชวภาพแหงชาต 49 บรการเครองมอวทยาศาสตร 50 บรการตรวจวเคราะหเอนไซม 51 บรการตรวจสอบหาสารออกฤทธทางชวภาพ 51 บรการวเคราะหสารสกดสาร 54 บรการโมโนโคลนอนแอนตบอด 54 บรการดานจลนทรย 54 บรการดานเชอรา 55 บรการเลยงเชอจลนทรย 56 บรการตรวจวเคราะหคณภาพแปงและผลตภณฑมนสาปะหลง 57 บรการตรวจวเคราะหไวรสโรคกง 61 บรการตรวจวเคราะหทางเคมสงแวดลอมและอาหาร 615.NationalElectronicsandComputerTechnologyCenter(NECTEC)ศนยเทคโนโลยอเลกทรอนกสและคอมพวเตอรแหงชาต 62 ศนยเทคโนโลยไมโครอเลกทรอนกส(ThaiMicroelectronicsCenter:TMEC) 63
สารบญ
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 5
สารจากผอานวยการสานกงานพฒนาวทยาศาสตรและเทคโนโลยแหงชาต (สวทช.)
รอขอมล+ภาพ
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน6
ดร.ไกรสร อญชลวรพนธ
ศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส (PTEC)สวทช.เปนหนวยงานทใหบรการวเคราะหทดสอบ(Testing)ผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส ตามมาตรฐานบงคบทงในระดบประเทศ เชนมอก.อย.กสทช.ฯลฯและการทดสอบเพอการขอเครองหมายรบรอง ทยอมรบในระดบสากล เชน เครองหมาย FCC เครองหมายULเครองหมายVCCIและเครองหมายCEmarkเปนตนเพอใหสามารถสงออกผลตภณฑประเภทไฟฟาและอเลกทรอนกสไปจาหนายยงภมภาคตางๆทวโลก ในการทดสอบผลตภณฑประเภทไฟฟาและอเลกทรอนกสตามมาตรฐานสากลนน ศนยทดสอบฯมขอบขายงานบรการทดสอบอนหลากหลายประกอบดวย การทดสอบดานความเขากนไดทาง แมเหลกไฟฟา(ElectromagneticCompatibility:EMC)การทดสอบดานความปลอดภยของผลตภณฑ(ProductSafety)การทดสอบดานประหยดพลงงาน(EnergySaving)การทดสอบเซลลแสงอาทตย(SolarCellTesting)การทดสอบเครองมอทางการแพทย(MedicalDevicesTesting) การทดสอบผลตภณฑโทรคมนาคม (TelecommunicationEquipment Testing) การทดสอบอเลกทรอนกสสาหรบรถยนต(Automotive Equipment Testing) การทดสอบอปกรณดานการ ทหาร(MilitaryEquipmentTesting)การทดสอบดานอปกรณประกอบสาหรบการบน (Avionic Equipment Testing) การทดสอบระบบอาณตสญญาณอเลกทรอนกสเปนตน ศนยทดสอบฯยงมบรการสอบเทยบ(Calibration)เครองมอวดอตสาหกรรมใหกบโรงงานอตสาหกรรมในประเทศ เพอใหสามารถทาการควบคมกระบวนการผลตไดอยางมประสทธภาพและใหบรการสอบเทยบใหกบหองปฏบตการทดสอบรายอนๆในประเทศอกดวย สาหรบกระบวนการผลตในโรงงานอตสาหกรรมนน ศนย ทดสอบฯเปนทปรกษาในการตดตงเครองจกรสาคญๆ สาหรบสายการ
ศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส (PTEC) สวทช.ผลตในโรงงานอตสาหกรรมและชวยแกไขปญหาจากการตดตงเครองจกรประเภทไฟฟาและอเลกทรอนกสใหกบโรงงานอตสาหกรรมตางๆจานวนมากอกดวย ในโครงการของภาครฐบาลทมขนาดใหญเชนระบบขนสงทางราง(RailwaySystem)นนศนยทดสอบฯไดเขาไปสนบสนนงานของโครงการตงแตขนตอนการสารวจเสนทางเดนรถการทดสอบระบบอาณตสญญาณการทดสอบอปกรณประกอบบนตวรถ ไปจนถงการตรวจวดผลกระทบทางดาน สงแวดลอมในเสนทางการเดนรถ สาหรบภาคเอกชนทเคยใชงานบรการของศนยทดสอบฯ ประกอบดวย บรษท ซเมนส(Siemens)บรษท อาคารเทล (Acatel) บรษทบอมบาเดยร(Bombadier) เปนตน สาหรบหนวยงานดานความมนคงนนศนยทดสอบฯยงไดทาหนาทในการตรวจวดคลนแมเหลกไฟฟา รบกวนจากระบบเรดาหวทยสอสารตางๆ บนดาดฟาเรอรบหลวง อกหลายลา อาท เรอหลวงจกรนฤเบศร เรอรตนโกสนทร เรอสโขทยเปนตน นอกจากนศนยทดสอบฯยงเปนผทถายทอดความรในดานมาตรฐานผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกสใหแกภาคอตสาหกรรมในประเทศอกเปนจานวนมาก โดยผานการอบรมทางวชาการ และทผานมาศนยทดสอบฯ ไดใหการอบรมกบ ภาคเอกชนทงบรษทขนาดใหญ(Inter-Brand)SMEหนวยงานภาครฐฯ และยงเปนหนวยงานทสนบสนนนกวจย ในระดบมหาวทยาลยให เกดการวจยและพฒนาเพอช วยเหลออตสาหกรรมในประเทศซงประสบปญหาดานผลตภณฑ โดยศนยทดสอบฯ ไดทาหนาทในการเชอมโยงภาคอตสาหกรรม เขากบกลมนกวจยและนกพฒนาผลตภณฑทงในประเทศและตางประเทศเพอใหสามารถยกระดบคณภาพผลตภณฑของตนไปสการรบรองมาตรฐานในระดบสากลเพอการสงออกอกดวย ดวยจดเดนของศนยทดสอบฯทไดรบการรบรองดานคณภาพตามมาตรฐานISO/IEC17025จากหนวยงานรบรองของประเทศซงเปนทยอมรบในระดบสากลทงทางดานการทดสอบและสอบเทยบในทกขอบขายงานบรการและมบคลากรซงมความเชยวชาญ เปนมออาชพ และมความเปนกลาง ทางวชาการในการทดสอบผลตภณฑตางๆ ทาใหศนยทดสอบฯไดรบความไววางใจจากภาคเอกชนและหนวยงานตาง ๆ ทงในประเทศและตางประเทศ เขามาใชบรการทดสอบและ สอบเทยบเปนจานวนมาก โดยปจจบนมบรษททเขามาใช บรการกบทางศนยทดสอบฯแลวมากกวา1,000ราย สาหรบอตสาหกรรมหรอหนวยงานตางๆทจะเขามา ใชบรการของศนยนนขอแนะนาวาควรจะเขามาทาการตดตอตงแตขนตอนของการคดคนและพฒนาผลตภณฑหรอขนตอนของการออกแบบฯโดยศนยทดสอบฯยนดทจะเปนผใหความร ทางดานมาตรฐานของผลตภณฑ และจะสนบสนนดานการทดสอบในดานตางๆเพอใหไดการรบรองตามมาตรฐานสากลซงหากอตสาหกรรมไดเขามาตดตอศนยทดสอบฯตงแตตนแลวจะทาใหสามารถลดคาใชจายในการพฒนาผลตภณฑลดเวลาในการแกไขผลตภณฑและลดความสญเสยโอกาสตางๆ ทจะตามมาอกมาก หากผลตภณฑนน ๆ ไมผานการทดสอบ ตามมาตรฐานสากลในลาดบสดทาย
ผอานวยการศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส(PTEC)
สมภาษณพเศษ
บรษท ยนแลมป จากด เปนผผลตโคมไฟฟา ชนนาของประเทศไทยผลตและสงออกโคมไฟสาหรบใชงานภายนอกอาคารมานานเกอบ 20ป ดวยมาตรฐานการผลตเปนไปตามขอกาหนดมาตรฐานสากลของ IECและมอก.ทาใหบรษทมลกคากวา 50ประเทศทวโลกโดยมฐานลกค าหลก ๆ อย ในกล มประเทศยโรปตะวนออกกลางเอเชยและอาเซยน ด วยสภาพการแข งขนท ค อนข า งส ง ในอตสาหกรรมโคมไฟชนนาของโลกซงสวนใหญเปนผผลตสญชาตในกลมประเทศยโรปบรษทฯจงใหความสาคญเกยวกบการออกแบบ วจยและพฒนาผลตภณฑใหมคณภาพเพอตอบสนองตอความตองการของตลาดดงนนจงไดร วมมอกบ ศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส(PTEC)เพอใหทาการทดสอบและพฒนาผลตภณฑส มาตรฐาน EMC (ElectromagneticCompatibility)หรอความเขากนไดทางแมเหลกไฟฟาทสามารถทางานรวมกนไดเปนปกต โดยไมกอใหเกด ผลเสยหรอผลกระทบใดๆ ตออปกรณเครองมอหรอระบบ ททางานในสภาวะสงแวดลอมแมเหลกไฟฟาเดยวกน ในอดตถงปจจบนบรษทฯโตขนมาจากการผลตโคมไฟภายนอกอาคารเปนหลกซงมเครองทดสอบวดคาแสง วดความรอน เครองทดสอบการกนนากนฝน และ อนๆ อกหลายรายการแตเรามความรเรองEMCนอยมากโดยเฉพาะความร เกยวกบการทดสอบเนองจาก เครองทดสอบEMCมมลคาคอนขางแพงและมไมกแหง ในประเทศไทยทใหบรการดานน เมอเราสงผลตภณฑ ไปทดสอบบางครงมผลทดสอบไมผาน เราไมเขาใจวา ไมผานเพราะอะไรทง ๆ ทอปกรณภายในไดมาตรฐานมอก.ทกอยางทสาคญเราไมทราบแนวทางวาจะแกไขอยางไร เมอมโอกาสไดตดตอประสานงานกบ PTECสามารถอธบายสาเหต รวมทงวธการแกไขไดอยางละเอยดและสามารถทดสอบผลตภณฑไดทงมาตรฐานไทยและมาตรฐานสากลซงเจาหนาท PTECมความรความชานาญสามารถอธบายใหเขาใจไดอยางแจมแจงชดเจน
บรษท ยนแลมป จากด
เกยวกบมาตรฐานมอก.1955-2551ทมการปรบเปลยนใหมบรษทฯมการวางแผนเปนการภายในประกอบกบไดการทดสอบทรวดเรวของPTECทาใหบรษทฯ ไดรบใบอนญาตมอก.1955-2551ภายใน 3เดอนทาใหทางเรารสกประทบใจและมความมนใจทไดรวมมอกบPTEC นบว า PTEC เป นอกหนวยงานหนงทสามารถถายทอดความรใหกบผประกอบการทาให ผ ประกอบการมองคความร และสามารถพฒนาศกยภาพเพอแขงขนกบตางประเทศได สาหรบ ในอนาคตบรษทฯ ยงคงขอรบคาปรกษากบPTECอยางตอเนองเพราะมาตรฐานตางๆรวมทงกฎเกณฑและระเบยบเกยวกบคณภาพผลตภณฑนบวนคงตองมการปรบเปลยนไปเรอยๆ
กรรมการผจดการบรษทยนแลมปจากด
คณสชาต องพาณชยกล
สมภาษณพเศษ
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน8
หองปฏบตการวเคราะหระดบนาโน ศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต(NANOTEC)คอหนวยงานดานงานวจย ทมบทบาทในการชวยขบเคลอนให ภาคธรกจสรางความสามารถในการแขงขนพฒนาขดความ สามารถของตวเองใหสงขน ดวยบรการดานเทคนค การวเคราะหทดสอบตวอยางทหลากหลายทงในดานกายภาพ เชน การวเคราะหขนาดและรปรางของวสดนาโน ดานเคม เชน ตรวจองคประกอบทางเคมของตวอยาง ดานชวภาพ เชน การทดสอบคณสมบตการ ฆาเชอแบคทเรยและการทดสอบความเปนพษตอเซลลเปนตน โดยหองปฏบตการฯมการใหบรการวเคราะหทดสอบทรองรบตวอยางจากภาคอตสาหกรรมทงในกลมอตสาหกรรมสงทออตสาหกรรมพลาสตกอตสาหกรรมอาหาร ยา และเครองสาอาง อตสาหกรรมไฟฟาอเลกทรอนกส นอกจากนยงรองรบในเรองของการวเคราะหทเกยวของกบนาโนเทคโนโลยใหหนวยงาน ภาคการศกษาดวย ดงผลงานทผานมา หองปฏบตการของเรา ทาหนาทเสมอนตรวจสอบคณภาพสนคาวาไดคณสมบตตามทกลาวอางในโฆษณาหรอไม เชนกลมสงทอนาโน
และกลมสนคาทมสมบตในการยบยงแบคทเรย ในบางกรณเรากทาหนาท เปนแผนกควซใหกบกล มธรกจ ฮารดดสไดรฟ และชนสวนอเลกทรอนกสทสงตวอยางเพอตองการทราบองคประกอบทางเคมวาตรงตามสเปค หรอไม สาหรบเครองมอตาง ๆ ทใชในการวจยและพฒนาดานนาโนเทคโนโลยนนทางหองปฏบตการฯกมการใหบรการเครองมอครบชนดมากทสดแหงหนงในประเทศ โดยเฉพาะกลองจลทรรศนประเภทตางๆทมตงแตกาลงขยายสงมากสามารถวเคราะหโครงสรางในระดบอะตอมได อาท กลอง Transmission ElectronMicroscope (TEM) กลอง Scanning ElectronMicroscope (SEM) และกลอง Atomic ForceMicroscope(AFM)เปนตน หองปฏบตการฯยงมการใหบรการเครองมอในกลมสเปกโตรสโคป(Spectroscopy)เพอวเคราะหสมบตการดดกลนคลนแมเหลกไฟฟาของตวอยางทงในชวงรงสยวชวงแสงทตามองเหนและรงสอนฟราเรดไดรวมไปถงการใหบรการเครองมอกลมโครมาโทกราฟ (Chromato graphy)เพอใชในการคดแยกสารและวเคราะหชนดและปรมาณของสารเคม เชน เครองแกสโครมาโทกราฟ ทสามารถแยกสารประกอบในอาหารและสารออกฤทธในสมนไพรเปนตน ฝากถงภาคธรกจทตองการสรางความแตกตางสรางมลคาเพมและคงประสทธภาพสนคาของตวทานเอง วา หองปฏบตการฯ ของเรามความพรอมในดานการ วจยและพฒนาเพอเปนองคประกอบหนงของความสาเรจทางธรกจของทาน
ดร.ณฐพนธ ศภกาหวหนาหองปฏบตการวเคราะหระดบนาโน
หองปฏบตการวเคราะหระดบนาโน ศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต
สมภาษณพเศษ
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 9
บรษทอนเตอรเนชนแนลแลบบอราทอรสจากดหรอ ILC เปนโรงงานรบจางผลตเครองสาอางแบบ ครบวงจรใหกบลกคาทงในประเทศและตางประเทศมานานกวา40ปILCมการพฒนาอยางตอเนองจนปจจบนILCไดรบการรบรองมาตรฐานGMP,ISO9001,ISO14001,ISO 17025 และมาตรฐานแรงงาน รวมถงการพฒนานวตกรรมความงามสนองลกคา
หองปฏบตการวเคราะหระดบนาโน ศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต
สมภาษณพเศษ
โดยในสวนของการวจยและพฒนาผลตภณฑนน ILC ไดรบบรการจากศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต(NANOTEC) ในเรองของ การวดขนาดอนภาคของ อมลชน (ครมและโลชน) เพอไดอมลชนทอนภาคเลกระดบนาโน ซงสามารถซมซาบสารบารงเขาสผวไดดบรการตอมาคอการวดซตาโพเทนเชยล(Zetapotential)คอการวดคาแนวโนมความคงตวของอมลชน เพอใหไดตารบเครองสาอางทมประสทธภาพ ความสาเรจของการพฒนาครงนทาใหILCไดรบความคมครองทรพยสนทางปญญา (IP) และตอยอด จนไดผลตภณฑ BSC TimeDefence PhytocelltecNanolotionนวตกรรมระดบนาโนผสานนวตกรรมจาก สารสกดสเตมเซลลแอปเปลสวตเซอรแลนด ทซมซาบ เขาสผวไดเรวยงขน หากดดวยตาเปลาจะมลกษณะใสแตถาสองผานเครองวดขนาดอนภาคจะเหนวาตวอยางนเปนอมลชนทมอนภาคภายในเลกมากในระดบนาโนซงมประสทธภาพในการนาพาสารบารงผวลงสผวไดงายขนและลงลกสเซลลผวไดดกวาอมลชนทวไป นคอจดเดนของนาโนโลชนนบเปนสนคาตวแรกของไทยและถอไดวาILC เปนบรษทแรกของไทยทสามารถผลตนาโนโลชน สตลาดในเชงพาณชยได ตลอดระยะเวลาเกอบ 3 ปทเขามาใชบรการ ทางเรามความประทบใจตอNANOTEC ในหลายดานทงเครองมอทถอวาเปนระดบแนวหนาของประเทศ ไดมาตรฐานระดบสากลผลตรวจหรอการวดคาทแมนยามความรวดเรวในการทางาน ไววางใจได เหมอนกบเราไดทปรกษาทดถงแมNANOTECอาจจะไมใชหนวยงานทดแลเรองการวจยและพฒนาในภาคเอกชนโดยตรง แตเปนเสมอนตวขบเคลอนใหภาคธรกจสรางความสามารถในการแขงขนและพฒนาขดความสามารถของตวเองใหสงขน
คณสมบต วนาอปถมภกลผจดการแผนกวจยILC
บรษท อนเตอรเนชนแนล แลบบอราทอรส จากด หรอ ILC
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 11
Electrical and Electronic Products Testing Center (PTEC)
ศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส (PTEC) เปนหนวยงานสงกด สานกงานพฒนาวทยาศาสตรและเทคโนโลยแหงชาต (สวทช.)กระทรวงวทยาศาสตรและเทคโนโลยปจจบนมการดาเนนโครงการเพอใหบรการวเคราะหทดสอบสอบเทยบทางานวจยรวม และเปนทปรกษาในการแกไขปญหาในภาคอตสาหกรรมไฟฟาและอเลกทรอนกสของไทยใหสามารถยกระดบมาตรฐานผลตภณฑของตนใหไดระดบสากล
โดย PTEC แบงประเภทกจกรรมหลกออกไดเปน 3 กลมคอ •กลมการวเคราะหทดสอบ •กลมการสอบเทยบเครองมอวดอตสาหกรรม •กลมงานวจยและการเปนทปรกษาทงนเพอรองรบความตองการของภาคอตสาหกรรมไฟฟาและอเลกทรอนกสของไทยอยางครบวงจร
บรการทดสอบมาตรฐานดานความเขากนไดทางแมเหลกไฟฟา(Electromanetic Competability: EMC) และมาตรฐานดานความปลอดภย (Product Safety)
เครองใชไฟฟา มาตรฐานบงคบ
ชอมาตรฐาน มาตรฐานดานความปลอดภย มาตรฐาน EMC
TIS IEC TIS IEC
เตารดไฟฟาสาหรบใชในทอยอาศย
หมอหงขาวไฟฟาสาหรบใชในทอยอาศย
กระทะไฟฟาสาหรบใชในทอยอาศย
เครองทานารอนไฟฟา นาผานรอนทนทสาหรบใชในทอยอาศย
เตาไมโครเวฟสาหรบใชในทอยอาศย
ตเยนสาหรบใชในทอยอาศย
กระตกนารอนไฟฟาเฉพาะดานความปลอดภย
เตาไฟฟาชนดตวทาความรอนแบบเปลอยเฉพาะดานความปลอดภย
เครองใชไฟฟาสาหรบการดแลผวหรอผม
เครองซกผาใชในทอยอาศย
มอก.366-2547
มอก.1039-2547
มอก.1509-2547
มอก.1693-2548
มอก.1773-2548
มอก.2214-2547
มอก.2062-2543
มอก.870-2532
มอก.1985-2549
มอก.1462-2548
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน12
ชอมาตรฐาน
ของเลน
มาตรฐานดานความปลอดภย มาตรฐาน EMC
TIS IEC TIS IEC
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
พดลมไฟฟากระแสสลบเฉพาะดานความปลอดภย
เครองอบผาเฉพาะดานความปลอดภย
เครองปรบอากาศสาหรบหอง
เครองใช อ เลกทรอนกส และอปกรณเกยวของทใชกบแหลงจายไฟฟาประธานสาหรบใชในทอย อาศย และงานทวไป ทมลกษณะคลายกน เฉพาะดานความปลอดภย
เครองตดวงจรกระแสเหลอแบบมอปกรณปองกนกระแสเกนสาหรบใชในทอยอาศยและใชในลกษณะทคลายกน
ระบบกาลงไฟฟาตอเนอง
เซลลและแบตเตอรทตยภมทมอเลกโทรไลต แอลคาไลนหรออเลกโทรไลตอนๆ ทไมใชกรดสาหรบการใชงานแบบพกพา เฉพาะดานความปลอดภย
มอก.934-2533
มอก.1389-2539
มอก.1529-2541
มอก.1195-2536
มอก.909-25482547
มอก.1291-2545
มอก.2217-2548
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60065
IEC61008-1
IEC62040-1
IEC62133
ของเลน
ของเลนไฟฟา
หลอดฟลออเรสเซนส
บลลาสตสาหรบหลอดฟลออเรสเซนส
ขวรบหลอดฟลออเรสเซนสและขวรบสตารตเตอร
โกลวสตารตเตอรสาหรบหลอดฟลออเรสเซนส
มอก.685-2540
มอก.2236-2548
มอก.956-2533
มอก.23-2521
มอก.344-2549
มอก.183-2547
IEC60730
IEC62115
IEC XX
IEC XX มอก.1955 CISPR15,EN61547
ระบบแสงสวางอนแคนเดเซนต
ขวรบหลอดไฟฟาแบบเขยว มอก.25-2516
ขวรบหลอดไฟฟาแบบเกลยว มอก.819-2531
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 13
เครองใชไฟฟา สาหรบใชในทอยอาศย และงานทมลกษณะคลายกน
ชอมาตรฐาน มาตรฐานดานความปลอดภย มาตรฐาน EMC
TIS IEC TIS IEC
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
1
2
3
45
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
ขอกาหนดทวไป
กระทะไฟฟาอเนกประสงคเชงพาณชย
เครองขดลางและขดเงาพน
เครองฆาแมลง
เครองรดผา
เครองสขอนามยชองปาก
อางอาบนาวน
กระทะไฟฟาทอดแบบลกเชงพาณชย
กระทะหงตมเชงพาณชย
เครองครวเชงพาณชย
เครองดดควน
เครองดดฝนและเครองทาความสะอาดโดยการดดนา
เครองตดหญาชนดเดนตาม
เครองทาความสะอาดชนดความดนสงและชนดไอนา สาหรบใชในอตสาหกรรมและ เชงพาณชย
เครองปมความรอนไฟฟาเครองปรบอากาศ และเครองลดความชน
เครองลางจาน
เครองลางจานเชงพาณชย
เครองอบผวโดยการแผรงสอลตราไวโอเลตและรงสอนฟราเรด
เตาหงตมเตาอบแผนรองกระทะและชนสวนสาหรบใชในการเชงพาณชย
มอก.1375-25471
มอก.1594-2541
มอก.1547-2541
มอก.1552-2541
มอก.1567-2541
มอก.1543-2541
มอก.1551-2541
มอก.2013-2543
มอก.1986-2543
มอก.1998-2543
มอก.1996-2543
มอก.1522-2541
มอก.1896-2542
มอก.1871-2542
มอก.1529-2541
มอก.1838-2542
มอก.1839-2542
มอก.1877-2542
มอก.1914-2542
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน14
ชอมาตรฐาน มาตรฐานดานความปลอดภย มาตรฐาน EMC
TIS IEC TIS IEC
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
เตาหงตมชนดทใชประจาทแผนรองกระทะเตาอบ และเครองใชไฟฟาทมลกษณะคลายกน
เตาอบไฟฟาดวยการพาความรอน เตาอบไฟฟาดวยไอนา เตาอบไฟฟาดวยการพา ไอนาทใชในเชงพาณชย
เตาอบไมโครเวฟเชงพาณชย
แผนอ นภาชนะใสอาหาร และเครองใชไฟฟาทมลกษณะคลายกน
เครองบารบควนอกอาคาร
เครองปงยางเชงพาณชย
เครองมอทาความรอนหยบยกได
เครองสบของเหลวทมอณหภมไมเกน 35องศา
เครองปนสลดนา
เครองยางและเครองปงเชงพาณชย
เครองทานารอนชนดจมแบบพกพา
เครองทานารอนชนดจมแบบยดตดอยกบท
เครองนวด
เครองประจแบตเตอร
เครองปงขนมปง เครองยาง เครองอบและเครองใชไฟฟาทมลกษณะคลายกน
มอก.1913-2542
มอก.1781-2542
มอก.1845-2542
มอก.1775-2542
มอก.1876-2542
มอก.1874-2542
มอก.1872-2542
มอก.1584-2541
มอก.1542-2541
มอก.1566-2541
มอก.1909-2542
มอก.1909-2542
มอก.1803-2542
มอก.1676-2541
มอก.1641-2541
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
IEC60335
มอก.1955
มอก.1804-2542 IEC60335
มอก.1910-2542 IEC60335
เครองอบซาวนา
จกรเยบผาไฟฟา
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 15
ชอมาตรฐาน มาตรฐานดานความปลอดภย มาตรฐาน EMC
TIS IEC TIS IEC
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
1
2
3
4
5
6
เครองใชไฟฟาทางานดวยมอเตอร ชนดเคลอนยายได
ขอกาหนดทวไป
เครองเจยแบบตงโตะ
เครองไสและเครองตงความหนา
เลอยวงเดอน
เครองมอไฟฟาทางานดวยมอเตอรชนดมอถอ
มอก.1744-2542 IEC61029-1
มอก.1997-2543 IEC61029-2-4
มอก.1873-2542 IEC61029-2-3
มอก.1805-2542 IEC61029-2-1
มอก.1749-2542 IEC617045-1
มอก.1911-2542 IEC61029-2-9เลอยบาก
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน16
ชอมาตรฐาน มาตรฐานดานความปลอดภย มาตรฐาน EMC
TIS IEC TIS IEC
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
CISPR14
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
เครองใชไฟฟา สาหรบการวด การควบคม และทใชในหองปฏบตการทดสอบ
ขอกาหนดทวไป
เครองฆาเชออบแหงทใชกบอากาศรอนหรอกาชเฉอยรอนทใชกบเครองมอแพทยและ ทใชในหองปฏบตการ
เครองผสมและเครองกวนทใชในหองปฏบตการ
เครองมอวดคากระแสไฟฟาแบบคลองชนดมอถอ
สาหรบเครองหมนเหวยงทใชในหองปฏบตการ
บรภณฑหองปฏบตการสาหรบทาความรอนวสด
หมอนงอดไอนาและเครองฆาเชอใชกาชพษสาหรบการเตรยมวสดการแพทยและงาน ในหองปฏบตการ
หมอนงอดไอนาสาหรบการเตรยมวสดทางการแพทยและงานในหองปฏบตการ
อะตอมกสเปกโทรมเตอรสาหรบหองปฏบตการทดสอบทใช การทาใหเปนละอองและการทาใหเกดไอออนดวยความรอน
ความปลอดภยของชดโพรบมอสาหรบ การวดและการทดสอบไฟฟา
ความปลอดภยของผลตภณฑเลเซอรเลม1การจดประเภทบรภณฑ คณลกษณะ ทตองการและขอแนะนาสาหรบผใช
ความปลอดภยของผลตภณฑเลเซอรเลม2ความปลอดภยของระบบสอสารใยแกว นาแสง
ความปลอดภยของผลตภณฑเลเซอรเลม3ขอแนะนาสาหรบภาพเลเซอรและสงทแสดงดวยเลเซอร
มอก.2001-2543 IEC61010-1
มอก.2008-2543 IEC61010-2-043
มอก.2009-2543 IEC61010-2-051
มอก.2005-2543 IEC61010-2-032
มอก.2003-2543 IEC61010-2-020
มอก.12002-2543 IEC61010-2-010
มอก.2007-2543 IEC61010-2-042
มอก.2006-2543 IEC61010-2-041
มอก.2010-2543 IEC61010-2-061
มอก.2004-2543 IEC61010-031
มอก.1604-2541 IEC60825-1
มอก.1605-2541 IEC60825-2
มอก.1606-2541 IEC60825-3
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 17
ชอมาตรฐาน มาตรฐานดานความปลอดภย มาตรฐาน EMC
TIS IEC TIS IEC
1
บรภณฑเทคโนโลยสารสนเทศ
บรภณฑเทคโนโลยสารสนเทศ(1phase<16A)
มอก.1561-2548 IEC60950-1 มอก.1956.มอก.2077
CISPR22,CISP24
ชอมาตรฐาน มาตรฐานดานความปลอดภย มาตรฐาน EMC
TIS IEC TIS IEC
1
2
แผงโซลาเซล
แผงโซลาเซลแบบผลกวลคอน มอก.1843-2542 IEC61215 ไมม IEC61730
แผงโซลาเซลแบบฟลมบาง มอก.2210-2548 IEC61646 ไมม IEC61730
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน18
บรการสอบเทยบ
PASSIVE EQUIPMENT
Equipment Name Item Range
1.Attenuator/Gain/Loss
2.Splitters
3.Divider
4.Bridges
5.Fillters
6.DirectionalCouplers
7.CoaxialCable
8.WaveGuideAttenuator
9.MatchingPadandImpedanceAdapters
RF High Power
10.HighPowerAttenuator
11.RFPowerAmplifierGenerator
12.RFPowerLevel
EMC Equipment
13.LineImpedanceStabilizationNetwork
14.CouplingandDecouplingNetwork
15.EMClamp/EMIClamp(150Hz/60Hz)
16.RFCurrentClamp(9kHzto1GHz)
17.BalancetoUnbalanceTransformer
Loss,ReturnLoss,Phase
Loss
PowerOutput
FrequencyResponse
THD
Impedance
Loss,CouplingFactor
PhaseImpedance
Isotation
9kHzto18GHz
odBto100dB
9kHzto3GHz
1mWto200W
9kHzto4GHz
1Ω to300Ω0dBto70bB
0to360
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 19
Equipment Name Item Range
Magnetic field strength
18.MagneticFieldMeter(50Hz/60Hz)
19.MicrowaveLeakageCurrent
20.MicrowaveSurveyMeter
High Voltage
21.ESDGenerator
22.Burst/EFTGenerator
23.SURGEGenerator
24.Voltagedips
FieldStrength
PeakVoltage/Current
Risetime/Falltime
BurstPeriodDurationRepetition
Frequency
ImpulseDuration
Impedance
Antenna
25.BiconicalAntenna(30to300MHz)
26.Log–PeriodicAntenna(150to2200MHz)
27.Bi-LogAntenna(30MHzto1GHz)
28.HornAntenna(80MHzto18GHz)
RF Power
29.RFPowerMeters
30.TerminationPowerMeters
31.PeakPowerMeters
32.NodulationPowerMeters
33.ThroughLinePowerMeters
34.PowerSensor
AF
GainISO
ReturnLoss
Accuracy
VSWR
CalibrationFactor
12mGto20G
1to10mW/cm
Upto8kV
2nsto10ms
0to360
30MHzto18GHz
3uWto100mW
1Wto250W
100kHzto4.2GHz
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน20
Equipment Name Item Range
Frequency
35.SignalGenerators
36.SynthesizedSignalGenerators
37.FunctionGenerator
38.NoiseGenerators
39.MicrowaveGenerators
40.FrequencyCounters
41.FrequencyConverters
42.FrequencyShifters
43.FrequencyMultipliers
44.FrequencyComparators
45.QuartzOscillators
46.Oscilloscope
PhaseModulation
FrequencyModulation
PulseModulation
FrequencyAccuracy
FrequencyResponse
PowerLinearity
Harmonic
NoiseSidebands
VSWR
InputImpedance
VerticalDeflection
HorizantalTime
FrequencyResponse
FrequencyAccuracy
DisplayLinearity
NoiseFloor
InputAttenuator
AbsoluteAmplitudeAccuracy
FrequencyResponse
ResolutionBandwidthand
Selectivity
ResolutionBandwidthSwitching
ReferenceLevelAccuracy
1Hzto3GHz
Bandwidth1GHz
0to32V
9kHzto3GHz
0dBto90dB
47.SpectrumAnalyzers
48.NetworkAnalyzers
49.Transmission/ReflectionTestSets
50.CalibrationSParameterTestSets
51.ReturnLossTesters
52.SWRMeters
53.NoiseFigureMeters
54.CommunicationAnalyzers
55.SiteMaster
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน22
วสดอปกรณทางการแพทยหรอเครองมอแพทย มความเกยวของโดยตรงกบชวตมนษย การ วเคราะหทดสอบในทกขนตอนการผลตเพอตรวจประเมนคณภาพของผลตภณฑใหไดมาตรฐาน มความปลอดภย กอนการนาไปใชงานหรอการจาหนาย จงเปนสงจาเปนสาหรบผผลต ผจาหนาย รวมถงผใชงาน ผบรโภค เพอใหเกดความมนใจในคณภาพ และสามารถนาไปปรบปรงกระบวนการผลตใหดยงขนตอไป
นอกจากน การวเคราะหทดสอบเพอตรวจหาประสทธภาพการตานเชอจลนทรยในผลตภณฑตาง ๆ ทใชงานในชวตประจาวน กาลงไดรบความสนใจจากผผลต ผ จาหนาย เพอการวจยและพฒนาปรบปรงคณภาพ ของผลตภณฑ ดง นน การพฒนาขดความสามารถด าน การวเคราะหทดสอบทางชวภาพ เพอใหเหมาะสมกบความตองการ และการบรการวเคราะหทดสอบ รบจางวจย รวมวจย ใหแกภาคอตสาหกรรมและหนวยงานวจย มหาวทยาลย ถอเปนภารกจหลกของหองปฏบตการเทคนคทางชวภาพสาหรบวสด โดยหนวยปฏบตการไดรบการรบรองความสามารถหองปฏบตการทดสอบตามมาตรฐาน ISO/IEC17025 อยางตอเนองตงแตป 2546 ถงปจจบน จากสานกมาตรฐานหองปฏบตการ กระทรวงสาธารณสข ในขอบขายการทดสอบดานจลนทรยสาหรบผลตภณฑ
(MTEC Cell Culture Unit: MCCU)
การใหบรการภาคเอกชน (*อยในขอบขายการไดรบการรบรองมาตรฐานISO/IEC17025:2005)การทดสอบความเปนพเศษสาหรบเครองมอแพทย (Cytotoxicity Testing)
- การทดสอบชนงานประเภทวสดฝงในดวยวธทดสอบโดยตรงกบเซลลหรอเนอเยอมนษย/หนทดลอง- การทดสอบความเปนพษของชนงานดวยวธ Test on Extracts- การทดสอบความเปนพษของสงสกดไดจากตวอยางทดสอบดวยวธมาตรฐาน ISO 10993-5- การทดสอบความเปนพษของชนงานดวยวธ Ager Overlay Method- การทดสอบความเปนพษของชนงานดวยวธ MTT assay
การทดสอบประสทธภาพของสารตานจลนทรยในผลตภณฑ ดวยวธ AATCC Test Method 147, AATCC Test Method 100, JIS Z 2801*, JIS L 1902, AATCC Test Method 30, JIS Z 2911, ASTM G21 วธมาตรฐานอน และวธดดแปลงตามลกษณะชนงานตวอยางการเตรยมชนงานสาหรบ SEM ดวยเครอง Critical Point Dryer (CPD)
หองปฏบตการเทคนคทางชวภาพสาหรบวสด
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 23
หองปฏบตการทดสอบสมบตทางไฟฟาของวสด หนวยวจยลกษณะเฉพาะของวสด MTEC มหนาทหลกในการใหบรการทดสอบ วเคราะห และใหคาปรกษาดานสมบตของไฟฟาวสด แกภาคอตสาหกรรม หนวยงานภาครฐ มหาวทยาลย และหนวยงานวจยภายใน MTEC ดวยบคลากรทมความรความชานาญและเครองมอทดสอบทมประสทธภาพ
หองปฏบตการทดสอบสมบตทางไฟฟาของวสด(Electrical Properties Measurement Laboratory: EPM)
1. Surface Resistivity Measurement (ASTM D257)2. Volume Resistivity Measurement (ASTM D257)3. Dielectric Constant (Relative Permit t iv i ty) Measurement (ASTM D150)4. Dissipation Factor Measurement (ASTM D150)5. The Capaci tance of Wire Insulation (UL 1581)6. Dielectric Strength Measurement (ASTEM D149)7. Conductivity Measurement
Services Equipments Materials Suitable for Testing
Resistivity Adapter KEITHLEY Model 6105High Voltage Supply KEITHLEY Model 247System Electrometer KEITHLEY Model 6514Precision Impedance Analyzer Agilent 4294ADielectric Test Fixture Hewlett Packard 16451 BAC Dielectric test set (50kV, 5kVA) Source Meter KEITHLEY Model 2420
Natural and Synthetic Rubber SheetsPlastic Sheets e.g. PVC, PE, PPPapersWoodsCeramicsMetals
การใหบรการภาคเอกชน สมบตทางไฟฟาของวสดทสาคญและควรมการทดสอบกอนนาไปผลตเปนผลตภณฑหรอนาไปใชงาน ไดแก สมบตทางดานการเปนฉนวน สมบตทางดานการเกบประจไฟฟา สมบตดานการคงทนตอแรงดนไฟฟา ซงในการทดสอบสมบตดงทกลาวมานนน ทางหองปฏบตการทดสอบสมบตทางไฟฟาสามารถใหบรการทดสอบชนงานวสดหรอผลตภณฑตามมาตรฐานสากล เชน ASTM ISO และ UL เปนตน ในกรณทผ ขอรบบรการตองการทดสอบผลตภณฑดวยวธเฉพาะทาง นอกเหนอจากทมมาตรฐานทวไป ทางหองปฏบตการกมความพรอมในการ ใหบรการดงตอไปน
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน24
สมบตทางกลถอไดวาเปนสมบตเฉพาะตวของวสดทมความสาคญเปนอยางมาก ตอความสาเรจตอการนาไปใชงานของผลตภณฑหนง ๆ เนองจากไมวาในสภาพการใชงานหรอในการทางานของผลตภณฑนนจะตองตกอยในสภาพการรบแรงไมมากกนอย โดยทวไปแลว จดประสงคของการทดสอบสมบตทางกล คอ เปนขอมลในการควบคมคณภาพ เปนขอมลพนฐานในการเปรยบเทยบและเลอกใชวสด เปนขอมลสาหรบการคานวณออกแบบ เปนขอมลพนฐานสาหรบการทานายประสทธภาพในการใชงานจรง เปนขอมลสาหรบการวจยและพฒนา
หองปฏบตการทดสอบสมบตทางกล MTEC ถอไดวาเปนสวนสาคญในการสนบสนน ภาคอตสาหกรรมของประเทศไทยผานทางการใหบรการทดสอบวสด ผลตภณฑใหคาแนะนา หรอขอมลทเกยวของกบสมบตทางกลของวสด เพอใหอตสาหกรรมสามารถผลตผลตภณฑทมคณภาพและปลอดภยตอการใชงาน นบตงแตถกจดตงขนในป 2539 หองปฏบตการ มการทางานรวมกนกบภาคอตสาหกรรมเกอบทกประเภททงขนาดเลกและขนาดใหญ
หองปฏบตการทดสอบสมบตทางกล(Mechanical Properties Testing Laboratory: MT)
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 25
การใหบรการภาคเอกชน
ทดสอบทางกลทวไป เชน คามอดลส ความแขงแรง ความเคนและความเครยด ในลกษณะแรงดง แรงดด แรงดดงอ แรงบด การเฉอน การลอก หรอการฉก ของวสดตาง ๆ (แรงสงสด 100 กโลนวตน)ทดสอบความทนทานตอแรงกระแทกของวสดหรอผลตภณฑในลกษณะตาง ๆ เชน ไอซอด ชารป ฟลม ทอ หรอ แผนวสดชนดตาง ๆ ทดสอบความทนทานตอความลาของวสดหรอผลตภณฑในลกษณะตาง ๆ เชน แรงดงหรอแรงอดทดสอบความแขงแรงของวสดหรอผลตภณฑในสเกลตาง ๆ เชน บรเนลล วกเกอรส หรอรอกเวลล ทดสอบความแขงของจลภาคแบบวกเกอรส หรอ นพ ทระดบผวหรอผวเคลอบ ผวแขง หรอโครงสรางในแตละเฟสของวสดหรอผลตภณฑ ทดสอบความแขงของวสดคลายยางหรอผลตภณฑในแบบซอร A หรอ Dวเคราะหสาเหตการแตกหกของผลตภณฑทเกยวของกบสมบตทางกล หรอการเบยงเบน ของสมบตของวสดหรอผลตภณฑจากทกาหนดไวเตรยมชนงานทดสอบทางกลจากวตถดบหรอผลตภณฑทดสอบวสดทอณหภมสงหรอตากวาอณหภมหอง เชน การทดสอบแรงกระแทก หรอการทดสอบความแขงแรง (-50C ถง 150C)สรางและออกแบบอปกรณสาหรบทดสอบหรอวธการทดสอบสาหรบวสดหรอผลตภณฑตามทระบ
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน26
การวเคราะหทดสอบลกษณะของวสดกายภาพและทางเคม เชน ลกษณะพนผว และธาตทประกอบเปนวสดนน ๆ โดยการใชกลองจลทรรศนแบบแสง กลองจลทรรศนอเลกตรอน ไมวาแบบ สองกราดและแบบสองผาน จาเปนตองมการเตรยม ชนงานกอนทจะนาไปวเคราะหโดยมขนตอน ในแผนภาพดานลาง
หองปฏบตการจลทรรศนแบบแสง(Optical Microscopy/Image Analysis Laboratory: OM)
ตดชนงาน อดขนรปชนงาน ขดระนาบ ขดผวมนตรวจสอบดวยกลอง
ขนตอนท 1 ตดชนงาน การตดชนงานออกมาเป นชนขนาดเลก พอเหมาะกบเครองมอวเคราะหทดสอบ หากเปนชนงาน ขนาดใหญ เชน จาน ทอนเหลก จะใชเครองตดใหญ (Cutting Machine, Exotom-M, Struers) หากเปน ชนงานทมขนาดใหญไมมากนก อาจใชเครองตดเลก (Cutting Machine, Accutuom-5, Struers) อปกรณนสามารถตดได ทงวสดเซรามก พอลเมอร โลหะ กลมเหลก และไมใชกลมเหลก โดยจะเปลยนใบตดใหเหมาะสมกบวสด ไดแก ใบตดโลหะ และใบตดเพชร
ขนตอนท 2 ขนรปชนงาน เมอไดชนงานขนาดเหมาะสมกบการทดสอบแลว หากไมสามารถจบชนงานขดได หรอตองการขดอตโนมตจะนามาขนรปดวยเรซน อาจขนรปดวยการใชเครอง Mounting Machine Model Predopress, Struers (Hot Mount) หรอขนรปดวยเรซนแขงตว ณ อณหภมหอง (Cold Mount) การเลอกวธขนรปชนงานและชนดของเรซน ขนอย กบลกษณะของชนงาน ความพรนตว ความแขงแรง และอณหภมทเหมาะสมกบการใชงาน
ขนตอนท 3 การขดระนาบ ชนงานทอดขนรปแลว พนผวของชนงานกบเรซนอาจจะยงไมไดระนาบ จงตองนามาทาการขดเพอใหได ระนาบดวยเครองขด (Struers และ Buehler) แผนขดทนยมใชในขนตอนนคอ กระดาษทรายโดยใชขนาดหยาบจนมาถงขนาดละเอยด ในการขดผวนอาจใชเครองขดอตโนมตแบบตงโปรแกรมได จากนนจงนามาทดสอบวา ชนงานไดระนาบหรอไม โดยใชแสงโมโนโครมาตก
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 27
ขนตอนท 4 การขดผวมน หลงจากการขดใหไดระนาบแลว จงทาการขดผวใหขนมน ในขนตอนน จะนยมใช ผงขดเพชรในการขด โดยเรมตนทผงเพชรขนาด 6 ไมครอน จากนนจงลดขนาดลงมาท 3, 1 และ ¼ ไมครอน ตามลาดบ สาหรบวสดบางชนดอาจ ไมไดขดทกขนตอน และในบางกรณอาจใชผงขดอลมนา แทนการใชผงขดเพชร ตามความเหมาะสม โดยใชเครองขดเหมอนกบในขนตอนท 3 แตเปลยนจากกระดาษทรายมาเปนผาขดตามขนาดของผงขดเพชร
ขนตอนท 5 การตรวจสอบดวยกลอง จลทรรศนแบบแสง เมอไดเตรยมชนงานตามขนตอนทง 4 ขนตอนแลว จงนาชนงานมาตรวจสอบพนผวดวยกลองจลทรรศนแบบแสง หากพนผวยงมรองรอยจากการขด ตองนาไปขดผวมนจนกวาจะไมม รองรอยใด ๆ จงจะสามารถวเคราะหโครงสรางจลภาคได กลองจลทรรศนเปนอปกรณทใชสองดโครงสรางทางจลภาคของวสด ทงพนผวภายนอก ขนาดและรปรางของเกรน ลกษณะโครงสรางและการกระจายตวของเฟสกลอง
การใหบรการภาคเอกชน กลองจลทรรศนแบบแสงทมใหบรการ ประกอบดวยกลอง ZEISS แบบสเตอรโอ แบบสะทอน และแบบโพลาไรส และกลองแบบแสงสะทอนของ Olympus ซงม Image Analyser ไวสาหรบการคานวณหาปรมาณของเฟสตาง ๆ ทมองเหนผานกลองได การคานวณปรมาณของเฟสตาง ๆ ในเหลก ปญหาทางดานเซรามกส เชน รพรน ในเนอกระเบอง หรอ รอยบมในเนอวเทรยสไชนา สามารถใชกลองจลทรรศนแบบแสงในการคนพบสาเหตของปญหาไดอยางงายดาย นอกจากน ยงใชในการหาขนาดของความหนาของชนเคลอบของพลาสตกและโลหะไดโดยใชเวลาไมกนาท
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน28
ผง (Powder) หมายถง อนภาคของแขงทมขนาดตงแตเลกเทากบซบไมครอน หรอใหญขนอยในชวงเซนตเมตร ขนาดทหลากหลายของผงนส งผลให กระบวนการและสมบตตาง ๆ ของวสดผดแผกแตกตางกนไป ความเขาใจและความสามารถในการควบคมปจจยตาง ๆ ทเกยวกบผงอนภาค เชน ขนาด (Size) รปราง (Shape) พนทผว (Specific Surface Area) และประจบนผวอนภาค (Zeta Potential) มสวนสนบสนน ตอการพฒนาผลตภณฑและกระบวนการผลตวสด ใหมประสทธภาพ ไมวาจะเปนอตสาหกรรมเหมองแร โลหะ เซรามกส พอลเมอร ส การเคลอบทางไฟฟา การบาบดนาเสย อาหาร เภสชศาสตร กลศาสตรปฐพ และชวเวชศาสตร เปนตน หองปฏบตการวเคราะหลกษณะเฉพาะของผง (Powder Characterization Laboratory: PC) ซงเปนหนงในหนวยปฏบตการวจยเทคโนโลยการวเคราะหทดสอบวสด ภายใตการดาเนนการของ MTEC ไดพฒนาขดความสามารถทางเทคนคการวเคราะหลกษณะเฉพาะตาง ๆ ของผง เพอใหเกดความพรอมในการใหบรการวเคราะห ทดสอบ ควบคมคณภาพ และใหคาแนะนาแกลกคาไดอยางมมาตรฐานและรวดเรว
หองปฏบตการวเคราะหลกษณะเฉพาะของผง(Powder Characterization Laboratory: PC)
การใหบรการภาคเอกชนวเคราะหหาขนาดและการกระจายตวของอนภาคในระดบนาโนเมตร ชวงตงแต 0.6-6.000 นาโนเมตร โดยใชเทคนคการกระเจงของแสงแบบพลวต ดวยเครอง Zetasizer Nano ZS และในระดบไมครอน ชวงตงแต 0.02-2.000ไมโครเมตร โดยใชเทคนค การเลยวเบนของแสง ดวยเครอง Mastersizer-S และเครอง Mastersizer2000วเคราะหหาคาศกยซต าของอนภาคในระดบคอลลอยด โดยใชเทคนคอเลกโทรโฟรซส ดวยเครอง Zetasizer Nano ZSวเคราะหหาความหนดของอนภาคทอยในของเหลวในชวง 0.1-40,000 Pa.s สาหรบของเหลวทมปรมาตร 500 cm3 และ 0.25-500 Pa.s สาหรบของเหลวทมปรมาตร 8 cm3 โดยปรบอณหภมไดตงแต 25C ถง 80C ดวยเครอง Viscometer DV II+(Brookfield)วเคราะหหาพนทผวจาเพาะของวสดไดตาถง 0.05 ตารางเมตรตอกรม และความพรนตวของวสดทมขนาดของรพรนในระดบ Micropore (นอยกวา 2 นาโนเมตร) ถง ระดบ Mesopore (2-50 นาโนเมตร) โดยใชเทคนคการดดซบกาซ ดวยเครอง Autosorb-1 และ เครอง Autosorb-1Cวเคราะหหาความแนนปรากฏของวสดทงใน รปของแขง (ผงหรอชนงาน) และของเหลวซงมคาความแมนยาอยท ±0.02% โดยใชเทคนคการแทนท ดวยกาซ ดวยเครอง Ultrapycnometer1000
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 29
กลองจลทรรศนอเลกตรอนแบบสแกนนง (SEM) เปนเครองมอทใชกนอยางแพรหลายทงในการวจย พฒนา แกปญหา และการผลตของภาคอตสาหกรรม โดย MTEC มเครองมอ SEM จานวน 3 เครอง ไดแก
SEM (JEOL) JSM-5410 เปนกลองทใชแหลงกาเนดอเลกตรอนแบบเทอรมออนค (Thermionic Emission Electron Gun) สามารถใหกาลงแยกแยะเชงระยะทาง ไดประมาณ 3.5 nm ท 30 kV ซงสามารถถายภาพ ทกาลงขยายสงถง 20,000 เทา (20 kV) โดยมอปกรณตรวจวดอเลกตรอนแบบทตยภม (Secondary Electron) และยงตอกบอปกรณทใชวเคราะหธาตของบรษท Oxford รน INCA 300FE SEM (JEOL) JSM-6301F ซงเปนกลองทใช แหลงกาเนดอเลกตรอนแบบโคลดฟลดอมชชน (Cold Field Emission Electron Gun) สามารถใหกาลงแยกแยะเชงระยะทางไดประมาณ 1.5 nm ท 30 kV นอกจากนทศกยความเรงตา (1-3 kV) ยงใหภาพทมความคมชดมากกวาฟลาเมนท มอปกรณตรวจวดอเลกตรอนแบบทตยภม (Secondary Electron) อปกรณตรวจวดอเลกตรอนแบบกระเจงกลบ (Backscattered Electron) และยงตอกบอปกรณทใชวเคราะหธาตของบรษท Oxford รน INCA 350SEM (HITACHI) S-3400N Type II เปนกลอง ทใช แหลงกาเนดอเลกตรอนแบบเทอรมออนค (Thermionic Emission Electron Gun) ไดทงในสภาวะสญญากาศสงและตา โดยสามารถใหกาลงแยกแยะเชงระยะทางไดประมาณ 3 kV ซงสามารถถายภาพกาลงขยายสงถง 20,000 เทา (20 kV) ในสภาวะสญญากาศสง โดยมอปกรณตรวจรบอเลกตรอนแบบทตยภม (Secondary Electron) อปกรณตรวจรบอ เลกตรอนแบบกระเจงกลบ
หองปฏบตการจลทรรศนอเลกตรอนแบบสแกนนงและจลวเคราะห(Scanning Electron Microscopy and X-Ray: SEM)
(Backscattered Electron) อปกรณวเคราะหธาต และอปกรณวเคราะหเฟสโครงสรางของ บรษท EDAX รน Genesis และ TSL OIM Data Collection 5 ตามลาดบ
ขอมลทไดจากกลอง SEM สามารถแสดงใหเหนลกษณะพนผวของวสด ขนาด และรปรางของอนภาคผง หรอตาแหนงทสนใจบนชนงาน และแสดงใหเหนลกษณะและการกระจายของเฟสในโครงสรางจลภาคหรอความผดปกตของอปกรณขนาดเลก ๆ เชน ชนสวนอเลกทรอนกส รวมไปถงลกษณะของชนงานทางดานชววทยา ฯลฯ นอกจากน ยงสามารถเชอมตอกบอปกรณวเคราะหธาตเชงพลงงาน (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer: EDS) ซงชวยในการศกษา ชนด ปรมาณ และการกระจายขององคประกอบธาตของวสดหรอสารมลทนได ซงขอมลทไดสามารถนาไปใชในการปรบปรง และพฒนางานวจย งานในกระบวนการผลต งานวเคราะหความเสยหาย ของวสด งานแกไขปญหาอตสาหกรรม และงานควบคมคณภาพของวสดไดเปนอยางด นอกจากน MTEC ยงม
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน30
โปรแกรมวเคราะหภาพ (Image Analyzer) รน Image-Pro Plus 5.0 ทมประสทธภาพสง สามารถวเคราะหภาพไดหลายชนดพรอมปรบแตงภาพเพอใหสามารถวเคราะหไดงายขน นอกจากน ยงใชรวมกบโปรแกรม Material-Pro 3.1.1 ซงเหมาะกบการวเคราะหขอมลเกยวของกบวสดชนดตาง ๆ จงชวยใหการวเคราะห เชน การวดขนาดอนภาค (ASTM E1382) การวดการกระจายตวของเกรน (ASTM E112) การหาปรมาณกราไฟตในเหลกหลอ (ASTM A247) การหาปรมาณรพรนในซเมนต (ASTEM B276) และ การวดความหนาของชนเคลอบ ทาไดอยางรวดเรวมากยงขน
การใหบรการภาคเอกชน ใหบรการศกษาโครงสรางพนผว โครงสรางจลภาคของแกรนของวสดตาง ๆ ไมวาจะเปนชนงาน โลหะ เซรามกส พอลเมอร ตวอยางทางชวภาพ และอน ๆ ทมสภาพแหงและปราศจากความชนใหบรการศกษาและวดขนาดอนภาคผงซงใชเปนวตถดบในการผลตหรอสารตงตนอน ๆ วดขนาดเกรนหรอความหนาของชนเคลอบตามมาตรฐานของหองปฏบตการใหบรการวเคราะหองคประกอบธาตของวสดดวยเทคนคจลวเคราะห (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy: EDS) ซงสามารถทาการวเคราะหองคประกอบธาตในเชงคณภาพ และปรมาณ (ขนกบชนดของวสดมาตรฐานทมใช) การทดสอบแบบแผนทธาต (X-Ray Mapping) การทดสอบแบบศกษาแนวโนมของธาต ณ ตาแหนงททสนใจ (X-Ray Line Scan) การทดสอบแบบแผนทเฟส (Phase Map) และการจาลองสเปกตรม (Spectrum Synthesis) ใหบรการวเคราะหการจาแนกโครงสรางผลกของโลหะ ดวยเทคนค Electron Backscatter Diffraction: EBSD ซงสามารถระบโครงสราง ชนดของผลก ทศทางการจดเรยงตวของผลก รวมทงลกษณะและขนาดของเกรนไดใหคาปรกษาเกยวกบเทคนคการเตรยมชนงานเพอศกษาดวยเทคนคจลทรรศนอเลกตรอนแบบสแกนนงและจลวเคราะหใหบรการถายทอดความร ฝกอบรมและบรการขอมล เอกสาร ทเกยวกบเทคนคจลทรรศนอเลกตรอนแบบสแกนนงและจลวเคราะห (SEM/EDS)
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 31
สเปกโตรสโคปแบบสนเปนเทคนคทสะดวก ไมยงยากซบซอน สาหรบการศกษาหมฟงกชนทมอยในโมเลกล ซงสมพนธกบโครงสรางทางเคมของสารหรอวสดทกาลงศกษาอย สเปกโตรสโคปแบบสน ประกอบดวย 2 เทคนค คอ อนฟราเรด และรามาน สเปกโตรสโคป เพอใชในงานวจยภายใน และใหบรการแกภาคเอกชนและภาครฐ กลมลกคาทใหบรการ ไดแก บรษทผผลตเมดพลาสตกและผลตภณฑพลาสตก บรษทผผลต/ใชสารเคม บรษทผผลตผลตภณฑยาง บรษทผผลตชนสวนอเลกทรอนกสและผประกอบเครองมออเลกทรอนกส
หองปฏบตการสเปกโตรสโคปแบบสน(Vibrational Spectroscopy Laboratory: VSP)
การวเคราะหระดบโมเลกลเพอระบชนดและองคประกอบหลก
เทคนค
เทคนค
การประยกตใชงาน
การประยกตใชงาน
รายละเอยดหลกการทางาน
รายละเอยดหลกการทางาน
ลกษณะตวอยาง
ลกษณะตวอยาง
ขอสงเกต/ขอจากด
ขอสงเกต/ขอจากด
InfraredSpectroscopy
(FT-IR)
Raman Spectroscopy(FT-Raman)
วเคราะหหาหมฟงกชนและโครงสรางทางเคมของสาร โดยสามารถวเคราะหไดท ง เชงคณภาพและเชงปรมาณ
วเคราะหหาหมฟงกชนและโครงสรางทางเคมของสาร โดยสามารถวเคราะหไดท ง เชงคณภาพและเชงปรมาณ
อาศยหลกการดดกลนคลนแสงใน ชวงอนฟาเรดททาใหเกดการสนของพนธะเคมภายในโมเลกล ซงคาความถตาง ๆ ของการสนในสเปกตรมนนสามารถใหขอมลเกยวกบโมเลกลของสารทแนนอนได
อาศยหลกการชนแบบไมยดหย น ระหวางโฟตอนกบโมเลกลของสาร จากนนพลงงานบางสวนจะถกถายเทไปยงโมเลกลทาใหเกดการสนของโมเลกลแลวเกดกระเจงออกไป
ของแขง ของเหลว
ของแขง ของเหลว
ไมสามารถทดสอบสารทมปรมาณนอยระดบ ppm ได และสามารถใชประโยชนในการตดตามกระบวนการผลต
ไมสามารถทดสอบสารทมปรมาณนอยระดบ ppm ได และสามารถใชประโยชนในการตดตามกระบวนการผลต
การวเคราะหตวอยางบรเวณพนผวและทมขนาดเลกระดบไมโครเมตร
InfraredMicroscopy
วเคราะหหาหม ฟ งกชนและโครงสรางทางเคมของสาร ทมขนาดเลกระดบไมโครเมตร
อาศยหลกการดดกลนคลนแสงใน ชวงอนฟาเรดททาใหเกดการสนของพนธะเคมภายในโมเลกล ซงคาความถตาง ๆ ของการสนในสเปกตรมนนสามารถใหขอมลเกยวกบโมเลกลของสารทแนนอนได
ของแขง ของเหลว มการเตรยมตวอยางของสารกอนการทดสอบ และม Spatial Resolution 15 ไมโครเมตร
การใหบรการภาคเอกชน
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน32
เทคนค การประยกตใชงาน รายละเอยดหลกการทางาน ลกษณะตวอยาง ขอสงเกต/ขอจากด
Raman Microscopy
วเคราะหหาหม ฟงกชนและโครงสรางทางเคมของสาร ทมขนาดเลกระดบไมโครเมตร
อาศยหลกการชนแบบไมยดหย น ระหวางโฟตอนกบโมเลกลของสาร จากนนพลงงานบางสวนจะถกถายเทไปยงโมเลกลทาใหเกดการสนของโมเลกลแลวเกดกระเจงออกไป
ของแขง ของเหลว ไมตองมการเตรยมชนงานตวอยาง และม Special Resolution 6 ไมโครเมตร
เครองมอทใหบรการ
เครองมอ การประยกตใชงาน
FT-IR Spectrometer (Perkin Elmer System 2000)- Light source: middle infrared range (4000-400 cm-1)- Detector :TGS
FT-RAMAN Spectrometer (Perkin Elmer System 2000)- Laser source: Nd: YAG laser- Laser excitation wavelength: 1064 nm- Spectral range: 3600-200 cm-1
- Detector: inGaAs
Dispersive Raman Microscope (Bruker Optics Model Senterra)- Laser source: Diode laser และ Nd-YAG Exiation- Laser excitation wavelength: 785 nm และ 532 nm- Spectral range: 4500-80 cm-1
- Detector: TE-Cooled CCD
FT-IR Imaging Microscope (Perkin Elmer Spectrum Spotlight 300)- Light source: middle infrared range (4000-600 cm-1)- Detector: MCT(เทคนคทเคยเปดใหบรการมดงน transmittance, specular,reflectance,attenuatedtotalreflectance(ATR),Micro-ATRและdiffusereflectance)
- วเคราะหชนดของสารอนทรยและสารอนนทรยบางชนด- วเคราะหหมฟงกชนของสารอนทรย- วเคราะหองคประกอบหลกในการผสม- วเคราะหชนดของพอลเมอรและอลาสโตเมอร
- วเคราะหชนดของพลาสตกและยาง- วเคราะหหาองคประกอบทางเคมในเชงปรมาณ- ศกษาลกษณะการเกดปฏกรยาทางเคม Kinetic ของชนงาน
- ศกษาฟลมเพชรบนแผนซลกอน- ศกษาสงปนเปอนบนชนสวนอปกรณอเลกทรอนกส- วเคราะหความแตกตางของอญมณธรรมชาต และอญมณ
สงเคราะห- วเคราะหหาชนดและขนาดในแตละชนของแผนฟลมประกอบ
- วเคราะหชนดของสารอนทรยและสารอนนทรยบางชนด- วเคราะหหมฟงกชนของสารอนทรย- วเคราะหหาองคประกอบทางเคมบรเวณพนผวชนงาน- วเคราะหหาชนดและขนาดในแตละชนของแผนฟลมประกอบ- วเคราะหและศกษาลกษณะการเกดปฏกรยาทางเคม Kinetic ของ
ชนงาน- วเคราะหชนดของพอลเมอร พลาสตก เสนใย และเรซนสงเคราะห- ทดสอบชนดของสงปนเปอนหรอสารเตมแตงทมอยประมาณ 1%
ในชนงาน และบางกรณมปรมาณนอยกวา 0.01%
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 33
การวเคราะหสมบตทางความรอนของวสด เปนกลมเทคนคทจาเปนสาหรบการวเคราะหลกษณะเฉพาะของวสดตาง ๆ เชน พอลเมอร สารอนทรยหรอสารอนนทรย เซรามกส โลหะ และวสดทวไปอน ๆ การวเคราะหสมบตทางความรอนเปนการวเคราะหการเปลยนแปลงสมบตทางกายภาพหรอทางเคมของวสดขนกบอณหภมและเวลา ผลการวเคราะหจะใหขอมลเกยวกบสมบตทางความรอน เสถยรภาพตอความรอน เสถยรภาพตอการเกดปฏกรยาออกซเดชน และลกษณะการผานกระบวนการทาง ความรอนของวสด โดยทาการศกษานาหนกทหายไปเมอมการเปลยนแปลงอณหภมความรอนทวสดดดหรอคายเมอเกดการเปลยนแปลงอณหภมหรอเวลา และการเปลยนแปลงขนาดของวสดชนงานภายใตการเปลยนแปลงอณหภม
หองปฏบตการวเคราะหสมบตทางความรอนของวสด(Thermal Analysis Laboratory: TA)
Differential Scanning Calorimeter (DSC) & Differential Thermal Analyzer (DTA) - Differential Scanning Calorimeter (DSC822e, Mettler Toledo) ชวงอณหภมททดสอบ -60C ถง 450C - Simultaneous Thermal Analyzer (STA449C Jupiter® , NETZSCH) ชวงอณหภมททดสอบ 30C ถง 1,400CThermogravimetric Analyzer (TGA) - Thermogravimetric Analyzer (TGA/SDTA851e, Mettler Toledo) ชวงอณหภมททดสอบ 25C ถง 1,100C - Simultaneous Thermal Analyzer (STA449C Jupiter®, NETZSCH) ชวงอณหภมททดสอบ 30C ถง 1,400CDynamic Mechanical Analyzer (DMA/SDTA861®, Mettler Toledo) ชวงอณหภมททดสอบ -150C ถง 500C Frequency range: 0.001 Hz ถง 1,000 Hz Force range: 0.005 N ถง 4,000 NThermomechanical Anayzer (TMA/SDTA841e, Mettler Toledo) ชวงอณหภมททดสอบ -150C ถง 500C Force range: 0 N ถง 1.0 NThermal Constant Analyzer (TPS2500, Hot Disk) อณหภมททดสอบ: อณหภมหอง Thermal conductivity range: 0.005 ถง 500 W/m.K Reproducibility: Thermal conductivity ±2%, Thermal diffusivity ±5%, Specific heat (per volume) ±7% ขนาดชนงานทตองเตรยม: เสนผานศนยกลาง 70 มม. ความหนา 5-40 มม.
เครองมอทใหบรการ
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน34
การใหบรการภาคเอกชน
Differential Scanning Calorimeter (DSC) & Differential Thermal Analyzer (DTA)- วเคราะหอณหภมการหลอมเหลวของวสด (Melting Temperature, Tm)- วเคราะหปรมาณพลงงานทใชในการหลอมเหลว (Heat of Fusion, ^H)- วเคราะหปรมาณผลกของวสดพอลเมอร (% Crystallinity)- วเคราะหอณหภมเปลยนสภาวะคลายแกวของวสด (Glass Transition
Temperature, Tg)- วเคราะหอณหภมการเกดผลกของวสด (Crystallization Temperature, Tc)- วเคราะหคา Oxidative Induction Time ของวสด (Oxidative Induction Time, OIT)- วเคราะหคา Purity ของสาร- ศกษาการเกดปฏกรยาเชอมขวาง (Crosslink) ของวสดประเภทเทอรโมเซตตง- ศกษาและทานายกลไกการเกดปฏกรยาของวสดประเภทเทอรโมเซตตง
Thermogravimetric Analyzer (TGA)- วเคราะหปรมาณสารเตมแตงในพลาสตก หรอผลตภณฑพลาสตก- วเคราะหปรมาณนาหรอปรมาณตวทาละลายในส สารเคลอบ กาว หรอเซรามกส- วเคราะหปรมาณองคประกอบตาง ๆ ของผลตภณฑยาง เชน ปรมาณยาง สารเตม
อนทรย และสารเตมอนนทรยDynamic Mechanical Analyzer (DMA)
- วเคราะหคาโมดลสของวสด (Storage Modulus และ Loss Modulus)- วเคราะหอณหภมการเปลยนสภาวะจากคลายแกวเปนคลายยาง (Glass Transition
Temperature, Tg)Thermomechnical Analyzer (TMA)
- วเคราะหคาสมประสทธการขยายตว (Coefficient of Thermal Expansion, CTE)- วเคราะหอณหภมการเปลยนสภาวะคลายแกวเปนคลายยาง (Glass Transition
Temperature, Tg)- วเคราะหลกษณะการลอกตว ( Delamination)
Thermal Constant Analyzer (Hot Disk TCA)- วดคาการนาความรอน (Thermal Conductivity, W/m.K)- คาความจความรอน (Specific Heat, Per Volume)- คา Thermal Diffusivity (mm2/s)
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 35
หองปฏบตการจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชน (Transmission Electron Microscopy: TEM) ใหบรการเทคนค เกยวกบจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชนและเทคนคอน ๆ ทเกยวของ เชน การเตรยมตวอยางและจลวเคราะห (Microanalysis) JEOL JEM-2010 ใชแหลงกาเนดอเลกตรอน (Electron Gun) แบบเทอรมออนก ชนด LaB6 ซงทางานในชวง 80 ถง 200 KeV และสามารถใชกาลงแยกแยะเชงระยะทางทดทสดไดประมาณ 0.23 นาโนเมตร โดยสามารถควบคมขนาดของลาอเลกตรอน ไดอยางแมนยา จงเหมาะแกงานจลวเคราะห Convergent Beam Diffraction (CBED), Nanobeam Diffraction และ Energy Disperse X-ray (EDX) Analysis
หองปฏบตการจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชน(Transmission Electron Microscopy/ X-ray Microscopy Laboratory: TEM)
TEM LAB - ใหบรการเตรยมตวอยางชนงานดวยเครองตดอลตราโซนก, ดสคพนวเชอรม ดมเพลกรายนเดอร และ
เครองขดระบบลาไอออน- ใหบรการศกษาลกษณะสณฐาน โครงสรางจลภาค ตลอดจนโครงสรางผลกของชนงาน รวมถงวเคราะห
องคประกอบทางเคมของวสดดวยเทคนคจลวเคราะห (Energy Disperse X-ray Analysis: EDX)- ใหบรการถายภาพและวเคราะหผลดวยเทคนคจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชน- ใหบรการใหคาปรกษาและบรการขอมลเกยวกบเทคนคจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชน
สวนประกอบพเศษของ JEOL JEM-2010- สามารถเลยงชนงานได 30 องศา ทงในแนวแกน x และแกน y- แทนยดชนงาน (Specimen Holder) ทงแบบเอยงแกนเดยวและสองแกน- Oxford Instruments Link Isis 300 X-ray Microanalysis System- ชด Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)
การใหบรการภาคเอกชน
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน36
เทคนค เอกซเรยดฟแฟรกชน หรอเทคนค XRD เปนเทคนคทนารงส x มาใชวเคราะหสารประกอบทมอยในสารตวอยางและนามาใชศกษารายละเอยดเกยวกบโครงสรางผลกของสารตวอยาง เทคนค XRD อาศยหลกการของการยงรงส x ททราบความยาวคลน () ไปกระทบชนงานทาใหเกดการเลยวเบนของรงสทมมตาง ๆ กน โดยมหววดเปนตวรบขอมล เนองจากองศาในการเลยวเบนของรงส x จะขนอยกบองคประกอบและโครงสรางของสารทมอยในตวอยาง ขอมลทไดรบจงสามารถบงบอกชนดของสารประกอบทมอย ในสารตวอย างและสามารถนามาใช ศกษา รายละเอยดเกยวกบโครงสรางของผลกของสาร ตวอยางนน ๆ ได นอกจากนขอมลทไดยงสามารถนามาหาปรมาณของสารประกอบแตละชนดในสารตวอยาง ปรมาณความเปนผลก ขนาดของผลก ความสมบรณของผลก การจดเรยงตวของผลกและความเค นตกค างของสารประกอบใน สารตวอยาง อกทงความหนาของฟลมไดอกดวย เทคนคเอกซเรยฟลออเรสเซนส หรอ เทคนค XRF เปนเทคนคทใชในการหาชนดและปรมาณของธาตในสารตวอยางทงทเปนของแขง ของเหลวและสามารถแขวนได เทคนค XRF อาศยหลกการของการยงรงส x ทมพลงงานสงไปกระทบชนงานทาใหชนงานเกดการปลอยโฟตอนออกมา (Fluoresced) เนองจากโฟตอนทถกปลอยออกมาจากธาตตางชนดในชนงานจะมความยาวคลน (พลงงาน) เฉพาะสาหรบธาตนน ๆ จงทาใหสามารถบงชชนดของธาตทมอยในตวอยางได ทงนปรมาณโฟตอนเปลงออกมาขนอยกบปรมาณของธาตนนในสารตวอยาง ขอมลนจงสามารถนามาวเคราะหหาปรมาณของธาตและชนดได
หองปฏบตการเอกซเรยดฟแฟรกชนและเอกซเรยฟลออเรสเซนส(XRD/XRF X-ray Techniques Laboratory: XRAY)
การใหบรการภาคเอกชน
วเคราะหชนดของสารประกอบในตวอยาง (ชน ผล ฟลมหนาและฟลมบาง)วเคราะหคาความเปนผลกสมพทธวเคราะหขนาดของผลกของสารประกอบวเคราะหการจดเรยงตวของผลกวเคราะหความเคนตกคางวเคราะหชนดและปรมาณของธาตในตวอยาง (O-U, 0.01-100 wt%)
- Semi-Quantitative (Standardless Method)- Quantitative Analysis ของ Refractory Ceramics (High Silica, High Alumina) และแรบางชนด
- สราง Standard Calibration Curve ของชด ตวอยางเฉพาะ
การวเคราะหดวยเทคนค XRD และ XRF อน ๆ
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 37
หองปฏบตการโครมาโทกราฟ(Chromatography Laboratory: GPC) นาหนกโมเลกลของพอลเมอรเปนสมบตทมความสาคญ สามารถใชบงบอก คณภาพของพอลเมอรทนามาเปนวตถดบ ทาใหสามารถควบคมหรอปรบปรงคณภาพของผลตภณฑใหเหมาะสมกบการใชงานและมสมบตไดมาตรฐานตรงตามความตองการ เทคนคในการหานาหนกโมเลกลทหองปฏบตการเปดใหบรการคอ Gel Permeation Chromatography (GPC) ซงเปนเทคนคทนยมใชกนอยาง แพรหลาย และมขอดคอนอกจากจะสามารถวเคราะหนาหนกโมเลกลไดแลว ยงสามารถใหขอมลทางดานการกระจายตวของนาหนกโมเลกลไดอกดวย ตวอยางงานทสามารถใหบรการวเคราะหทดสอบ ไดแก
พอลเมอรสงเคราะห ไดแก โพลสไตรน โพลไวนลคลอไรด โพลไวนลอะซเตท โพลเอสเตอร และอะครเรซน เปนตนพอลเมอรชวภาพ ไดแก ไคโตซาน แปง แซนแทนกม และมอลโตเดรกตรน เปนตน
การใหบรการภาคเอกชนวเคราะหจานวนหนวยของโมโนเมอรทซากนในสายโซโมเลกลวเคราะหนาหนกโมเลกลพอลเมอรและโอลโกเมอร (Oligomer: สารโมเลกลขนาดกลาง)ศกษาการเกดพอลเมอรไรเซชนศกษาการเสอมสลายของพอลเมอร
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน38
การใหบรการภาคเอกชน
การศกษาโครงสรางทางเคมของสารประกอบอนทรยตาง ๆ รวมถงพอลเมอรการวเคราะหเปอรเซนต cis- หรอ trans- และการจดเรยงตวแบบ iso-, syndio- หรอ atactic ของพอลเมอรการตรวจสอบนาหนกโมเลกลของพอลเมอร ทมความยาวสายโซไมมากนกการวเคราะหหาเปอรเซนตการเชอมโยงของยางหรอพอลเมอรเชงตาขาย
NMR เปนเทคนคทใชในการศกษาโครงสรางทางเคมของโมเลกลทงในเชงคณภาพและเชงปรมาณ เครอง NMR ทใหบรการ ไดแก Bruker Biospin DPX-300 และ AV-500 ซงสามารถวเคราะหสารตวอยางทงในสภาพทเปนสารละลายหรอในสภาพของแขง
หองปฏบตการนวเคลยรแมกเนตกเรโซแนนซสเปกโตรสโคป(Nuclear Magnetic Resonance Laboratory: NMR)
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน40
กลมวสดเคลอบนาโน ตวอยางเชน วสดเคลอบผวนาโน ลดความฝด กระจกไรคราบสกปรก และวสดเคลอบสงทอ กนนา และกนเปอน เปนตนกลมวสดดดซบ กรอง และตวเรงปฏกรยา ตวอยางเชน แผนกรองโมเลกล แผนพอลเมอรนาไฟฟา และตวเรงปฏกรยานาโนซโอไลต เปนตนกลมวสดประกอบแตง ตวอยางเชน วสดเสรมแรงดวยทอคารบอนนาโนและเสนลวดเซรามกสนาโน เปนตน
หองปฏบตการวเคราะหระดบนาโน
เครองมอและเทคนคทใหบรการ1. Atomic Force Microscope กล องจลทรรศนแรงอะตอม (Atomic Force Microscope) หรอ AFM เปนกลองจลทรรศนชนดหวอาน สองกราด (Scanning Probe Microscopes: SPMs) ชนดหนง AFM มหลกการทางานโดยการใชหวอานซงเปนเขมขนาดเลกประมาณ 10 นาโนเมตร เปนตววดแรงดงดดหรอแรงผลก ทเกดขนระหวางหวเขมกบพนผวทตองการวเคราะหเพอสรางเปนภาพ โดยเมอกดหวอานลงบนพนทจะตรวจวด จะเกดแรงทกระทาตอกน (Cantilever) ของหวอานจะทาใหหวอานเอยงดวยมมตาง ๆ กนตามสภาพความสงตาของพนผวซงจะสามารถตรวจวดไดจากมมสะทอนของลาแสงเลเซอรทยงลงไปยงกานของหวอาน จากนนคอมพวเตอรกจะแปลงสญญาณออกมาเปนภาพของพนผวทตองการตรวจสอบไดโดย AFM ความสามารถพเศษคอ สามารถใชไดกบพนผวทหลากหลายทงทเปนฉนวนและพนผวทนาไฟฟาได และมระดบความสงตา (Rounghness) ไมเกน 4 ไมโครเมตร และขนาดภาพสแกนใหญทสดไมเกน 100 ไมโครเมตร
การใหบรการภาคเอกชน 1. AFM (Atomic Force Microscope: Contact Mode) เปนโหมดสาหรบวดคณสมบตทางดานกายภาพ (Physical Property) โดยทหววดสมผสกบผวของตวอยางเหมาะกบลกษณะผวตวอยาง ทแขง เชน ฟลมบาง เปนตน สามารถวเคราะหคา Ra (Roughness), Friction Force, Particle & Grain Snalysis, Pitch & Height Measurement. 2. DFM (Dynamic Force Microscope: Non Contact Mode) เปนโหมดสาหรบวดคณสมบตทางดานภายภาพโดยทหววดจะไมสมผสกบผว ของตวอยาง เหมาะกบลกษณะผวตวอยางทออนนม เชน พอลเมอร เปนตน สามารถวเคราะหหาคา Ra (Rounghess), Phase Analysis, Particle & Grain Analysis, Pitch & Height Measurement.
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 41
3. VE-AFM / VE-DFM (Viscoelastic AFM / DFM) เปนโหมดสาหรบวดลกษณะความยดหยนของสารจาพวกพอลเมอร ทรวมกนอยหลาย ๆ ชนด ทาใหเหนลกษณะการกระจายตวกนของพอลเมอรได 4. MFM (Magnetic Force Microscope) เปนโหมดทใช ในการวดการกระจายตวของแรงแมเหลกบนพนผวได โดยใชหววด ท เคลอบสารโคบอลตซงมคณสมบตความเปนสารแมเหลก (Ferromagnetic) เหมาะสาหรบตวอยางพวก Magnetic Storage, Memory เปนตน 5. AFM, DFM in Vacuum And Control Temperature เครอง AFM ของศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต สามารถวดในสภาวะ สญญากาศได และสามารถทจะควบคมอณหภมทปอนใหกบผว ของตวอยางได สาหรบในสวนของการควบคมความเยนจะใชไนโตรเจนเหลวเพอใหความเยนกบผวของตวอยาง ซงทาใหสามารถเหนความเปลยนแปลงของสภาพพนผวไดขณะททาการวด 6. การประยกตใชงานของเครองมอ ไดแก
วเคราะหพนผวโลหะ เชน ผวของวสดพวกเหลก อะลมเนยม เพอดลกษณะพนผวและความขรขระวเคราะหพนผวของฟลมบาง เพอดความขรขระ และดการกระจายตวของสารเคลอบบนผวฟลมบางวเคราะหลกษณะพนผวของตวอยางทางดานชวภาพ เชน ลกษณะของตวอยางดเอนเอเมอมการนาสารพวกพอลเมอรเขาไปผสม หรอดลกษณะของเซลลแบคทเรย เปนตนวเคราะหความหนาของแผนฟลม หรอวเคราะหลกของรอยตาหนทเกดขนในกระบวนการผลต เชน ว เคราะห ความลกของสารเคลอบบนแว นตา วเคราะหความหนาของสารเคลอบฟลมในระดบนาโนเมตรของกระจกรถยนตว เคราะห ลกษณะของสนามแมเหลกบนแผ นฮารดดสก หรอเครองบนทกขอมลทใชแถบแมเหลกตาง ๆ วเคราะหดขนาดของอนภาคนาโนชนดตาง ๆ ทเคลอบเกาะบนผวของตวอยาง เชน วเคราะหขนาดของอนภาคไททาเนยมนาโนบนผวของกระจก ทสามารถทาความสะอาดตวเองได เปนตนวเคราะหดการกระจายตวของสารหลาย ๆ ชนด ทรวมตว หรอกระจายตวกนอยบนพนผวของตวอยาง เชน ฟลมพอลเมอรทประกอบไปดวยสารพอลเมอรหลาย ๆ ชนด จะทาใหสามารถเหนการรวมตว หรอการกระจายตวกนของสารได
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน42
2. Antimicrobial Test ผลตภณฑนาโนเทคโนโลย ในปจจบนเปนทสนใจของผบรโภคเปนอยางมากและมการพฒนาอยางรวดเรวเนองจากผลตภณฑนาโนเทคมคณสมบตพเศษทเพมขนเมอเทยบกบ ผลตภณฑชนดเดยวกน เชน สมบตปองกนรงสยว ปองกนการเปยกนา ปองกนการเปอนจากคราบสกปรกบางชนด และยบยงเชอแบคทเรย เปนตน คณสมบตการยบยงเชอแบคทเรยเปนคณสมบตพเศษอยางหนงทไดรบความสนใจจากผบรโภคเปนอยางมาก เหนไดจากการพฒนาผลตภณฑตาง ๆ โดยใชนาโนเทคโนโลย เพอใหผลตภณฑมคณสมบตดงกลาว เชน เครองนงหม ผลตภณฑจากผา ผลตภณฑพลาสตกและเซรามก เครองใชไฟฟา ตเยน เครองปรบอากาศ และผลตภณฑเครองหนง เปนตน การทดสอบฤทธการยบยงเชอแบคทเรยดวยวธมาตรฐาน AATCC 100, AATCC 147, JIS Z 2801, ASTM E2149-01 รายงานผลเปนรอยละของการลดจานวนแบคทเรย (% Microbial Reduction) สาหรบการทดสอบวธมาตรฐาน NCCLS Broth Microdilution MIC Method จะรายงานผลเปน Minimal Inhibitory Concentration (% MIC) และ Minimal Bactericidal Concentration (% MBC)
ตวอยางวสดทสามารถทาการทดสอบฤทธการยบยงเชอแบคทเรยได เชนตวอยางผาประเภทตาง ๆของแขงทไมดดซบนาของเหลว
การใหบรการภาคเอกชนการทดสอบเชงคณภาพ AATCC 147-1999การทดสอบเชงปรมาณ AATCC 100-1999, JIS Z 2801 : 2000, ASTM E2149 – 01, CCLS Broth Microdilution MIC Method
เครองมออตโนมตของหองปฏบตการทดสอบแบคทเรยAuto Spiral PlateAutomate Colony CounterWrist-action ShakerMicroplate Reader
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 43
การเคลอนทของอนภาคตลอดเวลาแบบ บราวนเนยน (Brownian) นสงผลกระทบตอความเขมของ แสงทกระเจงจากอนภาค อนภาคขนาดใหญซงมคาสมประสทธการแพรเลอนตาแหนง (Translation Diffusion Coefficient) ตา จะเคลอนทชากวาอนภาค
3. Dynamic Light Scattering (DLS) Dynamic Light Scattering (DLS) เปนเทคนควดการกระเพอมของความเขมแสง หรอเรยกวา Photo Correlation Spectroscopy (PCS) ซงเปนเทคนคทใชวดขนาดของสารตวอยางในระดบนาโนเมตรไดตงแต 0.005 – 5 ไมโครเมตรสาหรบอนภาคทมขนาดเลกกวา 5 ไมโครเมตรจะเกดการแพรกระจายอยางไรทศทาง (Randomly Diffuse) ไปทวตวกลาง ในขณะเดยวกนอนภาคสามารถกอใหเกดการกระเจงของแสงไดเชนกน ความถของการกระเพอมขน - ลง สามารถตรวจจบ โดยใชหลอดทวพลงแสง (Photomultiplier) ในขณะทขนาดของอนภาคสามารถคานวณไดจากความถโดยใชสมการสโตกสและไอสไตน (Stokes - Einstein Equation) ดวยการหาคาสมประสทธการแพรเลอนตาแหนง (Translational Diffusion Coefficeient: DT) ของอนภาค ซงสมพนธกบขนาดของอนภาค (เสนผานศนยกลางเทากบ a)
ขนาดเลก หรออาจกลาวไดวา อนภาคขนาดใหญเคลอนทชาทาใหเกดความถในการกระเพอมขน - ลง ของแสงทกระเจงตา และอนภาคขนาดเลกเคลอนท ไดเรวมความถในการกระเพอมของแสงทกระเจงสงกวา ดงนนอตราการเปลยนแปลงของแสงทกระเจงจะชากวาสญญาณทไดจากการวดความเขมแสงในชวงระยะเวลาสน ๆ ของอนภาคขนาดเลก และความถในการ กระเพอมขน - ลงของความเขมแสงนจะถกสงไปยง Correlator เพอสารตวอยางตองผานการเตรยมเพอใหไดความเขมขนทเจอจางอยางเหมาะสม นอกจากนนเทคนคนยงตองการความละเอยดสง เนองจากการปองกนการรบกวนจากการกระเจงของอนภาคฝนหรอสงสกปรก
การใหบรการภาคเอกชนการวเคราะหขนาดอนภาคการวเคราะหคาศกยซตา (Zeta Potential)การวเคราะหความเสถยรของอมลชนการวเคราะหความเสถยรของสตรการเตรยมตวอยางการวเคราะหประสทธภาพของพกเมนตการวเคราะหสงปนเปอนการวเคราะหอน ๆ โดยการประยกตใชเครองมอ ไดแก สารแขวนลอย ตวอยางพอลเมอร การเตรยมตวอยางยาและเครองสาอาง การเตรยมอมลชน สและพกเมนต นาหมกและสารปรบแตง การบาบดนาเสย
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน44
ตวอยางของการวเคราะหตวอยางชนงานดวยเครอง Zetasizer
การกระจายตวของขนาดอนภาคการวเคราะหนาหนกโมเลกลการวเคราะหคาศกยซตาการทดสอบประจของอนภาคในของเหลวดวยเทคนค Electrophoretic Mobility
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 45
4. Differential Scanning Calorimetry (DSC) DSC เปนเทคนคทใชวเคราะหทดสอบวสดโดยการวดคาพลงงานความรอนและอณหภมของสารตวอยางเปรยบเทยบ กบสารมาตรฐานเมอมการเปลยนแปลงทางกายภาพ หรอการเปลยนแปลงทางเคม เชน การหลอมเหลว การเปลยนสถานะ การเปลยนรปผลก การเกดปฏกรยาเคม เปนตน โดยพนท ใตกราฟทเกดขนจะมความสมพนธโดยตรงกบการเปลยนแปลง ความรอนของตวอยาง ในการวเคราะหตวอยาง ตวอยางจะถกวางบนจานอะลมเนยมทอยภายในเตา ทควบคมอณหภม โดยภายในเตาจะมสารอางองซงเปนจานอะลมเนยมเปลา เพอใชเปนตวเปรยบเทยบกบตวอยางภายใตสภาวะเดยวกน
การใหบรการภาคเอกชน
วเคราะหจดหลอมเหลว (Melting Points)วเคราะหความรอนจาเพาะ (Specific Heat)วเคราะหคาพลศาสตร (Kinetics)วเคราะหความบรสทธของวสด (Purity of Materials)วเคราะหความเสถยรตออณหภม (Thermal Stability)วเคราะหการเปลยนสถานะ (Phase Transition)วเคราะหสภาพเปนผลก (Crystallinity)วเคราะหสารทมหลายโครงสราง (Desorption/Adsortion)การดด หรอคายพลงงาน (Desorption/Adsortion)การระเหย (Vaporization)การวเคราะหอน ๆ โดยการประยกตใชงานเครองมอ ไดแก ตวอยางพอลเมอร ยา และเครองสาอางตวอยางทางเคม ส และพกเมนต ตวอยางทางปโตรเคม และสารอนทรยตาง ๆ สวนประกอบในอาหาร
5. Fluorescence Spectroscopy ฟลออเรสเซนสสเปคโตรสโคป (Fluorescence Spectroscopy) เปนเทคนคทใชวเคราะหคณสมบตของสารโดยการอาศยการดดกลนรงสยวทสงผลใหโมเลกลถกกระตนและมการสนภายในโมเลกลจากระดบขนพลงงานสถานะพน (Ground State) ไปสระดบขนพลงงานทสงขน (Excited State) เรยกวาการดดพลงงาน (Excite Energy)โมเลกลทมการ
เคลอนทไปอยในระดบของชนพลงงานทสงจะไมมความเสถยร จงมการปลดปลอยพลงงานและตกลงมาในชนระดบพลงงานทตากวา พลงงานทโมเลกลปลดปลอยจากระดบชนพลงงานกระตนชนทหนง สระดบชนพลงงานสถานะพนทจะทาใหเกดการคายโฟตอน (Emission of Photon) ทาใหเกดสเปกตรมในชวงฟลออเรสเซนส ณ คาพลงงานทกระตนทจาเพาะของสารแตละชนด
การใหบรการภาคเอกชน
วเคราะหตวอยางในรปของเหลวและของแขงไดวเคราะหหาคา Excitation, Emission, คาคงทของ Wavelength Synchronous และ การสแกนหา คาคงทของพลงงาน Synchronous Spectralสามารถวเคราะหไดในหมวดฟลออเรสเซนส (Fluorescence) ฟอสโฟเรสเซนส (Phosphorescence) ไบโอลมเนสเซนส (Bio - Luminescence) และเคมลมเนสเซนส (Chemi – Luminescence)สามารถสแกนคา Excitation และ Emission ในรป 3 มตไดสามารถสแกนคา Synchronous และ Kinetic ในรป 3 มตไดการวเคราะหอน ๆ โดยการประยกตใชงานเครองมอ ไดแก การศกษาทางพษวทยา การศกษาทางการแพทย การศกษาปฏกรยาระหวางเอนไซมกบสารตงตน วตามนและสารอาหาร สารอนทรย พลาสตก ยางสงเคราะหและยางธรรมชาต จอภาพ
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 47
เครองชงละเอยดทมความไวตอการเปลยนแปลงสง โดยททงหมดจะอยในเตาทสามารถควบคมอณหภมและบรรยากาศได บรรยากาศภายในอาจจะเปนแกสเฉอย เชน ไนโตรเจน หรอแกสทมความวองไว เชน อากาศ หรอ ออกซเจน โดยนาหนกของตวอยางทเปลยนแปลงจะเกดขนทอณหภมเฉพาะของสารแตละชนด โดยนาหนกทหายไปนนเกดมาจากการระเหย การยอยสลาย หรอการเกดปฏกรยาตาง ๆ
การใหบรการภาคเอกชน
องคประกอบของสาร (Composition)เสถยรภาพทางความรอน (Thermal Stabillity/Decomposition)ปรมาณสารสมพนธทเกดปฏกรยา (Stochiometry of Reaction)จลพลศาสตรของการเกดปฏกรยา (Kinetics of Reactions)กระบวนการดด/คายพลงงาน (Desorpton/Adsorption Processes)การระเหย (Evaporation)การวเคราะหอน ๆ โดยการประยกตใชเครองมอ ไดแก ตวอยางพอลเมอร ตวอยางทางเคม สและพกเมนต ตวอยางทางปโตรเคม และสารอนทรยตาง ๆ สวนประกอบในอาหาร
6. Thermogravimetric Analysis (TGA) TGA เปนเทคนคทใชวเคราะหความเสถยรของวสดโดยเฉพาะพอลเมอรเมอไดรบความรอน โดยการวดนาหนกของวสดทเปลยนแปลงในแตละชวงอณหภมดวยเครองชงทมความไวสง เทคนคนเหมาะสาหรบการวเคราะหการเปลยนแปลงสภาพวสดทเกยวของกบการดดซบแกสหรอระเหยของนา การตกผลก (Crystallization) อนเนองมาจากการเปลยนเฟส การแตกตวของวสด (Decomposition) ศกษาการเกดปฏกรยา ออกซเดชนและรดกชน หรอ ปรมาณสารสมพนธ (Stoichiometry) ในการวเคราะหตวอยาง ตวอยางจะถกวางบนจานขนาดเลก ซงเชอมตอกบ
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน48
การใหบรการภาคเอกชน
7. UV/VIS Spectroscopy UV/VIS Spectrophotometer เปนเครองมอทใชในการตรวจวดปรมาณแสงและคา Intensity ในชวงรงสยวและชวงแสงขาวททะลผานหรอถกดดกลนโดยตวอยางทวางอยในเครองมอ โดยทความยาวคลนแสงจะมความสมพนธกบปรมาณและชนดของสารทอยในตวอยางซงสวนใหญจะเปน สารอนทรย สารประกอบเชงซอน และสารอนนทรยทสามารถดดกลนแสงในชวงความยาวคลนเหลานไดคณสมบต ในการดดกลนแสงของสารเมอโมเลกลของตวอยางถกฉาย ดวยแสงในชวงรงสยวหรอแสงขาวทมพลงงานเหมาะสมจะทาใหอเลกตรอนภายในอะตอมเกดการดดกลนแสงแลวเปลยนสถานะไปอยในชนระดบพลงงานสงกวาเมอทาการวดปรมาณของแสงทผาน หรอสะทอนมาจากตวอยางเทยบกบแสงจากแหลงกาเนดทความยาวคลนคาตาง ๆ ตามกฎของ Beer - Lambert คาการดดกลนแสง (Absorbance) ของสารจะแปรผนกบจานวนโมเลกล ทมการดดกลนแสง ดงนนจงสามารถใชเทคนคนในการระบชนดและปรมาณของสารตาง ๆ ทมอยใน ตวอยางได
การดดกลนของแสง (Absorptance)รอยละของการทะลผานของแสง (%Transmittance)รอยละของการสะทอนของแสง (%Reflectance)รอยละของสมประสทธการสงผานของแสง (Diffuse %T)รอยละของสมประสทธการสะทอนของแสง (Diffuse %R)รอยละของ Variable Angle (%T)รอยละของคาสะทอนแสงของสเปกควลาร (Specular %R)รอยละของการสะทอนแสงรวม (Total %R)การวเคราะหอน ๆ โดยการประยกตใชงานเครองมอ ไดแก
1. การวดการดดกลนและการทะลผานของคลนแสง เชน ชนตวอยางกระจก แกว แวนตากนแดด คอนแทคเลนส กระจกเคลอบดวยฟลมบาง หมกพมพ เครองสาอาง ตวอยางทางดานชวภาพ เปนตน
2. การหาคาสะทอนของแสงในชนตวอยางฟลมและการเคลอบบนพนผว ผงโลหะ ผงออกไซดของโลหะ ผงสพลาสตก และเซรามก เปนตน
4ศนยพนธวศวกรรมและเทคโนโลยชวภาพแหงชาต National Center for Genetic Engineering and Biotechnology (BIOTEC)
4
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน50
ลำดบท ลำดบท
บรการเครองมอวทยาศาสตร
เครองมอ เครองมอ
Autoclave (Volume 50L)
Autoclave (Volume 79L)
Autoclave (Volume 110L)
Autoclave (Volume 250L)
Balance (Precision)
Balance (Analytical)
Block Heater
Refrigerated Centrifuge
Speed Vacuum Microcentrifuge
Ultracentrifuge
Cooling Incubator
Freeze Dryer
Gas Chromatography (GC-FID)
Gel Documentation and Densitometer
High Performance Liquid
Chromatography (HPLC Manual)
High Performance Liquid
Chromatography (HPLC Automatic)
Hot Air Oven
Ice Maker Machine
PCR
Real Time PCR
Shaker
Incubator Shaker
Spectrofluorometer
UV-VIS Seectrophotometer
(GBC, Analytik)
Spectrophotometer
Thermomixer
Water Purfication System
27.1 Deionzed Water (NanoPure)
27.2 Distilled Water
27.3 Reverse Osmosis Water
Walk - in Incubator
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 51
ลำดบท
ลำดบท
ลำดบทรำยกำรตรวจวเครำะหทใหบรกำร
รำยละเอยด
รำยกำรตรวจวเครำะหทใหบรกำร
1
2
3
4
5
6
1
2
7
8
9
10
11
โดยมรายการเอนไซมทเปดใหบรการตรวจวเคราะหมากกวา10รายการไดแกCellulase,Xylanase,Amylase, Protease, Beta-Glucanase, Phytase, Invertase, Beta-Glucosidase, Pectinase, Lipase โดยกลมลกคาเปาหมายไดแกอตสาหกรรมอาหารอตสาหกรรมอาหารสตวอตสาหกรรมฟอกยอมเปนตน
บรการตรวจวเคราะหเอนไซม
รำยกำรตรวจวเครำะหทใหบรกำร
รำยกำรตรวจวเครำะหทใหบรกำร
Cellulase
Xylanase
Amylase
Protease
Beta-Glucanase
Phytase
Invertase
Beta-Glucosidase
Pectinase
Lipase
Mananase
โดยการตรวจสอบสารออกฤทธตอเชอกอโรคในคนและพชตาง ๆ และความเปนพษตอเซลลสตวไดแกCytotoxicityTestsAgainstCancerousCellLines,CytotoxicityTestsAgainstNormalCellLines, Anti-HumanInfectiousPathongens,Anti-PlantDiseasePathogensเปนตน
บรการตรวจสอบหาสารออกฤทธทางชวภาพ
CytotoxicityTestsAgainstCancerousCellLines
การทดสอบฤทธตานมะเรง(Human,OralCavity,Carcinoma)
1.1ทดสอบสารPositiveหรอNegative
1.2ทดสอบหาคาIC50
การทดสอบฤทธตานมะเรงMCF-7(Human,Breast,Adenocarlinoma)
รายละเอยด
2.1ทดสอบสารPositiveหรอNegative
2.2ทดสอบหาคาIC50
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน52
ลำดบท รำยละเอยด
การทดสอบฤทธตานมะเรงNCI-H187(Human,SmallCellLung,Carcinoma)
3.1ทดสอบสารPositiveหรอNegative
3.2ทดสอบหาคาIC50
HL-60 (Human, Leukemia)
4.1 Non-Cytotoxic
4.2 Cytotoxic
HepG2(Human,Liver,Hepatocarcinoma)(ทดสอบหาคาIC50)
Caco-2(Human,Colon,Adenocarcinoma)(ทดสอบหาคาIC50)
B16-F10(Mouse,Skin,Melanoma)(ทดสอบหาคาIC50)
CytotoxicityTestsAgainstNormalCellLines
การทดสอบความเปนพษตอเซลลVero(AfricanGreenMonkey,Kidney,Fibroblast)
8.1ทดสอบสารPositiveหรอNegative
8.2ทดสอบหาคาIC50
HEp-2(Human,Larynx,Epithelial)(ทดสอบหาคาIC50)
L929(Mouse,Subcutaneous,ConnectiveTissue)(ทดสอบหาคาIC50)
3T3(Mouse,Embryonic,Fibroblast)(ทดสอบหาคาIC50)
IEC6(Rat,SmallIntestine,Epithelial)(ทดสอบหาคาIC50)
BHK(21)C(13)(BabyHamster,Kidey,Fibroblast)(ทดสอบหาคาIC50)
CytotyoxicityTestsAgainstInsectCellLines
Sf9(SpodoptheraFrugiperda,PupalOvarianTissue)(ทดสอบหาคาIC50)
C6/36(AedesAlbopictus,MosquitoLarvae)(ทดสอบหาคาIC50)
Anti-HumanInfectiousPathogens
การทดสอบฤทธตานเชอมาลาเรยAnti-Malaria(PlasmodiumFalciparum)(ทดสอบหาคาIC50)
การทดสอบฤทธตานเชอวณโรคAnti-TB(MycobacteriumTuberculosis)
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 53
ลำดบท รำยละเอยด
การทดสอบฤทธตานไวรสเรมชนดทปากAnti-VirusHSV-1(HerpesSimplexVirusType1)
18.1ทดสอบหาสารPositiveหรอNegative
18.2ทดสอบหาคาIC50
การทดสอบฤทธตานเชอยนสAnti-Fungal(CandidaAlbicans)
19.1ทดสอบหาสารPositiveหรอNegative
19.2ทดสอบหาคาIC50
การทดสอบฤทธตานเชอแบคทเรยAnti-Bacteria(BacillusCereus)
20.1ทดสอบหาสารPositiveหรอNegative
20.2ทดสอบหาคาIC50
Anti-PlantDiseasePathogens
การทดสอบฤทธตานเชอรากอโรคไหมในขาวAnti-BlastDisease(MagnaporthaGrisea)
21.1ทดสอบหาสารPositiveหรอNegative
21.2ทดสอบหาคาIC50
การทดสอบฤทธตานเชอรากอโรคเมลดดางในขาวAnti-DirtyPanicleDisease(CurvaulrisLunata)
22.1ทดสอบหาสารPositiveหรอNegative
22.2ทดสอบหาคาIC50
การทดสอบNeuraminidaseInhibition(H5N1)
23.1ทดสอบหาสารPositiveหรอNegative
23.2ทดสอบหาคาIC50
คาบรการการทดสอบการปนเปอนไมโคพลาสมา
คาบรการทดสอบฤทธทางชวภาพ
อนๆ
บรการทดสอบSelectiveCOX–1Inhibition
18
19
20
21
22
23
24
25
26
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน54
บรการวเคราะหสารสกดสาร ดวยเครองมอแมสสเปกโทรมเตอร(MassSpectrometer)เครองนวเคลยรแมกเนตกเรโซแนนซ(Nuclear Magnetic Resonance: NMR) เครองอนฟาเรดสเปกโทรโฟโทมเตอร (InfraredSpectrophotometer:IR)และเครองสกดสารโดยใชคารบอนไดออกไซดแบบเหนอจดวกฤต(SupecriticalFluid Extraction: SFE)
บรการโมโนโคลนอลแอนตบอด ไดแกการเพมปรมาณโมโนโคลนอลแอนตบอดและทาแอนตบอดใหบรสทธตลอดจนจาหนายแอนตบอดตอไวรสและแบคทเรยกอโรคซงทางไบโอเทคไดวจยและพฒนาขนใหแกบรษทและหนวยงานตางๆ เชนPotyvirus,Tospoviruses,Whitefly-TransmittedGeminivirus,AcidovoraxAvenaeSubsp.Citrulli,ListeriaและProgesteroneเปนตน
ลำดบท ลำดบท
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
รำยกำรตรวจวเครำะหทใหบรกำร
รำยละเอยด รำยละเอยด
MAb Production - Company
MAb production - Government
Potyvirus
Tospoviruses
Whitefly - Transmitted Geminivirus
Acidovorax Avenae Subsp. Citrulli
Listeria
Progesterone
Mouse Monoclonal Antibody
Rabit Polyclonal Antibody
บรการแอนตบอดและชดตรวจ
(Aac-1CG Strip Test)
บรการดานจลนทรย ไดแกการเกบรกษาสายพนธจลนทรยและวสดชวภาพระดบโมเลกลเพอใชในการวจยและพฒนาในดานตาง ๆ ทงทางดานเกษตรการแพทยและอาหาร โดยรายละเอยดงานบรการไดแก บรการรบฝากจลนทรยโดยการรบฝากแบบเผยแพรและเพอการยนขอจดสทธบตรบรการสายพนธจลนทรยเพอการศกษาและวจยทงในประเทศและตางประเทศบรการจาแนกจลนทรยไดแก แบคทเรยและยสตโดยใชเทคนคทางโมเลกลตลอดจนบรการฝกอบรมวธการเกบจลนทรย/การบรหารจดการศนยจลนทรย/วธจาแนกแบคทเรยยสตและรา
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 55
รำยละเอยดกำรใหบรกำร
ลำดบท
ลำดบท
รำยละเอยด
รำยละเอยด
1
2
3
4
5
6
7
1
2
รำยละเอยดบรกำรดำนจลนทรย
บรการรบฝากจลนทรย/Deposit
บรการสายพนธจลนทรย/BCCStrains
บรการเกบรกษาจลนทรย/CulturePreservation
บรการจาแนกจลนทรย/Identification
4.1จาแนกยสตD1/D2Domainof26SrDNAsequenceanalysis
4.2จาแนกแบคทเรยPartial16SrDNAsequenceanalysis
4.3จาแนกแบคทเรยFulllength16SrDNAsequenceanalysis
แยกเชอใหบรสทธกรณสายพนธทไดรบเพอจาแนกมการปนเปอน
วเคราะหความสมพนธทางววฒนาการ
นบจานวนจลนทรยจากตวอยาง
บรการดานเชอรา ไดแกบรการหาลกษณะทางสณฐานวทยาบรการหาลกษณะทางอณวทยาบรการคดแยกและบรการทดสอบการเจรญเชอรา
บรกำรหำลกษณะทำงสณฐำนวทยำ
จาแนกจลนทรยตอสายพนธ
1.1หาลาดบอนกรมวธานระดบสกลตอสายพนธ
1.2หาลาดบอนกรมวธานระดบสปชสตอสายพนธ
บรกำรหำลกษณะทำงอณวทยำ
การเตรยมสายพนธกรรม
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน56
ลำดบท รำยละเอยด
3
4
5
6
7
8
9
10
11
2.1หาลาดบนวคลโอไอทดบรเวณITS1-5.8S–ITS2
2.2หาลาดบนวคลโอไอทดบรเวณSSUrDNAและBLASTsearch
2.3หาลาดบนวคลโอไอทดบรเวณLSUrDNAและBLASTsearch
วเคราะหความสมพนธทางววฒนาการของเชอราเปรยบเทยบสายพนธอางอง
บรการตรวจวเคราะหปรมาณเชอรา
บรการวเคราะหทางเคมของผลตภณฑจากเชอราดวยเทคนคHPLC
บรการจดจาแนกเชอราระดบสกล
บรการจดจาแนกเชอราระดบสปชส
จดจาแนกเชอรา
บรการสกดสารพนธกรรม
บรการคดแยกตวอยางเชอรา
บรการทดสอบการเจรญของเชอรา
บรการเลยงเชอจลนทรย ใหบรการพฒนาเทคนคการเลยงเชอจลนทรยในอาหารเหลวและอาหารแขงในระดบขวดทดลองและในระดบถงหมกขนาด5–20ลตร
รำยละเอยดกำรใหบรกำร
ลำดบท รำยละเอยด
1
2
3
4
5
6
7
บรการในการเลยงจลนทรยบนเครองเขยาทไมมเครองทาความเยน
บรการในการเลยงจลนทรยบนเครองเขยาทมบรการในการเลยงจลนทรยเครองทาความเยน
บรการในการเลยงจลนทรยในถงหมก
เกบตวอยางโดยใชเครองปนสาหรบMicrocentrifugeTube
เกบตวอยางโดยใชเครองปนแบบตงโตะ
เกบตวอยางโดยใชเครองปนแบบตงพน50-500mL,CEPAL/h
บรการเตรยมหองตวอยางโดยวธFreezeDry
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 57
ลำดบท รำยละเอยด
8
9
10
11
เกบตวอยางในตทาความเยน-20องศาเซลเซยส
เกบตวอยางในตทาความเยน-80องศาเซลเซยส
ฝกอบรมในการใชถงหมก
คาบรการในการเลยงจลนทรยPmRab7
บรการตรวจวเคราะหคณภาพแปงและผลตภณฑมนสาปะหลง ทงการตรวจสอบคณภาพทางเคม คณภาพทางกายภาพคณภาพทางชวภาพ และการตรวจสอบ ทางชวเคม
รำยละเอยดกำรตรวจวเครำะหคณภำพแปงและผลตภณฑมนสำปะหลง
ลำดบท กำรวเครำะห วธกำรกำรวเครำะห
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
ปรมาณความชน(MoistureContent)
%เชอแปง(%Starch)
ปรมาณแปง(%Starch)
ปรมาณโปรตน(Protein)
ปรมาณไขมน(Fat)
ปรมาณเถา(Ash)
ปรมาณเสนใย(Fiber)
ปรมาณไซยาไนด(Cyanide)
ปรมาณซลเฟอรไดออกไซด(Sulfurdioxide,SO2)
กาลงการพองตวและการละลาย
สมมลเดกซโตรส(DextroseEquivalent)
พเอช(PH)
ความขาวของแปง
AOAC (1990)
มอก.274-2521
Glucoamylase method AACC (1990)
AOAC (1990)
AOAC (1990)
AOAC (1990)
AOAC (1990)
AOAC (1990)
มอก.268-2521
pH meter (Horiba F23)
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน58
ลำดบท กำรวเครำะห วธกำรกำรวเครำะห
ขนาดและการกระจายตวของเมดแปง
ปรมาณอะมโลสดวยHPSEC
ปรมาณอะมโลสดวยไอโอดน
ปรมาณอะมโลสดวยConA
ปรมาณอะมโลส(AmperometricTitration)
ปรมาณแปงในนาตาล(%Starch)
Oligosaccharide by HPLC for Suger
ปรมาณเถาซลเฟต
ดนทราย/เถาทไมละลายในกรด
GUMในผลตภณฑนาตาล
Neutral Detergent Fiber (NDF)
Acid Detergent Fiber (ADF)
Acid Detergent Fiber (ADF)+Lignin
ปรมาณเยอ(Pulp)
ความเหนยวดวยเครอง RVA (Rapid ViscoAnalyser)
ความเหนยวดวยเครองBrabender
DSC (Differential Scanning Calorimeter) +
Retrogradation
% Gelatinization by DSC
Laboratory Manual for South Africa Sugar Factories, 1985
AOAC (1995)
AOAC (1990)
ดวยวธการตกตะกอนดวยเอทานอลและเผาหาเถา
AOAC (1990)
AOAC (1990)
AOAC (1990)
มอก.274-2521
แปง3กรม(ความชน14%)นา25กรม.Profile : Std1 (Newport Scientific Method, 1997)
ShueyW.C. and K.H. Tipples. TheAmylographhandbook,1980(แปง6%(w/w)ปรบนา500กรม.)
เครองPERKINELMERDSC7วธของKim
(1995)
เครองPERKINELMERDSC7วธของKim
(1995)
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 59
ลำดบท กำรวเครำะห วธกำรกำรวเครำะห
%GelatinizationดวยDSC(panใหญ+Retro)
%GelatinizationดวยDSC(panใหญ)
Water Activity (aw)
การเตรยมตวอยาง
การยอยสลายทางชวภาพ
ฟอสฟอรส
ความละเอยด(150ไมโครเมตร,แปง100g)
ความเหนยวดวยเครองBrookfield
Total plate count
E. coli
Yeast and Mold
Salmonella sp.
Coliform
Operator’s Manual Aqua Lab
ดดแปลงจากมอก.274-2521
เครองBrookfieldRheometer
Compendium of Methods for the
Microbiological Examination of Foods
American Public Health Association
(HPHA). 2 nd, 1984
Compendium of Methods for the
Microbiological Examination of Foods
American Public Health Association
(HPHA). 2 nd, 1984
Compendium of Methods for the
Microbiological Examination of Foods
American Public Health Association
(HPHA). 2 nd, 1984
Compendium of Methods for the
Microbiological Examination of Foods
American Public Health Association
(HPHA). 2 nd, 1984
Compendium of Methods for the
Microbiological Examination of Foods
American Public Health Association
(HPHA). 2 nd, 1984
32
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
44
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน60
ลำดบท กำรวเครำะห วธกำรกำรวเครำะห
Hardness
การวเคราะหนาตาลดวยเครองHPLC(DP1-7)
การวเคราะหนาตาลดวยเครองHPLC(Oligosaccharide)
วเคราะหคณภาพมนเสน/มนอดเมด(กรมการคา
ตางประเทศ)
ตรวจวเคราะหแปงมน(กรมการคาตางประเทศ)
DS Acetyl Content
ความหนดRheometer
DS Carbonyl Content
Thermophelic Bacteria
AmyloseContent (ถาสงตวอยางเดยวคดเพม
100บาท)
องคประกอบนาตาล(Oligosaccharide)
Typical Carbohydrate Profile Dextrose /
Maltose / Maltotriose / Higher Sugars
ปรมาณเดกซแทรนในนาตาล
ปรมาณเถาโดยการวดคาConductivity
ปรมาณหมAcetate
ความขาวของแปง(Whiteness)
ขนาดและการกระจายตวของขนาดเมดแปง
(Size Distribution)
มอก.638-2529
Ion Chromatography
ChromatographyหาปรมาณDP1(Dextrose),
DP2 (Maltose), DP3 (Maltotriose)
ICUMSA, (1994)
เครองConductivityMeter
JECFA (1997)
เครองKettC-100-3
เครองImageAnalyser
45
46
47
48
49
50
51
52
53
54
55
56
57
58
59
60
61
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 61
บรการตรวจวเคราะหไวรสโรคกง ใหบรการแบบครบวงจรครอบคลมการตรวจไวรสในกงตลอดจนการแกปญหาสขภาพกงชวเคมหองปฏบตการตรวจวเคราะหแบบครบวงจรมประสบการณในการตรวจไวรสในกงตลอดจนการแกปญหาสขภาพกงในอตสาหกรรมมากกวา 10 ป ดวยผลงานวจยและพฒนาทเปนอกหนงงานหลก ทาให หองปฏบตการและเทคนคPCRของBIOTECมมาตรฐานสงสดสาหรบอตสาหกรรมกงไทยทางหนวยมการเปดใหบรการดงตอไปน
WSSV Nested PCR
TSV RT Nested PCR
MBV Nested PCR
LANV RT-Nested PCR
IMNV RT-Nested PCR
Total Bacteria Count
IHHNV Nested PCR
YHV RT- Nested PCR
HPV Nested PCR
MRNV RT- Nested PCR
KHVNestedPCR
Total Vibrio Count
บรการตรวจวเคราะหทางเคม สงแวดลอม และอาหาร ใหบรการตรวจสอบคณภาพผลตภณฑ พารามเตอรในการควบคมคณภาพทางสงแวดลอม การวเคราะหคณภาพนาเสยและการวเคราะหคณภาพในอตสาหกรรมอาหาร
5ศนยเทคโนโลยอเลกทรอนกสและคอมพวเตอรแหงชาต National Electronics and Computer Technology Center (NECTEC)
5
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 63
ศนยเทคโนโลยไมโครอเลกทรอนกส(Thai Microelectronics Center: TMEC) TMEC ใหความสาคญกบการวจยและพฒนา Silicon-Based Sensor ควบคไปกบการพฒนาเทคโนโลยการผลตวงจรรวม สาหรบการพฒนา Smart Sensor ซงจะสามารถนาไปประยกตใชในการผลตผลตภณฑตาง ๆ เชน เครองใชไฟฟา อปกรณโทรคมนาคม เครองมอวดตาง ๆ รวมทงในอปกรณ/ชนสวนอเลกทรอนกสสาหรบรถยนต เปนตน ในปจจบนมหนวยวจยและพฒนาในสงกด 2 หนวยคอ ฝายวจยและพฒนาเทคโนโลยไมโครอเลกทรอนกส และงานออกแบบวงจรรวม
การวเคราะหหาจดบกพรองบนวงจรรวมมการบรการหาจดบกพรองทอาจเกดขนบนวงจรรวม หลงการบรรจเปนผลตภณฑแลว ซงจะตองมกระบวนการเปดบรรจภณฑ (De-Capsulation) การวเคราะหทงทางไฟฟา และการวเคราะหในระดบจลภาค เพอตรวจหารองรอยความเสยหาย หรอความผดปกตตาง ๆ ทอาจเกดจากกระบวนการผลต การเกบรกษา หรอ กระบวนการบรรจการวเคราะหองคประกอบของวสดปนเปอนบนชนงานในกระบวนการผลตตาง ๆ ทจะตองควบคมความสะอาดของชนงาน จาเปนตองมการวเคราะหเพอตรวจสอบชนดของวสดปนเปอนเพอใชในการหาทมาของแหลงปนเปอน หรอการตรวจสอบขอบกพรองในกระบวนการผลต แตเครองมอวเคราะหเหลานมกมราคาแพง และจาเปนตองใชบคลากรทมความรและทกษะในการ ปฏบตการศนยเทคโนโลยไมโครอเลกทรอนกส จงเปดใหบรการวเคราะหวสด ปนเปอนดวยเทคนคสเปกโตรสโคป (Spectroscopy) เชน Auger Electron Spectroscopy, Energy Dispersive X Ray Spectroscopy เปนตน นอกจากนเทคนคดงกลาวยงสามารถใหบรการวเคราะหองคประกอบของวสดทปลกสรางขน เชน โลหะผสม การเคลอบผวตาง ๆ เปนตน
การใหบรการภาคเอกชน
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน64
การใหบรการตรวจวเคราะหคณสมบตทางไฟฟาของแผนวงจรรวมใหบรการวเคราะหคณสมบตทางไฟฟาดวยเครองมอ Probe Station ในระดบ Wafer Scale Circuit ประกอบกบชดเครองมอวเคราะหทางไฟฟา ซงจะสามารถคานวณคาคณสมบต พนฐานของอปกรณในวงจรรวมและรายงานผลแบบอตโนมต ขอมลคณสมบตทางไฟฟานจะถกนาไปใชในการปรบปรงการออกแบบวงจรรวม เพอพฒนาการผลต หรอการพฒนาสมรรถนะของวงจรรวมตอไป
สงอานวยความสะดวกหองสะอาด คลาส 100 และ คลาส 10,000 ขนาด 1,000 ตารางเมตรพรอมพนทสนบสนนสายการผลตเทคโนโลยซมอส โดยใชแผนซลกอนขนาดเสนผานศนยกลาง 6 นวซอฟตแวรสาหรบการออกแบบวงจรรวม ซงไดแก EDA Tools, Cadence IC Design Environment, Tanner EDA Tools และ Xilinx ISE Foundationซอฟตแวรสาหรบการจาลองกระบวนการผลตและอปกรณอเลกทรอนกส: TSUPREM และ MEDICIการผลตกระจกตนแบบลวดลายวงจรรวม/ไมโครเซนเซอรเครองมอสาหรบการวดและวเคราะหพารามเตอรทางไฟฟา
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 65
กลไกการสนบสนนและบรการภาคเอกชนสานกงานพฒนาวทยาศาสตรและเทคโนโลยแหงชาต (สวทช.)National Science and Technology Development Agency (NSTDA)
สานกงานพฒนาวทยาศาสตรและเทคโนโลยแหงชาต (สวทช.) เปนองคกรทหมนเรยนร ม งเสรมสรางความสามารถทางวทยาศาสตรและเทคโนโลย ของประเทศ ในสาขาทมความสาคญยงยวดตอการพฒนาเศรษฐกจและสงคม ไดดาเนนงานผานการทางานรวมกนของศนยวจยแหงชาต 4 ศนย ไดแก
ศนยพนธวศวกรรมและเทคโนโลยชวภาพแหงชาต (BIOTEC) มงพฒนางานดานเทคโนโลยชวภาพศนยเทคโนโลยโลหะและวสดแหงชาต (MTEC) ม งพฒนางานดานเทคโนโลยทเกยวของกบวสดตาง ๆศนยเทคโนโลยอเลกทรอนกสและคอมพวเตอรแหงชาต (NECTEC) มงพฒนางานดานอเลกทรอนกสและเทคโนโลยคอมพวเตอรศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต (NANOTEC) มงพฒนางานดานนาโนเทคโนโลย
สวทช. ยงใหการสนบสนนและบรการตาง ๆ สาหรบภาคเอกชน ไดแก1. เงนกดอกเบยตา ใหแกเอกชนในภาคอตสาหกรรมการผลต เพอการคนควา วจยและพฒนา หรอเพอใชเทคโนโลยในการพฒนาผลตภณฑและกระบวนการผลตตามความตองการของบรษท
1.1 วงเงนก ใหกสงสด 30 ลานบาท และไมเกน 75% ของงบประมาณโครงการ
1.2 ระยะเวลาเงนก ไมเกน 7 ป นบตงแตวนทไดรบเงนกงวดแรก1.3 ระยะเวลาปลอดหน (เงนก) ไมเกน 2 ป (ขนอยกบดลพนจของสถาบน
การเงนทเขารวม)2. ยกเวนภาษเงนไดนตบคคล เจาของโครงการจะไดรบการยกเวนภาษเงนไดนตบคคลสาหรบเงนไดของบรษทหรอหางหนสวนนตบคคลเปนจานวนรอยละ 100 ของรายจายทไดจายไปเปนคาจางเพอทาการวจยและพฒนาเทคโนโลย หรออกความหมายหนงคอ สามารถหกคาใชจายสาหรบการวจยและพฒนาเทคโนโลย ไดเปนสองเทาของคาใชจายจรง3. บมเพาะธรกจเทคโนโลย เปนพเลยงใหกบผประกอบการเทคโนโลยใหม โดยการใหคาปรกษาและฝกอบรมทางธรกจ ตลอดจนเชอมโยงใหเขาถงทรพยากรทจาเปนเพอใหสามารถเรมตนธรกจและนาธรกจใหอยรอดได4. รวมลงทน เพอสงเสรมใหภาคเอกชนมการลงทนในกจการทจะชวยเพมพน ขดความสามารถในการพฒนา วทยาศาสตรและเทคโนโลยของประเทศ โดยจะสนบสนนดานเงนทน
Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน66
5. สทธประโยชนเพมเตมจาก BOI ผประกอบการทสนใจสามารถสนบสนนเงนเขากองทนเพอการพฒนาวทยาศาสตรและเทคโนโลยของ สวทช. นาไปขอรบสทธและประโยชน เพมเตมสาหรบการลงทนจาก BOI ไดงาย สะดวก และรวดเรว6. บรการทปรกษาและสรรหาผเชยวชาญดานการผลต เพอวนจฉยปญหาทางเทคนคและแนวทางพฒนาธรกจ โดยทปรกษาเทคโนโลย (ITA) และผเชยวชาญเฉพาะทาง โดยใหการสนบสนนดานการเงน ดงน
1. สนบสนนคาตอบแทนผเชยวชาญ 100% เพอวนจฉยปญหาทางเทคนค และแนวทางพฒนาธรกจ
2. สนบสนนคาใชจายในการดาเนนโครงการสงสด 50% ของงบประมาณโครงการ ภายในวงเงน 50,000 บาท ในหมวดคาตอบแทนผเชยวชาญ (รวมคาเดนทางและทพก) คาวเคราะหและทดสอบ คาวสด และครภณฑ ในการทาเครองตนแบบ ฯลฯ
3. สนบสนนแตละบรษทไดถง 2 โครงการตอป7. บรการทปรกษาดานทรพยสนทางปญญา จดทาสญญาเกยวกบการขออนญาต นาสทธเทคโนโลยของ สวทช. และเครอขาย ไปใชประโยชนเชงพาณชย ใหคาปรกษา ดานทรพยสนทางปญญา รบดาเนนการเกยวกบการขอจดสทธบตร เครองหมายการคา และจดแจงลขสทธดวยคาบรการทเหมาะสม8. NSTDA Academy ใหบรการฝกอบรม ใหคาปรกษาทางวชาการและเทคนค ออกแบบ และพฒนาหลกสตรสาหรบพฒนาบคลากรสาขาวชาชพเทคโนโลยขนสง ครอบคลมดานวทยาศาสตรและเทคโนโลยในสาขาท สวทช. มความเชยวชาญ เพอยกระดบขดความสามารถดานวทยาศาสตรและเทคโนโลยของบคลากรในภาคการผลตและบรการของไทย9. โครงสรางพนฐาน
อทยานวทยาศาสตรประเทศไทย นคมวจยแหงแรกพรอมดวยโครงสรางพนฐาน ทางวทยาศาสตรและเทคโนโลย ซงรวมถงพนทเชาคณภาพสง สงอานวย ความสะดวกและบรการทตอบสนองตอความตองการ ของธรกจเทคโนโลยอยางครบวงจรเขตอตสาหกรรมซอฟตแวรประเทศไทย แหลงรวมการสรางคลสเตอรสาหรบอตสาหกรรมซอฟตแวร บรการใหเชาพนทสานกงานสนบสนนการถายทอดเทคโนโลย สงเสรมการปรบปรงกระบวนการซอฟตแวร สรางความรวมมอและขยายชองทางการตลาด กระตนใหเกดการใชเทคโนโลยสารสนเทศในการเพมขดความสามารถการแขงขนในภาคอตสาหกรรมตาง ๆศนยประชมอทยานวทยาศาสตรประเทศไทย เปนศนยประชมทนสมย พนทกวา 2,000 ตารางเมตร สามารถรองรบการจดประชมและแสดงนทรรศการไดอยางครบวงจร