de fiobillte et de maintenabilite.

on reliability and maintainability

TEXTES DES CONFERENCES

PROCEEDINGSUNIVERSITATSBiBLIOTHEK

HANNOVER

TECHN'SCHEINFORMAT!ONGB!BLIOTHEKJ

BIARRITZ RANGE

ASPECTS MATHEMATIQUES : MOVELISATWH -EVALUATIONMATHEMATICAL ASPECTS : MODE! - ASSESSAtEWT

Modele de iiabilite per&ormante 1Pcrf,ct<nancc reliability medalK. FISCHER, W. RUGER - DRESDEN UNIV.[Re'publiqut Democratique d'AWcmagtiel

line nouvelle me'thode de redondance. 'Optimisation dans les systemes generaaxDemonstration de solution optimale pouiune mithode. heuiiUique.A new method oj xedundancyOptimization in gcneia! iyifctnsOcmoint!a(<OM o optimal icluticn £ot the/icui<s(('c mzthedH. JWC-VE - TAIVUAN UHIOEKSITV OFTECHNOLOCV [Chine.)

Allocation optimate dth compoianti d'un 13te'teau topologiqut complzxe. atbitiaiie. a&inde maximiie.1 la iiabiiitzOptimum allocation o< the components e&atbitmvj complzx topological ueta'otfc jotmaximum ielia.bilityWAWG DAW, yE HAWG - WORTHERWJJAOTOWG UNIVERSITY [Chinz)

Ve'iaillanczi ateatoiiei : lent distribution ISA vCTiati/e jattute - Time dtittibuttottS.P. MUKHEK3EE, VIUP ROy - UWIf.OF CALCUTTA \lnde)

Algoiithme. de conception de leieaux iiablei 23d'oidinateutsAtgoxithmi jot \dehign o& xztiable computernetworks \V.M. CATUWEAMU, F. POPEWTIU - POty-TECHNIC INSTITUTE OF BUCAREST

Une me'thode <otte dans V estimation des 2&fnobabilites d'e'ehec a la demandeRofauit method ioi estimating (fl.iluio.-on-dzmand probabilities}.K. VAURIO, K. JANKALA - IMATRANVOIMA [Finlande]

Application des modilei predicts a la i/abttiti 34Predictive, models applied to reliability}.C. UGERON - SGTE Pateaux (Fiance)

Une mithode nouvzUe pout difpdt le niveau 40d'impoitance dans la construction de. &iabilit£de sytiimzA new method &or determining the degreeofj importance in system reliability engineeringCONG SONG-LAN - LUJ/AWG UNIV. [Chine]

Une approche a la determination de l'e£ii- 46cacite de. systimzAn approach to system e^ec<apenei4 deter-minationBOZWAR V0JN0V1C, RUDER B0SK0LV1CINSTITUTE OF ZAGREB Wcugoilavie)

Sui I'usage dei processus stochastiques dans SOla modelisation dei problemes de iiabiliteOn the use o& stochastic processes in modelingreliability problemsA. BIROLINI - ECOLE POLVTECHNIQUEFEVERALE VE ZURICH [Suisse]

Imbrication dei etats ivolutiis -. I'etat classique 59du systime et *ei limitesMerging ofa evolutive states : the classicalsystem state and its limitationsV. AMOIA - POLITECHNICO VI MILANOR. SOMMA - Selenia Spazio [Xtalie]

Une. theorie qualitative et quantitative, iur 64I'allocation du lien optimal en (fabiliteA qualitative and quantitative theory onthe reliability optimum link allocationT. WEIKANG - NORTHERN JIAOTONGUNIVERSITY [Chine)

FIABILITE VES LOGICIELSSOFTWARE RELJABlUTy

Ve&inition et mise en place, de (fljcteurs JOde qualite. dans an logidelVefainition and implementation o& qualityiactors in softwareR. CHIFF/.ET - INSA/Villeurbanne [France)

Rote dei metiiquei de complexite d'un programme ?5Aoutce dans Vassurance qualite. logicielComplexity metric role in iomce programin software quality assuranceN. PHAM VAN - RENAULT AUTOMATIONSERl Bois d'Arcy [France)

Service qualite logiciel et iiabilite. : une siexperience indu&trheUeSoitwart quauzy service and reliability :an industrial experienceP. KAHN - J.P. MARTIN - BSV/St Cloud1Fiance)

Eitimation de Vindice. d'erreur dans te* logiciels $fdei iquipements de bureau par I'analyseexpzrimentale. de tzgressionEstimation of, big curve using experimentalregression analysis oi oiiice. automationequipments soitwareK. FUKUSHIMA - V. KISHWA - SHARPCorp. [Japon)

Analyse des deffliUancei et modelisation 92du comportement du logiciel d'un autocommuta-teur telephonique.Failure analysis and modeling of, the 40|$twaiebehavior in electronic exchangeT. SABOURIN - ALCATEL THOMSONLannion [France)K. KANOUN - LAAS CNRS/ Toulouse (Fiance)

une theorie de la ffabiliti du X-ZElTowards a "X-IEL" reliability theoryJC. tAPRIE - LASS CNRS/Toulouse IFtance)

Tiecunil de donnees d'erreur du logiciel: 9%mzthodologie, normalisation, applications,Software error data gathering : methodology,normalization, applicationsLM. VUVALL, R. SEWW - ITT ReieaichInstitute VACS [Rome, N.V. USA)

Modeles de. croisiance de. iiabilite, comparaison 104avantages, inconvenientsReliability growth models, comparisons,advantages, inconveniencesR. TROy, V. FONT - VERILOG/Toulousz(France)

Approche qualitative. »• Methodologie : exempts. illAEEL [Analyse dei EUzti et dzi Erreursdu Logiciel). Incidence, sur la spzciiicationdes projetsQualitative approach ,• methodology : AEELexample [Analysis oi software ziiecti anderrors). Consequences on project spzciiica-tionP. TH1REAU - MATRA/Velizy IFTance)

Surete de. ipnctionnement et disponibilite.,: UStolerances ana. &autes t autote.it. Interface,matztiel-logicizlOperational iaiety and availability ,• failuretolerance ,• autofeit. Intet^ace materialsoftwareA.M. iAPASSAT - CEA/CEW - Saclay, IRVVVEIN/SIR - Gii sur. Vvztte (Fmnce)

SVSTEMES EXPERTSEXPERT

Le iyithne. expert d'aide au diagnostic de. W\panne, et a la reconiiguration : Fiabex 2Expert system ior failure diagnosis and recon-iiguration : Fiabex 2 Lambda-MuF. SAUOO1W - CEP/Pa«4 (Fiance)

Un syiteme. a. bale, de connatiiance. pour 725la generation de. sequtncei de te.itA knowledge base system ior test szquznczgenerationC. OELORME, P. HOUK C. l/AW WASSEWHOfECIMSA Velizy [France)hi. G1AM8IAS; R. L8ATH, J.F. SANTUCClLAIM Marseille (Fmnce)

Rechetche automatique. de. defaitlanaes pat 129un logiciel d'intelligence artiiidelleAutomatic rzszarch oi failures by artiiicialintzlligzncz softwareF. TERRIER, V. VESCAMVS, P.A. BOWWEMAy - CEA Saclay/Gii sur(Ftance)

Syiteme. expext et faabilite assistee. par 134ordinateurExpert systzms and computer aided reliabilityE. 8AS8ASSE, M. GONVRAN, J.C. LALEUFJ.F. HERy - EOF/Clamart (Ftawce)

Syiteme. expzrt de diagnostique. automatique. 139des defaitlances en usineAutomatic diagnosis expert systems oi plantfailuresE. VI CHIO - Univ. de Bari [Italie)

SEAGOS : systemz expert d'aide. a la gestion 144opirationnelle. de satelliteSEAGOS : expetf system ior satellite operationmanagement8. SCHIETECATTE, J.M. OARROy - Mafia

Toulouse [France.)G. 80y - CERT/OWERA/Touiouie (Fiance)

METHOVES V'ANALVSE ET VECONSTRUCTION VE LA FIABIL1TE

R.ELIABILITY ANALYSIS ANVCONSTRUCTION METHOVS

Evaluation de. la iiabilite d'un sySterne de. ISOprotection integrz numerique destine a laluvieillance d'un reacteur electronucleaireOptimisation de la pe'riodicite des te&tiReliability evaluation oi a numeric integratedprotzction system designed to monitor anelzctronuclear reactorOptimization oi tests periodicityA. ELLIA-HEWY, C. MARIE - FRAMATOME'Pa«A (Fiance)

Fiabilite de miMion d'un systemz complexzIz programme PvamMission reliability oi a complex systemthe Priam ptogtamG. SEGUIN - VGA-CAV Arcueil (Fiance)

Analyse avzc le simulateur SBSCAF d'un 156systeme siquentiel tres complexz d'alimenta-tion electriquz d'un reacteur nucleaireS. ESCAF simulator analysis oi a highlycomplex szquential systzm electricallypowered nuclear reactorJ.L. MILHEM, M. BLOT - CEA-IPSW IFontenayaux Roiei)A. LAV1ROW - CEA-IPSW li Am Title (Fiance)

lnloimalisation des FMECA 763FMECA computerizationC. GUIVAL, B. SCHIETECATTE - MATRAToulouse (Fiance)

Recherche, et quantification automatiques ]b%de AeqaenceA accidentelles put un systzmzreparableAutomatic tejeatch and quantification oiaccidental szquznces ior a repairable systzmM. BOUISSOU - EOF Clamart IFtance)

La iiabilite. appliques, a la robotique - operation U4LS.LS.Rztiability applied to robotics-operationI.S.I.S.M. -RAVNAL, M. BOUISSOU, P. LE - EOF(Fiance)M. CLOSSOW - HISPAA/O SUIZA (Ftance)R. CARTIER, B. ROUX - CEFIMA Lt'mogeAIFiance)Realisation, validation et exploitation d'un ISOmultiprocesszur tolerant aux fautes : AtmuieVzvelopment, certification and zxploitationoi a iailurz-tolzrant multiproczssor : Atmuiey. OESWARTE, K. ALAMl -IWRIA LAASO. TEVALVl CEIS-ESPACE Toulouse (Ftance)

Varbie ionctionnel : uiie methode. ipiauve'e 1$6d'analyse previsionnellz de la iiabilitzThe fanctional network : a tested methodoi iorecasting analysis oi reliabilityR. VOGIN - SEP Vzrnon (Fiance)L. 8ERMEJ0, P. SUV RET - CEP Paris(Ftance)

Mzthode. d'etude, de. la fjiabilite en mecanique. 793application aux matzrieli de. petite ierieet haute techniciteStudy method oi reliability in mechanicsapplied to high-tzch limited series materialsS. VEGUEIL, J. FROMENTIN - CEA CESTABeU.n-Be.Uzt (France)

La construction de la iiabilite et de. la 199maintenabitite au iil d'un programmeReliability and maintainability constructionduring program developmentM. VUNAUV - VGA-MAQlParis (Fiance)

Veveloppement de. method*, d'allocation 205en via dt la iiabilite' dans de grandes usineiVzvzlopment oi allocation method ior systemreliability target oi large plantsK. AKUTAGAWA, K. ONOOERA, R. SASAKIHITACHI Ltd Uapon)

Veveloppement de la mithade de deploiement 211FT et de developpement de la tzchnologie.d''evaluation d'eilort complexz quHmptiquecette methodeVevzlopment oi FT deploymznt mzthod anddevelopment oi complex stress evaluationtechnology implied by the methodT. SUGIMOTO, K. TANl Y. BESSHO -MATSUSHITA ELECTRIC WORKS Lfd Uapon)

MATOUT - Un logicisJl de simulation de 216iyitemei complexes applique, aux intenuptionsde iewiczMATOUT - Complex Ai/ifem stimulationsoftware applied to servicz interruptionsJ.F. GAJEWSKL M. HAZIZA - MATRAToufouAe (Fiance)

ConAttacton et awuiance de la iiabilite ZZ2en phaie de developpement d'un grand iyitemeConstruction and reliability assurance duringlarge system developmentM. EVCHENNE, M. GA2GA/ARD - AEROSPA-TIALE/Lzs Mureaux (Ftance)

Une approche originals pour V optimisation 229globale dei modes de ionctionntment d'uniyitemeOriginal approach ior global optimizationoi systzm operational modesA. OELAGE, a BREGER - SGTE/Pufeaux(Fiance)S. ROTH - OGA GIAT/Safoiy (Ftance)

Kite analyse comparative, d'un modele de 236croiiiance de la iiabilite. de. type, discumtinuavec lei modelei classiques de fame toga-tithmiqueModel oi discontinuous growth reliabilitycompared to classic logarithmic modelsJ. RIWGLER - MATRA/Velizy [France)

L'AUDE, un outil enentiet dans le ptogtamme 246de developpement d'vn grand AyAfeme pouten conitruire la iiabiliteAn essential tool in large AyAfem ptogtamdevelopment ior reliability constructionAMVEM. GAVOW - CNES/Toulouse (Fiance)M. COINVOZ - AEROSPATIALE/Les Mmeaux[France)

FIABILITE PREVISIONVELLE ETOPERATIONNELLE VES SVSTEMES

FORECAST ANV OPERATIONALRELIABILITY OF SYSTEMS

Utilisation conjointe d'une modtlisation par 252graphe de Markov et de calculi devolutionde temperature pour devaluation de la iiabilite.d'un iyiteme d'evacuation de puiuanceriiiduetteCombined use oi Markov graph model andtemperature evolution measurements toevaluate the reliability oi an evacuationsytem oi residual powerV. 30UBERT0N - CEP Paris (Fiance)

Analyse de iiabUM d'un iystime a dutee 257ef lei applications dam un iyiteme de Si-gnalisation de chemin de ^etReliability analysis o(> a durational systemand the applications in a railway signaling,sytemL. XIU - NORTHERN JIAOTONG Univ.[Chine)

Visponibilitz d'm iyiteme principal d'alimen-tation en eau d'une centrals nucteairz KRAKOAvailability oi the main ieedwater systemior nuclear power plant KRsKOM. VUSIC, A. 3ERF-LE, P. BRAJAK - 3osephSTEFAN Inst. Lyubyana [Yougoslavie.)

La iiabilite. et la tnainttnabilitl del outils lb\a calculi intzgrzi a la manipulation deiproduitlReliability and maintainability calculationtools integrated with product handlinqK. STRANVBEHG - L.M. ERICSOH [Suede)

Liste de qualite, un outil pour la iiabilite. 265previsionnelle auiitee par ordtnateurQuality list, a tool ior computer aidedprediction oi reliabilityR. NITSCH - SIEMENS AG IRFA)

Fiabitite du reseau cable iibres optiqvcs 210de BiarritzReliability oi the Biarritz optic iibtr cablenetworkA. VOUGUET, R. CLAVIER, A. BLEUZENCNET Lannion (Fiance)

Etude, par un constructor de materials 275de telecommunications, de la comparaisondu taux de defaillance en exploitation parrapport am previtionnel, a I'aide du iyitemeSade de Vadministration {rancahn dei PTTA comparative study oi failure rate inexploitation as opposed to iorecasttd ratecarried out by a telecommunication materialsmanu^actutet with the. aAAUtance oi theP.T.T. French administration Sade systemJ.y. PLANCHAIS - CIT ALCATEL LaVille da Bois (FtancelR. PRATO - OTRN Malakoii IFtance)

Modeliiation et evaluation probabiliite de 2S1la production d'hydrocarbures d'un ensemblede puits ioui-mariniProbability evaluation and models ior hy-drocarbon production on undersea wells3.P. SIGNORET, M. GABORIAUV - SNEAlP)/Pau IFtance)A. LEROY - TOTAL CFP (Ftancel

Fiabilitz ptzviiionnelle du reseau a. ttei 28?haute, tension d'EVFPrediction reliability oi the EOF high-voltagznetwork3. BATUT - EVF/Clamxrt [France)

Modelisation du comportzmznt iiabitiste 293de logiciels en operationV. FONT, R. TROY - VERILOG /Toulouse[France)

Exploitation rapide d'atbtei de defaillancs. 300Rapid exploitation oi fault-treesJ. AGOSTIN1 MATRA/Vzlizy (Ftance)

Vegradation douce : une nouvelle solution 304aux exigences de tolerance aux defaillanceipour lei lyitemei spatiauxSoft degradation : a new anAiuet to faulttolerancz requirements ior space systemsR. LOIACONO - LABEN SI.EL.S.p.A. [Italiz)

La iiabilite. d'un systeme redondantThe reliability izaturz oi redundant systemX. HUANG - INSTITUTE OF RAOIO EWG. [CHint)

Etude de la iiabilite. de. la premiete paroi 310et de la couverture tritigenz concuzi poutPappareil eutopeen de fasion controlse "Net"Reliability assessment oi iirst wall and blanketdesign in the zuropean nuclear fasion device"Net"R. BUNVE - NET (R.F.A.)H. OJERASSI et J. ROUILLARO - CEAIFiance)J. OEBRAy - NOVATOMEI Le PlzssisRobinson (Ftance)

RECUEIL ET AWALYSE STATISTIQUEOES VONNEES

VAT A GATHERING ANV STATISTICANALYSIS

Bilan dei compoiantl electroniquzs du hotel- 316KteSpotSatzllitz "Spot" : its ztzctronic components8. CLUZEL - CNES Toulousz (Ftance)

Hodileh pout I'analysz del donnzes de degra- 321dationModels ior the analysis oi degradation dataY.L. GRISE, M.B. CAREY - AT S T BELLLaboratorizs (U.S.A.)

Evolution del taux de defaillanczs de circuits 322ottegtei CMOS, de memoitei et de mictopto-ceAAeutA Aut quatre annees d'exploitationEvolution of iailurz ratzs in CMOS integratedcircuits, mzmories and microprocessorsduring a iour-year periodM.L. MONFORT - CNET Lannion [France)

Logiciel d'aide a la separation dans un 331echantillon de plusieurs modes de defaillance.de type WeibullA software ior estimating thz componznt'sparameters in a compound Wzibull distributionJ. FAUCHON, L. FRAYSSE, *G. HERBININSA Villeurbannz IFiance)

La iiabilitz de HCMOS : re'suttats experimzntaux 331Experimental results on HCMOS reliabilityF. FANTINI, A. GlOVANNETTl, P. BRAMBILLATELETTRA [Italiz)

Oe'gtadatton d'un ttanMAtot MOS due a 342t'injzction d'electtons chauds dans I'oxydede gtttte - dztermination dei conditionsd'ziiais pour Izs etudzi de f^abilitzMOS transistor degradation due to hot elec-tron injection in grid oxide - deftning testconditions ior reliability studiesP. ORHAWT - MATRA NanteA (Ftance)

CoHAttuctwn pratique uftta-taptde de plans 34%d'zxpzriencei iractionnairei otthogonauxet quztconquzs [VFOQ] application a laiiabilite.Ultra-rapid practical construction oi orthogonal{ractionary zxpzrimzntal plans and otherapplication to reliabilityG. VIGIER, 3.C. SLSSON - ALSTHOM/8agno/et(Ftance)

Taux de dzfaillance instantanz et iiabilite 354de compoianti ou modules optoetzctroniqueiInstant iailurz rate and optoelectronic moduleor. component reliabilityC. CARRIERE - CIT ALCATEL I La Villzdu Bois (Ftance)

Nouvelle approche. de Vexploitation du test 360de BRUCETONNew apptoach ior the exploitation oi thzBRUCETON testW. LEJUEZ - SEP I Le Haitian (Fiance)

MA1NTENABILITE - DISPOWZBZLITEMAINTAINABILITY - AVAILABILITY

Vilponibitite d'un iyiteme avec del model 366a defaillancei multiplesAvailability oi a systzm with multi-iaUurzmodesM. SASAKI, y. IWOUE, S. YANAGl - NATIONALVEFENSE ACADEMY Dapon)

Syiteme in&omaliaue de ptoceAAuA tolstant 312dei defaillancei pout le centre nucleaireBWRFault tolerant process computer system ior 'BWR nuclear powzr planty. K1NOSHZTA, A. TAKAHASHL T. WATAWA8ETOSHIBA [3apon)

Evaluation de. la. qualite au service d'un 37&iy steme a degradation progrzssiveEvaluation of] szrvicz quality far a piogteA-uve degradation system :J. MOREIRA VE SOUZA, A.C. LAVELHAM.R. BASTOS MARTINI - TELEBRAS[Brzsil)

Ctitete de letviae xendu pat un lot d'atttclei 3tlde. techange. : le taux de demandes latii-(aUeiCritzria ior thz service rendered by a set.oi spare parts : the complied rzquzst ratioV.R. LEBORGWE - ALCATEL THOMSONFaiAceaux Hzrtziens Lzvallois(Ftancel

EtteutA AifenteA aptitude au rztablissemzntdu systeme •Error latency and systzm recoverabilityH. KRAWCZYK - Univ. de Gdansk [Pologne]

Optimisation dzi programmzi de remplacement 3S6dans un delai courtShort optimum replacement programy. SUZUKL T. IKEDA - HITACHI Uapon)S. SHIMAVA - HOSEl Univ. [3apon)M. SASAKI - National Vefznse AcademyUapon)

La maintznabilitz - Le point sur lei travaux 392zHzctues a la Commission Etecfto techniqueInternationale. CE.L 56Maintainability - Updatz on work at theInternational Electwtechnical CommissionLE.C. 56C. HENO - CNET Lannion (Ftance)

Viiponibilite. opetationnelle et cout d'utilisa- 396tion d'un materiel - Le. modete CESAROpetatconaf availability and material operatingcost : thz CESAR modelG. SEGUIN - VGA ETCA-CAV/Arcuzil [France)

Sutete de frmcttomierrienf deA A AtemeA toll- 402rants : les fautes a maintenance diiietee.Tolerant system operating saiety : deierrzdwain tainabilityV. EOOAIFL S. MiyARA - LEESA - Univ.VE RABAT [Maroc)

Politiquzs dz maintenance deA A temeA 406compottant une Itratzgiz dz templaczmzntoude reparation minimalz a la pannzMaintenance policy ior systems with a strategyoi replacement minimal repair at failurzR. CLEROUX - Univ. Montreal [Canada)V. AIT KAVl - Univ. Quebec [Canada)

Politiquzi de maintenance ef patametteA 411logiitiquei en toi dz bJzibutlMaintenance policy and logistical parametersin Weibull's lawM.M. OUV1N-VARRIBERE - VGA ETCAArcueil (Fiance)

Viiponibilite. del systemes en fanctionnement 411continuAvailability oi continuous operating systemsA. MASSARO, C. SIGILLO - Selenia SpA [Italiz)

Analyse et optimisation d'une. ligne d'aisembla- 421ge automatisee par utilisation del mithodeide iiabiliteAnalysis and optimization oi an automatzdassembly line using rzliability methodsJ. FAUCHER - CEFIMA LwiogeA (Ftance)A. UOISART - LEGRANV Limoges (Ftance)

La contribution dz la diiponibilitz deA pieceA 426detacheei a la maintenabilite et la iiabilitedel centres nuclsaiteiThz contribution of, the spare part availabi-lity to the maintainability and the reliabilityoi nuclear power plant3. QUENON - Gilbert Commonwealth InclParis IFiance)

Utilisation de ptogiciels limplzi lur micro- 432otdinateuti pour la disponibilite przviiionnellzet opzrationnelle dumetro leget UALSimple use oi software on microcomputersior operating and iorzcasting availabilityoi light-rail system "VAL"C. MARCOVIC1 - Mafia Ttanipotf Vanves IFiance)

OPTIMISATION VU COUT ET VE LA FLABIL1TEOPTIMIZATION OF RELIABILITy COST

Mditriie de la diiponibililz et cout global 43sdz possessionAvailibility and global cost control3.3. LAULY - SOVERN Limzil Brevannes(Ftance)

CompataiAon du cout dz cycle dz vie de 44?trois variantes dz cartes d'abonnes analogi-quzi duCS.N.Liiz-cycle. comparison oi 3 variants oiC.S.N. analogical subscriber cardsV. GAROAN, A. CASTE L, M.L. MONFORT,L. MANSANO - CNET Lannion (Ftance)

InccdenceA du cout de cycle de vie sur la 452maintenance deA MinitelLi{z-cycles cost incidences on MinitzlCL HENO, V. GARVAN, A. CASTE L -CNET Lannion (Ftance)

SfiafegieA de feAt ef de deyzrminage 456Scteening and test stratzgizsA. BIROLIWI - Ecole Potytzchnique Federatedz Zurich (SucAAe)

L'apport de Vanalyie dz la valeur a la iiabilite 462et a Voptimiiation dzs coatsContribution oi value, analysis to reliabilityand to cost optimizationC. PETITVEMANGE - CNES tt\ AFAV/Paris[France)

La iiabilite. et cout/eOicacitz dans le cycle 469du combustible nucleairzReliability and cost ziizctivznzss in thznuclear iue.1 cycle 9E.V. GILBY - GILBY ASSOCIATES [Grande-Bretagnz)

Optimisation cout et iiabilite : appotfA de 475Vanalyse de la valeur AUX lei propuheursa. hydrazine SPOTCost and reliability optimization : contributionoi value analysis on SPOT hydrazinz propulsorsV. BERNARVIM - SEP/Vernon (Fiance)

ANALYSE VE VEFAILLANCESFAILURE ANALYSIS

Analyse del defaillancei darn la iiabilite 47Sde production d'armzi au com A de la fande la dynaitie CH'ING [1S60-1911)Failure analysis ior reliability oi productionoi weapons in late CH'ING dynastiz [1S60-1911)OJOU I-REW - Shangai Social SciencesAcademy [Chinz)

La realisation d'un embatlage IC en plastiquz 4ilde haute, iiabilite reiistantz a dzs temperatureseleveesThe development oi a high reliable heat-prooi plastic IC package.S. SASAKI A. KANEVA, K. SERIZAWA,K. N1SHI S. HASHIZUME - HITACHI (Japon)L'inffaznce du vizilliisement Aut teA ptoptteteA 4SSelectriquzi et photcconductuceA deA CdAet Cds/Cu, Cl/iilms minceslniluence o(, the aging process on thz electricaland photoconducting properties oi Cds andCdS/Cu, Cllthin iilmsZ. PORAOA, W. KUVEL - KRAKOW UNIV.[Pologne)

Evaluation dz iiabilite dzi compoianti VLSI 494Contribution de la microsondz AUGERRzliability evaluation . oi VLSI componzntsthz contribution oi AUGER mtctopto6eP. CHARGE, P. OUMOULIN - IBM FRANCECestas (Ftance)

Analyse de defaillance de circuits integtei 500en conttaste dz potentisl et stroboscopizIntegrated circuits failure analysis in contrastoi potential and stroboscopy0. G08LE0 - TEXAS INSTRUMENTS VitleneavzLoubzt (Ftance)Evaluation dz la qualite et diagnostic dedefaillance de condeniatzuti "Chip" tentalepar analyse itequentisUsQuality assessment and failure diagnosisoi tantalum Chip condznsators using irzquentialanalysisPh. CAZENAVE, 3.3. RIVIERE, Y. OANTOUNIV. VE BORDEAUX I ESEL Talencz (Ftance)G. GUICHAOUA - AAME AOERA St Midarden JaWeA IFtance)

Technique d'investigation del non-contact 505dans Vanalyse del VLSI : pte'&ent et jututPteAent and faturz oi non-contact probingtzchniquz on VLSI analysisM. NOyORI, T. SHIRAGASAWA et K. OMOyAMATSUSHITA TECHNO-RESEARCH Uapon)Analyse dz defaillance. dei appateili et 509compoianti elsctroniques a Voids du micros-cope zlecttonique a balayageFailure analysis oi electronic dzviczs andcomponznt using Strobo scanning zlzctronicmicroscopzV. IHARA, T. KANOU - NEC CORPORA-TION Uapon)H. KAWAMOTO - AKASHI SEISAKUSHOLtd (Japon)

Lei cristaux liquides : une nouvelle mzthode 515de visualisation du ionctionnement del circuitsVLSIL.C.V. : a new mzthod ior visualizing thzoperation oi VLSI circuitsC. BAUMANN, T. WIACROZE - IBM CeAtaA(Ftance)J.M. GALfAN, J.P. MARCEROU, J. PROSTC.R.P.P. Talzncz IFtance)

Une mzthode et del outiti pour la validation 521de mtctoptoceAAeutA poui deA appUaationia haute lecutite dz ionctionnementA mzthod and tools for microproczssorvalidation : high-security fanction applicationsR. VELAZCO, H. ZIADE - L.C.S. IMAG /Gteno6fe (Ftance)

Localisation pat irradiation au faisceau laszr 52?des zonzi sensiblzs au latch-up del circuitsintegtei en technologie CMOSLocalisation by laszr team oi latch-upsznsitivz part oi integrated circuits in CMOStzchnologyA. CHION, E. MACKOWIAK - THOMSONSEMI CONVUCTEURS/Grznoblz (Ftance)G. AUVERT - CNET I Meylan (Ftance)

Evolution deA mzthodzi d'analyis dz la 532qualite et de la (fobilite des metallisationsdzi compoianti etectroniquesQuality and reliability oi electronic componzntmztalization : evolution oi analysis methodsY. VANTO, Y. OUSTEN, I. LOMBAERT,33. RIVIERE- Eszl Univ. Bx I Talence IFtance)

MECANZSMES OE DEGRADATION DESMATERIAUX

MATERIAL DEGRADATION MECHANISMS

Etude du dommagz cause a la surface dzi 53Sacisti au carbonz pat Vusage abraiiiInvzstigation oi Autijace damage oi carbidicirons by abrasivz weatIVO KATAVIC - TECHNICAL FACULTYRIJEKA (yougoA/auie)

Fiabilitz zt compottzment de la Trisil dans 543le domaine dz la ptotzctionTrisil behavior and reliability in thz protzctionindustryP. COL LAS J.P. NOGU1ER, J. PERDRIGEATTHOMSON SEMICONDUCTEURS TOUIA (Ftance)

Fiabilitz del photodztzcteuti PIN In Ga 549Ai/lnP Planar pout liaisons sous-marinzssur iibte optiquePhotodztzctor PIN In Ga As/lnP Planarrzliability ior undzrwatzr links on opticiibzrV. SAUVAGE, M. GUEGUEN - CIT ALCATELLa Ville du Bois IFtance)

DeA meAuteA anti-touUls pout Vachzminzmznt 553et le stockaaz dzs zquipzmenti d'ascenseursRust-przvzntivz meaAuteA i$oi shipping andStoring zlzvator zquipmzntsK. HATTORl - MITSUBISHI Dapon)

Boitizrs "Chips Cattiet" zt couchei epaisszs . 559au cuivteChips Carrier and thick copper coatingsA. LOITIERE, J.F. PERE, R. HEMONV -CEA PatiA IFtance)

Amelioration dz la fiabilitz potentielte dzi 563mictobottistiImprovement of micro-ship cattieiA potzntialreliabilityE. AUfRAy, J. GOURVOL, V. PATR1ETHOMSON SEMICONVUCTEURS St Egrevz(Ftance)

Etude du vieillissexvent et des phenomenzi ^69de degradation pout dzi aOicheurs a cristauxliquidzi du type "nematique. en helice"Ageing and dzgtadation study far LCV model"nematiquz en hzlicz"M. LE PALUV, H. PRIGENT - CNET I Lannion(Ftance)

Prindpaux modes de ruptures rencontres 574dans I'zxpertisz del compoianti avanceiPrincipal modes oi tupfute in the expertiseoi advanced componentsA. A. TAVASSOU A. BOUGAULT - CEASaclay (Ftance)

FIA8R1TE PREVISIOWWELLE ETOPERATIONNELLE VES COMPOSANTS

FORECAST AND OPERATIONALRELIABILITy OF COMPONENTS

Te&tA de compoianti de puissance sousfait courant a itequsnce elzves 150 Ace,200 KHz et 500 V VC)Powzr componznt tzsts undzr strong currzntat a high irequency [50 Ace, 200 KHz,and 500 V VC)M. LABRUNEE - CNES ToutouAe (Ftance)

Fiabilitz previsionnzlle del oicillateuri 5S7a quartzForecasted reliability oi quartz oscillators3. BEAUSSIER ONERA Chatillon [France)

Hautz-iiabilite dzi jonction-up ALGaAl 593VH-LEV pour lei systemes de communicationoptiqueHigh-reliability junction-up ALGaAs VH-LEV ior optical communication systemsK. SAWO, H. TAKANO, Y. KAWAl, M.SAKUTA - OKI - electric industry companuLTV Uapon)

Etude de iiabilite d'un zquipzment electronique 5 9 A5

pendant Izs tzsts de de'verminage zt visilliise-mznt en usineReliability study oi an electronic equipmentduring burning and ageing tests in manufacturingV.F. LAZORIOU - ELSCINT Bagnolet [France]

Une me'thode "UP AND DOWN" modiHee .- 602son application a la iiabilite' et a la securitydel zxplosiisA modiiied up and down mzthod and itsapplications in thz aAAeAAment oi rzliabilityand safety oi explosivzsL. 8AOGUANG - BEIJING INSTITUTE. OFTECHNOLOGY [Chine)

Ttee-maAtet, systeme dz gzition de Varbrzdz defaillance pour mictoproceueuriTree-master, fault tree handling systemior micro-computzrsA. WILD, P. ENG [Canada)

Methodologie pout la modelisation de la 606iiabilite del circuits integrziMethodology for integrated circuits reliabilitymodelsR. ALVAREZ SANTOS - UNIV. POLYTECHNl-QUE VE MADRID (EApagne)

Duiee de vie et iiabilite d'un mecanisme 610spatial a lubriiicatwn solide (capteutA detettzSTV 11 etSTV 12)Liie-span and rzliability oi a solid lubriiicationApace mechanism [groud AeniotA STD 71and STV 72)G. WALLIS, M. POCHARD - SODERN LimzilBteuanneA (Ftance)

Iniluencz del conditioni climatiques sur 616la iiabilite del zquipzmzntl et del compoiantidans Izs centraux telephoniques : I'opzrationCLIMEXClimatic conditions vnftuzncz on equipmentand component reliability in exchanges :the CLIMEX operationA. LELIEVRE, R. GOARIN, M. PETITBONCNETILannion IFiance)

Ptoblzmei dans le test de la "cocottz minute" 624Problems in pieAAute coofeet teAtK. TOI, T. YAMAMOTO, H. yOSHIDA -TABAI ESPEC Corp. Uapon)

Une apptoche nouvellz dans Vextrapolation 63-deA donneei de test dz vie acceletieA new approach to thz extrapolation oiaccelerated Uiz test dataM.3. LUVALLE. 3.P. MITCHELL, T.L. WESLSHERAT S T BELL LABORATORIES [USA)

CauAeA de defaillance dzi circuits intzgres 636zt "RYOHUI KA1SEKFIC failure causes and "RYOHIN KAISEKI"H. yOSHIDA - TABAI ESPEC Cotp. Uapon)

Transitoire a. risques dans te conttote deA 641micro-procziieuiiRisky ttanA<ent in microproczssor controllers3. SOSNOWSKl - WARSAW TECHNICALUNIVERSITY IPotogne)

Mzthodologie dz la iiabilite avanczz Aut 647veniculz dz test en vue de qualifier la iiabilitedel procedis et des bibliothzqusi dz cellulesdz te'ieaux ptedijfaiei ou precaractzriseiAdvanced reliability methodology test vehiculeto certiiy the reliability oi proceduresand prediifased or precharacterized netwotfeceW WfataiieAM. POTIN, A. .MOUTON - MHS Nantes (Fiance)

Fiabilitz dz TRC .- dutee de vie, mzthode 652d'evaluation acczlzre'zReliability oi CRT : the liie-span oi CRTand the accelzratzd evaluation methodT. MASUDA - 1/ICTOR COMPANY OF JAPANLtd Uapon)

VzfaiUancei en utilisation dans lei capaciX.il 65%au tantaleA study oi iield failures oi solid tantalumcapacitorsY. HASEGAWA, N. KIMURA - NEC Coip./Japon

Fiabililz dzi connzcteuri : resuttats et 664nouvells approche dz la modelisationConnector reliability : results and new approachto modelsP. TULOUP, R. BONNAUV, 3.P. TREGUIERG. GUENGANT CNETlLannion IFtance)DemonAttation de la. iiabilite dzi compoianti i?oelsctto-optiquei loui-mariniUndersea ztectro-optical componznt reliabilitydemonstrationR.H. MURPHY - STC Submarine SystemsLimited IGiande-Btefagne)

La iiabilite. del dztzcteun au silicum 676Rzliability aspects in silicon detectorsE.A. WEISS, N. CROITORU - TELAWV Univ. [Israel)V. CALVARARU. M. SNYVER - TAV1RAN Ltd [Israel)

Cable dz fibres optiqusi : rninunisation de 6S1la pette de stabilite dz transmission induilepat Vhydrogznz dans la gamme inirarougeTtanAmiiJion loss stability aisurance ioroptical iiber cable against hydrogen inducedloss increase in the instated tegiony. MITSUNAGA, H. KOGA, T. ABE,A. HAYASHI - NTT Uapon)

TOLERANCE AUX RAVONNEMENTSVES COMPOSAMTS

IRRADIATION TOLERANCE OF COMPONENTS

Amelioration de la tolerance aux radiations 6i?VLSI CMOS par • modifications de process usImprovement oi CMOS VLSI radiation toleranceby process modiiicationsG. GUyOMARD, I DESOUTTER - MHS/Nantes IFtance)

Vulnzrabilitz zt modzs dz dzfaillanczi dzi 692.tzchnologisi CMOS Aut laphit ou Sur isolanten ambiance nucteairz zt spoliate.Vulnerability -and failures modes oi CMOStechnologies on saphire or on insulationin space and nuclear environment3.L. LERAY, 0. MUSSEAU, Y. PATIN -CEA / PatiA IFtance)

Etude comparative du compottzmznt dzs 699MOSFET dz puissance sous Vinffuence dzradiations XComparativz study oi power MOSFET behavior .under thz iniluznce oi x-rays3. CLARAC, S. MANSON - CROUZET SAValence IFtance)

LeA e^etA d'un programme dz qualification 704dzs radiations del compoianti elzcttoniquzhsur Izi exigences dz protection zt dz longzvitzd'un latzUiteThe ziiects oi an electronic componentradiation qualification program on satellitelongevity and shielding rzquirzmzntsM.R. ACKERMANN - SANVIA NATIONALLAV. (U.S.A.)G.S. 30LLY - AIR FORCE WEAPONS LAB.(U.S.A.)

Utilisation d'un boltiet muttifanctioni pout 710ameliotzt la iiabilite dzi compoianti LSI-VLSI dani un environnement ionisantHardened multi-fanctions chip carrier useto improve LSI-VLSI components rzliabilityin an ionizing environment3. PINEL - CIMSA / Toulouse IFtance)C. VAL - CIMSA I Vzlizy IFtance)

Intztaction dzs tayonnzmznti nucleairzi 716et ipatiaux avec lei compoianti izrnicon-ductzuti : degradations et risque de defaillance . . •Nuclear and space radiation intztaction withszmiconductor componznts : dzgradationand iailurz risksH. BURKHART, M. ROUMEGUERE - CEAPatiA (Ftance)

FIABILITE MECANIQUEMECHANICAL RELIABILITY

L'analyie ionctionnells assistez par otdinatzut 72ZIs logiciel AMFONC, application a la tribologieComputer-aidzd iunctionnal analysis : AMFONCsoftwarz applied to tribologyJ.C. L1GER0N, C. VANIER - SGTE/Putzaux "(Ftance)y.. BERTRAND - VGA-VEN/Paris [France)3.P. COUVERC - ISMCM/AngeiA (FianceJ. BLANC - CNES/Toulouse [France)3.P. COURTXN - AEROSPATIALE / DS-OSCanneA la Bocca (Ftance)

Nouvellei methodzi d'ztudz de la iiabilite 740dzi structuresNew study mzthods ior structure reliabilityJ.C. LIGERON, R. GORMANV - SGTE/Putzaux[France)M. MAURIEL, M. DUMON - AEROSPATIALE/ LeA Muteaux IFtance)

Unz approchz pratique dz Vanalyse dz iiabilitz 760pout dzi lyitemzs mzcaniquzs : applicationaux usinzs dz tetraitement de combustiblesitradieiA practical approach to mechanical systemsrzliabilitu analysis applied in irradiated iuzl

rzprocessing plantsS. SE30URNE, J.M. HUMBERT, V. GRENECHECEA-SACLAY/Gii sur Vvztte IFtance)

L'inUuencz dzs dzfauts lur la iiabilitz dzipizczi mzcaniquziThe iniluence oi deizcts on reliability oimachine partsV.T. TROSHCHENKO - ACADEMIE DESSCIENCES VE KIEV [URSS)

Amelioration dz la iiabilitz mzcanique d'unz 766tone de contact d'un dztzctzur dz positiond'aiguillage SNCFMechanical reliability improvemznt oi anSNCF switching position detector bu contactbladz3.P AUCLAIR- SNCF/Paris [France)P. BOUCHARV - TECHNICATOME/ST Paullez Vurancz (Ftance)

La rzponiz itatiitiquz du plaitic zt tzi equa-tions dzctivant lei dommagsi pour dzi chargesaleatoiresStatistical rzsponsz oi plastic and damageconstitutive equations far random loadsL. FENG - LMT-ENS-CNRS/Cachan (Ftance)

INFLUENCE VE L'ASSURANCE QUALITESUR LA FZABZL1TE

QUALITY INSURANCE INFLUENCEON RELIABILITY

Vzmonsttation dz Vintztzt du "pense-bzte" ??'iappuyl lut quelquzs zxempleiOemonAftation oi the. usziulnzss oi thz"bullztin board"R. PANNETIER - CEA Paris(Ftance)

PJani#caf«m et miAe en ptace deA ptogtammeA 77Sde iiabilitz et dz qualite dans dzs centralssd'enztgisPlanning and implementation oi reliability I qualityprograms to the znzrgy plants3. QUENON - GILBERT/COMMONWEALTHPatiA (Ftance) , :

Un ptogrammz dz management itatiitiquzpout I'amzliotation qualite. iiabilitz en fabrica-tion dz VLSIA statistic management program far reliabilityquality improvement in VLSI manufacturingJ. RO8IWEAU - MATRA HARRIS SEMICON-VUCTEURS/Nantes (Ftance)

Vtoczduae d'agtement utilisee aux telecoms ?sspout lei iilizrzs dz montags dz composantsen surface ITMSJApproval proczdurz used ^oi mounting Surfacecomponents - Telecoms materials [TMS)3.3. GRANGER, A. PANN - CNET I Lannion(Ftance)

L'amettotation de la iiabilitz dzi equipementA ?&9pat Vaiiurancz dz qualite approniondieImproved equipment reliability through indepth quality assuranceH. REITBEVOPV - DORNIER SYSTEM GmbH[RFAI

AMELIORATION VE LA SURETEPAR L'EFFORT OE FZABZLZTE

SAFETY IMPROVEMENT THROUGH RELIABILITY

La modzlisation du phznomenz accidentAccident models3. VUMAINE - USINOR Vunkerque (Fiance)

Le ptemiet atelier lurztz dz ionctionnement 795irancaii : le. logiciel SurioncThe first French operating saiety workshopthe " Sut^onc" softwareJ.C. LIGERON, C. VAN1ER, C. LERAY -SGTE Putzaux (Ftance)A. OEZEUSES, J. ABADIR - BERTIW PfoiAit(Fiance)

Fiabilitz dzs rzsiitanczi utiliszzs dans une S02tztz imprimantz thzrmiquz a couchz minceReliability oi heating resistors used in athin iilm thermal print headS. SHIBATA, T. KAA/AMORL K. HUROKlOKI electric Industrie Uapon)

Fiabilitz dzi ponts roulants concus zt realises $09szlon les regies dz la {/[deration europzennzdz la manutzntion (F.E.M.)Reliability • oi travelling cranes designedand developed according to thz Europeanizderation oi handling rulzsR. STOUFFLET - SGTE Puteaux (FiancelO. 8IOT - SGN Yvelynes IFtance)

Evaluation du niveau dz szcuritz dzi systemzs SI4ilsctroniquzi a microproczsszuu -. VapparzU"VEFl"Evaluation oi microprocessors ' electronicsystems saizty levtl : thz "DEFI" appatafuAJ.P. GERARV1N - INRSIVandozuvrz IFtance)

Comment zvaluzr la Autefe ef la iiabilitz S20d'un systemz dz signalisation ierroviaireen amztiotant la maintenance • Unz etudzdz cosHow to aJAeAA the rzliability and the saiztyoi a railway signalling systzm through improvedmaintenancz : a case studyCHENG, YIN HONG, VE, HONG, M.S. -NORTHERN JIAOTONG Univ. [Chine.)

Contribution dzs etudes de iiabilitz a la S23surveillance par les stations sol dz Vinittumentdz priie dz vuz du latzllite SPOTRzliability rzsearch contribution to the sur-vzillancz oi thz camera systzm oi "SPOT"by earth stationsJ.P. LE ROY - MATRA/Vetizy Vitlacoublay[France)M. GADOIN - CNES/Touloust [France)

Lzs ztudzs probabiliitzi dz scenarios d''accident S29Probabilistic studies oi accident scenariosA. VILLEMEUR - EVF/Clamart (Fiance)J.P. 8ERGER - EOF/ViUeurbanne IFiance)

Interaction entrz Vanalyse dz iiabilitz zt &34la conception dans le cai d'un systemz dzprotection dz Vinjzctzur du faisceau dz patti-culzi nzutrziInteraction between reliability analysis anda design in caie o£ a neuftal beam injectorprotection system

H. SCHNAUVER, A. WICKENHAUSER -KERNFORSCHUNGSZENTRUM KARLSRUHEINST. FUR REAKTOREWTWICKLUNG IRFA)

Etudz de dangers d'une unite pilote dz gazej.- S40iication du boilStudy oi the dangers in a wood gazificationpilot unit3.M. CLOAREC - SGTE/Puteaux (Ftance)J.M. LEMASLE - Ftamafome/Le Cteuiof (Fiance)

INFLUENCE VES FACTEURS HUMA1NSSUR LA FIABILITE

HUMAN FACTOR INFLUENCEON RELIABILITY

Fiabilitz humainzHuman reliabilityM. BERNARD - DGA DEn PatiA (Ftance)

PropopitionS pour un nouvzt outil dz communi-cationProposals ior a new communication tool3. LARCHIER-BOULANGER. B. RENAUVEEOF Patii (Fiance)

La sensibilisation a la perception dzs riiqueiTo increase awareness oi risk perception3. LARCHIER-BOULANGER, B. RENAUVEEVF Paris (Ftance)

Protection physiologiquz dzi equipages %4(,d'azronzii a haute performance. : integrationmultiplexagz et automatisationPhysiological protzction oi high-periormanceaircraft teams : multiplex integration andautomatizationH. MAROTTE, J.M. CLERE, H. V1E1LLEFONVCENTRE D'ESSAIS EN VOL Bretigny IFtance)

CONFUCIUS ...CONFUCIUS *s

T. MESLIN EVF/SPT Paris [France)A. VILLEMEUR, F. MOSNERON-DUPINJ. 8OISSEAU - EVF/Clamart (Ftance)

Application dzs tzchniquzl dz la iiabilite S54humainz a I'amzlioration del proceduresApplication oi human reliability technicsto procedures improvement3.L. PELLETIER - CEP/Paris [France)A. LEROY - TOTAL CFP/Paris [France)

Elaboration zt misz en place d'un lyitemz J59de gestion automatise dei modes operatoireid'exploitation a Vusinz de tetiaifemenf dela HagueVevzlopmznt and installation oi an automatedmanagement system oi operating modesior exploitation at la Hague reprocessingplantJ.L RICAUD, A. VUMETZ - COGEMA/LaHague. (Ftance)C. LEPINE - COGEMA SMO [France)J.L. NICOLET - EUREQUIP/Vaucresson [France)S. CHARON - SGN [France)

Influence, dz la hautz fcabilitz du matztizlaeronautiquz lut Izi prises dz dzdiion dupilote... Unz iorme d'eiizt boomzrana '.The inftuencz oi aeronautic material highreliability on the pilot's decision-making...A kind oi boomerang eiiect '.R. AMAL8ERTI - CERMA/Patii IFtance)

Etude 4 M simulateurs du compottement S63dei opztateuii dz czntrales nuclsaitei ensituations pzttutbzziSimulated study oi nuclear power plantoperator's behavior in troubled situationsJ.M. MORONL A. VILLEMEUR, F. MOSNERON-VUPIN EVF/Clamart [France)T. MESLIN - EVF/Paris (Ftance)

Let fcccfeuu humcdnh dans la. iiabiUti du 169chemini dz fatHuman factors in systzm rzliability ior rail-waysA. SETHY - FEDERAL RESEARCH CENTRE"8VFA ARSENAL (Auftiche)

PROSPECTZUE EN MATZERE VEF1ABZLZTE

RELW8ZLITY AND THE FUTURE

La suretz aux Etat-Unii : Vevzloppzmznts S75te'cents et iututiRzliability in thz Unitzd States : Recentand iuturz dzvztopmzntsH.A. LAUFFENBURGER - IIT RzszarchInstitute [Rome, New York, USA)

PROGRAMME COMPLEMEWTAZRECOMPLEMENTARY PROGRAM

Conception des techniques dz contwle patla simulation ionctionnetle Am lei groscatculateursVzsign vzriiication techniques ior iunctionalsimulation on large scale computerK. FUKUOKA, K. OHGA, S. TAKEMURA,A. SUG1YAMA - HITACHI Ltd Uapon)

Mile au point del tests dz dechargz electrc-Itatiqus - Mzthode zt evaluation del CMOS1CSVzvzlopment oi Electrostatic discharge testingMzthod and evaluation oi C.MOS.ICSK. IWASAKl K. OHTANl Y. MZZOGAMISANYO ELECTRIC CO. Ltd Uapon)

Mile au point zt generalisation del controtzs SSOde qualite et de iiabilitz AW teA micto-calculateursVzvzlopmznt and Expansion oi teliabilityand Quality Control Systzm in PzrsonalComputersT. NlSHl - NEC CORPORATION Uapon)

Creation zt maintenance del logidsli deteit del VLSI, aspects technique A et econo-miqueAVzvzlopmznt and maintznancz oi softwatzlor VLSI-test, technical and economicalaspectsJ.C. GOURVON, P. PROVHOMME - Labora-foite CenftoJ deA InduAftieA E/ecftiqueA (LCIE)Fonfenai/-aux-toAeA (Ftance)

Pout garantir wi bon fanctionnemznt deltzrminauxAssuring tzrminal attachmznt product intzarztyT.V KIANG, LA. SALEH - EtecftonicA TeAt.

Centre - EDMONTON [Canada)