4.3. Model u kruno polariziranom svjetlu

Model u polariskopu s kruno polariziranim svjetlom, slika 16, ije osi polarizatora i analizatora mogu biti ukrtene ili paralelne. Osi dviju etvrtvalnih ploa mogu takoer biti ukrtene ili paralelne, ali su uvijek postavljene pod kutom od 45o prema osima analizatora i polarizatora. Ovisno o tome kako su postavljene osi polarizatora i analizatora te osi etvrtvalnih ploa, polariskop je namjeten na svijetlo ili tamno polje, Tablica 2.

S -izvor monokromatskog ili bijelog svjetla, P polarizator, A analizator, /4 etvrtvalna ploa, SO spora os, BO brza os, Pr promatra; kamera, M ispitivani model.

Slika 16. Model u polariskopu s kruno polariziranim svjetlom

Tablica 2. Namjetanje polariskopa s kruno polariziranim svjetlom

Polje Filtri etvrtvalne ploe

ukrteni ukrtene tamno

paralelni paralelne

paralelni ukrtene svijetlo

ukrteni paralelne

Vrijednost je vektora svjetla nakon prolaza kroz napregnut model i kroz sve filtre cirkularnog polariskopa dana izrazom:

[ ])(sin)(cos2

sin21 ttkA ++= ,

te je tada jakost svjetla:

[ ]22 )(sin)(cos2

sin ttKI ++= .

Budui da pribrajanje kuta t kutu pravaca glavnih naprezanja predstavlja samo pomak poetka mjerenja vremena t, ono nema utjecaja na standardna ispitivanja. Linije izoklina se ne pojavljuju na fotografijama modela. Tamna mjesta, tj. interferencijske linije koje nazivamo izokrome, pojavit e se tamo gdje je:

02

sin = , tj. kad je ...),2,1,0(,2

=== nnN

,

pa i u ovom sluaju vrijedi glavna jednadba fotoelasticimetrije. U ovom postavu polariskopa, za tamno polje izokrome su cjelobrojnog reda 0, 1, 2, 3, itd. Ako je polariskop namjeten na svijetlo polje, intenzitet svjetla nakon prolaza kroz napregnuti model i sve elemente polariskopa iznosi:

)2

(cos)(cos 22 = tKI .

Interferencijske linije pojavit e se tamo gdje je:

02

cos = , tj. kad je ...),2,1,0(,221

2=

+=

= nnN

,

pa i u ovom sluaju vrijedi glavna jednadba fotoelasticimetrije, ali red izokrome poprima

vrijednosti .itd,213,

212,

211,

21

Primjeri slika linija izokroma raznih optereenih modela, u tamnom ili svijetlom polju dane su na slikama 17 - 26.

a) tapovi s koncentracijom naprezanja b) Kuka dizalice (photos courtesy of Measurements Group Inc.)

c) Zubi zupanika u zahvatu (tamno polje) (Hochschule Bremen, Fb Maschinenbau)

http://www.measurementsgroup.com/

d) Klju u zahvatu s maticom vijka (photos courtesy of Measurements Group Inc.)

Slika 17. Linije izokroma na modelima, snimljene u tamnom polju i bijelom svjetlu

Slika 18. Slika linija izokroma u tamnom polju i monokromatskom svjetlu, za plou s malim krunim otvorom, optereenoj na krajevima na rastezanje u smjeru vertikalne osi

http://www.measurementsgroup.com/

(svijetlo polje)

(tamno polje)

(tamno polje)

Slika 19. Izokrome modela ravnih tapova s bonim krunim otvorima kod optereenja na rastezanje u smjeru vertikalne osi

Slika 20. Izokrome modela (tamno polje) ravnih tapova s eliptinim otvorima kod optereenja na rastezanje u smjeru vertikalne osi

Slika 21. Modeli ravnih nosaa optereenih na savijanje silama (gore) i na isto savijanje (dolje), skice dijagrama momenata savijanja za oba dva nosaa, dolje: slike linije izokroma na modelima u tamnom polju.

Slika 21. b) Slike linije izokroma na modelima u tamnom polju

Slika 22.a) Model nosaa okvirnog postolja kolnog sloga optereenog na isto savijanje, linije izokroma u tamnom i svijetlom polju u modelu punog nosaa

Slika 22.b) Model nosaa okvirnog postolja kolnog sloga optereenog na isto savijanje, linije izokroma u tamnom i svijetlom polju u modelu stvarnog nosaa s otvorima

(tamno polje)

(svijetlo polje)

Slika 23. Linije izokroma na modelu krunog prstena optereenog tlanim silama

(tamno polje)

(svijetlo polje)

Slika 24. Linije izokroma na modelu okvirnog nosaa optereenog tlanim silama

Slika 25. Linije izokroma (tamno polje) na modelu debelog zakrivljenog tapa optereenog tlanim silama

Provoenje ispitivanja u Laboratoriju za vrstou konstrukcija FSB Zagreb

Slika 26. Linije izokroma (tamno polje) na modelu kotvene ploe prese kod rastezanja i ureaj za optereivanje modela kod ispitivanja metodom fotoelasticimetrije