análise do patenteamento
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INSTITUTO NACIONAL DA PROPRIEDADE INDUSTRIAL – INPIPrograma de Pós-graduação em
Propriedade Intelectual e Inovação
Análise do patenteamento de Institutos Nacionais de Metrologia:
Uma avaliação de parcerias
Giovanna Chinait de Carvalho Orientadora: Adelaide Maria de Souza Antunes
27 de 0utubro de 2015
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Barreiras Técnica; Acordo Geral sobre Tarifas e Comércio – GATT; TIB; Definições; Importância de TIB a superação de Barreiras
Técnicas; Importância de Sistema Nacional de Metrologia do
Estado; Importância das Parcerias com o Estado.
INTRODUÇÃO
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“Há o interesse de outros setores da sociedade em parcerias para co-desenvolvimentos para inovação com Institutos Metrológicos?”
QUESTÃO DA PESQUISA
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OBJETIVO DA PESQUISA
Mapear documentos de patente de Institutos Nacionais de Metrologia – INM, para a identificação de parcerias no desenvolvimento tecnológico e científico;
Documentos com prioridade entre 1993 e 2013; Base dados de soluções metrológicas extraídas de
documentos de patentes
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Definição de países que contém sistema metrológico de interesse a serem avaliados;
Definição da forma de identificação dos institutos que compõem o sistema metrológico dos países selecionados a serem analisados;
Estudo de validação da etapa (ii); Definição da estratégia de busca e base a ser utilizada; Seleção temporal e eliminação de dados duplicados; Mapeamento dos documentos de patente e análise de
parcerias; Implementação de Base de Dados de Monitoramento.
METODOLOGIA
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Definição de países que contêm sistema metrológico de interesse a serem avaliados
Seleção baseada na participação de cada país nas comparações chaves e suplementares, a partir de dados obtidos BIPM e países que compõem o BRICS
Definição da identificação dos Institutos que compõem o sistema metrológico dos países selecionados a serem analisados e validação
Seleção baseada na lista de instituições que compõem o Sistema de de Metrologia dos países selecionados, com base nas informações do BIPMValidação fundamentada nos Relatórios Anuais dos institutos de interesse com a seleção manual de cada sinonímia.
METODOLOGIA
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Estratégia de buscaBase: Derwent Index InnovationBusca por nome de Depositantes
Seleção temporal e eliminação de dados duplicados
Identificação de prioridades entre 1993 3 2013Eliminação de dados duplicados
METODOLOGIA
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Mapeamento dos documentos de patente e análise de parcerias;
identificação de Parcerias;evolução temporal, área do conhecimento e IPC;identificação de grupos de pesquisa ou pesquisadores;extensões dos documentos em fases nacionais.
METODOLOGIA
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Implementação de Base de Dados Monitoramento
criação do alerta a identificação via correio eletrônico e a obtenção dos documentos para monitoramento as novas tecnologias e informações dos INMS de interesse.
METODOLOGIA
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Definição de países de INM de referência: Participação de países membros e associados em comparações chaves e suplementares.
Fonte: Elaboração própria a partir de dados de 26 de maio de 2015, obtidos a partir do endereço eletrônico www.bipm.org
RESULTADOS PRELIMINARES
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Busca : 1.023 documentosSeleção temporal e eliminação de dados duplicados: US 123; DE 243; CN 363; IN 95; RU 11;BR 13 e ZA 1
RESULTADOS PRELIMINARES
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Análise dos dados: verificação das parcerias; evolução temporal por país; distribuição por área do conhecimento e IPC; identificação de grupos de pesquisa ou
pesquisadores mais atuantes e; extensões a fases nacionais e regionais.
PRÓXIMOS PASSOS