38287906 capitulo iii caracterizacion de tamano de particulas
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7/31/2019 38287906 Capitulo III Caracterizacion de Tamano de Particulas
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CAPITULO III
CARACTERIZACIN DEL TAMAO DE PARTCULAS
POR:
M.Sc. NATANIEL LINARES GUTIRREZDOCENTE ESME/FAME - UNJBGTACNA - PER
2010Email: nlinaresg6@hotmail.com
28/09/2010 1MSc. Ing. Nataniel Linares G
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CARACTERIZACION DEL TAMAO DE PARTICULAS
OBJETIVO.
Al concluir el estudio del presentecaptulo, usted estar capacitado enla toma de muestras para diferentesfines por diversos mtodos, efectuaranlisis granulomtricos para
evaluacin de operaciones unitariasde reduccin de tamao, as como apartir de los datos de laboratoriorepresentar el anlisisgranulomtrico mediante grficos ymodelos matemticos.
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INTRODUCCIN
La evaluacin de las caractersticas de las partculas de mineral es muy vital en elProcesamiento de Minerales, donde tiene mucho que ver con la forma y tamao y esteproceso de reduccin de tamao tiene como finalidad liberar los diferentes mineralesvaliosos de los no valiosos.
El anlisis de tamao de partcula en una Planta Concentradora debe realizarseempleando mtodos que sean exactos y seguros y como normalmente las partculasprocedentes de los diversos productos de las operaciones de reduccin de tamaotienen una gama de caractersticas, lo cual hace imposible lograr una descripcinprecisa de tales productos, por ende, ser necesario tener en cuenta, lo siguiente:
El tamao de partcula.
El tamao promedio de todas las partculas.
La forma de las partculas.
La gama de tamaos de partculas.
Los minerales que ocurren en las partculas La asociacin de los minerales en las partculas.
Para obtener un buen ensaye de tamaos de partculas es necesario contar tambin conuna buena muestra, la cual debe ser representativa y ello depende del mtodo demuestreo que se utilice.
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CARATERIZACION DE PARTICULAS Y CONJUNTOS DE PARTICULAS
La caracterizacin de
partculas y conjuntos departculas es una operacinmetalrgica muy importanteen el Procesamiento deMinerales (concentracin deminerales, hidrometalurgia,pirometalurgia), ya que el
tamao se usa como unamedida de control para laconminucin que tiene comofinalidad la liberacin de lasespecies valiosas de las novaliosas contenidas en una
mena.
Mineralvalioso
Minerald
egan
gaSubliberado
Sobreliberado
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Dimetro basado en una dimensin lineal
Fd
Md
1A
2A
maxd
mind
Dimetro de Feret
Dimetro de Martin
Dimetro mximoy
Mnimo lineal
Valor de la distancia entre
2 paralelas tangentes a lasilueta proyectada de la partculay que son perpendiculares auna direccin fija
Largo de la lnea paralela auna direccin fija que dividela silueta proyectada en2 partes iguales
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DIMETRO NOMINAL
Un mineral al ser fracturado, aun cuando originalmente
haya sido regular, est formado por una gama departculas de formas distintas e irregulares que nopueden ser definidas con exactitud, por lo que se optapor adoptar una forma aproximada a fin de darle una
descripcin adecuada que se le conoce como eldimetro nominal dn.
Este dimetro se define ya sea en funcin de una
propiedad real de la partcula como su volumen o el reade su superficie.
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DIMETRO NOMINAL
1. Dimetro de superficie 4. Dimetro de Stokes.
dS
s
(3.2) d
v
gst s l
18
( ) (3.5)
2. Dimetro de volumen. 5. Dimetro de superficie especfica
dV
v
63
(3.3) d
d
dvs
v
s
3
2(3.6)
3. Dimetro del rea proyectada.
dA
a
p
4
(3.4)
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FORMA DE LAS PARTCULAS
Para caracterizar totalmente las
partculas se debe indicar laforma que tienen. En efecto, laforma de las partculas puedeafectar fuertemente laclasificacin por tamaos. Unapartcula angular puede serclasificada en diferentesformatos segn la manera en laque enfrente a la abertura deuna malla o tamiz.
a) Partcula retenida.b) Partcula pasa una abertura
mucho menor que la anterior.
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OPERACIN DE MUESTREO
MUESTRA. En Procesamiento de Minerales,muestra es una pequea porcin de un lote
de mineral, el cual contiene todos loscomponentes qumicos y mineralgicos, enla misma proporcin que existen en eloriginal.
MUESTREO.
El muestreo es una operacin de controlmetalrgico que obligatoriamente se hace en todaPlanta Concentradora que consiste en laobtencin de pequeas muestras que representantodas las cualidades del tonelaje tratado, es decir,el muestreo conduce a la obtencin de unamuestra representativa que permite estimar atravs de ella, todas las caractersticas de un gran
conjunto de mineral del que fue extrada. Esta operacin se ejecuta con el propsito de
investigar, controlar y establecer las condicionesen que se desarrollan todas las operaciones deun proceso metalrgico extractivo.
Lote de mena Muestra
Mineral bulk Muestra
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Los elementos bsicos considerados en cualquier procedimiento demuestreo son:
Definir la caracterstica a investigar. Grado de precisin requerido. Caractersticas de la poblacin. Tamao de la muestra requerida.
Por consiguiente, as como es importante hacer un buen muestreo quepermita obtener datos confiables, reviste tambin trascendental
importancia la preparacin de las muestras la cual se puede definir comoun conjunto de operaciones que deben hacerse para llevar la muestradesde su forma original hasta la forma apropiada para los estudios y/oanlisis que se efectuarn con ella. As por ejemplo, la muestra se tomapara ejecutar lo siguiente:
Anlisis granulomtrico y mineralgico. Ensaye qumico. Anlisis microscpico o mineragrfico. Estudios metalrgicos.
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Caracterizacin de las muestras en procesamiento de minerales
Anlisis de tamao Distribucin de masa de lasf racciones de tamao
Tamizado (seco o hmedo) Elutriacin (cyclosizer) Anlisis de la variedad de partculas finas.
Anlisis Qumico Distribucin de los elementos en las variasfracciones de tamao de partcula
Agrupamiento de fracciones de tamao. Tamizado (seco o hmedo) Anlisis de los elementos orgnicos e
inorgnicos.
Estudio M ineralgi co
Modo de interpretacin
Separacin en lquidos pesados. Anlisi por difraccin de rayos X. Anlisis: mayora de elementos constituyentes de la
muestra. Observacin: ptica, microscpica equipada conmicroscopio electrnico de barrido
Identificacin de constituyentes
contenidos en las f ases yev aluacin del grado deliberacin
ETAPAS BOJETIVOS PROCEDIMIENTOS
Estudio metalrgico Concentracin de los
minerales Extraccin del metal
Pruebas de concentracin de flotacin,gravimtrica, electromagntica, etc.
Pirometalurgia, hidrometalurgia, etc.
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Las muestras que deben someterse a preparacin en la industria de los minerales omineralurgia pueden provenir de Mina y de Planta Concentradora y por lo tantose clasifican en dos grupos:
Muestras de mineral slido y seco: De mina tomadas por el departamento de geologa yde Planta Concentradora de algn punto de las etapas de chancado, cribado yalmacenamiento.
Muestras de pulpa: De Planta Concentradora, tomadas de algn punto de la molienda,clasificacin, flotacin, espesamiento, filtrado y secado.
Si la muestra es slida seca, se sigue el siguiente procedimiento:
Si la muestra est como pulpa, se ejecuta el siguiente procedimiento:
Los factores que hacen difcil un muestreo de minerales son entre otros lossiguientes:
Gran variedad de constituyentes minerales en la mena. Distribucin dispareja de los minerales en la mena. Variacin en tamao de las partculas constituyentes. Variacin en dureza en los distintos minerales.
Chancado Molienda Ensaye
Espesamiento Filtrado Secado Disgregacin Ensaye
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METODOS DE MUESTREO
Generalmente en una PlantaConcentradora, las muestraspueden ser tomadas por dosmtodos, a saber:
Muestreo manual o a mano. Muestreo mecnico o a mquina. Muestreo en lnea (control
automtico).
El muestreo manuales llevado acabo por personal de PlantaConcentradora o del laboratorioqumico, es lento y caro, con unapronunciada tendencia a error yalgunas veces se presta para elfraude.
Este puede hacerse por: Muestreo mediante tenazas. Muestreo mediante tubos o dispositivos
en espiral Muestreo mediante cono y cuarteo. Paleo fraccionado o alternado. Rifleado.
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Izquierda: sonda para muestreo en
una relavera. Derecha: probeta para
muestreo del suelo
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PREPARACION DE LA MUESTRA
Lote
Incremento 1
Incremento 2
Incremento N
Muestreo
Muestrageneral
FiltradoSecadoChancadoPulverizadoReduccin de lamuestra
Preparacin de laMuestra
Ensaye Datos
Medicin
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En la prctica
principalmente se
utiliza: Cuarteo manual
Cortador Riffle.
Cortador rotatorio
Cortador de mesa.
El cuarteo manual
debe realizarse enforma muy cuidadosa
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Coneo Tronco
de Cono
Cuarteo
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PALEO FRACCIONADO Y ALTERNADO
Elpaleo fraccionado es el ms
barato y sencillo de los mtodosmasivos de muestreo el cualconsiste en mover el lote medianteuna pala, ya sea en forma manual omecnica, separando una muestraformada por una palada de cada N,
logrando as una relacin de corte t= 1/N.
Este mtodo puede dividirse en tresformas de llevarse a cabo:
Paleo fraccionado verdadero. Paleo fraccionado degenerado.
Paleo alternado.
En elpaleo fraccionado, las paladas
extradas de un lote se depositan en la
parte superior de N montones, los
cuales, al terminar con el lote M se
convierten N muestras potenciales de
igual volumen.
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PALEO FRACCIONADO DEGENERADO
Enpaleo fraccionadodegenerado, cada n-sima palada sedeposita en el montn
1 y el resto, n-1 paladasdel ciclo, se depositanen el montn 2; enconsecuencia, el
montn 1 es la muestrapredeterminada y elmontn 2 es el rechazo.
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PALEO ALTERNADO
En elpaleo alternado seha caracterizado por N = 2y una relacin demuestreo t = , tal comose muestra en la figura .
En este mtodo existe laposibilidad de unadesviacin mayor cuandose muestrean menas
gruesas, ya que unaporcin menor o mayorde ellos puede quedar enuna de las fracciones
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RIFLEADO O CORTADOR RIFFLE
El tamao de partcula es de alrededor
de 15 mm.
El peso de lote desde 100 gramos hasta
algunos cientos de kilos.
El peso de muestra, hasta unos cuantos
gramos.
El material debe estar totalmente seco.
Para la operacin de un cortador riffle, es
necesario tener en cuenta las reglas
siguientes:
a. Al menos 12 canales.
b. Nmero par de canales.
c. Abertura de canales mayor que 2 veces el
dimetro mximo de las partculas.
d. Alimentar o cargar lentamente, desde el
centro, con el contenedor diseado
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EL CORTADOR ROTATORIO
El cortador rotatorio consiste enun alimentador vibratorio y unamesa rotatoria consubdivisiones, las cuales se
consideran como submuestras.
El nico problema de esteaparato es que en algunas
ocasiones, al terminar laoperacin, queda un remanentede material fino en elalimentador.
El cortador rotatorio
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EL CORTADOR DE MESA
EL CORTADOR DE MESA.
La mesa es vibratoria.
Este dispositivo tiene, aveces, el mismo
problema que el
cortador rotatorio.
El cortador de mesa
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MUESTREADOR A MQUINA
El muestreo a mquina se lleva a cabo en equipos denominadosmuestreadores mecnicos que en su mayora son automticos, loscuales operan por el movimiento de un mecanismo colector a travs delmaterial a muestrearse que cae de una faja transportadora o tubera.
En estos equipos es importante que:
El frente del mecanismo colector o cortador se presente en ngulosrectos a la corriente.
El cortador cubra la corriente
El cortador se mueva a velocidad constante. El cortador sea bastante grande para pasar la muestra.
El intervalo de tiempo debe ser predeterminado.
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CORTADORES DE MUESTRAS DE FLUJO CONTINUO
Los cortadores de muestras que se utilizan en plantas de beneficiode minerales, en el caso de flujo continuo, deben seguir las reglassiguientes, para garantizar la equiprobabilidad:
a) Deben ser verticales.
b) Las caras deben ser perpendiculares al flujo.c) Las caras cortadoras deben estar centradas con respecto al flujo y
perpendiculares al movimiento.
d) La velocidad, la cual tambin debe seguir ciertas reglas que no seexplicitar aqu (en todo caso la experiencia indica que debe serinferior a 0.6 m/s), debe ser uniforme.
Para el diseo de estos equipos hay que considerar que el centro degravedad de la partcula es el que determina si sta es cortada o no.Luego el diseo de los bordes debe ser afilado
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Por otra parte el ancho del cortador debe considerar el efecto
que se muestra en la figura V.3 (efecto de rebote). Para ello se
debe utilizar: d>3dm (Dm = dimetro de partcula mximo). Para
mayor seguridad se recomienda d>4dm
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CortadorEl diseo del cortador debe
considerar los choques de la
partcula. Efecto de rebote
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MUESTREADORES AUTOMTICOS
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Cualquiera sea el tipo de muestreador en general debecumplir las siguientes condiciones:
Debe tomar la corriente completa de material en cadapunto de la trayectoria y debe pasar a travs de toda lacorriente.
Debe tener lados paralelos y moverse en ngulo recto ala corriente de material.
La abertura debe tener un ancho por lo menos de 4veces mayor que la partcula ms grande del material amuestrear.
La velocidad a travs de la corriente debe ser constantey de una magnitud tal que altere lo menos posible elflujo de material.
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ANALISIS GRANULOMTRICO
El anlisis granulomtrico es una operacin de control metalrgico que tiene
por objeto estudiar la composicin granular de las mezclas de mineralescon el fin de conocer el tamao promedio de partculas, su volumen y susuperficie, adems, en la medida de lo posible, debe conocerse la formaaproximada de la partcula, tal como:
Acicular: Forma de aguja.
Cristalina: Forma geomtrica libremente formada en un medio fluido. Angular: Forma puntiaguda.
Dentrtica: Ramificaciones en forma cristalina.
Fibroso: Regular o irregularmente filamentado.
Escamoso: En forma de hojas o lminas.
Granular: Tiene aproximadamente una misma forma irregularequidimensional.
Irregular: Carece de cualquier simetra.
Modular: Tiene forma redonda irregular
Esfrica: Forma globular.
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Anlisis Granulomtrico
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TAMICES Y MALLA
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SERIES DE MALLAS
Desde 1962 los tamices se designan por el tamao de laabertura, que ofrece directamente al operario la informacinque necesita. Asimismo se conocen las siguientes series:
Serie TYLER Americana Serie ASTM-E-11-61 Americana Serie AFNOR Francesa Serie BSS-410 Britnica Serie DIN-4188 Alemana
Cuando no se tiene mallas o las partculas son mayores a 4 semide la longitud ms grande, tal como se muestra en elesquema a)
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Set de mallas o tamices
xi -1 = 2 xi = Malla inmediata superior.xi = Abertura de malla base.
xi + 1 = xi / 2 = Malla inmediata inferior...
xi - 4 = 2122x = 300 m m48
xi -3 = 2 150 = 212 m m65
xi - 2 = 2 106 = 150 m m100
xi -1 = 2 75 = 106 m m150
xi = 75 m malla base m200
xi + 1 = 75/ 2 = 53 m m270
xi + 2 = 53/ 2 = 38 m m 400
xi + 3 = 38/ 2 = 27 m m 600
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LIMPIADOR ULTRASNICO DE TAMICES
Este equipo producevibraciones ultrasnicasque hace que los
elementoscontaminantesadheridos al tamiz sedesprenden del marco ydel centro del cuerpo.
Apto para tamices de 8" 20 cm. de dimetro
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Presentacin de datos de anlisis granulomtrico (ANGRA)
NUMERO DEMALLA
ABERTURADE MALLA EN
m
xi
PESORETENIDO ENg
wi
% RETENIDOPARCIAL
f(xi)
% RETENIDOACUMULADO
G(xi)
% PASANTEACUMULADO
F(xi)
xo 0,00 0,00 0,00 100,00
x1 w1 f(x1) G(x1) F(x1)
x2 w2 f(x2) G(x2) F(x2)
x3 w3 f(x3) G(x3) F(x3)
x4 w4 f(x4) G(x4) F(x4)
. . . . .
. . . . .
. . . . .
xn - 1 wn - 1 f(xn - 1) G(xn - 1) F(xn.-1)
xn wn f(xn) G(xn) F(xn)
xn + 1 wn + 1 f(xn - 1) G(xn + 1) F(xn + 1)
TOTAL W 100,00 - -
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P t i d d t d li i g l t i
-
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Presentacin de datos de anlisis granulomtrico
En esta tabla se nota lo siguiente:
1) xn + 1 = 0 ciego (3.2) 5) F(xi) = fj = 100 - G(xi) (3.6)
2) W = wi (3.3) 6) G(xi) = fj = f(x1) + f(x2) + + f(xi) (3.7)
3) f(xi) = (wi/W)x 100 (3.4) 7) G(xn + 1) = 100 (3.8)
4) f(xi) = 100 (3.5) 8) G(xi) + F(xi) = 100 (3.9)
f(xi).- Es el porcentaje en peso de mineral retenido en cada malla, referido alpeso total de mineral tamizado, considerado como muestra representativa.
G(xi).- Es el porcentaje acumulado retenido, es decir, est constituido por todoel mineral que tiene un tamao de partcula mayor que la abertura del orificiode una malla X cualquiera de la serie de tamices tomada. Es el mineralrechazado por esta malla.
F(xi).- Es el porcentaje acumulado pasante, es decir, est constituido por todo elmineral que tiene un tamao de partcula menor que la abertura del orificio deuna malla X cualquiera de la serie de tamices tomada. Es el mineral que pas atravs de esta malla.
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PRESENTACIN NUMRICA DEL ANLISIS GRANULOMTRICOAbertura m Masa, g % Parcial % Acum. Retenido % Acum. Pasante
xi f(xi) G(xi) F(xi)
2800 0 0
2360 12,3 3,1 3,1 96,9
1700 67,6 16,9 20,0 80,0
1180 68,8 17,2 37,2 62,8
850 55,6 13,9 51,1 48,9600 40,8 10,2 61,3 38,7
425 32,8 8,2 69,5 30,5
300 25,6 6,4 75,9 24,1
212 18 4,5 80,4 19,6
150 15,2 3,8 84,2 15,8
106 12,4 3,1 87,3 12,7
75 7,6 1,9 89,2 10,8
-75 43,3 10,8 100,0 0
400 100
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Representacin grfica del anlisis granulomtrico en papel Semi-logaritmo
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
10 100 1000 10000
%A
cumuladoG(x),F(x)
Tamao de particulas, en micrones
Representacin grfica del ANGRA
% Parcial f(xi) % Acum. Retenido G(xi) % Acum. Pasante F(xi)
F(x)
G(x)
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Representacin grfica del anlisis granulomtrico en papel Log-log
ANGRA
1
10
100
10 100 1000 10000
Tamao de partcula en micrones
%Acumulad
o
F(x)
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COMPARACIN DE ESCALAS
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REPRESENTACION MATEMATICA DEL ANALISISGRANULOMETRICO
Los resultados de un anlisis granulomtrico pueden ser generalizados ycorrelacionados por expresiones matemticas denominadas funcionesde distribucin de tamaos que relacionan el tamao de partcula(abertura de malla), con un porcentaje en peso, que generalmente es elacumulado retenido o el pasante.
Existen ms de 06 funciones de distribucin de tamao, pero las msutilizadas en procesamiento de minerales son tres:
1. Funcin de distribucin de Gates-Gaudin-Schuhmann (G-G-S).
2. Funcin de distribucin de Rosin -Rammler (R-R).3. Funcin de distribucin de los tres parmetros.
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Funcin de distribucin de Gates-Gaudin-Schumann (G-G-S )
Esta funcin se obtiene de comparar o relacionar los valores del porcentajeacumulado pasante F(xi) con el tamao de partcula o abertura de malla de laserie utilizada. El modelo matemtico propuesto es:
Donde:
F(x) = % en peso acumulado pasante por cada malla.
x = Tamao de partcula en micrones. xo = Mdulo de tamao el cual indica el tamao terico
mximo de partculas en la muestra.
a = Mdulo de distribucin.
Fx
xx
o
a
( )
100
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Una forma habitual de representar la distribucin granulomtrica G.G.S es un grfico log-log, talt l fi 3 4 d d l d d l t l l F( ) l b i
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como se muestra en la fig.3.4, donde en las ordenadas se plotea el log F(x) y en las abscisas seplotea el log(x), y como podemos ver, es una lnea recta, la cual se origina debido a que:
Fx
xx
o
a
a
( )
100
es transformada en el papel logartmico en:
log log log( )Fx
a xx
o
a
100(3.16)
donde si hacemos un cambio de variable, tendremos:
Y = log F(x)
X = log x
A = log100
xo
a
Constante.
De donde se obtiene el valor de xo mediante la siguiente expresin:
log 100 - a log xo = A
xo
A
a
102
B = a pendiente de la recta
Luego:Y = A + BX (3.17)
que es la ecuacin de una lnea recta.
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Representacin grfica de la funcin Gates-Gaudin-Schumann (G-G-S)
1
1 10 100 1000
10
100
F(x)
Tamao de partcula en micrones (escala log)
Po
rcentajeAcumuladopa
sante(escalalog)
log[100/xoa]
m = b
m
xo
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FUNCIN DE DISTRIBUCIN DE ROSIN-RAMMLER (R-R)
Al efectuar un anlisis granulomtrico de algn producto de reduccin de
tamao de partcula mineral, se obtiene un conjunto de datos
experimentales de tamao de partcula o abertura de malla y su respectivo
porcentaje acumulado fino o pasante, los cuales se ajustarn a una
distribucin de Rossin-Rammler, si cumplen la siguiente expresin
Donde:F(x) = Porcentaje acumulado pasante.
xr = Es el mdulo de tamao
m = Es el mdulo de distribucin.
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Esta ecuacin se puede escribir tambin como:
-
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Fx
xx
r
m
( ) exp
100 100
o
100 100
Fx
xx
r
m
( ) exp
Gx
xx
r
m
( )exp
100 (3.19)
100
G
x
xx r
m
( )
exp
Aplicando logaritmo natural a ambos lados tenemos:
ln( )
100
G
x
xx r
m
Luego, aplicando logaritmo decimal a ambos lados, se obtiene:
log ln log log( )
100
G
m x m x
x
r
(3.20)
si se grfica el log ln[100/G(x)] vs log x se obtendr una lnea recta de la forma: Y = A + BX sihacemos:
Y = log ln[100/G(x)]
A = - m log xr
De donde se obtiene el valor de xr.
xr
A
m
10
B = m
X = log x
Luego:
Y = A + BX
que es la ecuacin de una lnea recta.
Como el mtodo es tedioso para graficar, existe un papel especial para hacer el grfico de estemodelo, llamado papel de Rosin - Rammler, en el cual se plotea directamente x y G(x).
En comparacin con el mtodo log-log de G.G.S, la grfica de R-R agranda las regiones abajodel 25 % y arriba del 75 % del acumulativo de finos y se contrae en la regin de 30 a 60 %.
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En comparacin con el mtodo log-log de G.G.S, la grfica de R-R agranda las regiones abajo del
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25 % y arriba del 75 % del acumulativo de finos y se contrae en la regin de 30 a 60 %. Sin
embargo, se ha demostrado que esta contraccin es insuficiente para causar efectos
adversos. En este grfico se aprecia que para x = xr
F(x) = 100 [1 - exp(-1) ] = 63,21
G(x) = 100 exp(-1) = 36,79
63,2136,79
F(x)G(x)
x = xr
Tamao de partcula en micrones
Porcentaje
acumuladoretenido
Porcentaje
AcumuladoPasante
0,1
99,99
99,99
0,1
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FUNCIN DE DISTRIBUCIN DE TRES PARMETROS
Esta funcin fue deducida por C. Harris y est dada por:
Donde:
s = Parmetro de distribucin de tamao.
r = Parmetro de sesgamiento de distribucin.
xm = Tamao mximo de partcula.
rs
mx
xxF
11)(
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APLICACIONES DE LOS GRAFICOS DE ESTAS FUNCIONES
Se tienen las siguientes aplicaciones
1. En la determinacin de las eficiencias comparativas de
unidades de chancado y molienda.
2. Las reas superficiales de las partculas se determinan
mediante el anlisis de malla.
3. La estimacin de la potencia requerida para chancar y/o
moler una mena desde un tamao de alimentacin hasta un
tamao de producto determinado.
4. El clculo de la eficiencia de clasificacin por tamaos de un
clasificador o hidrocicln se estima con acertada precisin.
5. El clculo de la eficiencia de molienda por mallas.
6. El clculo del D50 para el transporte de pulpas.
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MUCHAS GRACIAS POR SU ATENCIN
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