低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製

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低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製. 南台科技大學機械工程研究所 研 究 生:賴冠文 指導 教授:朱志良 教授. 摘要. 本研究 利用薄彈片 與 微細樑之設計 製作一 三自由度 位移結構,在量測系統上,以雷射二極體與 PSD 位置感測器並搭配光路設計完成一量測系統,將兩者結合並完成一三次元接觸式掃描探頭。搭配 旋轉 之 AC 軸 使其可以 達到 複雜曲面 量 測。. 大綱. 一、研究目的 二、文獻 回顧 三、機構 設計與分析 四、 感 測器與光路設計 五、旋轉 機構設計 六、結論. 一、研究目的. 二、文獻回顧. Renishaw SP25M. - PowerPoint PPT Presentation

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Page 1: 低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製

低觸力三次元接觸式旋轉掃描探頭之研製

南台科技大學機械工程研究所 研 究 生:賴冠文指導教授:朱志良 教授

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Page 2: 低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製

• 本研究利用薄彈片與微細樑之設計製作一三自由度位移結構,在量測系統上,以雷射二極體與 PSD 位置感測器並搭配光路設計完成一量測系統,將兩者結合並完成一三次元接觸式掃描探頭。搭配旋轉之 AC軸使其可以達到複雜曲面量測。

摘要

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Page 3: 低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製

大綱

• 一、研究目的• 二、文獻回顧• 三、機構設計與分析• 四、感測器與光路設計• 五、旋轉機構設計• 六、結論

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Page 4: 低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製

一、研究目的

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Page 5: 低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製

二、文獻回顧

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瑞士 (METAS) Renishaw SP25M

Page 6: 低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製

三、機構設計與分析

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Z 軸之設計

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XY 軸之設計

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探針機構

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機構整體

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有限元素分析

材料 鋁 6061-T6 工具鋼 SK-2

樑彈性模數(E)

73(GPa) 2.8(GPa)

樑材料密度(ρ)

2700(kg/m3) 7860(kg/m3)

浦松比 0.31 0.3

降伏強度 255MPa 1090MPa

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訂定尺寸 建立模型 設定分析條件

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有限元素分析結果

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控制參數彈片變形率 ( 接觸力 )彈片所承受降伏應力

最大位移量與應力測試

固定參數量測範圍 ±1mm*±1mm*1mm

  接觸力 (N/mm)

彈片承受之應力 (Mpa)

X軸 0.2 398.92

Y軸 0.2 405.07

Z軸 0.2 413.77

Page 13: 低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製

有限元素分析結果

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最大位移量分析

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四、感測器與光路設計

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Page 15: 低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製

三次元量測探頭示意圖

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Page 16: 低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製

光路設計

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五、旋轉機構設計

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三次元量測旋轉掃描探頭之設計

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Page 19: 低觸力 三次元接觸式 旋轉 掃描探頭 之研製

六、結論 • 本研究的目的為研製一低觸力的三次元接觸式旋

轉掃描探頭。• 結構以 Z 軸系統與 XY 軸系統結合而成,其特色

在於將結構之自由度限制為三個。• 量測系統以雷射二極體與 PSD 位置感測器作為感

測裝置,並搭配光路系統設計,能量測 Z 軸位移與 XY 軸的角度位移。

• 旋轉機構搭配旋轉之 AC 軸,使其可以達到複雜曲面量測。

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