ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных...

40
ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем Гладышев П.П., Гущин С.А., Мухина И.В. Университет «Дубна», ФГУП «НИИ прикладной акустики» Дубна 2013 г.

Upload: imala

Post on 27-Jan-2016

74 views

Category:

Documents


0 download

DESCRIPTION

ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем. Гладышев П.П., Гущин С.А., Мухина И.В. Университет «Дубна», ФГУП «НИИ прикладной акустики». Дубна 2013 г. Работа выполнена при поддержке РФФИ (грант 08-03-13539-офи-ц), Фонда содействия развитию малых форм предприятий - PowerPoint PPT Presentation

TRANSCRIPT

Page 1: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

ТК-спектрометрия в исследовании

тонкопленочных систем

Гладышев П.П., Гущин С.А., Мухина И.В. Университет «Дубна»,

ФГУП «НИИ прикладной акустики»

Дубна 2013 г.

Page 2: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Работа выполнена при поддержке РФФИ (грант 08-03-13539-офи-ц), Фонда содействия развитию малых форм предприятий

в научно-технической сфере, Министерства образования и науки Российской Федерации

(Госконтракт №16.513.11.3083).

Page 3: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Основы ТК-спектрометрии

Для получения ТК-спектров используется тепловое излучение. Тепловой поток, поглощаемый образцом, ведет к увеличению его температуры и кинетической энергии движения молекул и усилению внутримолекулярных движений атомов, что в свою очередь приводит к химическим процессам.

В отличие от классической спектрометрии ТК-спектрометрия определяет наборы энергий активаций

химических реакций.

Схема ТК-спектрометра включает систему программируемого нагрева образца и систему измерения какого-нибудь параметра системы, характеризующего скорости протекания в ней химических процессов.

Page 4: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Виды ТК-спектрометрииТК-спектрометрия является логическим развитием ряда

методов термического анализа, основанных на регистрации продуктов газовыделения (АВГ) в ходе нагрева образца:температурно-программируемая десорбция (ТПД), температурно-программируемые реакции (ТПР), температурно-программируемый пиролиз (ТПП), температурно-программируемое восстановление (ТПВ), температурно-пpогpаммиpуемое окисление (ТПО).

Отличительной чертой ТК-спектроскопии является определение

набора кинетических констант протекающих в образце процессов и

представление данных в виде ТК-спектров.1. ICTAC Nomenclature of Thermal Analysis, 2004. //http://www.ictac.org/2. Гладышев П.П., Гладышев Д.П., Зуев Б.К., Вакштейн М.С. Перспективы развития

термокинетической спектрометрии. //Егорьевск: ЕТИ ГОУ ВПО МГТУ «Станкин», // Сб. трудов научно-практической

конференции, - 2008, №10(1), т.2,.- C.52-57.

Page 5: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Теория и моделирование с целью определения возможностей метода на примере газопроточного ТПД

Page 6: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Теоретические предпосылки

В ТПД ТК-спектроскопии анализируемые компоненты находятся в сорбированном состоянии в термостабильной конденсированной фазе и имеет место обратимый процесс:

,

где MS – сорбат, связанный с активным центром сорбента; M - активный центр сорбента;S - сорбат в газовой фазе.

SMMSk

k

1

1

Page 7: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Теоретические предпосылки

Аналогично ТПД уравнениями первого порядка в ряде случаев могут описываться обратимые процессы полимеризации-деполимеризации: , (2)

где Pn – исходная молекула полимера; M - мономер; k1 – эффективная константа скорости деполимеризации (термодеструкции), k-1 – эффективная константа скорости полимеризации.

MPP n

k

kn

1

1

Page 8: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Наиболее критическим моментом построения теории кинетической спектрометрии является выбор функциональной зависимости скорости процесса от температуры. Для этих целей используется закон Аррениуса:

,

где E – энергия активации процесса, A – экспоненциальный множитель, отражающий стерические факторы процесса.

)/exp()( RTEATk

Теоретические предпосылки

Page 9: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Теоретические предпосылки

Так как продукты десорбции постоянно выносятся из зоны реакции газом-носителем, обратной реакцией можно пренебречь. При этом для линейного градиента температуры для скорости суммарного процесса десорбции имеем:

s0 – концентрация сорбата в сорбенте в начале процесса.

n

i

t

t

iiiiiT dttRTEAtRTEAstV1

0 )(/exp(exp()(/exp()(0

n

i

T

T

ii

iiit dTRTEb

ARTEAsTV

10 )/exp(exp()/exp()(

0

Page 10: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Моделирование ТК-процессов

DES MATR

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

MATRi 0 j

dt j

MATRi 1 j

T0 a MATRi 0 j

T t( ) T0 a t

t MATRi 0 j

MATRi 2 j

n

1

k

1 e 0

t

tA e

Ek

R T t( )

d

v t( )

n

1

k

1 e 0

t

tA e

Ek

R T t( )

d

MATRi 3 j t

v t( )d

d

j 0 N 1for

a a da da 0if

A A dA dA 0if

E1

E1

dE1 dE1 0if

i 0 q 1for

MATR

0 1 103 2 10

3 3 103 4 10

3 5 103

0

1 105

2 105

3 105

4 105

DES0 0T 3

DES1 0T 3

DES2 0T 3

DES0 0T 1

DES1 0T 1

DES2 0T 1

0 1 106 2 10

6 3 106

0

1 103

2 103

3 103

4 103

5 103

DES0 0T 1

DES1 0T 1

DES2 0T 1

DES0 0T 0

0 1 103 2 10

3 3 103 4 10

3 5 103

0

2

4

6

8

DES0 0T 2

DES1 0T 2

DES2 0T 2

DES0 0T 1

DES1 0T 1

DES2 0T 1

Page 11: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Характеристики пиков ТК-спектров и емкость спектров по пикам

Page 12: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Форма пиков

100 50 0 50 1000

2

4

6

8

V1

V2

V3

V4

V5

V6

V7

V8

V9

V10

V11

V12

V13

V14

V15

V16

T1 T2 T3 T4 T5 T6 T7 T8 T9 T10 T11 T12 T13 T14 T15 T16

Зависимость формы пика от температуры выхода пика

2 1 0 1 20

2

4

6

8

V1

V2

V3

V4

V5

V6

V7

V8

V9

V10

V11

V12

V13

V14

V15

V16

t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 t8 t9 t10 t11 t12 t13 t14 t15 t16

Зависимость формы пика от времени выхода

Page 13: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Время и температура выхода пиков

4 104 6 10

4 8 104 1 10

5

200

400

600

TmaxC1

TmaxC2

E4 10

4 6 104 8 10

4 1 105

0

100

200

tmaxC1

tmaxC2

EЗависимости времени t (рис. а) и температуры T (рис. b) от энергии активации Е при различных температурных градиентах: а1=2 (сплошная линия) и а2=7 (пунктирная линия)

а b

Page 14: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Полуширина пиков

Зависимость полуширины пика от температуры

0

5

10

15

20

25

30

35

0 500 1000 1500

Ti, К

Wi, мм

Зависимость полуширины пика от времени

0

10

20

30

40

50

0 2 4 6 8 10

ti, сек

Wi, мм

Графики зависимости полуширины пиков от температуры и времени выхода пиков

Page 15: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Емкость спектра по пикам

Разрешение любого метода, характеризующегося набором пиков какого-либо свойства по вектору его разверстки, обычно определяется шириной пика при его полувысоте, а также емкостью спектра по пикам.

Page 16: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Пики и процессы

В случае ТПД число термокинетических пиков совпадает с числом десорбируемых соединений. В других термореакционных системах число протекающих в системе процессов может существенно превышать число исходных соединений в системе.

Page 17: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

ТПД может подобно хроматографии обеспечивать разделение веществ.

ТК-анализ имеет ограниченную разрешающую способность (емкостью по пикам десорбции), что определяется особенностью термокинетических процессов.

Принципиальным является возможность извлечения из термограмм информации о кинетических константах протекающих в системе процессов.

ТПД и хроматография

Page 18: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Информативность ТК-спектров

Используя вышеприведенное уравнение, можно получить формулы для определения Е и А уравнения Аррениуса по кинетическим кривым, полученным при двух различных линейных градиентах b1 и b2:

)/()]ln(2[ln 1max,2max,2max,1max,2max,

1max,

2

1 TTTTT

T

b

bRE

2max,2

2max,

21max,

2

1max,

1 /)/exp(

/)/exp(

RTERTE

bRTE

RTE

bA

Для линейного градиента температуры условия максимумов пиков определяются уравнением:

)/exp( maxmax

2RTE

RT

E

A

b

Page 19: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Достоинства метода ТК-спектрометрии

Метод не требует предварительной пробоподготовки

Метод может быть использован для анализа различных объектов

Метод позволяет в одном эксперименте определять кинетические параметры нескольких параллельных или последовательных процессов

Page 20: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Примеры использования ТПД для исследования сорбентов, катализаторов и различных поверхностных наноразмерных объектов

Page 21: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Спектры термопрограммированной десорбции для н-гептана (а), толуола (б) и бензола (в) на катализаторах Pt/γ-Al2O3 (1-н-гептан, 2-толуол, 3-бензол).

Крылов О.В. Гетерогенный катализ: Учебное пособие для вузов /– М.: ИКЦ «Академкнига», 2004.- 679 с.: ил., с. 55-58.

Page 22: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

ТПД бензола с цеолита H-ZSM-5 с различными отношениями Si/Al

N.Sivasankar, S.Vasudevan. Temperature-programmed desorption and Infrared spectroscopic studies

of benzene adsorption in zeolite ZSM-5. India: Journal of Physics Chemistry. 2004. 108 p.

Результаты ТПД показывают, что существует два участка адсорбции доступных для молекул бензола на ZSM-5.

Page 23: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Кривые термодесорбции смеси этилового спирта (1) и бензола (2) при градиентах температуры T = 50 + 10.t (I) и T = 50 + 5.t (II) .

Разделение бензола и этанола при десорбции с силикагеля КСМГсиликагеля КСМГ

Гладышев П.П., Гладышев Д.П., Зуев Б.К., Вакштейн М.С. Перспективы развития термокинетической спектроскопии. Егорьевск: ЕТИ (филиал) ГОУ ВПО МГТУ «Станкин», «Бардыгинские чтения», Сб. трудов научно-практической конференции №10(1), т.2, 2008.- с.52-57.

Page 24: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Создание газопроточного ТК-спектрометра

Page 25: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

ТК-спектрометр ООО «Нанохим»

Вид со стороны оператора

Page 26: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Схема ТК-пектрометра

Схема ТК-спектрометра включает систему программируемого нагрева образца и систему измерения какого-нибудь свойства системы, характеризующего скорости протекания в ней химических процессов.

В ТК-спектрометре зависимость измеряемого

свойства от температуры (термограмма) подвергается программной обработке с целью расчета кинетических параметров протекающих в системе процессов. Наборы этих параметров представляются в виде ТК-спектра.

ТК-спектр характеризует реакционную систему и может служить его аналитической характеристикой.

Page 27: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

ТК-спектрометр ООО «Нанохим»

Рис. 1. Вид (а) газопроточного и принципиальная схема (б) ТК-спектрометра ООО «Нанохим»: 1 - термопрограммируемый столик с образцом, 2 - зондовая головка, 3 -фотоионизационный детектор, 4 - коаксиально расположенные газовые капилляры для подачи газа-носителя на образец и подачи газа-носителя с продуктами газовыделения из образца в детектор, 5 - гидрозатвор определяющий давление в газа в зондовой головке, 6 – дисплей, 7 – панель управления, 8 – клавиатура.

Page 28: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Система отбора продуктов термодеструкции на анализ

Центральный капилляр

Внешний капилляр

Образец

Температурно-программируемый предметный столик

Температурно-программируемый поток газа-носителя

Поток газа-носителяс выделяемыми изобразца компонентамик детектору

Page 29: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Экспериментальные исследования

Page 30: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Термограммы десорбции растворителей

а - Десорбция бутилацетата с кремнезема, V = 1,21 ◦C/с, Tmax = 120 ◦C.б - Десорбция бензола с кремнезема, V = 1,08 ◦C/с, Tmax = 118 ◦C.в - Десорбция бутилацетата с кремнезема, V = 1, 03 ◦C/с, Tmax = 118 ◦C/с.г - Десорбция ацетона с HayeSepD, V = 0, 96 ◦C/с, Tmax = 101 ◦C.д - Десорбция ацетона со смеси Tenax TA и HayeSepD, V = 1, 01 ◦C/с, Tmax = 112 C/с.е - Десорбция н-пропанола со смеси Tenax TA и HayeSepD, V = 1, 22◦C/с, Tmax = 140 ◦C.

Page 31: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Получаемые на ТК-спектрометре термограммы имеют два хорошо разделенных пика, площадь первого из которых характеризует количество (объем) жидкости, удерживаемой за счет капиллярной конденсации, а площадь второго пика – количество сорбированного растворителя.

Капиллярная конденсация и сорбция на внутренней поверхности сорбента

Капиллярная конденсация Физисорбция

Page 32: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Температурно-программируемая десорбция бутанола с активированного угля

Термограммы полученные при различных скоростях нагрева:V = 0,69 °C/c, Tmax1=138°C; V = 1,38 °C/c, Tmax2 = 161 °C; V = 1,8 °C/c, Tmax3 = 221

°C; V = 2,18 °C/c, Tmax4 = 332°C.

Page 33: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Исследование технических масел методом ТК-спектрометрии

Термограммы свежего и отработанного масла полученные при V = 2, 1°С/с: 1) свежее масло – Tmax1 = 507 °С,2) отработанное масло – Tmax2 = 494 °С).

Page 34: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Термодеструкция полимеров

Page 35: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Температурно-программируемый пиролиз

полистирола

Термодеструкция полистирола: 1) V = 0,69 °C/c, Tmax1 = 450°С;

2) V = 2, 1 °С/с, Tmax2 = 480 °С.

Page 36: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Температурно-программируемый пиролиз различных люминесцентных полимерных покрытий

1 – поливинилбутираль (ПВБ); 2 – сшитый ПВБ + Кумарин 6; 3 – сшитый ПВБ + кумарин 6 + POPOP; 4 – сшитый ПВБ + кумарин 6 + POPOP + наночастицы SiO2-

FITC; 5 – сшитый ПВБ + кумарин 6 + POPOP + наночастицы SiO2-FITC; 6 – сшитый

ПВБ + кумарин 6 + наночастицы SiO2-FITC).

Скорость нагрева V = 2,17 К/с

Page 37: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Использование ТК-спектрометрии для определения констант термодеструкции органических материалов и создание на этой основе методики ускоренного определения термостойкости полимерных и смазочных материалов

Идея ускоренного испытания термостойкости материалов

Page 38: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

1max,2max,

2max,1max,

2max,

1max,

2

1 ln2lnTT

TT

T

T

b

bRE

max2

2

max2max

1 expexpRT

E

RT

Eb

RT

E

RT

EbA AA

)/exp()( RTEATk )/exp(

)1ln(

RTEA

xt x

x

эксп

tA

xR

ET

)1ln(ln

max

Расчеты по данным термограмм

Возможность расчета кинетических констант

термодеструкции моторных масел по данным ТК-

спектрометрии.

Возможность оценки

максимальной температуры

и времени эксплуатации

Page 39: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Перспективы использования ТК-спектроскопии

Полученные данные подтверждают перспективность ТК-спектрометрии для опpеделения числа и видов активных центров сорбентов и катализаторов, разделения и анализа сорбатов и ковалентно связанных с поверхностью носителей соединений. Учитывая высокую чувствительность современных физических методов анализа, которые могут использоваться для качественного и количественного анализа выделяющихся из образцов газов, ТК-спектрометрия открывает новые возможности анализа поверхностных и объемных наноструктур.

Page 40: ТК-спектрометрия в исследовании тонкопленочных систем

Спасибо за внимание