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Institut für Produktionsmesstechnik, Werkstoffe und Optik (PWO)

Produktionsmesstechnik für die PraxisNeue Wege gehen - Werte schaffen

Erfolg ist messbar - modernste Geräte und Methoden helfen Ihnen dabei.

NEU mit Zusatz-Event à la carte am 4. September 2013

Sehr geehrte Damen und Herren, liebe Interessierte der Messtechnik

Unsere unabhängige und internationale Fachtagung „Produktionsmesstechnik für die Praxis“ hat schon Tradition. Sie findet seit 2005 regelmässig alle zwei Jahre an der NTB statt.

Sich neues Wissen in 15 unabhängigen Vorträgen aneignen, 50 weltweit füh-rende Hersteller aus der Messtechnikbranche direkt ansprechen und noch dazu mit kompetenten Spezialisten über EU- bzw. nationale Fördermöglichkeiten Ihrer Projekte vertraulich zu sprechen – das alles können Sie hier bei uns an der NTB am 3. bzw. 4. September 2013.

An der kommenden Fachtagung im September 2013 wollen wir mit drei weiteren innovativen Ideen um Ihre Aufmerksamkeit bitten:

� Mit dem Motto „Neue Wege gehen – Werte schaffen“ werden wir neben den bekannten Themenschwerpunkten Koordinaten- und Oberflächen- messtechnik auch die Beschichtungsmesstechnik und Prozessoptimierung zu Wort kommen lassen.

� Wir haben unser Angebot noch praxisgerechter gestaltet. Neu bieten wir Ihnen an, ohne weitere Eintrittsgebühren einen weiteren Halbtag mit unse-ren 50 Ausstellern hier an der NTB Kontakt aufzunehmen. Am 4. September 2013 bleibt die NTB für Sie und die Aussteller geöffnet. Die Mehrzahl der Aussteller wird selber Vorträge halten, Usermeetings durchführen und ihre Produkte präsentieren. Eine genaue Auflistung der Vorträge ist auf unserer Homepage veröffentlicht.

� Ebenfalls am 4. September 2013 haben wir Vertreter von Euresearch und der Schweizer Kommission für Technologie und Innovation (KTI) ein-geladen, die Sie über Fördermöglichkeiten innovativer messtechnischer Projekte informieren werden. Anschliessend können Sie ihre Projektideen in separaten Räumen ganz individuell auf eine mögliche Förderung prüfen lassen.

Ich wünsche uns allen eine spannende Zeit an der NTB.

Mit freundlichem Gruss Prof. Dr.-Ing. Claus P. KefersteinInstituts- und Veranstaltungsleiter

Buchs, im April 2013

Tagungskonzept

Zielpublikum Praktiker/innen, Techniker und Ingenieure aus der Qualitätssicherung, Fertigung und Montage, Arbeitsvorbereitung, Konstruktion & Entwicklung. Leiter/innen von Messräumen, Qualitätsverantwortliche, Messtechniker/innen aus Entwicklung und Produktion, Qualitätsfachleute und Studierende mit Studienrichtung Maschinenbau, Mechatronik, Optik und Systemtechnik.

Teilnahmebedingungen Die Zahl der Teilnehmer ist beschränkt. Anmeldungen werden in der Reihenfolge ihres Eingangs berücksichtigt.

Sprache deutsch

Tagungsort NTB, Campus Buchs SG, Schweiz

Leitung Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein

Ansprechpartner Volker Anton, volker.anton@ntb.ch, +41 (0)81 755 33 71.

Weitere Informationen, das aktuelle Programm für beide Tage sowie das Anmeldeformular finden Sie auf unserer Homepagewww.ntb.ch/pwo/fachtagung.

Unsere Hauptsponsoren

Tagesablauf - Dienstag, 3. September 2013 Plenary-Session

Ab 08.00 Registrierung, Empfang, Kaffee, Gebäck, Ausstellung

09.00 - 09.10 Begrüssung durch den Rektor der NTB Prof. Lothar Ritter

09.10 - 09.35 Neue Wege in der Präzisions- und Prozessmesstechnik Schnell, genau, preiswert und prozess-nah – Widersprüche, Ergänzungen oder neues Denken? Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein, Insti-tutsleiter und Professor an der NTB, Buchs (CH)

09.35 - 10.10 Aufgaben eines nationalen Metrolo-gieinstituts heute und morgenDas METAS als Aufsichtsbehörde, Dienstleister für die Industrie und in der internationalen Spitzenforschung Dr. Christian Bock, Direktor des Eid-genössischen Instituts für Metrologie, Bern (CH)

Ort: Hörsaal G1Sessionleiter: Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein

10.10 - 10.45 Forschung und Entwicklung „Precision Engineering & Metrology“ Überblick über weltweite F&E-Aktivi-täten aus Sicht der CIRP, der „Internatio-nalen Akademie für Produktionstechnik“Dr. sc. techn., Dipl.-Ing. ETH Wolfgang Knapp, Leiter Messtechnik IWF, ETH Zürich (CH)

10.45 - 11.30 Pause mit Kaffee und Gebäck, Ausstellung

11.30 - 12.05 Stand und Tendenzen in der Oberflächenmesstechnik Oberfläche und Funktionsbezug, profil- oder flächenhaft, optisch oder taktil messen? Philosophie der ISO-NormungDipl.-Ing. Tobias Hercke, Verantwort-licher für die Oberflächenmesstechnikbei der Daimler AG, Stuttgart (D)

12.05 - 12.40 Beschichtungsmesstechnik heute und morgenZielgrössen, Randbedingungen und dazu passende Messverfahren – ein ÜberblickProf. Dr. Nikolaus Herres, Leiter des Kompetenzfeldes Werkstoffe und Professor an der NTB, Buchs (CH)

12.40 - 14.25 Stehlunch, Ausstellung

14.25 - 14.50 Qualitätssicherung bei der Oberflä-chen- / RauheitsmesstechnikMessunsicherheit, Ringvergleiche und Auswirkungen der Oberflächenrauheit bei der Koordinatenmesstechnik Dipl.-Ing. (FH) Michael Dudler, wissen-schaftlicher Mitarbeiter an der NTB, Buchs (CH)

14.50 - 15.15 Defekterkennung an spiegelnden Oberflächen mit BildverarbeitungEs werden Methoden zur Inspektion spie-gelnder Oberflächen vorgestellt, die auf deflektometrischen Verfahren und der Wavelet-Theorie aufbauenDr. Mathias Ziebarth, wissenschaft-licher Mitarbeiter am Karlsruher Insti-tut für Technologie, Karlsruhe (D)

15.15 - 15.40 Messmethoden und Qualitätswerk-zeuge bei der PVD-BeschichtungEs werden die Messmethoden und Qualitätswerkzeuge vorgestellt, die bei der PVD-Beschichtung von Serienbau- teilen in der Automobilindustrie zum Einsatz kommen Dr. tech. Johann Karner, Projektmana-ger Coating Development Automotive OC Oerlikon Balzers AG, Balzers (LI)

Session 1 Oberflächen- und Beschichtungsmesstechnik

Ort: Hörsaal G1Sessionleiter: Prof. Dr. Nikolaus Herres

Session 2 Koordinaten- und In-Prozessmesstechnik

14.25 - 14.50 Multisensorik – Messgerät prüft Mikroteile aus FeinkeramikPraxisbeispiel: wie anspruchsvollste Messaufgaben an schwierigen Materi-alien gelöst werden Microtechnic Ing. FH Herbert Augustiny, Project Engineer SPT Roth AG, Lyss (CH)

14.50 - 15.15 Lasertracer-Technologie und mess-technische AnwendungenMobile 3D-Volumenkompensation und Abnahme von Werkzeugmaschinen und Koordinatenmessgeräten Dipl.-Ing. (FH) Wolfram Meyer, Ge-schäftsführer der AfM Technology GmbH, Aalen (D)

15.15 - 15.40 Optische Koordinatenmesstechnik in der AutomobilindustrieIntegration, Rückführung und Einbindung optischer KMG und Gelenkarme in Pro-duktion und QMDipl.-Wirtsch.-Ing. Christian Neukirch, Fachreferent bei der Volkswagen AG und Leiter des DKD-Labors für den Bereich „Länge“, Wolfsburg (D)

Ort: Hörsaal G2Sessionleiter: Prof. Dr. Carlo Bach

Session 3 Integrierte Prozesskette

14.25 - 14.50 Berührungslos optische In-Prozess-Messtechnik im industriellen EinsatzBeispiele, wie bei widrigen Umgebungs-bedingungen schnelle und genaue Mess-technik z.B. an glühenden Werkstücken in den Prozess integriert werden kann Prof. Dr. Silvano Balemi, Leiter Technik der Zumbach Electronic AG, Orpund (CH)

14.50 - 15.15 Fertigungsmesstechnikwissen von der Produktentwicklung bis zur Serienfertigung Erfahrungen mit einem Schulungs-konzept für Konstrukteure, Entwickler, Fertiger und MesstechnikerIng. (FH) & Msc. Daniel Seitz, Leiter Kon-struktion Grosse Transferventile bei VAT Vakuumventile AG, Haag (CH)

15.15 - 15.40 Was muss ich wie prüfen - Prüf- strategien zur Null-Fehler-ProduktionNachvollziehbare Regeln und Vorgehens-weisen zur effektiven Prüfplanung Dr.-Ing. Alexander Schloske, Senior Expert Quality Management, Leiter Stuttgarter Produktionsakademie, Mit-glied des Führungskreises, Fraunhofer Institut IPA, Stuttgart (D)

15.40 - 16.25 Pause mit Kaffee und Gebäck, Ausstellung

Ort: Hörsaal H4Sessionleiter: Prof. Dr.-Ing. Andreas Ettemeyer

Schlussvortrag im Plenum und Schlusswort

16.25 - 17.00 Leistungsfähigkeit der Nanomess- und NanopositioniertechnikDas Abbe-Komparatorprinzip und Plan-spiegelinterferometer als fundamentale Basis. Aufbau von NanomessmaschinenProf. Dr.-Ing. habil. Prof. h.c. Dr. h.c. mult. Gerd Jäger, Professor an der TU Ilmenau (D)

17.00 - 17.10 Zusammenfassung, Schlusswort Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein, Institutsleiter und Professor an der NTB, Buchs (CH)

Ab 17.10 Apéro, Ausstellung gesponsert von

Vorträge - Mittwoch, 4. September 2013, 08.00 - 12.00 Uhr

Ort: Hörsaal G1Sessionleiter: Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein

ELYT: Form grüsst RauheitZOLLER: Die Zukunft des Messens

OGP: Does Metrology Increase costs?

WENZEL: Computertomographie

ELYT: Das neue CCI sieht blitzschnell, berührungs-los den Picometer

WYLER: Neigungsmessge-räte in der Produktion: Effi -ziente Qualitätssteigerung

Ryf: Computer Tomography in der Industrie

WENZEL: Intuitive Benutzerführung der Messsoftware

Compar: Flexible 3D-Mass-kontrolle in der Produktion

NanoFocus: Konfokale Messsysteme für technische Oberfl ächen

Euresearch/KTI: Wie komme ich zu Fördergel-dern (EU und national)?

amtec: In-situ-Analyse von Beschichtungen

Schaefer-Tec: Was Tisch-Elektronenmikroskope heute können

Duwe-3d: Hybride Koordinatenmesstechnik in PolyWorks

WZW: Super-Polierte Spiegelsubstrate für Laser Anwendungen

Cyber Technologies: High accurate metrology on large surface areas

Schaefer-Tec: Kontaktlose Rauheitsmessung und Formmessung

SCHUNK Intec: Prozessop-timierung mit innovativer Werkstückspanntechnik

Renishaw: Späne kosten Geld – Gutteile bringen Geld

NOVAMART: Aufbau eines Qualitätssicherungslabors in der Oberfl ächentechnik

Fraunhofer IFF: Inline 3D-Messtechnik für die Prozesssteuerung und Qualitätskontrolle

NTB: Diskussionsforum: Die Zukunft der Messtech-nikausbildung auf Hoch-schulniveau in der Schweiz

DRE: Messung der Ober-fl ächenkontamination zur Vorbereitung einer verlässlichen Klebung

Aktuelle Informationen: www.ntb.ch/pwo/fachtagungStand April 2013

Einige unserer Aussteller und Sponsoren

SCUTEC®

Quality Control Measurement Monitoring

TRAINCM

Warum Sie DIESE Tagung nicht verpassen dürfen

9 In Referaten und der integrierten Fachausstellung können Sie sich effi-zient über die neuesten Entwicklungen und Trends sowie Geräte und Technologien informieren.

9 In 15 firmenunabhängigen und produktneutralen Übersichts- und Vertiefungsvorträgen können Sie sich am 3. September 2013 fundiertes und praxisorientiertes Verfahrens- und Anwendungswissen aneignen.

9 Am 4. September 2013 können Sie Spezialvorträge der Aussteller besu-chen und in bilateralen, ausführlichen Gesprächen mit den Ausstellern Ihre Mess- und Prüfstrategien sowie Investitionswünsche besprechen.

Tagungsgebühren / Anmeldung

Tagungsgebühr CHF 240.- oder EUR 200.- inklusive MwSt.

inklusive Tagungsunterlagen, Kaffee/Getränke, Mittagessen, Apéro und 30% Rabatt auf ein Jahresabonnement der Zeitschrift Management und Qualität (MQ).

Als Mitglied von SwissPhotonics oder weiterer Mitarbeiter einer Ausstellerfirma erhalten Sie 10% Rabatt.Studenten erhalten 50% Rabatt.Rabatte sind nicht kumulierbar. Die Anmeldefrist endet am 31. Juli 2013. Anmeldungen ab dem 1. August 2013 werden mit CHF 280.- oder EUR 235.- in Rechnung gestellt.

Ihr direkter Link zu weiteren Informationen und zur Online-Anmeldung www.ntb.ch/pwo/fachtagung.

Übernachtungsmöglichkeiten in der Umgebung Buchs SG und den Lageplan der NTB finden Sie auf www.ntb.ch/pwo/lageplan-uebernachtung.

Achtung: Die Teilnehmerzahl ist beschränkt.

NTB Interstaatliche Hochschule für TechnikInstitut für Produktionsmesstechnik, Werkstoffe und Optik (PWO)Werdenbergstrasse 4CH-9471 Buchs SGpwo@ntb.chTelefon: +41 (0)81 755 34 50Fax: +41 (0)81 755 33 08