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MCPD(Multi Channel Photo Detector)

光電材料特性量測

學生 : 楊順涵指導老師 : 吳坤憲

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目錄MCPD介紹MCPD應用MCPD實際測量應用 -穿透率光譜量測參考資料

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MCPD介紹

多通道分光光譜儀高速量測紫外光 (UV)、可見光 (VIS)、近紅外光(NIR)光譜。功能豐富的專用軟體，可進行顯微分光、發光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測。最適用於低輝度（ 0.3cd/m2），如螢光、電漿發光等微弱光以及光源、顯示器量測。16msec的高速光譜解析。靈活堅固的光纖搭配多元的選配附件，可架設於生產線上、真空環境或嵌入於現有設備中即時性量測。

MCPD-3700

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規格樣式 -MCPD

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MCPD-7700

功能豐富的超高感度多通道分光光譜儀。可對應微弱光領域的光譜分析。採用更專業的CCD影像感測器，感光能力較

MCPD-3700約高出200~700倍，在微弱光領域亦實現了20~30倍的高信噪比。最適用於低輝度（0.3cd/m2），如螢光、電漿發光等微弱光以及光源、顯示器量測。搭配功能豐富的專用軟體，可進行顯微分光、發光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測。可架設於生產線上、真空環境或嵌入於現有設備中即時量測。

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規格樣式 -MCPD

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MCPD-9800高動態範圍 (HDR)光譜儀可量測透明、低對比、高反射率樣品，最適用於量測光通量。有效抑制雜散光，最適合UV光譜分析。相較於歷代分光光度計，雜光率僅約五分之一 !曝光時間 5msec~65sec*。適用於量測微弱光源以及架設於生產線上即時檢測等多元應用。經過特殊設計纏繞的光纖，展現穩定的重複再現性量測。小巧輕量化的設計，相較於歷代機型，容積比約減少 60%。

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規格樣式 -MCPD

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Measurement ItemLuminescence SpectrumTransmission/Absorption Spectrum-

Reflection SpectrumPhotoluminescence MeasurementTotal Luminous FluxLight Source Color (Chromaticity,

Luminance, Illuminance, CRI)Film Thickness Evaluation

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發光光譜量測各種發光物引擎燃燒、燃燒發光、太陽光

(1) 光譜儀(2) 受光光纖(3) 受光光纖探測頭 (固定套件 )

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(1) 分光光譜儀(2) 受光光纖(3) 積分球設備(4) 量測光源(5) 投光光纖

系統架構各種濾光片、彩色濾光片、透鏡、薄膜

全穿透率量

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光學材料、儲存材料表面反射率光譜各種玻璃反射率光譜抗反射（ AR）膜、蒸鍍膜反射率光譜

(1) 光譜儀(2) Y型光纖(3) 量測光源

反射光譜量測

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一般螢光量測各種螢光量測（ CRT、 PDP、 OLED、 LED等）LB膜、高分子機能膜

(1) 分光光譜儀(2) 受光光纖(3) 聚光元件（顯微鏡裝置）(4) X-Y軸量測平台(5) 氙燈源（或雷射）

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表面色量測各種紙、印刷物、塗料表面色度量測各種材料表面色度量測

(1) 分光光譜儀(2) 受光光纖(3) 擴散反射裝置(4) 量測光源(5) 投光光纖

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色度輝度量測LCD面板、 PDP面板、 OLED面板、 CRT、映像管、 LED各種光源、燈源

(1) 分光光譜儀(2) 受光光纖(3) 測光探頭

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膜厚量測半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗佈膜（ Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、壓克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（ PET、 PP、 PE、 PC、 Nylon）、機能性薄膜、包裝膜

(1) 分光光譜儀(2) Y型光纖(3) 反射式膜厚量測平台(4) 量測光源

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MCPD實際測量應用

MCPD-3000

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穿透率光譜量測(1) 素玻璃

(3) Coated 30 Α *2Ni

(2) Coated 30 ΑNi

(4) 黑布

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380~780nm之穿透率

1 17 33 49 65 81 97 113129145161177193209225241257273289305321337353369385401

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參考資料http://www.otsuka-tw.com/produc

t/(大塚科技股份有限公司)