8_ de broglie i el. mikroskop.pdf

18
Dvojna priroda čestica Kao mladi student Sveučilišta u Parizu, Louis DeBroglie je bio pod utjecajem teorije relativnosti i fotoelektričnog efekta. Fotoelektrični efekt je ukazivao na čestična svojstva svjetlosti, koja se smatrala valnim fenomenom. Pitao se je da li elektroni i "čestice" mogu posjedovati valna svojstva.

Upload: tranxuyen

Post on 05-Feb-2017

246 views

Category:

Documents


1 download

TRANSCRIPT

Page 1: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

Dvojna priroda čestica

Kao mladi student Sveučilišta u Parizu, Louis

DeBroglie je bio pod utjecajem teorije relativnosti

i fotoelektričnog efekta. Fotoelektrični efekt je

ukazivao na čestična svojstva svjetlosti, koja se

smatrala valnim fenomenom.

Pitao se je da li elektroni i "čestice" mogu

posjedovati valna svojstva.

Page 2: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

• Valna priroda elektrona

Page 3: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

• DeBroglievu hipotezu o valnoj prirodi elektrona

podržavaju: diskretni atomski energetski nivoi i difrakcija

elektrona kristalnoj rešetci krutina.

• U Bohrovom modelu, elektronski valovi se mogu

vizualizirati kao konstruktivna interferencija na

pozicijama elektronskih orbita

Page 4: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

• U Bohrovom modelu, valna duljina pridružena elektronu

dana je deBroglievom relacijom

• pa je uvjet za stojni val : opseg = cijeli broj valnih duljina.

Što je zapravo izraz za kvantizaciju kutne količine gibanja

(angularnog momenta) elektrona u orbiti vodikovog atoma,

odnosno Bohrov kvantni uvjet.

Page 5: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

• Radijus Bohrove orbite raste s kvadratom glavnog kvantnog broja n. U n-toj

orbiti je n valnih duljina elektronskog vala, i te valne duljine možemo izraziti:

1 nn

Page 6: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

Elektronski mikroskop

• 1897. Thomson otkriva elektron

• 1924. deBroglie: elektron je i val i čestica

• 1926. Bosch proučava kretanje elektrona u magnetskom

polju: magnetsko polje ponaša se kao leća koja fokusira

elektrone

• 1940-tih razvija se elektronska optika

Page 7: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

Elektronski mikroskop

• Elektronska optika proučava gibanje slobodnih nabijenih

čestica (elektrona, protona) u el. i mag. poljima. Zakoni koji

opisuju staze elektrona u takvim poljima formalno su

jednaki zakonima koji opisuju putanje zraka svjetlosti u

optički nehomogenom sredstvu, tj. sredstvu promjenjivog

indeksa loma.

• Proučavanje gibanja elektrona na osnovi njihove valne

prirode zove se elektronska valna optika. Ona opisuje

pojave ogiba (difrakcije) i interferencije snopova elektrona,

analogne istim pojavama kod svjetlosti i rendgenskih

zraka.

Page 8: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

Elektronski mikroskop

• Elektronske leće su sustavi elektroda određene

simetrije s električnim ili magnetskim poljem, ili s

njihovom kombinacijom, a djeluju na snop elektrona kao

što optičke leće djeluju na zraku svjetlosti. Primjenjuju se

za stvaranje oštro fokusiranih snopova elektrona, kao u

katodnom osciloskopu, ili za dobivanje elektronskih slika

u elektronskom mikroskopu.

• Elektronske leće razlikuju se od optičkih u tome što se

el. polje kontinuirano mijenja tj. brzina elektrona se

stalno mijenja po iznosu i po smjeru kako elektron

prolazi lećom ( što bi značilo da se indeks loma unutar

leće kontinuirano mijenja).

Page 9: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

Elektronski mikroskop

• Na elektronskim lećama javljaju se iste greške kao i kod

optičkih leća:

• Astigmatizam: izobličenje slike jer je leća nejednoliko

zakrivljena u horizontalnoj i vertikalnoj ravnini, pa su i

žarišne daljine različite

• Sferna aberacija: široki snop zraka pada na leću, rubne

zrake lome se jače

Page 10: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

• Kromatska aberacija: bijela svjetlost prolazi lećom, zbog

disperzije svaka valna duljina ima svoj indeks loma, za

konvergentnu leću vrijedi Flj <Fcr

Page 11: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

Elektronski mikroskop

• Žarište elektronske leće kontroliramo jakošću električne

struje: veća jakost struje manja žarišna udaljenost (veća

snaga leće)

• Sferna aberacija: elektroni u vanjskim dijelovima snopa

se jače lome (nemoguće je u potpunosti ukloniti)

• Kromatska aberacija: svi elektroni nemaju iste brzine,

pa su im i valne duljine različite (uklanja se dobrom

stabilizacijom napona)

• Astigmatizam: izobličen snop elektrona (morao bi biti

okrugao) zbog nesavršenosti izradbe elektronske leće

izobliči se magnetsko polje (ispravlja se uz pomoć malih

elektromagneta)

Page 12: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

Ukupno linearno povećanje optiĉkog mikroskopa jednako je

produktu povećanja okulara i objektiva. Teoretski bi se moglo

višestrukim kombinacijama takvih sistema postići bilo koje

povećanje. Međutim, važno je koliko se male pojedinosti još mogu

razlučiti, odnosno kolika je moć razluĉivanja i o čemu ona ovisi.

Page 13: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

MOĆ RAZLUĈIVANJA

• Razlučivanje ili rezolucija optičkog instrumenta koji služi za promatranje bliskih predmeta malih dimenzija definira se minimalnom linearnom udaljenošću Y dviju točaka koje instrument još daje kao dvije odvojene slike.

• Naime, slika predmeta malih dimenzija nastaje, ne samo preslikavanjem u aproksimaciji geometrijske optike (pravocrtno širenje zraka svjetlosti), nego u njenom stvaranju sudjeluju i ogibne zrake.

• Prema Rayleighovom kriteriju dvije točke predmeta moći ćemo razlučiti kao dvije točke slike, ako su centralni maksimumi jedne i druge slike na takvoj udaljenosti da centralni maksimum prve slike pada na prvi minimum druge slike.

Page 14: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf
Page 15: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf
Page 16: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

• Moć razlučivanja mikroskopa:

• λ: valna duljina elektromagnetskog zračenja ili čestice

koja dolazi do predmeta

• n: indeks loma okoline (najčešće zrak)

• α: kut otvora snopa

• d: najmanja udaljenost između dvije točke predmeta za

koju preslikavanjem dobivamo dvije točke slike

• Numerička apertura: nsinα

sin21 n

dm

Page 17: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf

• Optičkim mikroskopom mogu se uz upotrebu

ultraljubičastih zraka razlučiti točke udaljene jedna od

druge 100nm (0,1μm), a pripadno korisno povećanje mu

je 200 puta. Suvremenim elektronskim mikroskopom

može se postići razlučenje od nekoliko angstrema (2-5),

s korisnim povećanjem od 400 000 puta

• Smanjenje granice razlučivanja uvjetovano je

Heisenbergovim principom neodreĊenosti :

• bilo kako usavršenim elektronskim mikroskopom ne bi

mogli vidjeti elektron u atomima i molekulama

Page 18: 8_ de Broglie i el. mikroskop.pdf