研究紹介 (2016.11.25 低温物理学会発表スライド)
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微小試料用の低温熱伝導率測定装置の開発と性能評価
堀口元成
関口晃生,小野俊雄,山口博則,細越裕子(阪府大院理)
村上修一(産技研)
2016年11月25日 第15回低温工学・超伝導若手合同講演会@I-siteなんば
はじめに
1200μm
(絶縁的な)磁性体の研究
•応用研究
電子の持つスピン自
由度を利用した
• 信号伝達
スピントロニクス
• 量子計算
•基礎研究
本質的な量子現象
• 極限環境下の
量子相転移
• 新たな基底状態
• 励起状態
磁性体の研究手法
比熱
磁化
磁気共鳴
中性子散乱
エネルギー構造エントロピー変化
内部磁場
磁気構造励起状態
×大型施設が必要磁気モーメントの大きさ
磁気異方性 磁性体
物質開拓物性研究の基本
熱伝導測定によるアプローチ
•絶縁的磁性体の熱伝導:フォノン + マグノン
k = kphonon+ kmagnon
局所的なエネルギー励起 交換相互作用による伝播
kmagnon = Cmaglmagvmag
• Cmag: 磁気比熱
• lmag:マグノンの平均自由行程
• vmag:マグノンの群速度 交換相互作用を反映
熱伝導測定によるアプローチ
• c-軸方向にCu2+のスピン梯子
• 熱伝導率の空間異方性• a-軸方向:フォノンのみ
• c-軸方向:フォノン+マグノン
相互作用強度の空間異方性
vmag:マグノンの群速度
小池,川俣:J. HTSJ 50, 12 (2011)より引用
c
a
熱伝導率測定における課題
有機結晶のような脆く,小さい結晶でも
測定できるデバイスの作成
1cm
研究目的
1mm
測定デバイスの概略
•測定系の断熱
SiO2/ SiN/ SiO2膜(1μm)
• ヒーターと温度計
NbNx半導体
熱伝導率
L:温度計間の距離(300μm)
温度計の特性
微細化が可能 低温での分解能 磁気抵抗効果が小 作成条件が容易
白金抵抗 ○ × ○ ○
熱電対 × ◎ ○ ×
CrN ○ ○ ○ ×
NbNx ○ ○ ○ ○
温度計比較
1000μm
温度計作成条件と性能
抵抗の温度変化が増大
⇒ 温度分解能の向上
400μm1000μm
NbNx温度計
12
8
4
0
Res
isti
vit
y
・m
]
100806040200
Temperature(K)
N2:Ar = 50%:50%
30%:70%
10%:90%
600
500
400
300
200
100
0
Res
isti
vit
y
・m
]
100806040200
Temperature(K)
90%:10%
N2:Ar = 100%:Ar0%
70%:30%
12
10
8
6
4
2
0
Tc[
K]
100806040200
Percentage of N2[%]
800x10-9
600
400
200
0
activatio
n en
egy
[K]
Tc
activation energy
半導体超伝導
窒化ニオブの電気特性
熱伝導率測定装置の設計
ヒーター
温度計1
8mm
温度計2
V+
V−
I −
I +
V+
V+V−
V− I+
I+
I −
I−
電極(Nb)
1500μm
1700μm
900μm
作成したチップ
サンプルステージ部分
現在はまだ一部の信号線に断線あり(フォトリソグラフィーのプロセスを修正中)
ヒーター
温度計1
温度計2
12
10
8
6
4
2
0
R [
10
3
300250200150100500
T [K]
温度計2温度計1
実装した温度計の評価
チップ1 チップ2
Quantum Design社製 PPMSにて測定
12
10
8
6
4
2
0
R [
10
3
300250200150100500
T [K]
温度計2 ヒーター
標準偏差(T=3K):∆R
R=1.4%
12
11
10
9
8
R [
10
3
12840
T [K]
温度計2 温度計1
10
100
1000
dR
/dT
[
2 3 4 5 610
2 3 4 5 6100
2 3
T [K]
温度計1 温度計2
実装した温度計の分解能
T [K] ΔT [μK]
100 5
25 1
3 0.2
3K,25K,100Kでの温度計の分解能
(T,dR/dT)=(100,20)
(T,dR/dT)=(25,100)
(T,dR/dT)=(3,500)
熱伝導率測定に向けて
• 基板の膨張係数 〜 4 x 10-6 /K程度1Kから300K では~ 10-4程度
• T1 – T2 ~ 0.1 K 程度とすると,
⇒ Δκ ~ 10-4 程度と評価できる。
まとめと今後の課題• NbNx温度計の開発
スパッタ時の窒素分圧が60%以上で電気特性が超伝導体 → 半導体
窒素分圧が100%で最も感度が向上
• 試作デバイスの評価
低温まで測定可能
異なるチップ間で良い再現性
標準偏差(T=3K):∆R
R=1.4%
温度計の分解能(T=3K):ΔT = 0.2 μK
• 信号配線のフォトリソグラフィ
• 試料の接着方法(有機結晶への対応)
• 標準試料による絶対値の校正